一种smd封装半导体器件热阻测试夹具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及半导体测试技术领域。
【背景技术】
[0002]半导体器件的热特性是可靠性设计中的重要内容之一。为确保器件使用时的可靠性，器件的结构设计要考虑器件的散热特性，而这些设计的定量计算，都需要依据器件的热阻参数。因此半导体器件的热阻是反映器件热特性的一个重要参数。
[0003]热量在导热路径上遇到的阻力即为热阻。其定义为导热路径上的温度差与消耗功率的比值。器件结到壳的热阻是芯片的热源结到封装外壳间的热阻，即:。通过热阻测试仪可得器件工作时的结温Tt，按照测试标准规定的测试方法，进行结到壳热阻测试时，将器件的封装外壳温度(即壳温)通过控温平台控制在某一固定温度，如此可得器件的结到壳热阻。
[0004]对于SMD (Surface Mount Devices，表面贴装器件)封装的半导体器件，其三个电极均位于器件底面，且在同一平面上，由于其工作时外壳温度较高的部分为引出电极的底面，控制外壳温度时，需要将电极面贴紧控温平台和热电偶探头，但控温台为金属材质，若直接将器件贴在控温平台上，必然会由于电极短路而无法进行测试。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种SMD封装半导体器件热阻测试夹具，保证被测SMD器件与恒温台间具有良好的导热性，有利于控制外壳温度在要求范围内，同时保证被测SMD器件各个电极之间绝缘，保证测量的正常进行；且定位简单准确，安装方便，实现SMD封装半导体器件热阻的快速测量，适用于各个尺寸型号的SMD封装半导体器件的热阻测试。
[0006]为解决上述技术问题，本实用新型所采取的技术方案是:
[0007]一种SMD封装半导体器件热阻测试夹具，包括金属底座、PCB电路板、绝缘定位块和压紧块，所述金属底座上设有凹槽，PCB电路板置于凹槽内，PCB电路板上面设有绝缘定位块，绝缘定位块本体上设有与被测SMD器件相适配的定位放置孔，绝缘定位块上面设有能向下压紧被测SMD器件的压紧块；凹槽底部设有与被测SMD器件的电极位置对应的热电偶探头放置孔；所述凹槽侧面设有两个电极接线孔，所述PCB电路板上设有两个将被测SMD器件引脚与电极接线孔相连的电极。
[0008]进一步的技术方案，所述压紧块为T形，下部设有凸起，所述凸起将被测SMD器件向下压紧，压紧块两端通过螺钉固定在凹槽的槽沿上。
[0009]进一步的技术方案，所述绝缘定位块结构与凹槽相适配，绝缘定位块至少一组对边设有手持内凹缺口。
[0010]进一步的技术方案，所述PCB电路板为镀镍金电路板，PCB电路板的厚度为0.5mm。采用镀镍金电路板导热快，利于被测SMD器件与恒温台间的热量传输。
[0011]进一步的技术方案，所述绝缘定位块和压紧块为聚四氟乙烯材质。不同于刚性的绝缘材料，压紧块采用聚四氟乙烯材质，是考虑到聚四氟乙烯的导热系数跟空气的导热系数相近，采用这种材质，可以尽量模仿被测器件的实际工作状态，避免给工作状态下的被测器件引入新的散热路径，并且聚四氟乙烯具有一定的弹性，压紧块两边固定后，能够为凸起下的被测SMD器件施加一定的力。
[0012]进一步的技术方案，所述PCB电路板与凹槽之间涂有导电银浆或铺有导电纸。
[0013]进一步的技术方案，所述金属底座两侧设有底座固定孔，用于将底座固定在恒温台上。
[0014]进一步的技术方案，所述PCB电路板的电极周围及与被测SMD器件对应位置设有若干散热孔，所述散热孔的直径为0.5_。
[0015]进一步的技术方案，所述金属底座为铜材质，导热性好且成本低廉；所述凹槽底部厚度为1_，保证被测SMD器件与恒温台间实现较快的热传递。
[0016]进一步的技术方案，所述电极接线孔内安装有绝缘子，由于底座为铜材质，安装绝缘子使得导线穿过凹槽侧壁时与金属底座绝缘，保证测试的可靠性与安全性；所述电极两侧设有未镀镍金的绝缘通道，绝缘通道沿电极设置，与绝缘子共同作用，避免两个电极短路。
[0017]采用上述技术方案所产生的有益效果在于:本实用新型保证被测SMD器件与恒温台间具有良好的导热性，有利于控制外壳温度在要求范围内，同时保证被测SMD器件各个电极之间绝缘，保证测量的正常进行；且定位简单准确，安装方便，实现SMD封装半导体器件热阻的快速测量，适用于各个尺寸型号的SMD封装半导体器件的热阻测试；设有的PCB电路板通过电极为被测SMD器件施加功率，同时杜绝被测SMD器件与金属底座的电连接，设有的散热孔又能够将被测SMD器件的热量散发至金属底座，从而保证与恒温台间的热传递；金属底座为铜材质，成本低廉，导热效果好；设有的压紧块能够向被测SMD器件施加压力，从而保证被测SMD器件与PCB电路板之间具有良好的电接触与热传递，保证测试工作能够顺利进行；设有的绝缘定位块能够实现快速定位，提高工作效率。
【附图说明】
[0018]图1是本实用新型结构示意图；
[0019]图2是图1中PCB电路板的结构示意图；
[0020]在附图中:1、金属底座，2、PCB电路板，3、绝缘定位块，4、被测SMD器件，5、压紧块，6、螺钉，7、底座固定孔，8、电极接线孔，9、螺孔，10、热电偶探头放置孔，11、散热孔，12、绝缘通道，13、电极，14、凹槽，15、定位放置孔。
【具体实施方式】
[0021]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型作进一步详细的说明。
[0022]如图1所示，一种SMD封装半导体器件热阻测试夹具，包括金属底座1、PCB电路板
2、绝缘定位块3和压紧块5。金属底座I为铜材质，金属底座I上设有凹槽14，凹槽14底部厚度为Imm。PCB电路板2置于凹槽14内，PCB电路板2与凹槽14之间涂有导电银浆或铺有导电纸，PCB电路板2为镀镍金电路板，PCB电路板2的厚度为0.5mm，镀镍金电路板具有良好的导热性，有利于被测SMD器件4与恒温台间的热量传输。PCB电路板2上面设有绝缘定位块3，绝缘定位块3结构与凹槽14相适配，绝缘定位块3的四周边缘均设有弧形的手持内凹缺口，测试时方便从金属底座I上取出与置入。绝缘定位块3本体上设有与被测SMD器件4相适配的定位放置孔15。绝缘定位块3上面设有能向下压紧被测SMD器件4的压紧块5。压紧块5为T形，下部设有凸起，凸起将被测SMD器件4向下压紧，压紧块5