专利名称：电子元件处理器的制作方法
发明的背景本发明主要涉及通常称为“处理器”的设备，其用于接收在电子电路中应用的大量元件，例如陶瓷电容器，并将它们送入用于参数测试的测试器，继而根据测试结果拣选元件。在此所用的术语“元件”是指陶瓷电容器和任何其它具有允许采用本发明来处理的形状的电子或电气装置。
本发明所述的处理器比现有技术有重大的进步。它避免了为了测试的目的进行手工安插元件以及后来的手工拣选。与现有技术相比，它每单位时间可以处理更多的元件。它处理带有多对对向端子的元件。它随机地排列的大量的元件，将它们合适地定向并送到测试电流接触器中，并提供根据测试结果个别地拣选测试元件的装置。
本发明的其它的优点和特征如下所述
本发明的目的还在于提供一种比现有技术中的处理器提高产量的元件处理器。
本发明的目的还在于提供一种可以接收随机排列成串的元件的元件处理器并自动地(1)将每个元件安插到各自的用于测试的适当排列的测试座上，(2)同时，将每个定位的元件的一系列的端子同测试器电连接，(3)继而根据测试结果取下和拣选测试过的元件。
本发明的目的还在于提供如上所述的可以将大量元件排列成串的元件处理器。
本发明的目的还在于提供如上所述的一种元件处理器，其包括一装载机构用于接收成串的元件并单个地安插到由一旋转运输机围成的环形座上，环形座以旋转轴为中心。
本发明的目的还在于提供如上所述的一种元件处理器，其同时可以把一系列的安插后的元件送向一系列的电流接触器。
通过元件处理器可以实现这些目的以及在说明书中表述或包含的其它目的，所述的元件处理器具有环状排列的、相同的、用于安插单个元件的测试座或者槽、使环分度旋转的驱动装置、在旋转环轨道上的用于接收成串元件并将它们安插到环上的装载站、在旋转环轨道上的用于充分地电接触每个安插的元件而测试这些元件的一系列测试站、在旋转环轨道上的用于把测试后的元件从其测试插座上排出并拣选它们的排出站。最好是，测试座环被可旋转的运输盘的垂直凸出环状壁所限制，每个测试座为在壁上的元件尺寸大小的槽。测试座被定向排列使得在壁的对应侧露出元件的对应接头。在运输盘下是邻接于壁的平底的固定盘。固定盘含有真空通道，真空通道在壁下运行并从装载站至少扩展到最后一个排出站。在真空通道运行的全过程中，它通过壁所包含的各真空端口与测试插座相通并通过壁从通道扩展到测试座。真空通道与真空源相通并通过端口使测试座导通真空以把元件保持在测试座中。
在最优实施例中，测试座的壁倾斜一定角度，最好是约45度，它与共面的入料轮切向邻接。所要解释的，切向邻接点为装载站。入料轮包括一系列的相同的单个结构，其沿轮的外围一致地成角度地安置。单个的结构随机地把歪斜的元件引导到各自的在入料轮的周围一致成角度地安置的入料座中。所要解释的是，在装载站，元件被单个地从入料座运送到测试座。每个单个结构包括一个上部打开的槽口，在旋转轮的轴的径向运行，其槽口的开始处离轮边缘有一段距离，开口的末端排列有较深的空腔，即“入料座”，其开口侧对着盘边缘。槽口和入料座一起形成朝下的圆形的“L”形凹槽，它用于适当地安置元件以便将元件从入料轮运送到运输盘。最好是槽口的长度足以容纳直线排列的两个或更多的元件，而宽度狭窄到仅可容纳下其边缘。元件在重力的作用下进入槽口，在入料轮随意地摇动的帮助下最终从槽口落入相应的入料座中，每个入料座只能容纳一个元件。如果元件被适当地安置，每个入料座仅能容纳一个元件，即端部站立，元件的端子边缘之一侧朝外，也就是朝向入料座开口一侧。处理器还包括把元件倾倒到入料轮的装置。
运输环形座被一致成角度地安置。最好环是步进式旋转，旋转的增量为在相邻座间所间隔的角度。在壁的两侧有一系列的滚筒式接触器用于将元件同测试器连接。所有的接触器是可以容易地替换的。测试后的元件通过由一系列排出孔限定的排出集流箱，每当环旋转一个角度，所述的一系列的排出孔与一系列的座对准。排出管与排出孔接通。元件被选择性启动的各个气动阀的气流从它们的座上排出来。根据测试结果，气流和重力通过管道将排出的元件送入拣选箱。处理器还包括用于检测没有排出的元件的传感器。
图1是本发明处理的举例的元件的示意图；图2是本发明的总体示意图；图3是入料盘的视图；图4是表示运输盘的部分剖视图，其显示了元件座的壁，一些座中含有元件；图5是根据本发明表示装载站的部分剖视图；图6是本发明的固定盘的平面视图；图7是表示本发明的非排出元件传感器的剖视图；图8是本发明的一系列滚筒式接触器的平面视图；图9A是本发明的滚筒式接触器的示意图；图9B是图9A的滚筒式接触器的俯视图；图9C是滚筒式接触器的部分主视图；图10是本发明的排出站的示意图；图11是说明元件从其插座中排出的过程的剖视图；图12是表示原件在测试座槽中滑动并被4个内辊子和4个外辊子接触的剖视图；图13A是本发明中使用的微调设备的左视图；图13B是本发明中使用的微调设备的右视图；图13C是本发明中使用的微调设备的俯视图；图13D是本发明中使用的微调设备的仰视图；最优实施例的说明参见图1，表示了本发明所处理的元件2的例子。此元件是具有4对金属端子的4位电容器。它最好是具有相对面4A和4B的平行管形状，通常有4个相对细的边。举例元件的对应的端子6被安置在元件的对应的长细侧，元件的端部为短细侧。在文件中，关于元件所用的术语“边缘”，表示元件的细边，不是一个面，术语“端子边缘”是指安放端子的元件的细长边。
参见图2，基座8支撑倾斜的(最好45度)、可旋转的运输盘10。以运输盘的旋转轴为中心的直立的圆形壁12从运输盘凸出。槽14，即设在壁上的测试座，在壁周围一致成角度地排列，每个测试座的尺寸可以容纳一个测试的元件。最好是运输盘10以及壁12围绕中心进行旋转分度使得运输盘(被一未显示的驱动装置)按固定角度的步调转动，每个步调为相邻的测试座间的平均角度。
如图所示，漏斗20给滑槽18提供堆积的元件，然后，入料轮16从摇动的滑槽18接收一组元件。要解释的是，入料轮16把元件装载到测试座槽14。如图所示，运输盘10以箭头的方向顺时针旋转以便当元件2被装载到运输盘壁12上时，他们顺时针旋转到标号为22的测试装置器，其包括一系列的接触器24。接触器24使元件的端子和参数测试器之间导通。在测试完元件2后，它们继续被顺时针旋转到标号为26排出系统，排出系统排出元件并根据测试结果将元件向下送到一系列的排出管。
参见图2、3和5，入料轮16为圆形，有许多长条状的、放射状的轮毂28，它们在入料轮16周围均匀排列。每对相邻的轮毂构成一个槽30，它引导其中的元件2朝向入料轮16的边缘，在那里它们成个地落入元件大小的空腔32中，即由轮16限制的“入料座”，所述的每个空腔32有向外的开口侧。槽30的长度最好可以容纳排成直线的两个或更多的元件，但是宽度最好仅可卡住元件的边。入料座的尺寸设置成仅允许适当地使一个元件定向排列、末端直立、端子边缘朝向入料座的开口侧或者，换句话说，端子的一侧从运输机壁12朝外，其对面的端子侧朝从运输机壁12朝内。如图所示，每个槽30和其各自的入料座或空腔32形成一朝下的，圆“L”型的凹槽。槽30和入料座或空腔32一起构成一体化结构以单个地和适当地引导元件2翻滚到空腔32内，因为入料轮随运输盘同时转动一定的角度并与水平面倾斜，使元件翻入槽。元件在重力的作用下进入槽中，在入料轮16的随意摇动的帮助下最后从槽落入相应的入料座中。一固定的外壁34安置在靠近入料轮16的轮缘或外壁，其容纳所有的在入料轮上的未落座的元件，以便当入料轮旋转时，元件翻过槽而不会掉出入料轮。
再参见图2、3，尤其是图5，在装载站元件被从空腔32运送到测试座槽14，装载站是运输盘10切向邻接入料轮的位置。测试座间的间隔与入料座间的间隔相配合，运输盘10和入料轮16同步旋转分度以便旋转每个角度使在装载站测试座槽与入料座空腔对准。安置在运输机壁12内侧的真空集流箱36也在装载站处。在对准座处，集流箱36上设置了一个孔38，其对准并靠近壁12。集流箱36接通真空源(未显示)。每次测试座槽14和入料座空腔32邻接对准时，来自孔38的真空气流将元件从入料座吸到测试座里。为了清楚地理解，图示的真空传输集流箱36同运输机壁的内侧有间隔，但实际上它非常靠近壁的内侧从而可以防止元件被吸离测试座槽口的最佳位置。
参见图4-6，在重力和真空压力的作用下元件2被保持在它们各自的测试座槽14内。在运输盘10下面有一固定盘40，其邻接运输机座12的平底。固定盘40上设置一真空通道42，它在运输机壁12的下面运行并从装载站44至少延伸到排出集流箱26的最后一个排出站。在真空通道42运行过程中，它通过各个运输机壁12上形成的真空端口46与测试座槽口14接通。真空端口46从通道42穿过壁12延伸至测试座槽口14。真空通道42与真空源接通(未显示)并通过真空端口46使真空压力接通至测试座槽14以帮助将元件保持在其座上。
参见图8，所示的测试装置器22有许多测试站，每个测试站包括一对相对的接触器模块48。若干在运输机壁12的外侧的模块用于接触元件端子的外侧，相应的在运输机壁的内侧的若干模块用于接触元件端子的内侧。成对的模块被安置，当运输机盘10旋转若干次，每次一个新的测试座对准每对接触器。最好是测试座槽的间隔为2度，测试站的间隔为10度。当每个测试座通过测试装置器时，它立即被每对接触器接触上。每个接触器与参数测试器接通，使得当每个元件步进通过接触器对时，对每个原件进行一系列的测试，如每个测试站一种测试。
参见图8、9A-9C和12，每个接触器模块48包括一安装支架50，支架50上固定有桥52用于支撑一系列的辊子组件54，辊子导向框架56也连接到支架50上。如图所示，元件的每边有4个辊子组件54，但也可根据测试的部分，增加或减少。每个辊子组件有一个可调节的导电的杆58，杆58的一端夹在桥52上，另一端有从其延伸出的叉60。桥52是不导电的，杆58的端部夹在其中通过导线61同测试器(未显示)导电连接。传导辊子62绕以每个杆58的叉60为轴颈的轴(未显示)自由旋转，并通过叉60和轴与杆58电连接。如图所示，辊子向内倾斜以便与它们所接触的元件的端子的倾斜度相一致。图9C表示了根据元件的端子侧和辊子的最好的角度关系。外部的两个辊子与元件端子边缘的角度为+-75度，内部辊子的角度为+-85度。通常，必要的倾斜量由辊子组件的宽度决定。在操作中，辊子62沿运输盘壁12内侧形成的凹槽63滚动，沿在运输盘壁12外侧形成的凹槽64滚动。现已发现在运输盘壁12形成的较深的外侧凹槽64有利于使辊子有较深的进入区域，其要比浅凹槽更好地被导向。
当辊子62碰到一落座的元件，杆58弯曲时，导向框架56使辊子62保持有角度连接。框架56包括从安装支架50延伸的框架桥64，从桥凸出的一系列的指杆66，当杆弯曲时，辊子在指杆间运动，以及一对附加的限制杆68。此外，一系列的枢接球69，安装在固定架(未显示)上的每个球69被安置在每个辊子62之间以进一步确保电绝缘并给辊子提供一般的导向。导向框架56是电绝缘的(每个辊子是电绝缘的)。
参见图9A和13A、13B、13C和13D，所示的微调装置70被安置在支架50和运输盘10之间。微调装置70使接触器模块48的倾斜度、压力和的操作有很微小的变化以便它以适当的压力接触元件的必备的金属端子并在电子测试器中给出正确的结果。微调装置70包括基盘71，其上穿有两个孔用于接收螺钉(未显示)以便将盘71连接到运输盘10的表面。调整盘73与基盘71邻接，通过槽-销接头74和一对引导销75a和75b支持其滑动连接关系。基盘71上向外凸出的间隔的耳76上的引导销孔(未显示)用于接收引导销。调整盘73可以由一对隔离销77连接到支架50，隔离销可以被支架50上形成的以相同尺寸间隔的孔(未显示)所容纳。调整螺钉78可以旋入基盘71上的耳76之一的孔(未显示)并挤压调整盘73的一侧从而相对于基盘71移动调整盘73并调整在凹槽63或64中的辊子62的位置。调整盘73被弹簧79偏压以便调整螺钉78在每一方向都可以使盘73相对基盘71作正确的运动。
参见图10和11，排出系统26包括排出集流箱80，其包括一系列的端口82用于连接一系列的排出管84。每当环旋转一个角度增量，端口82同若干测试座槽14对准。元件2被来自被各个气动阀86选择性启动的气流从其座槽14中排出。一系列的阀86通过短通道88与各对应端口82连接并被安装在运输盘壁12内侧的压力集流箱80上。每个端口82的出口与排出管84对准。由于气流和重力的作用，排出的元件2被从测试座槽14送入各自的管84内，并被管引导到各个拣选箱(未显示)。通过这种设计，测试器可以根据测试结果选择性地将测试后的元件送至任何管中。
参见图7和10，处理器还包括传感器，其用于检测未排出的元件以及任何在运输盘的测试座中的真空孔中的任何碎片。传感器包括在测试座通道上方的光源90，当测试座在光源下面旋转时，光线照射在每个测试座上。在固定盘上包含的通孔92对准光源，光线探测器94被安置在孔内或在其下方。测试座在灯和探测器间旋转。如果测试座是空的，探测器可以探测到穿过测试座槽14和孔92的光线。如果测试座槽仍被占用，光路就被阻挡，其向测试器表示有元件或一些碎片仍在槽口中。测试座可以手工或自动清除，或者在后续过程中略去在此位置的装载。
因为陶瓷元件非常地坚硬、易碎，圆形壁12承受强烈的应力，当它们被卡在测试座槽口14的异常的位置时，它们往往在所述的槽口处破坏壁12，并在通过测试座时会破坏辊子组件54。当这种情况发生时，壁12经常会被破坏以致必须关闭装置，修理壁。壁本身是易碎的，不能承受很大的变形，比如由于陶瓷元件贴在测试座槽上造成的扭曲。因此，如图4所示，空白边88被附着在运输盘10和圆形壁12上，以适应壁12和/或运输盘10的碎片的损坏以便另一个替换壁配件可以安置在其中并在壁12和/或盘10平衡的不同位置99处用螺丝固定或螺栓固定，从而没有依靠一个全新的壁或盘而进行了修理。同样地，如果异常的陶瓷元件2通过时或破坏的壁或运输盘通过时，在测试座槽14上的辊子组件54受到破坏后可以被替换。
前述的说明书和附图仅为解释的目的而提供，可以理解本发明不局限于实施例所公开的内容，而是意图包括在以下的权利要求所限制的范围内的任何和所有的可供选择的、类似的、修改的以及重新安排要素的方案。
权利要求书按照条约第19条的修改1．一种用于接收大量的随机排列的平行管状的陶瓷元件的高速处理器，每个此类型的元件具有至少一套位于其对向侧的金属端子，按照控制的方向将它们成个地放入用于电参数测试的座中，并根据它们的测试结果拣选它们，包括a) 旋转入料轮，安装在中轴上，被以所述的中轴为中心轴的外轮缘所限制，所述的轮倾斜于水平面，包括用于接收大量随机排列的陶瓷元件的上表面；b) 一系列的放射状、间隔排列的凹槽，它们在所述的轮的上表面向上和向外凸出，在邻接所述的外轮缘的轮的末端形成元件大小的空腔，其用于接收被特别成个地排列的陶瓷元件；c) 旋转运输盘，与所述的入料轮共面安装并与所述的入料轮隔离，入料轮有向上凸出的圆周形的壁，其与所述的入料轮切向邻接并有同步的线速度；d) 所述的圆周壁包括一系列的间隔排列的测试座槽，并与所述的入料轮的空腔、一定大小和形状的槽邻接对准以便接收陶瓷元件使其对向的端子分别朝向所述壁的内壁和外壁；e) 第一真空压力装置，用于使陶瓷元件从所述空腔朝所述测试座槽径向移动，第二真空压力装置，用于在所述的运输盘进一步旋转时将所述元件固定在所述测试座槽内；f) 测试装置，包括至少一个辊子组件，它设置用于当元件移入所述运输盘上的所述测试座时接触陶瓷元件的端子；g) 用于从所述的测试座槽个别地排出陶瓷元件并根据测试结果将它们运送到个别的位置的装置。
2．权利要求1的高速处理器，其中所述的平行管状陶瓷元件还包括有相对的面，通常有4个相对细的边，其中端子被安置在较短的隔开的端部边缘之间的对向的长细侧边上。
3．权利要求1的高速处理器，其中所述的旋转入料轮与水平面倾斜45度。
4．权利要求1的高速处理器，其中所述的一系列的在所述的入料轮的表面向上和向外凸出的放射状、间隔排列的凹槽沿入料轮边缘一致排列。
5．权利要求4的高速处理器，其中每对邻接的凹槽包括一个槽，其引导陶瓷元件朝向所述的入料轮的外缘。
6． 权利要求1的高速处理器，其中所述的一系列的在所述的入料轮的表面向上和向外凸出的放射状间隔排列的凹槽的长度足以容纳两个或更多的直线排列的陶瓷元件，但宽度仅可容纳元件的边缘。
7． 权利要求2的高速处理器，其中所述的元件大小的空腔包括一朝外的开口侧，其设置在邻接所述的外轮缘的入料轮内，设置用于接收特殊定向的单个陶瓷元件，所述的每个空腔被设计用于接收一个陶瓷元件，所述的陶瓷元件以末端侧直立、端子侧分别朝向所述的空腔的开口侧和所述的测试座槽的开口侧，此时，一所述的空腔和一所述的测试座槽邻接对准。
8． 权利要求1的高速处理器还包括围绕所述的倾斜的入料轮的外轮缘的边和较低部分的固定周壁，以便在入料轮的上表面保留陶瓷元件从而当装载了大量陶瓷元件的入料轮旋转时防止它们从所述的上表面落下。
9． 权利要求1的高速处理器，其中所述的测试座槽间的间隔配合所述的空腔间的间隔，所述的运输盘和所述的入料轮被同步分度旋转以便每一旋转分度使一测试座槽与一个空腔对准。
10．权利要求1的高速处理器，其中所述的用于使陶瓷元件从所述空腔朝所述测试座槽径向移动的第一真空压力装置包括a)在靠近所述的运输盘壁的运输盘的内侧安置有一个真空喷嘴；b)所述的真空喷嘴包括一个用于同真空源接通的孔，所述的孔的总体尺寸比陶瓷元件小；c)所述的孔设计用于将陶瓷元件从所述的空腔移动到所述的测试座槽而不超过。
11．权利要求1的高速处理器，其中所述的用于在所述的运输盘进一步旋转时将所述元件固定在所述测试座槽内的第二真空压力装置包括a)位于所述的旋转运输盘下的固定真空盘；b)所述的真空盘包括一个在所述的壁下环状运行的真空通道，该真空通道起点为运输点，即陶瓷元件从所述的入料轮上的空腔进入所述的测试座槽的点，末端为所述的装置从所述的测试座槽排出陶瓷元件的位置。
c)其中所述的圆周壁包括一个与所述的真空通道和所述的测试座槽接通的真空端口，用于应用真空压力将定位的陶瓷元件维持在所述的槽内。
12．权利要求1的高速处理器，其中所述的测试陶瓷元件的装置包括至少一对对向的接触器模块，其中每个模块包括a)安装支架；b) 固定在所述的支架上的非导电的用于安装一系列的辊子组件的桥；c) 固定在所述支架上的辊子导向框架。
13．权利要求12的高速处理器，其中每个所述的辊子组件包括a) 可弯曲的导电的有第一和第二端部的杆，其中所述的第一端部夹在所述的桥上，所述的第二端部有一从其上凸出的叉；b) 电导线，从所述的杆的第一端部，延伸到所述的测试陶瓷元件的装置；c) 传导辊子枢装在所述的叉的轴上并与所述的杆导电连接，所述的辊子向内倾斜，与它所接触的陶瓷元件的端子的倾斜度相一致。
14．权利要求13的高速处理器，其中所述的辊子导向框架包括a)从所述的支架凸出的框架桥；b) 从所述的桥伸出的一系列指杆，当辊子的杆弯曲时，所述的辊子在其间运动；c)一对从所述的框架桥伸出的限制杆用于使每个所述的辊子电绝缘。
15．权利要求1所述的高速处理器，其中所述的装置用于从所述的测试座槽个别地排出陶瓷元件并根据测试结果将它们运送到其分别的位置，其包括a)包括一系列的端口的高压气动排出集流箱，端口安排用于所述的运输盘每次旋转一个角度时与一系列的所述的测试座槽对准；b) 一系列的排出管，每个包括第一和第二间隔的端子端，其中所述的每个排出管的第一端子端被设置在连接端口的正对测试座槽的一侧；c)一系列的开关空气阀插入所述的集流箱和所述的端口之间并被设置成根据指令允许高压气流从所述的集流箱通过所述的阀、所述的端口和所述的管，从而使陶瓷元件从所述的测试座槽中离开而移入所述的管；d) 一系列的同所述的管连接的拣选箱，安排用于根据测试结果从所述的排出装置收集陶瓷元件。
16．权利要求11的高速处理器还包括一传感器，用于检测元件和没有被所述的排出装置从所述的测试座槽中排出的碎片，所述的传感器包括a) 位于所述的测试座槽的通道上的光源，安排用于把光照射到所述的槽里；b) 所述的有一直穿孔的固定真空盘，在测试座随着所述的运输盘的旋转而分度旋转，测试座通过所述的排出装置时，直穿孔用于同测试座对准；c) 光探测器与所述的光源和所述的穿孔对准，其上的所述的探测器可以探测到在光从所述的光源通过所述的孔照射到探测器时，由陶瓷元件或碎片引起的的任何光线的阻碍；d) 用于防止所述的阻碍干扰所述处理器的操作的安全装置。
17．权利要求12所述的高速处理器还包括微调装置，用于对所述的接触器的倾斜度、压力和操作做很小的调整，所述的微调装置包括a)基盘，有用于安装在所述的运输盘的上表面的穿孔；b) 邻接所述的基盘的调整盘，保持与基盘的滑动关系；c) 一对引导销，可穿过在所述的基盘上向上凸出形成的间隔的耳上的引导销孔；d) 一对间隔销，可以穿过在所述的支架上的类似的隔开的同样尺寸的孔；e) 调整螺钉，可以旋入所述的耳之一用于顶住所述的调整盘的一侧以便使所述的调整盘相对所述的基盘移动并调整在所述的运输盘上的所述的接触器模块的位置。
18．权利要求1的高速处理器还包括传感器，用于检测没有被所述的从所述的测试座槽个别地排出陶瓷元件的装置排出的元件，包括a)在所述的测试座槽的通道上安置的光源，当测试座在光下旋转分度时，光线照射到每个测试座上；b) 穿孔，当所述的每个测试座槽在其下方旋转分度时，穿孔与所述的光对准；c) 光探测器，如果所述的测试座槽是空的就检测到来自所述的光源的光，或者如果所述的测试座槽被占用就检测不到光；d)用于当测试座不应该被占用时，如果检测到它被占用就清除所述的测试座槽的装置，从而防止对所述的运输盘的破坏。
权利要求
1． 一种用于接收大量的随机排列的平行管状的陶瓷元件的高速处理器，每个此类型的元件具有至少一套位于其对向侧的金属端子，按照控制的方向将它们成个地放入用于电参数测试的座中，并根据它们的测试结果拣选它们，包括a)旋转入料轮，安装在中轴上，被以所述的中轴为中心轴的外轮缘所限制，所述的轮倾斜于水平面，包括用于接收大量随机排列的陶瓷元件的上表面；b)一系列的放射状、间隔排列的凹槽，它们在所述的轮的上表面向上和向外凸出，在邻接所述的外轮缘的轮的末端形成元件大小的空腔，其用于接收被特别成个地排列的陶瓷元件；c)旋转运输盘，与所述的入料轮共面安装并与所述的入料轮隔离，入料轮有向上凸出的圆周形的壁，其与所述的入料轮切向邻接并有同步的线速度；d)所述的圆周壁包括一系列的间隔排列的测试座槽，并与所述的入料轮的空腔、一定大小和形状的槽邻接对准以便接收陶瓷元件使其对向的端子分别朝向所述壁的内壁和外壁；e)第一真空压力装置，用于使陶瓷元件从所述空腔朝所述测试座槽径向移动，第二真空压力装置，用于在所述的运输盘进一步旋转时将所述元件固定在所述测试座槽内；f)测试装置，包括至少一个辊子组件，它设置用于当元件移入所述运输盘上的所述测试座时接触陶瓷元件的端子；g)用于从所述的测试座槽个别地排出陶瓷元件并根据测试结果将它们运送到个别的位置的装置。
2． 权利要求1的高速处理器，其中所述的平行管状陶瓷元件还包括有相对的面，通常有4个相对细的边，其中端子被安置在较短的隔开的端部边缘之间的对向的长细侧边上。
3． 权利要求1的高速处理器，其中所述的旋转入料轮与水平面倾斜45度。
4． 权利要求1的高速处理器，其中所述的一系列的在所述的入料轮的表面向上和向外凸出的放射状、间隔排列的凹槽沿入料轮边缘一致排列。
5． 权利要求4的高速处理器，其中每对邻接的凹槽包括一个槽，其引导陶瓷元件朝向所述的入料轮的外缘。
6． 权利要求1的高速处理器，其中所述的一系列的在所述的入料轮的表面向上和向外凸出的放射状间隔排列的凹槽的长度足以容纳两个或更多的直线排列的陶瓷元件，但宽度仅可容纳元件的边缘。
7． 权利要求2的高速处理器，其中所述的元件大小的空腔包括一朝外的开口侧，其设置在邻接所述的外轮缘的入料轮内，设置用于接收特殊定向的单个陶瓷元件，所述的每个空腔被设计用于接收一个陶瓷元件，所述的陶瓷元件以末端侧直立、端子侧分别朝向所述的空腔的开口侧和所述的测试座槽的开口侧，此时，-所述的空腔和一所述的测试座槽邻接对准。
8． 权利要求1的高速处理器还包括围绕所述的倾斜的入料轮的外轮缘的边和较低部分的固定周壁，以便在入料轮的上表面保留陶瓷元件从而当装载了大量陶瓷元件的入料轮旋转时防止它们从所述的上表面落下。
9． 权利要求1的高速处理器，其中所述的测试座槽间的间隔配合所述的空腔间的间隔，所述的运输盘和所述的入料轮被同步分度旋转以便每一旋转分度使一测试座槽与一个空腔对准。
10．权利要求1的高速处理器，其中所述的用于使陶瓷元件从所述空腔朝所述测试座槽径向移动的第一真空压力装置包括a)在靠近所述的运输盘壁的运输盘的内侧安置有一个真空喷嘴；b)所述的真空喷嘴包括一个用于同真空源接通的孔，所述的孔的总体尺寸比陶瓷元件小；c)所述的孔设计用于将陶瓷元件从所述的空腔移动到所述的测试座槽而不超过。
11．权利要求1的高速处理器，其中所述的用于在所述的运输盘进一步旋转时将所述元件固定在所述测试座槽内的第二真空压力装置包括a)位于所述的旋转运输盘下的固定真空盘；b)所述的真空盘包括一个在所述的壁下环状运行的真空通道，该真空通道起点为运输点，即陶瓷元件从所述的入料轮上的空腔进入所述的测试座槽的点，末端为所述的装置从所述的测试座槽排出陶瓷元件的位置。c)其中所述的圆周壁包括一个与所述的真空通道和所述的测试座槽接通的真空端口，用于应用真空压力将定位的陶瓷元件维持在所述的槽内。
12．权利要求1的高速处理器，其中所述的测试陶瓷元件的装置包括至少一对对向的接触器模块，其中每个模块包括a)安装支架；b)固定在所述的支架上的非导电的用于安装一系列的辊子组件的桥；c)固定在所述支架上的辊子导向框架。
13．权利要求12的高速处理器，其中每个所述的辊子组件包括a)可弯曲的导电的有第一和第二端部的杆，其中所述的第一端部夹在所述的桥上，所述的第二端部有一从其上凸出的叉；b)电导线，从所述的杆的第一端部，延伸到所述的测试陶瓷元件的装置；c)传导辊子枢装在所述的叉的轴上并与所述的杆导电连接，所述的辊子向内倾斜，与它所接触的陶瓷元件的端子的倾斜度相一致。
14．权利要求13的高速处理器，其中所述的辊子导向框架包括a)从所述的支架凸出的框架桥；b)从所述的桥伸出的一系列指杆，当辊子的杆弯曲时，所述的辊子在其间运动；c)一对从所述的框架桥伸出的限制杆用于使每个所述的辊子电绝缘。
15．权利要求1所述的高速处理器，其中所述的装置用于从所述的测试座槽个别地排出陶瓷元件并根据测试结果将它们运送到其分别的位置，其包括a)包括一系列的端口的高压气动排出集流箱，端口安排用于所述的运输盘每次旋转一个角度时与一系列的所述的测试座槽对准；b)一系列的排出管，每个包括第一和第二间隔的端子端，其中所述的每个排出管的第一端子端被设置在连接端口的正对测试座槽的一侧；c)一系列的开关空气阀插入所述的集流箱和所述的端口之间并被设置成根据指令允许高压气流从所述的集流箱通过所述的阀、所述的端口和所述的管，从而使陶瓷元件从所述的测试座槽中离开而移入所述的管；d)一系列的同所述的管连接的拣选箱，安排用于根据测试结果从所述的排出装置收集陶瓷元件。
16．权利要求11的高速处理器还包括一传感器，用于检测元件和没有被所述的排出装置从所述的测试座槽中排出的碎片，所述的传感器包括a)位于所述的测试座槽的通道上的光源，安排用于把光照射到所述的槽里；b)所述的有一直穿孔的固定真空盘，在测试座随着所述的运输盘的旋转而分度旋转，测试座通过所述的排出装置时，直穿孔用于同测试座对准；c)光探测器与所述的光源和所述的穿孔对准，其上的所述的探测器可以探测到在光从所述的光源通过所述的孔照射到探测器时，由陶瓷元件或碎片引起的的任何光线的阻碍；d)用于防止所述的阻碍干扰所述处理器的操作的安全装置。
17．一种辊子组件，用于接触小型的陶瓷电子元件，该元件至少包括一套位于其对向侧上的金属端子，并通过所述的测试装置将它们以控制定向的方式送入用于测试电子参数的各个座中，包括a) 可弯曲的有第一和第二端子端的导电杆，其中所述的第一端子端夹在所述的桥上，所述的第二端子端有一从其上凸出的叉；b) 从所述的第一杆端部延伸到所述的测试陶瓷元件的装置的电导线；c) 传导辊子枢装在所述的叉的轴上并与所述的杆导电连接，所述的辊子向内倾斜，与它所接触的陶瓷元件的端子的倾斜度相一致。
18．权利要求17的高速处理器，其中所述的辊子导向框架包括a) 从所述的支架凸出的框架桥；b) 从所述的桥凸出的一系列指杆，当辊子的杆弯曲时，所述的辊子在其间运动；c) 一对从所述的框架桥凸出的用于使每个所述的辊子电绝缘的限制杆。
19．在旋转的运输盘的向上凸出的、圆周壁，其容纳有一机器装置，暂时安放来自入料轮的空腔的用于电子参数测试的元件，在此后根据测试的结果对元件进行拣选，由空白边所限制的用于连接安装的替换壁部分，以便在所述运输盘上配合空白边，圆周壁包括间隔排列的一系列的测试座槽，用于在所述的入料轮中邻接对准所述的空腔，即所述的一定尺寸和形状的槽，用于接收其对向端子分别朝向所述的壁的内侧和外侧的陶瓷元件。
20．权利要求19的替换壁部分，其中所述的替换壁部分包括用于连接位于所述的运输盘下的固定真空盘上的真空通道的真空端口，还包括用于将所述的替换壁部分连接到所述的运输盘的其它部分的装置。
21．权利要求12所述的高速处理器还包括微调装置，用于对所述的接触器的倾斜度、压力和操作做很小的调整，所述的微调装置包括a)基盘，有用于安装在所述的运输盘的上表面的穿孔；b)邻接所述的基盘的调整盘，保持与基盘的滑动关系；c)一对引导销，可穿过在所述的基盘上向上凸出形成的间隔的耳上的引导销孔；d)一对间隔销，可以穿过在所述的支架上的类似的隔开的同样尺寸的孔；e)调整螺钉，可以旋入所述的耳之一用于顶住所述的调整盘的一侧以便使所述的调整盘相对所述的基盘移动并调整在所述的运输盘上的所述的接触器模块的位置。
22．权利要求1的高速处理器还包括传感器，用于检测没有被所述的从所述的测试座槽个别地排出陶瓷元件的装置排出的元件，包括a)在所述的测试座槽的通道上安置的光源，当测试座在光下旋转分度时，光线照射到每个测试座上；b)穿孔，当所述的每个测试座槽在其下方旋转分度时，穿孔与所述的光对准；c)光探测器，如果所述的测试座槽是空的就检测到来白所述的光源的光，或者如果所述的测试座槽被占用就检测不到光；d)用于当测试座不应该被占用时，如果检测到它被占用就清除所述的测试座槽的装置，从而防止对所述的运输盘的破坏。
全文摘要
一种用于测试和拣选随机排列的平行管状的陶瓷元件(2)的处理器,每个元件具有至少一套位于对向边的金属端子(6),包括旋转入料轮(16),其安装在中心轴上,包括上表面,用于接收随机排列的元件(2),与入料轮共面并间隔安装的旋转运输盘(10)具有向上凸出的圆周壁(12),圆周壁包括一系列的测试座槽,其间隔排列并邻接对准入料轮(16)的空腔,第一真空压力装置(36),用于使元件(2)移入测试座槽,第二真空压力装置(86),用于将所述元件固定在其中;测试装置(22),包括至少一个辊子组件(62),它安排用于接触元件的端子(6),排出装置,用于从所述的测试座槽(14)个别地排出元件。
文档编号G06T9/00GK1320063SQ00801097
公开日2001年10月31日 申请日期2000年4月24日 优先权日1999年6月25日
发明者道格拉斯·J·加西亚, 马丁·J·特威特 申请人:电子科学工业公司