样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法与流程

技术特征：

技术总结
本申请公开一种样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法。所述样品分析组件包括：载台，设有用于放置样品的承载区；检测机构，设于承载区的上方，用于获取样品的膜内异物的位置；扎针机构，设置于载台上，所述扎针机构包括针，所述针用于扎出样品的膜内异物。基于此，本申请能够有利于对膜内异物进行成分分析。

技术研发人员：易国霞
受保护的技术使用者：武汉华星光电半导体显示技术有限公司
技术研发日：2018.05.11
技术公布日：2018.10.12