一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统的制作方法

本实用新型涉及防漏料系统领域，特别涉及一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统。

背景技术：

氟(F)、氯(Cl)、溴(Br)、碘(I)、砹(At)，简称卤素。有机卤化合物本身是有毒的，在人体中潜伏可致癌，且其生物降解率很低，致使在生态系统中产生积累，并且一些挥发性的有机卤素化合物对臭氧层有极大的破坏作用，对环境和人类健康造成严重影响。因此需要对产品的卤素进行测试，以实现无卤化。卤素的测试方法很多，在论文《电子分色片中卤素比的X光荧光光谱测定》中提供了一种用X光荧光光谱测试卤素的方法。

针对基于X荧光光谱分析的卤素测试仪，我国现有如下专利:

专利授权公告号：CN203929682U，公开了一种RoHS专用X荧光分析仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及样品移动测试平台、内置高清晰度摄像头，信号探测装置中设置有与信号处理装置连接的探测器，信号处理装置与计算机连接，激发光源装置与计算机控制连接，激发光源装置中设置有X射线发生器，探测器位于X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上，X射线发生器前设置有滤光片选择装置和准直器，探测器为SDD电制冷探测器。本实用新型可对各类样品中的RoHS指令中有害元素(Pb，Cd，Hg，Br，Cr)进行精准测试及无卤测试。

该专利的样品托架和样品压环可更换，却无法保证样品托架和样品压环之间紧密配合，若存在空隙无法及时察觉，在测试过程中，样品粉尘或碎屑容易掉入仪器测量室内，污染光源装置，影响测量精度，甚至引发故障。

技术实现要素：

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，其特点是能够在样品托架和样品压环配合不紧密，出现漏料风险时及时响应。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，包括断路器、报警器和多个控制触片；控制触片包括第一触片和第二触片，多个所述第一触片设置于样品托架上，并位于样品托架和样品压环相对的一侧；多个所述第二触片均匀分布于样品压环上，与所述第一触片相对的一侧；所述第二触片和第一触片能够接触，第一触片和第二触片接触不良能够触发断路器和报警器；所述断路器能够断开卤素测试仪的电源。

通过上述技术方案，当样品托架和样品压环配合不紧密，出现漏料风险时，缝隙处的第一触片和第二触片的接触不良，能够触发断路器和报警器，及时响应，发出报警信号并切断卤素测试仪的电源。

优选的，还包括PLC控制器，若干所述第一触片的输入端通过上拉电阻与电源连接，所述第二触片接地，所述第一触片的输出端与所述PLC控制器的输入端连接。

通过上述技术方案，当第一触片和第二触片接触良好时，第一触片的输出端向PLC控制器输入低电平信号；当第一触片和第二触片接触不良时，第一触片的输出端向PLC控制器输入高电平信号。

优选的，还包括PLC控制器，若干所述第一触片通过或门与PLC控制器连接。

通过上述技术方案，当其中任意第一触片与第二触片之间接触不良时，即可通过或门向PLC控制器发出高电平信号。

优选的，还包括PLC控制器，若干所述第一触片的输入端通过下拉电阻接地，所述第二触片连接电源，所述第一触片的输出端与所述PLC控制器的输入端连接。

通过上述技术方案，当第一触片和第二触片接触良好时，第一触片的输出端向PLC控制器输入高电平信号；当第一触片和第二触片接触不良时，第一触片的输出端向PLC控制器输入低电平信号。

优选的，若干所述第一触片通过与门与PLC控制器连接。

通过上述技术方案，当其中任意第一触片与第二触片之间接触不良时，即可通过与门向PLC控制器发出低电平信号。

优选的，还包括中间继电器，中间继电器的线圈与PLC控制器的输出端连接；断路器中设置有分励脱扣器，分励脱扣器中的分励线圈与中间继电器的辅助触点连接。

通过上述技术方案， PLC控制器能够令中间继电器的线圈得电，中间继电器的辅助触点闭合，使得分励脱扣器的分励线圈得电，分励脱扣器自动脱扣，触发断路器，使卤素测试仪停止工作。

优选的，所述报警器与所述PLC控制器连接。

通过上述技术方案，PLC控制器能够触发报警器，使报警器开始工作。

优选的，所述报警器为声光报警器。

通过上述技术方案，采用声光报警器，能够输出声光报警信号，提示工作人员。

优选的，若干所述第一触片均匀分布于样品托架上。

通过上述技术方案，能够保证当样品托架和样品压环存在缝隙时，缝隙处存在第一触片和第二触片。

本实用新型的有益效果在于:通过设置防漏料系统，能够在样品托架和样品压环配合不紧密，出现漏料风险时及时响应。

附图说明

图1为卤素测试仪的电气连接示意图；

图2为实施例1的电气连接图；

图3为实施例2的电气连接图；

图4为实施例3的电气连接图；

图5为实施例4的电气连接图；

图6为背景技术中样品移动测试平台的结构示意图；

图7为实施例1中样品托架的结构示意图；

图8为实施例1中样品压环的结构示意图。

附图标记：1、样品移动测试平台；2、样品测试托板；3、样品托架；4、样品压环；5、第一触片；6、第二触片；7、断路器；8、报警器；9、高压电源；10、探测器电源；11、PLC处理器；12、分励脱扣器；13、分励线圈；14、或门；15、与门。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

如图6所示，样品移动测试平台1，包括样品测试托板2、可更换的样品托架3以及样品压环4。

实施例1：一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，如图2所示，包括若干第一触片5、与第一触片5对应的第二触片6、断路器7和报警器8。断路器7用于切断卤素测试仪的电源，报警器8用于发出报警信号。第一触片5和第二触片6用于触发断路器7和报警器8，当第一触片5和第二触片6的接触不良时断路器7和报警器8即被触发。报警器8为声光报警器。

如图7所示，若干第一触片5均匀设置于样品托架3上，位于样品托架3和样品压环4相对的侧面。

如图8所示，若干第二触片6均匀设置于样品压环4上，位于样品压环4和样品托架3相对的侧面。第二触片6与第一触片5相对设置。

当样品压环4和样品托架3紧密配合时，第一触片5和第二触片6接触良好，能够良好导电。当样品压环4和样品托架3之间配合不紧密，出现缝隙时，缝隙处的第一触片5和第二触片6接触不良，无法导电。

如图1所示，断路器7与高压电源9和探测器电源10连接，能够切断高压电源9和探测器电源10，使卤素测试仪停止工作。

如图2所示，系统中还包括PLC处理器和中间继电器。断路器7中设置有分励脱扣器12，分励脱扣器12内设有分励线圈13。第一触片5的输入端通过上拉电阻R1连接电源VCC，第一触片5的输出端与PLC控制器11的输入端连接。第二触片6接地。中间继电器的线圈KA-1与PLC控制器11的输出端连接。中间继电器的辅助触点KA-2与分励线圈13连接，辅助触点KA-2闭合能够使分励线圈13得电。报警器8连接PLC控制器11的输出端。

当第一触片5和第二触片6接触良好时，第一触片5的输出端向PLC控制器11输入低电平信号。当第一触片5和第二触片6接触不良时，第一触片5的输出端向PLC控制器11输入高电平信号。此时PLC控制器11触发报警器8，使报警器8开始工作，输出声光报警信号。同时，PLC控制器11令中间继电器的线圈KA-1得电，中间继电器的辅助触点KA-2闭合，使得分励脱扣器12的分励线圈13得电，分励脱扣器12自动脱扣，触发断路器7，使卤素测试仪停止工作。

本实施例的使用方式如下：在样品压环4装配到样品托架3上，启动卤素测试仪后。若样品压环4和样品托架3之间存在缝隙，缝隙处的第一触片5和第二触片6的接触不良，通过PLC控制器11触发报警器8发出报警，并通过断路器7使卤素测试仪停止工作。

实施例2：一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，与实施例1的不同之处在于，如图3所示，若干第一触片5的输出端通过或门14与PLC控制器11连接。当其中任意第一触片5与第二触片6之间接触不良时，即可通过或门14向PLC控制器11发出高电平信号。

实施例3：一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，与实施例1的不同之处在于，如图4所示，第一触片5的输入端通过下拉电阻R2接地，第一触片5的输出端与PLC控制器11的输入端连接。第二触片6与电源VCC连接。当第一触片5和第二触片6接触良好时，第一触片5的输出端向PLC控制器11输入高电平信号。当第一触片5和第二触片6接触不良时，第一触片5的输出端向PLC控制器11输入低电平信号。

实施例4：一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，与实施例2的不同之处在于，如图5所示，若干第一触片5的输出端通过与门15与PLC控制器11连接。当其中任意第一触片5与第二触片6之间接触不良时，即可通过与门15向PLC控制器11发出低电平信号。

以上所述仅是本实用新型的示范性实施方式，而非用于限制本实用新型的保护范围，本实用新型的保护范围由所附的权利要求确定。