一种测试装置的制造方法

文档序号:10987172阅读:276来源:国知局
一种测试装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种测试装置,包括测试装置本体,以及用于固定测试装置本体的固定夹,测试装置本体通过所述固定夹固定在待测试对象上;测试装置本体包括测量筒、第一调节杆、第二调节杆和探针,第一调节杆、第二调节杆的各自一端分别相对的可转动连接在测量筒的两端,第一调节杆、第二调节杆的至少其中之一上插接有所述探针,探针位于测量筒上,其能够沿着测量筒的径向滑动,并且能够在相应的调节杆的带动下沿着测量筒的轴向移动。由于探针能够在调解杆以及连接件和夹持装置的作用下,精细调节探测位置,使得测试装置的探针能够实现对待测试点的精准定位,减小了测试难度,避免了对测试对象的触碰损坏,提高了工作效率。
【专利说明】
一种测试装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及测试技术领域,更具体地,涉及一种测试装置。
【背景技术】
[0002]在电子产品的生产过程中,经常需要对各种电子产品进行检测测试,如对集成电路板上的金手指端的单根金手指或者显示屏上的信号测试点进行测试,或者是对两个引脚进行短路测试。
[0003]现有技术中通常应用示波器进行上述测试,但是示波器的探头相对较粗,往往不能实现对测试点的精准定位,具有较大的测试难度;同时,由于某些电路板上的引脚密集,尺寸较小,在进行测试定位时,很容易由于触碰到待测试点周围的诸如引脚等结构,而损坏电路板。
【实用新型内容】
[0004]有鉴于此,本实用新型的目的在于提供一种能够实现对小尺寸以及小间距待测试点的精准定位的测试装置。
[0005]根据本实用新型提供一种测试装置,包括测试装置本体,以及用于固定测试装置本体的固定夹,所述测试装置本体通过所述固定夹固定在待测试对象上;
[0006]所述测试装置本体包括测量筒、第一调节杆、第二调节杆和探针,所述第一调节杆、第二调节杆的各自一端分别相对的可转动连接在所述测量筒的两端,所述第一调节杆、第二调节杆的至少其中之一上插接有所述探针,所述探针位于所述测量筒上,其能够沿着所述测量筒的径向滑动,并且能够在相应的调节杆的带动下沿着所述测量筒的轴向移动。
[0007]优选地,在所述测量筒上设置有径向贯通该测量筒的第一滑槽,所述第一滑槽沿着所述测量筒的轴向延伸,所述探针位于所述滑槽内,并能够沿着所述滑槽滑动。
[0008]优选地,所述测试装置本体还包括用于锁定所述探针的探针锁紧单元,所述探针锁紧单元包括滑动件和螺栓,所述探针锁紧单元可滑动的安装在所述测量筒上。
[0009]优选地,在所述测量筒上还设置有第二滑槽,所述滑动件安装在所述第二滑槽上。
[0010]优选地,在所述第一调节杆和第二调节杆露出在所述测量筒的一端上设置有调节螺母,所述调节螺母包括沿着所述调节杆的轴向依次设置的第一调节螺母和第二调节螺母。
[0011]优选地,在所述测量筒的外表面上还设置有刻度。
[0012]优选地,还包括用于将所述测试装置本体连接在所述固定夹上的连接件,所述连接件的一端可滑动连接在所述固定夹上,相对的另一端固定在所述测试装置本体上。
[0013]优选地,所述连接件包括卡箍,以及与之相连接的固定臂,所述卡箍用于卡紧所述测量筒,所述固定臂用于可滑动的连接在所述固定夹上。
[0014]优选地,在所述测量筒上还设置有辅助观察单元,所述辅助观察单元包括放大镜,以及与所述放大镜配合使用的照明灯。
[0015]优选地,所述测试装置本体还包括连接杆,所述第一调节杆和第二调节杆与探针之间分别通过各自的连接杆连接。
[0016]根据本发明提供的测试装置,由于探针能够在调解杆以及连接件和夹持装置的作用下,精细调节探测位置,使得测试装置的探针能够实现对待测试点的精准定位,减小了测试难度,避免了对测试对象的触碰损坏,提高了工作效率。
【附图说明】
[0017]通过以下参照附图对本实用新型实施例的描述,本实用新型的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚。
[0018]图1-2为从不同方向观察时根据本实用新型实施例的测试装置的示意图;
[0019]图3为根据本实用新型实施例的测试装置本体的立体结构示意图;
[0020]图4为图3的A-A剖视图。
【具体实施方式】
[0021]以下将参照附图更详细地描述本实用新型的各种实施例。在各个附图中,相同的元件采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见,附图中的各个部分没有按比例绘制。
[0022]图1-2为从不同方向观察时根据本实用新型实施例的测试装置的示意图。如图1-2所示,本实用新型中的测试装置,包括测试装置本体I,以及用于固定测试装置本体I的固定夹2,所述固定夹可为一个,两个,或者多个,优选为两个。所述测试装置本体I通过所述固定夹固定在待测试对象100上,所述待测试对象例如为液晶显示屏或者是集成电路板。
[0023]在一个实施例中,所述测试装置还包括用于将所述测试装置本体I连接在所述固定夹2上的连接件3。在所述测试夹2的其中一个上端面上设置轨道21,所述连接件3的一端可滑动连接在所述固定夹2的轨道21内,相对的另一端固定在所述测试装置本体I上。所述连接件3包括卡箍31,以及与之相连接的固定臂32,所述卡箍31用于卡紧所述测试装置本体I,所述固定臂32用于可滑动的连接在所述固定夹2上。这种结构设计,使得所述连接件3能够带动所述测试装置本体I沿着轨道来回滑动,从而调节探针的位置。当然,所述连接件3也可通过所述固定夹2直接加紧在所述待测试对象上。
[0024]图3为根据本实用新型实施例的测试装置本体的立体结构示意图。如图3所示,所述测试装置本体I包括测量筒11、第一调节杆12、第二调节杆13和探针14,所述第一调节杆12、第二调节杆13的各自一端分别相对的可转动连接在所述测量筒11的两端,具体可为螺纹连接的方式,但不限于该种连接方式。所述第一调节杆12、第二调节杆13的至少其中之一上插接有所述探针14,所述探针14位于所述测量筒11上,其能够沿着所述测量筒的径向滑动,并且能够在相应的调节杆的带动下沿着所述测量筒的轴向移动。在所述测量筒11上设置有径向贯通该测量筒的第一滑槽111,所述第一滑槽111沿着所述测量筒11的轴向延伸,所述探针14位于所述滑槽111内,并能够沿着所述滑槽111滑动。在所述测量筒11的外表面上还设置有刻度(图中未示),例如在对两个引脚进行短路测试时,可通过所述刻度确定两个探针之间的距离。
[0025]所述测试装置本体还包括用于锁定所述探针位置的探针锁紧单元15,所述探针锁紧单元15可滑动的安装在所述测量筒11上。所述探针锁紧单元15包括滑动件151和螺栓152,所述螺栓152可转动的连接在所述滑动件151上。在所述测量筒11上还设置有第二滑槽112,所述滑动件151安装在所述第二滑槽112上。
[0026]图4为根据本实用新型实施例的测试装置本体的剖视图。如图4所示,所述测量筒11上设置有内螺纹,在所述第一调节杆12和第二调节杆13上设置有外螺纹,两者通过螺纹配合相对的连接在所述测量筒11的两端。所述两个调节杆和探针14之间分别通过各自的连接杆16连接。所述连接杆16包括分别位于两端的凸缘部161和卡槽部162,以及连接所述凸缘部和卡槽部的连接部163,其中,所述凸缘部161可转动的卡合在所述调节杆内。优选的,所述连接部163为圆柱形。所述卡槽部162与所述探针14相配合,使得探针能够插接在该卡槽部中,并能够沿着卡槽来回推动探针。
[0027]为了便于装配,所述调节杆可设计为分体组合结构。
[0028]在所述探针上相对具有尖部的一端还设置上还设置有连接帽4,所述连接帽上具有与所述探针相配的卡合口,能够使得所述连接帽卡合在所述探针上。所述连接帽可用于插接万用表的表笔等,以实现测试回路的连接。
[0029]在所述两个调节杆各自露出在所述测量筒11的一端上分别设置有调节螺母。所述调节螺母包括沿着所述调节杆的轴向依次设置的第一调节螺母10和第二调节螺母20,优选地,所述第二调节螺母20的直径为所述第一调节螺母20直径的至少1.5倍,所述第一调节螺母和第二调节螺母分别用于粗调节和精细调节。
[°03°] 在所述测量筒11上还设置有辅助观察单元17,所述辅助观察单元包括放大镜171,以及与所述放大镜171配合使用的照明灯(图中未示),在使用时,所述照明灯可位于所述放大镜的上方或者是待观察位置的一侧,为待测试对象提供照明,用于辅助观察探针的测试位置。
[0031]在一个实施例中,在所述测量筒11的两端分别设置有两组放大镜和照明灯。所述放大镜具有支撑架,所述支撑架包括依次连接的第一连接杆172、第二连接杆173和第三连接杆174,所述第一连接杆的第一端铰接在所述测量筒上,所述第二连接杆的第一端铰接在所述第一连接杆的第二端上,所述第二连接杆的第二端与所述第三连接杆的第一端通过球铰式连接。其中,所述前两个铰接方式为轴铰式连接。这种结构设计,使得所述放大镜能够根据需要调整到各个角度,以便更好的观察探针与待测试的接触位置。
[0032]在测试装置使用时,首先根据待测试对象,例如根据待测试对象的尺寸大小和形状,来选择合适的固定夹夹持位置,将固定夹2夹持在所述待测试对象100上。然后通过连接件上的卡箍抱紧在所述测量筒上,将所述测试装置本体固定在合适的位置上。然后,来回调节所述连接件在所述固定夹上的位置,直到探针位于待测试点附近,例如待测试的针脚(pin脚)附近。依次旋动所述第一调节螺母10和第二调节螺母20,调节探针在所述测量筒轴向上的位置,直到探针位于待测试点的正上方。朝向下方推动探针14,直至探针的尖部接触到待测试点。最后,拧紧所述探针锁紧单元,锁定探针位置。当测试例如两个引脚之间的连接情况时,只需要将万用表的两个表笔插入相应的连接帽,其他测试于此类似,这里不做赘述。
[0033]本申请中的测试装置,由于探针能够在调解杆以及连接件和夹持装置的作用下,精细调节探测位置,使得所述测试装置的探针能够实现对诸如集成电路板上的小间距引脚等待测试点的精准定位,减小了测试难度,避免了对测试对象的触碰损坏,提高了工作效率。
[0034]应当说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0035]最后应说明的是:显然,上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例,而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之中。
【主权项】
1.一种测试装置,其特征在于,包括测试装置本体(I),以及用于固定测试装置本体(I)的固定夹(2),所述测试装置本体(I)通过所述固定夹(2)固定在待测试对象(10)上; 所述测试装置本体包括测量筒(U)、第一调节杆(12)、第二调节杆(13)和探针(14),所述第一调节杆(12)、第二调节杆(13)的各自一端分别相对的可转动连接在所述测量筒(11)的两端,所述第一调节杆(12)、第二调节杆(13)的至少其中之一上插接有所述探针(14),所述探针位于所述测量筒(11)上,其能够沿着所述测量筒的径向滑动,并且能够在相应的调节杆的带动下沿着所述测量筒的轴向移动。2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,在所述测量筒(11)上设置有径向贯通该测量筒的第一滑槽(111),所述第一滑槽(111)沿着所述测量筒(11)的轴向延伸,所述探针位于所述滑槽内,并能够沿着所述滑槽滑动。3.根据权利要求1或2所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置本体(I)还包括用于锁定所述探针(14)的探针锁紧单元(15),所述探针锁紧单元包括滑动件(151)和螺栓(152),所述探针锁紧单元可滑动的安装在所述测量筒(11)上。4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,在所述测量筒上还设置有第二滑槽(112),所述滑动件(151)安装在所述第二滑槽上。5.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,在所述第一调节杆(12)和第二调节杆(13)露出在所述测量筒的一端上设置有调节螺母,所述调节螺母包括沿着所述调节杆的轴向依次设置的第一调节螺母(10)和第二调节螺母(20)。6.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,在所述测量筒(II)的外表面上还设置有刻度。7.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,还包括用于将所述测试装置本体(I)连接在所述固定夹(2)上的连接件(3),所述连接件(3)的一端可滑动连接在所述固定夹(2)上,相对的另一端固定在所述测试装置本体(I)上。8.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于,所述连接件(3)包括卡箍(31),以及与之相连接的固定臂(32),所述卡箍(31)用于卡紧所述测量筒,所述固定臂(32)用于可滑动的连接在所述固定夹上。9.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,在所述测量筒上还设置有辅助观察单元(17),所述辅助观察单元包括放大镜(171),以及与所述放大镜(171)配合使用的照明灯。10.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置本体(I)还包括连接杆(16),所述第一调节杆(12)和第二调节杆(13)与探针之间分别通过各自的连接杆(16)连接。
【文档编号】G01R1/073GK205679647SQ201620616849
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年6月21日 公开号201620616849.6, CN 201620616849, CN 205679647 U, CN 205679647U, CN-U-205679647, CN201620616849, CN201620616849.6, CN205679647 U, CN205679647U
【发明人】石靖, 吴二平
【申请人】昆山龙腾光电有限公司
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