密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置，该密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置包括锁闭挂钩、挂钩销和挂钩把手，所述锁闭挂钩的下端带有内凹的卡口槽，锁闭挂钩的中部通过挂钩销连接到上盖板侧边，两个锁闭挂钩的上端通过挂钩把手连接在一起。通过上述方式，本实用新型结构简单实用，制作成本较低，使用时只需要和检测设备连接就可以，可大批量投入使用，大大降低生产中的设备成本。
【专利说明】密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测试装置领域，特别是涉及一种密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置。
【背景技术】
[0002]在电子产品的生产过程中，其电路板的生产是一个比较关键的工艺，需要对每一块电路板进行不同的测试，不同的电路板根据其大小和安装的电子元件不同，其测试也是不一样的，其中就有一项是无干扰源环境下的主板功能性测试，一般情况下要做到无干扰源环境测试，需要专业的设备器材，如无干扰频普分析仪等，这样的设备价格非常高，对于生产线来说无法大批量装备使用，其检测效率较低，一般是一些有小批量检测需求的检测机构在装备使用。
【发明内容】
[0003]本实用新型主要解决的技术问题是提供一种密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置，其结构简单实用，制作成本较低，使用时只需要和检测设备连接就可以，可大批量投入使用，大大降低生产中的设备成本。
[0004]为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是:提供一种密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置，该密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置包括锁闭挂钩、挂钩销和挂钩把手，所述锁闭挂钩的下端带有内凹的卡口槽，锁闭挂钩的中部通过挂钩销连接到上盖板侧边，两个锁闭挂钩的上端通过挂钩把手连接在一起。
[0005]本实用新型的有益效果是:本实用新型一种密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置，其结构简单实用，制作成本较低，使用时只需要和检测设备连接就可以，可大批量投入使用，大大降低生产中的设备成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0006]图1是本实用新型密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置的结构放大示意图；
[0007]图2是本实用新型密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置的侧视放大图；
[0008]图3是本实用新型密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置局部放大图。
【具体实施方式】
[0009]下面结合附图对本实用新型较佳实施例进行详细阐述，以使实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。
[0010]请参阅图1至图3，本实用新型实施例包括:
[0011]一种密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置，该密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置包括锁闭挂钩90、挂钩销91和挂钩把手92,所述锁闭挂钩90的下端带有内凹的卡口槽93，锁闭挂钩90的中部通过挂钩销91连接到上盖板94侧边，两个锁闭挂钩90的上端通过挂钩把手92连接在一起。
[0012]本实用新型密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置，其结构简单实用，制作成本较低，使用时只需要和检测设备连接就可以，可大批量投入使用，大大降低生产中的设备成本。
[0013]以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的【技术领域】，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
【权利要求】
1.一种密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置，其特征在于:该密闭盒式无干扰源主板测试装置的上盖板锁闭装置包括锁闭挂钩、挂钩销和挂钩把手，所述锁闭挂钩的下端带有内凹的卡口槽，锁闭挂钩的中部通过挂钩销连接到上盖板侧边，两个锁闭挂钩的上端通过挂钩把手连接在一起。
【文档编号】G01R1/02GK204028115SQ201420496878
【公开日】2014年12月17日 申请日期:2014年9月1日 优先权日:2014年9月1日
【发明者】黄掌飞 申请人:苏州市吴中区胥口广博模具加工厂