一种电子元器件测试装置的制作方法

本实用新型涉及电子元器件测试的技术领域，特别是一种电子元器件测试装置的技术领域。

背景技术：

中国经历三十多年的快速发展，人们的生活水平不断提高，同时而来的问题是人力成本不断增加，电子产品在生产后需要测试不同的参数，传统的方式是通过人工利用抽检的方式检测，人工检测效率低，同时检测率低，市场需要一种能够适应不同的电子元器件同时铜探针弹性接触的测试机构。

技术实现要素：

本实用新型的目的就是解决现有技术中的问题，提出一种电子元器件测试装置，能够用于测试电子元器件的RDC，L/Q值和极性，兼容产品多，适宜性强，探针与元器件锡角的接触可靠、安全，调节简单、方便。

为实现上述目的，本实用新型提出了一种电子元器件测试装置，包括测试底座、校正调节螺栓、升降座和测试部，所述升降座可上下滑动设置在测试底座上，所述校正调节螺栓穿过升降座可转动设置在测试底座上，所述升降座上设置有用于接触测试工件的测试部，所述升降座包括升降板和升降动力板，所述升降板设置在测试底座侧部的导轨上，所述升降动力板水平固设在升降板上端，所述校正调节螺栓穿过升降动力板上的螺纹孔。

作为优选，所述测试部包括第一安装座、固定限位螺栓、隔板、第一测试铜针和回位弹簧，所述第一安装座的数量为两个，两个第一安装座通过固定限位螺栓连接，两个第一安装座上分别设置有2个导向槽，所述第一测试铜针设置在导向槽中，所述第一安装座之间设置有隔板，所述隔板将第一测试铜针分成左右各两个，所述固定限位螺栓穿过第一测试铜针上的滑移孔，所述滑移孔内设置有回位弹簧，所述回位弹簧上端压在滑移孔上侧，所述回位弹簧下端顶在固定限位螺栓上。

作为优选，所述测试部包括第二安装座、测试压板、第二测试铜针和回位套筒，所述第二安装座下部固设有四个回位套筒，所述第二测试铜针设置在回位套筒中，所述回位套筒与第二测试铜针之间设置有将第二测试铜针向上顶的回位弹簧，所述第二安装座上部设置有用于固定测试样品的测试压板。

作为优选，所述校正调节螺栓包括螺柱和转筒，所述转筒固设在螺柱的上端，所述转筒的轴线与螺柱的轴线重合，所述转筒的弧面上设置有旋转孔。

本实用新型的有益效果：本实用新型通过将测试底座、校正调节螺栓、测试部应用在电子元器件部件测试设备中的电子元器件测试针固定结构中，通过测试底座可以将机构固定在需要的位置，同时固定可靠，通过校正调节螺栓可以调节升降座的高度，满足不同大小的元器件测试，通过测试部可以使电子元器件弹性接触探针，探针与元器件锡角的接触可靠、安全，能够用于测试电子元器件的RDC，L/Q值和极性，兼容产品多，适宜性强。

本实用新型的特征及优点将通过实施例结合附图进行详细说明。

【附图说明】

图1是本实用新型一种电子元器件测试装置实施例一提出的立体示意图；

图2是本实用新型一种电子元器件测试装置实施例一提出的分解示意图；

图3是本实用新型一种电子元器件测试装置实施例二提出的立体示意图；

图4是本实用新型一种电子元器件测试装置实施例二提出的分解示意图；

图5是校正调节螺栓的立体示意图。

图中：1-测试底座、2-校正调节螺栓、21-螺柱、22-转筒、221-旋转孔、3-升降座、31-升降板、32-升降动力板、4-测试部、41-第一安装座、42-固定限位螺栓、43-隔板、44-第一测试铜针、45-回位弹簧、46-第二安装座、47-测试压板、48-第二测试铜针、49-回位套筒。

【具体实施方式】

实施例一，参阅图1、图2和图5，本实用新型一种电子元器件测试装置，包括测试底座1、校正调节螺栓2、升降座3和测试部4，所述升降座3可上下滑动设置在测试底座1上，所述校正调节螺栓2穿过升降座3可转动设置在测试底座1上，所述升降座3上设置有用于接触测试工件的测试部4，所述升降座3包括升降板31和升降动力板32，所述升降板31设置在测试底座1侧部的导轨上，所述升降动力板32水平固设在升降板31上端，所述校正调节螺栓2穿过升降动力板32上的螺纹孔。所述测试部4包括第一安装座41、固定限位螺栓42、隔板43、第一测试铜针44和回位弹簧45，所述第一安装座41的数量为两个，两个第一安装座41通过固定限位螺栓42连接，两个第一安装座41上分别设置有2个导向槽，所述第一测试铜针44设置在导向槽中，所述第一安装座41之间设置有隔板43，所述隔板43将第一测试铜针44分成左右各两个，所述固定限位螺栓42穿过第一测试铜针44上的滑移孔，所述滑移孔内设置有回位弹簧45，所述回位弹簧45上端压在滑移孔上侧，所述回位弹簧45下端顶在固定限位螺栓42上。所述校正调节螺栓2包括螺柱21和转筒22，所述转筒22固设在螺柱21的上端，所述转筒22的轴线与螺柱21的轴线重合，所述转筒22的弧面上设置有旋转孔221。

实施例二，参阅图1-图5，本实用新型一种电子元器件测试装置，包括测试底座1、校正调节螺栓2、升降座3和测试部4，所述升降座3可上下滑动设置在测试底座1上，所述校正调节螺栓2穿过升降座3可转动设置在测试底座1上，所述升降座3上设置有用于接触测试工件的测试部4，所述升降座3包括升降板31和升降动力板32，所述升降板31设置在测试底座1侧部的导轨上，所述升降动力板32水平固设在升降板31上端，所述校正调节螺栓2穿过升降动力板32上的螺纹孔。所述测试部4包括第二安装座46、测试压板47、第二测试铜针48和回位套筒49，所述第二安装座46下部固设有四个回位套筒49，所述第二测试铜针48设置在回位套筒49中，所述回位套筒49与第二测试铜针48之间设置有将第二测试铜针48向上顶的回位弹簧45，所述第二安装座46上部设置有用于固定测试样品的测试压板47。所述校正调节螺栓2包括螺柱21和转筒22，所述转筒22固设在螺柱21的上端，所述转筒22的轴线与螺柱21的轴线重合，所述转筒22的弧面上设置有旋转孔221。

本实用新型工作过程：

本实用新型一种电子元器件测试装置在工作过程中，通过机械手抓取待测试的电子元器件，然后将电子元器件的电极与测试部4上的测试铜针接触，由于测试铜针具有一定的弹性，所以电子元器件不会与测试铜针硬接触，能够更好的防止电子元器件受到损伤，当元器件体积不同时，通过转动校正调节螺栓2带动升降座3上下运动，保证测试铜针上端的高度。

本实用新型一种电子元器件测试装置，通过将测试底座1、校正调节螺栓2、测试部4应用在电子元器件部件测试设备中的电子元器件测试针固定结构中，通过测试底座1可以将机构固定在需要的位置，同时固定可靠，通过校正调节螺栓2可以调节升降座3的高度，满足不同大小的元器件测试，通过测试部4可以使电子元器件弹性接触探针，探针与元器件锡角的接触可靠、安全，能够用于测试电子元器件的RDC，L/Q值和极性，兼容产品多，适宜性强。

上述实施例是对本实用新型的说明，不是对本实用新型的限定，任何对本实用新型简单变换后的方案均属于本实用新型的保护范围。