用于检验部件的支撑装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及用于测量或检验具有小尺寸的部件、特别是用于对旋转或枢转部件定心的支撑装置。本发明的特定应用领域涉及手表机构部件的测量或检验。
【背景技术】
[0002]钟表心轴和轮组的测量必须通过在不造成任何测量不确定性的情况下定位样品来进行。常规地，若干测量技术用来检验移动部件的所有几何形状，这些检验操作在合格人员和材料方面需要大量的资源。
[0003]目视检验方法可用来测量几种待检验的几何形状，但这些方法的困难在于确保待检验表面不通过将零件保持在位而被遮挡。此外，为了支撑旋转的钟表零件，旋转轴线在每个零件的旋转期间必须连续地保持平衡，而没有显著的振动。
[0004]迄今为止使用的常规测量技术不能在轮组心轴的两个端部之间的径向距离上以小于100微米的精度测量轮组的倾斜误差。
[0005]本发明的目的是提供一种用于检验或测量具有毫米尺度或更小的小尺寸的部件的支撑装置，该装置是实施起来准确、可靠而经济的。
[0006]本发明的特定目的是提供一种用于通过允许观察小尺寸部件的设备检验或测量的支撑装置，该装置是实施起来准确、可靠而经济的。
[0007]本发明的特定目的是提供一种用于通过允许观察小尺寸的钟表机构部件的设备检验或测量的支撑装置，该装置是实施起来准确、可靠而经济的。
[0008]本发明的特定目的是提供一种包括支撑装置的测量和检验设备，该支撑装置用于通过允许观察诸如钟表机构部件的小尺寸部件的设备检验或测量，并且是实施起来准确、可靠而经济的。
[0009]有利的是提供一种具有非常低的旋转构件磨损的一体化了轴向轴承的支撑装置。
[0010]有利的是提供一种具有高效率的一体化了轴向轴承的支撑装置。
[0011]有利的是提供一种紧凑而稳固的支撑装置。
[0012]有利的是提供一种支撑装置，其确保将由不合格的操作者测量或检验的零件能被迅速地设定到位。
[0013]有利的是提供一种能够在测量期间将旋转的零件保持在稳定位置的支撑装置。
[0014]有利的是提供一种支撑装置，其能够在静止和动态尺寸被检验时保证旋转零件的旋转轴线的取向。
[0015]有利的是提供一种测量设备，其能够接受具有轮和小齿轮的各种成形零件(例如，长的、短的或梯级的心轴)和其它钟表机构部件。
【发明内容】
[0016]本发明的目的通过根据权利要求1所述的支撑装置来实现。从属权利要求描述了本发明的有利方面。
[0017]本说明书描述了一种支撑装置，该装置包括具有主体的支撑件、布置在支撑件的表面上的工作表面、安装在支撑件的外壳中的场集中元件、以及取决于变型的磁场和/或电场发生器。场集中元件包括基座部分和布置成靠近工作表面的场集中部分，该基座部分包括在其周边处具有平均宽度或直径D2的轴向基座表面，该平均宽度或直径D2大于在轴向端表面上的通量集中部分的直径D1。基座部分由弯曲表面连接到通量集中部分。
[0018]集中元件的弯曲表面优选地具有连续的形状。在一个变型中，弯曲表面具有环形圆纹曲面的(复曲面的，toric)形状，该形状具有恒定的曲率半径。在另一个有利的变型中，弯曲表面具有环形圆纹曲面的形状，该形状具有可变的曲率半径，弯曲部分具有布置在通量集中部分侧上的大的半径。弯曲表面可以有利地相切地接合通量集中部分。通量集中可以有利地包括圆柱形部段和垂直于支撑装置的轴线的平面或大致平面的轴向端表面。
[0019]在一个特定实施例中，集中元件的轴向端表面的直径包括在0.15和0.6毫米之间，基座部分的直径或宽度包括在2和3毫米之间，并且弯曲表面的半径包括在1.5和4毫米之间。
[0020]在一个特定实施例中，场集中元件的材料为磁性软钢，其由等于或大于100的最大磁导率mK和等于或大于5kA/m的矫顽磁场He来表征。
[0021 ] 在一个特定实施例中，场集中元件的材料为电介质，其介电强度等于或大于1kV/mmD
[0022]在一个特定实施例中，场发生器是具有超过I特斯拉的饱和磁场的稀土永磁体。
[0023]在一个实施例中，场发生器可包括电容器。
[0024]场发生器可安装在形成于支撑件主体中的腔体中，场发生器邻接或靠近场集中元件的一部分的轴向基座表面。
[0025]工作表面的材料可有利地选自具有高的硬度和良好的摩擦学性质的材料，包括金刚砂、金刚石和其它贵重的石头和陶瓷材料。
[0026]工作表面可形成组装在封闭外壳的端壁上的端件的一部分。外壳可包括圆柱形壁，并且端壁大致呈圆盘形式，该圆盘具有用于固定端件的中心孔。
[0027]本发明的目的由根据权利要求15所述的用于测量或检验小尺寸零件的器械来实现。
[0028]这里描述了一种测量或检验器械，其包括承载第一支撑装置和第二互补的支撑装置的框架，第一支撑装置包括:具有主体的支撑件、布置在支撑件的表面上的工作表面、安装在支撑件的外壳中的场集中元件、以及取决于变型的磁场和/或电场发生器。场集中元件包括基座部分和布置成靠近工作表面的场集中部分，基座部分包括在其周边处具有平均宽度或直径的轴向基座表面，平均宽度或直径大于在轴向端表面上的通量集中部分的直径，两个支撑装置在相同的轴线A上对齐，支撑装置相对于彼此以相对方式取向并且构造成在支撑装置之间接纳待测量或待检验的构件。
[0029]框架可有利地包括滑动装置，用于改变支撑装置之间的距离，以便测量或检验不同长度的构件。
[0030]在一个有利的实施例中，器械构造成使得待检验的构件的第一端部邻靠支撑装置中的第一个，另一端部通过小的空间与互补的支撑装置间隔开。该构型通过使由第一支撑装置施加的磁性和/或电吸引力比由互补的支撑装置所施加的磁性和/或电吸引力大来获得。
[0031]该器械的支撑装置可有利地包括上述装置的一个或多个特征。
[0032]本发明的目的也由光学测量或光学检验设备实现，其包括光学摄像机并且并入测量或检验器械。
【附图说明】
[0033]本发明的其它有利的目的和方面将在阅读权利要求书以及下文中的【具体实施方式】和附图之后显而易见，在附图中:
图1是根据本发明的一个实施例的测量器械的视图。
[0034]图2a和图2b是根据本发明的一个实施例的支撑装置的剖视图和前视图。
[0035]图3a是根据本发明的一个实施例的支撑装置的场集中元件的透视图。
[0036]图3b是根据本发明的一个实施例的支撑装置的场集中元件的变型的侧视图。
[0037]图4a、4b是由根据本发明的一个实施例的测量或检验设备的光学摄像机在待检验构件的检查期间拍摄的照片，图4a示出整个构件，而图4b示出构件的一个端部的详细视图。
【具体实施方式】
[0038]参看附图，根据本发明的一个实施例的测量器械I包括承载支撑装置2和互补的支撑装置4的框架9，这两个支撑装置在相同的轴线A上对齐，支撑装置相对于彼此以相对的方式取向并且构造成在装置之间接纳待测量或待检验的构件3。框架9可包括具有其它可移动元件的滑动装置以用于改变两个支撑装置2和4之间的距离，以使得不同长度的构件能够被测量或检验。
[0039]支撑装置构造成集中和导向磁场、或在一个变型中电场、或在一个变型中电场和磁场的组合，以便根据一个变型通过将静磁力和/或静电力施加到所述构件而对待检验或待测量的构件3定心。
[0040]如图4a所示，在一个优选的实施例中，测量器械构造成使得待检验的构件3的心轴5的第一端部7a邻靠支撑装置中的一个2，另一端部7b通过小的空间与互补的支撑装置4的表面间隔开。该构型可通过使由支撑装置2施加的静磁和/或静电吸引力(取决于变型)比