一种Slimline接口的SATA信号测试治具及测试方法与流程

本发明涉及测试的技术领域，具体涉及一种Slimline接口的SATA信号测试治具及测试方法。

背景技术：

随着板卡密度的不断提高，元器件的封装尺寸越来越小，Slimline作为一种高密度、小尺寸的连接器得到越来越广泛的使用。Slimline接口的信号引脚密度较高且都被包裹，且Slimline接口的SATA信号为高速信号，必须进行信号完整性测试。如果用探头直接在Slimline接口上点测可能会遇到无法正常接触到信号引脚或接触不稳定的情况，从而导致无法正常、精确的进行测试。

针对Slimline接口的SATA信号完整性测试，如果不借助测试治具，只能用高速探头直接在Slimline接口上进行点测。但是，这样操作可能会遇到无法正常接触到信号引脚或接触不稳定的情况，从而导致无法正常、精确的进行测试，测试效率及测试精度无法保证。

技术实现要素：

基于上述问题，本发明提出了一种Slimline接口的SATA信号测试治具及测试方法，提高测试效率和精确度。

本发明提供如下技术方案：

一方面，本发明提供了一种Slimline接口的SATA信号测试治具，包括：

所述测试治具由一个Slimline公头、两对PCB走线及两对SMA公头组成，所述Slimline公头用于所述测试治具与被测接口的连接，所述PCB走线用于将信号从Slimline接口引至所述SMA公头接口，所述SMA公头用于通过SMA线缆与示波器的连接。

其中，所述信号为SATATX信号及RX信号，所述TX是差分的SATA发送信号，所述RX是差分的SATA接收信号。

另外，本发明还提供了一种Slimline接口的SATA信号测试方法，所述方法包括：

信号仿真，对板材、叠层、走线宽度、走线距离、阻抗要求仿真，设置布线规则；

Layout布线设计，按照所述布线规则进行布线设计；

打板，在Layout布线设计完成后进行打板；

测试验证，所述打板完成后进行阻抗、Loss测试；

被测接口与测试治具的连接，开始测试。

其中，被测接口与测试治具的连接具体为：Slimline公头将测试治具与被测接口的连接，PCB走线将信号从Slimline接口引至SMA公头接口，SMA公头通过SMA线缆与示波器的连接。

其中，所述信号为SATATX信号及RX信号，所述TX是差分的SATA发送信号，所述RX是差分的SATA接收信号。

本发明提供了一种Slimline接口的SATA信号测试治具及测试方法，所述测试治具由一个Slimline公头、两对PCB走线及两对SMA公头组成，Slimline公头将所述测试治具与被测接口的连接，所述PCB走线将信号从Slimline接口引至所述SMA公头接口，所述SMA公头通过SMA线缆与示波器的连接。本发明通过测试治具方便地进行Slimline接口的SATA信号测试，实现通过SMA线缆与示波器的连接，操作灵活、方便，提高测试效率，且消除用探头直接点测带来的测试误差，提高了测试精度。

附图说明

图1是本发明的测试治具示意图；

图2是本发明的测试治具与被测接口连接示意图；

图3是本发明的测试治具通过SMA线缆与示波器连接示意图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

基于上述，一方面，本发明的实施方式提供了一种Slimline接口的SATA信号测试治具，附图1是本发明的试治具示意图，附图2是本发明的测试治具与被测接口连接示意图，附图3是本发明的测试治具通过SMA线缆与示波器连接示意图，所述方法包括：

所述测试治具由一个Slimline公头、两对PCB走线及两对SMA公头组成，所述Slimline公头用于所述测试治具与被测接口的连接，所述PCB走线用于将信号从Slimline接口引至所述SMA公头接口，所述SMA公头用于通过SMA线缆与示波器的连接。

在测试治具上预留Slimline公头及SMA公头接口，该治具由1个Slimline公头、2对PCB走线及2对SMA公头组成，Slimline公头用于测试治具与被测接口的连接。PCB走线用于将信号从Slimline接口引至SMA公头接口。SMA公头用于通过SMA线缆与示波器的连接。

如附图1所示，图1中，TX+、TX-是一组差分的SATA发送信号。RX+、RX-是一组差分的SATA接收信号。可以通过SMA线缆与示波器进行连接，从而，方便进行SATA信号完整性测试。

本发明提供了一种Slimline接口的SATA信号测试治具，所述测试治具由一个Slimline公头、两对PCB走线及两对SMA公头组成，Slimline公头将所述测试治具与被测接口的连接，所述PCB走线将信号从Slimline接口引至所述SMA公头接口，所述SMA公头通过SMA线缆与示波器的连接。本发明通过测试治具方便地进行Slimline接口的SATA信号测试，实现通过SMA线缆与示波器的连接，操作灵活、方便，提高测试效率，且消除用探头直接点测带来的测试误差，提高了测试精度。

另一方面，本发明的实施方式提供了一种Slimline接口的SATA信号测试方法，所述方法包括：

信号仿真，对板材、叠层、走线宽度、走线距离、阻抗要求仿真，设置布线规则；

原理设计，根据图1所示，设计测试治具的原理图，本发明的原理是将Slimline接口的SATATX信号及RX信号通过SMA公头引出来，在信号传输路径上不需要加其他任何器件，以保证引出信号的真实性；图1中，TX+、TX-是一组差分的SATA发送信号。RX+、RX-是一组差分的SATA接收信号。

信号仿真，所述治具的用途是用来测试，那么首先要保证信号在治具上传输不会对信号产生影响。为实现此目的，我们要从板材、叠层、走线宽度、走线距离、阻抗要求等方面进行严格的仿真，从而制定出合理的布线规则；

Layout布线设计，按照所述布线规则进行布线设计；

Layout布线设计，按照上述制定的布线规则进行布线设计；

打板，在Layout布线设计完成后进行打板；

测试验证，所述打板完成后进行阻抗、Loss测试；

测试验证，打板完成后进行阻抗、Loss等测试，确保治具满足预期设计要求；

被测接口与测试治具的连接，开始测试。

根据图2所示进行被测接口与测试治具的连接，根据图3(本示意图以测试SATATX为例)所示进行测试治具与示波器的连接，连接完成后即可开展测试。

其中，被测接口与测试治具的连接具体为：Slimline公头将测试治具与被测接口的连接，PCB走线将信号从Slimline接口引至SMA公头接口，SMA公头通过SMA线缆与示波器的连接。

本发明提供了一种Slimline接口的SATA信号测试方法，所述测试治具由一个Slimline公头、两对PCB走线及两对SMA公头组成，Slimline公头将所述测试治具与被测接口的连接，所述PCB走线将信号从Slimline接口引至所述SMA公头接口，所述SMA公头通过SMA线缆与示波器的连接。本发明通过测试治具方便地进行Slimline接口的SATA信号测试，实现通过SMA线缆与示波器的连接，操作灵活、方便，提高测试效率，且消除用探头直接点测带来的测试误差，提高了测试精度。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。