专利名称：磁碟阵列的检测回复电路及其方法
技术领域：
本发明涉及一种检测回复电路及其方法，特别是涉及一种磁碟阵列的检测回复电路及其方法，其于产生检测数据或回复数据时，是不影响中央处理单元的效能，且电路简易可有效降低设置成本。
背景技术：
随着信息时代的来临，民众储存于电脑系统的数据日益增加，用来存放数据的硬式磁碟机也就因此不断增加储存容量，并从单碟进步到多碟，不过磁碟机的价格是与储存容量成正比，即储存容量越大价格越昂贵且不具容错功能，因此发展出一种以复数独立磁碟机组成的虚拟大型磁碟机，例如独立磁碟冗余阵列(Redundant Array of Independent Disks，RAID)或称为磁碟阵列，使储存数据的效能提高，而且部份等级的磁碟阵列具有容错功能，在一单一磁碟机发生损坏时，仅需将其更换为功能正常的磁碟机，即可将损坏磁碟机原本所储存的数据复原。
容错式磁碟阵列是于数据储存至磁碟机时会对所储存数据进行运算以产生检测数据，并将检测数据储存于磁碟机中，而当磁碟机发生损坏时，即可藉由运算其他磁碟机所储存的数据与检测数据以复原原本储存于损坏的磁碟机内的数据，并回存至更换后的磁碟机。现今容错式磁碟阵列的技术，大都是利用中央处理单元运算欲储存数据产生检测数据，以及运算无损坏的磁碟机所储存的数据和检测数据产生回复数据，如此一来将对中央处理单元及电脑系统的工作效能产生影响，且因中央处理单元于产生检测数据或回复数据时，必须从记忆体或磁碟机读取数据，之后再将运算后所得的检测数据或者回复数据储存至磁碟机，将会耗费较多时间。
基于上述的问题，所以现今发展出用于磁碟阵列的输入/输出处理器(Input/Output Processor)，其用于运算产生检测数据与回复数据，然而输入/输出处理器价格昂贵，且于使用时必须有记忆体支援，故对于须降低硬件成本的发展技术而言，成效有限。
综合上述的问题，本发明提出一种磁碟阵列的检测回复电路及其方法，其于运算数据产生检测数据或者回复数据时，是不影响中央处理单元的运算效能，且因电路简易，故可降低硬件成本，以解决上述问题。
有鉴于上述存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新的磁碟阵列的检测回复电路及其方法。经过不断的研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种新的磁碟阵列的检测回复电路及其方法，所要解决的技术问题是使其于产生检测数据与回复数据时，不影响中央处理单元的工作效能，从而更加适于实用。
本发明的另一目的在于，提供一种新的磁碟阵列的检测回复电路及其方法，所要解决的技术问题是使其是为简易的检测回复电路，故设置于电脑系统时可降低硬件成本，且方法简易可提高检测回复数据的效能，从而更加适于实用。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种磁碟阵列的检测回复电路，其包括复数缓冲器，分别接收并暂存一数据，该等缓冲器分别与一磁碟阵列的一磁碟机相耦接；复数输入选择器，该等输入选择器与该等缓冲器相耦接，用以选择性传输其中一该缓冲器的该数据；复数运算单元，该等运算单元互相串列耦接，且分别与该等输入选择器耦接，用以接收耦接的该输入选择器所传输的该数据，并运算该数据以产生一检测数据；以及一输出选择器，用以接收该检测数据，并选择其中一该缓冲器以将该检测数据传送至与所选择的该缓冲器相耦接的该磁碟机；其中，于回复一待回复磁碟机的数据时，与其他该等磁碟机耦接的该等缓冲器接收并暂存该等磁碟机所储存的该数据或该检测数据，藉由该等输入选择器，传输至耦接的该等运算单元以运算该数据与该检测数据产生一回复数据，并传输至该输出选择器以选择与该待回复磁碟机耦接的该缓冲器传送该回复数据至该待回复磁碟机。
本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术措施来进一步实现。
前述的检测回复电路，其中所述的检测数据为一同位元检测数据(Parity Data)。
前述的检测回复电路，其中所述的缓冲器可为一先输入先输出缓冲器。
前述的检测回复电路，其中所述的输入选择器与该输出选择器受控于一软件。
前述的检测回复电路，其中所述的输入选择器可为一多工器，该输出选择器可为一解多工器。
前述的检测回复电路，其中所述的运算单元可为一互斥或闸逻辑运算单元。
前述的检测回复电路，是可运用于磁碟阵列等级3(RAID 3)、磁碟阵列等级4(RAID 4)与磁碟阵列等级5(RAID 5)的其中之一。
前述的检测回复电路，是可设置于电脑系统的一南桥芯片。
本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种磁碟阵列的检测回复电路，其包括复数缓冲器，分别接收并暂存一数据，该等缓冲器分别与一磁碟阵列的一磁碟机相耦接；复数运算单元，该等运算单元互相串列耦接，且分别与该等缓冲器耦接，用以接收耦接的该缓冲器的该数据，并运算该数据以产生一检测数据；以及一输出选择器，用以接收该检测数据，并选择其中一该缓冲器，以将该检测数据传送至与所选择的该缓冲器相耦接的该磁碟机；其中，于回复一待回复磁碟机的数据时，与其他该等磁碟机耦接的该等缓冲器传输耦接的该等磁碟机所储存的该数据或该检测数据至耦接的该等运算单元，以运算该数据与该检测数据产生一回复数据，并传输至该输出选择器以选择与该待回复磁碟机耦接的该缓冲器传送该回复数据至该待回复磁碟机。
本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术措施来进一步实现。
前述的检测回复电路，其中所述的检测数据为一同位元检测数据(Parity Data)。
前述的检测回复电路，其中所述的缓冲器可为一先输入先输出缓冲器。
前述的检测回复电路，其中所述的运算单元可为一互斥或闸逻辑运算单元。
前述的检测回复电路，其中所述的输出选择器可为一解多工器。
前述的检测回复电路，其中所述的输出选择器可受控于一软件。
前述的检测回复电路，是可运用于磁碟阵列等级3(RAID 3)、磁碟阵列等级4(RAID 4)与磁碟阵列等级5(RAID 5)的其中之一。
前述的检测回复电路，是可设置于电脑系统的一南桥芯片。
本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种磁碟阵列的检测回复方法，其运用于包括有复数磁碟机的一磁碟阵列且该等磁碟机分别耦接有一缓冲器，该检测回复方法包括以下步骤分别传送一数据至该等缓冲器并暂存；运算该数据产生一检测数据；选择传送该检测数据至其中一该缓冲器；以及传送该检测数据至与所选择的该缓冲器相耦接的该磁碟机；其中，于回复一待回复磁碟机的数据时，与其他该等磁碟机耦接的该等缓冲器接收并暂存该等磁碟机所储存的该数据或该检测数据，以进行运算该数据与该检测数据产生一回复数据，并选择传输至与该待回复磁碟机耦接的该缓冲器以传送该回复数据至该待回复磁碟机。
本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术措施来进一步实现。
前述的检测回复方法，其中于运算该数据产生一检测数据的步骤中，是对该数据进行互斥或闸逻辑运算。
前述的检测回复方法，其中所述的检测数据为一同位元检测数据(Parity Data)。
前述的检测回复方法，是可运用于磁碟阵列等级3(RAID 3)、磁碟阵列等级4(RAID 4)与磁碟阵列等级5(RAID 5)的其中之一。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知，本发明的主要技术内容如下为了达到上述目的，本发明提供了一种磁碟阵列的检测回复电路，包括有复数缓冲器、复数输入选择器、复数运算单元以及一输出选择器，该等缓冲器分别与磁碟阵列的一磁碟机相耦接，本发明的检测回复方法是藉由该等缓冲器分别接收并暂存一数据，并利用与该等缓冲器相耦接的该等输入选择器选择传输其中一缓冲器的该数据至耦接的运算单元，藉由互相串列的该等运算单元接收耦接的输入选择单元所传输的数据，并进行运算数据产生一检测数据，且传输至输出选择器以将检测数据选择传输至一缓冲器，将检测数据传输至耦接在所选择的缓冲器的磁碟机；此外，于回复一待回复磁碟机的数据时，其他磁碟机耦接的缓冲器接收并暂存该等磁碟机所储存的数据或检测数据，利用输入选择器传输至耦接的运算单元，以运算数据与检测数据产生一回复数据，并传输至输出选择器以选择传输回复数据至与待回复磁碟机耦接的缓冲器，将回复数据传输至待回复磁碟机。
又，为了达到上述目的，本发明还提供了一种检测回复电路及检测回复方法，其不同于上述之处在于不包括有复数输入选择器，该等缓冲器是分别直接与该等运算单元耦接，检测回复方法同样藉由该等缓冲器分别接收并暂存数据，供该等运算单元进行运算产生检测数据并传输至输出选择器以选择传输检测数据至一缓冲器，让检测数据传输至所选择的缓冲器耦接的磁碟机；而在回复一待回复磁碟机的数据时，与其他磁碟机耦接的缓冲器接收并暂存该等磁碟机所储存的数据或检测数据以让运算单元进行运算产生一回复数据，并传输至输出选择器以将回复数据选择传输至和待回复磁碟机耦接的缓冲器，让回复数据传送至该待回复磁碟机。
经由上述可知，本发明是有关于一种磁碟阵列的检测回复电路及其方法，用于产生磁碟阵列的检测数据或回复数据，本发明藉由复数缓冲器分别接收并暂存数据，供复数运算单元进行运算产生一检测数据并藉由一输出选择器选择其中一缓冲器，将检测数据传输至所耦接的一磁碟机；其中，于回复一待回复磁碟的数据时，利用其他该等磁碟机耦接的该等缓冲器将该等磁碟机所储存的数据或检测数据，传输至运算单元以运算数据与检测数据产生一回复数据，通过输出选择器选择与待回复磁碟机耦接的缓冲器，传送回复数据至待回复磁碟机；此外该等缓冲器亦可与复数输入选择器耦接，该等输入选择器用于选择传输其中一缓冲器的数据至耦接的运算单元。
借由上述技术方案，本发明磁碟阵列的检测回复电路及其方法至少具有下列优点本发明磁碟阵列的检测回复电路及其方法，其是为简易的检测回复电路及方法，用于运算欲储存至磁碟机的数据产生检测数据，亦可于损坏一磁碟机时，运算其余磁碟机所储存的数据与检测数据产生回复数据，上述产生检测数据与回复数据是不需经由中央处理单元运算或另外设置昂贵的输入输出处理单元运算，如此将不会影响中央处理单元的工作效能，且可降低硬件成本，又因本发明直接可设置于南桥芯片，故可缩短数据读取与写入的时间，提升运算效率。
综上所述，本发明特殊的磁碟阵列的检测回复电路及其方法，其于产生检测数据与回复数据时，是不影响中央处理单元的工作效能。另外，本发明磁碟阵列的检测回复电路及方法，其是为简易的检测回复电路，故设置于电脑系统时可降低硬件成本，且方法简易可提高检测回复数据的效能。其具有上述诸多的优点及实用价值，并在同类产品及方法中未见有类似的结构设计及方法公开发表或使用而确属创新，其不论在产品结构、方法或功能上皆有较大的改进，在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的效果，具有增进的多项功效，从而更加适于实用，而具有产业的广泛利用价值，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
图1是本发明的一较佳实施例的电路方块图。
图2A是本发明的一较佳实施例产生检测数据的流程图。
图2B是本发明的一较佳实施例产生回复数据的流程图。
图3是本发明的另一较佳实施例的电路方块图。
图4A是本发明的另一较佳实施例产生检测数据的流程图。
图4B是本发明的另一较佳实施例产生回复数据的流程图。
10缓冲器 20输入选择器30运算单元 40输出选择器50总线 60磁碟机具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的磁碟阵列的检测回复电路及其方法其具体实施方式
、结构、方法、步骤、特征及其功效，详细说明如后。
首先，请参阅图1所示，是为本发明的一较佳实施例的方块图。如图所示，本发明的检测回复电路包括有复数缓冲器10、复数输入选择器20、复数运算单元30与一输出选择器40。缓冲器10可以是先输入先输出(FirstInput First Output，FIFO)缓冲器，用以接收并暂存数据，每一缓冲器10皆与一总线50相耦接，且每一缓冲器10亦分别与磁碟阵列的一磁碟机60相耦接，可用以接收并暂存所耦接的磁碟机60的数据。每一输入选择器20皆与每一缓冲器10相耦接，用以选择传输其中任一缓冲器10暂存的数据，输入选择器20是可为多工器。
每一运算单元30是互相串列且皆与一缓冲器10耦接。运算单元30是为互斥或闸(Exclusive-OR Gate)逻辑运算单元，用以运算输入选择器20所选择传输的数据，并会产生检测数据或回复数据，且产生的检测数据或回复数据会传输至输出选择器40，用以选择传输至一缓冲器10；其中，输出选择器40可为一解多工器，检测数据是为同位元检测数据(ParityData)；如此一来，即可将检测数据或回复数据传输至指定的一磁碟机60。本发明的检测回复电路亦可直接设于电脑系统的南桥芯片，且缓冲器10可用南桥芯片原有的先输入先输出缓冲器取代，故设置成本可以更低，且产生检测数据或回复数据时也不会影响中央处理单元的工作效能；同时，因本发明的电路可设置于南桥芯片上的缘故，更可缩短读取与储存数据的时间，进而提高运算效能。
请参阅图2A所示，其是本发明的一较佳实施例产生检测数据的流程图。当数据欲储存至磁碟阵列的磁碟机60时，数据除了会被切割为多个区段数据而分别传输至不同磁碟机60储存外，亦会传输至本发明的检测回复电路产生检测数据并储存于磁碟阵列的磁碟机60。如果是磁碟阵列等级3(RAID3)或者磁碟阵列等级4(RAID 4)，检测数据会储存于特定的一磁碟机，而被切割为多个区段的数据是分别储存于其余磁碟机；而如果是磁碟阵列等级5(RAID 5)，检测数据与被切割为多个区段的数据是分散储存于不同的磁碟机，也就是检测数据不是储存于特定的磁碟机。
首先如步骤S1所示，通过总线50将同一数据被切割为多个区段的数据分别传输暂存至每一缓冲器10；之后，每一输入选择器20如步骤S2所示，各自选择传输其中一缓冲器10所暂存的数据至所耦接的运算单元30以执行步骤S3，运算数据产生对应该数据的检测数据并传输至输出选择器40；然后，输出选择器40执行步骤S4，选择传送该检测数据至其中一缓冲器10，使检测数据暂存于一缓冲器10，该缓冲器10与用于储存检测数据的磁碟机60相耦接，以执行步骤S5，将该检测数据传输并储存至所耦接的磁碟机60。
上述通过总线50将多个区段数据分别传输至每一缓冲器10的动作，是将多个区段数据分别传输至欲储存该区段数据的磁碟机60耦接的缓冲器10，也就是没接收到区段数据的缓冲器10即为耦接于用以储存该笔数据的检测数据的磁碟机60，所以输出选择器40会将该运算单元30运算区段数据所得的检测数据传输至没接收到区段数据的缓冲器10，以传输至用于储存检测数据的磁碟机60。
接着请参阅图2B所示，说明当磁碟阵列的其中一磁碟机60发生损坏无法读取数据而更换为正常磁碟机60时，藉由检测回复电路进行回复的情况。首先如步骤S11所示，其他无损坏的磁碟机60所耦接的缓冲器10分别接收并暂存该等无损坏磁碟机60所储存的数据或检测数据；接着，每一输入选择器20执行步骤S12，分别选择传输其中一缓冲器10所暂存的数据或检测数据至所耦接的运算单元30，使运算单元30执行步骤S13，对数据与检测数据进行运算产生回复数据并传输至输出选择器40；之后，输出选择器40执行步骤S14，选择传送回复数据至与更换后待回复磁碟机60所耦接的缓冲器10，以执行步骤S15，将回复数据重新储存至待回复磁碟机60。上述的输入选择单元20与输出选择单元40是可藉由软件设定控制，以选择传输数据至运算单元30，以及选择传输运算单元30产生的检测数据或回复数据至一缓冲器10，而储存于缓冲器10耦接的磁碟机60。
请参阅图3所示，图3是为本发明的另一较佳实施例的方块图。如图所示，此实施例不同于上述实施例之处在于此实施例不包括有输入选择器20，且每一缓冲器10是分别直接耦接于一运算单元30，其余皆与上一实施例相同。以下是配合图4A来说明图3实施例产生检测数据的详细动作。当区段数据储存至磁碟阵列的磁碟机60时，同样会通过总线50分别传输至缓冲器10，也就是该等缓冲器10如步骤S 31所示接收并暂存数据；之后，该等缓冲器10执行步骤S32，分别传输所暂存的该数据至耦接的运算单元30，让运算单元30执行步骤S33，运算数据产生检测数据且传输至输出选择器40；之后，输出选择器40执行步骤S34，选择传送检测数据至其中一缓冲器10，其是为用于储存检测数据的磁碟机60所耦接的缓冲器10，以接续执行步骤S35，传送检测数据至所选择的缓冲器10耦接的磁碟机60，有就是用于储存检测数据的磁碟机60。
接着请参阅图4B所示，其是为图3实施例产生回复数据的流程图。当图3实施例的一磁碟机60发生损坏且更换为正常磁碟机60而欲回复损坏的磁碟机60的数据至所更换的磁碟机60时，首先如步骤S41所示，通过与无损坏的其他磁碟机60耦接的缓冲器10分别接收并暂存该等无损坏的磁碟机60所储存的数据或检测数据；接着，如步骤S42所示，传输该等缓冲器10所暂存的数据或检测数据至运算单元30，以让运算单元30执行步骤S43，运算数据和检测数据，也就可以产生回复数据并传输至输出选择器40，以执行步骤S44，选择传送回复数据至与待回复磁碟机60耦接的缓冲器10；最后，执行步骤S45，将回复数据传送至待回复磁碟机60。此实施例与前一实施例相较之下，因为此实施例不需要设置输入选择器20，所以成本较低且可降低设置本发明检测回复电路的面积。
综上所述，本发明磁碟阵列的检测回复电路及其方法，其是为简易的检测回复电路及方法，用于运算欲储存至磁碟机的数据产生检测数据，亦可于损坏一磁碟机时，运算其余磁碟机所储存的数据与检测数据产生回复数据，上述产生检测数据与回复数据是不需经由中央处理单元运算或另外设置昂贵的输入输出处理单元运算，如此将不会影响中央处理单元的工作效能，且可降低硬件成本，又因本发明直接可设置于南桥芯片，故可缩短数据读取与写入的时间，提升运算效率。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的方法及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例，但是凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1.一种磁碟阵列的检测回复电路，其特征在于其包括复数缓冲器，分别接收并暂存一数据，该等缓冲器分别与一磁碟阵列的一磁碟机相耦接；复数输入选择器，该等输入选择器与该等缓冲器相耦接，用以选择性传输其中一该缓冲器的该数据；复数运算单元，该等运算单元互相串列耦接，且分别与该等输入选择器耦接，用以接收耦接的该输入选择器所传输的该数据，并运算该数据以产生一检测数据；以及一输出选择器，用以接收该检测数据，并选择其中一该缓冲器以将该检测数据传送至与所选择的该缓冲器相耦接的该磁碟机；其中，于回复一待回复磁碟机的数据时，与其他该等磁碟机耦接的该等缓冲器接收并暂存该等磁碟机所储存的该数据或该检测数据，藉由该等输入选择器，传输至耦接的该等运算单元以运算该数据与该检测数据产生一回复数据，并传输至该输出选择器以选择与该待回复磁碟机耦接的该缓冲器传送该回复数据至该待回复磁碟机。
2.根据权利要求1所述的检测回复电路，其特征在于其中所述的检测数据为一同位元检测数据。
3.根据权利要求1所述的检测回复电路，其特征在于其中所述的缓冲器可为一先输入先输出缓冲器。
4.根据权利要求1所述的检测回复电路，其特征在于其中所述的输入选择器与该输出选择器受控于一软件。
5.根据权利要求1所述的检测回复电路，其特征在于其中所述的输入选择器可为一多工器，该输出选择器可为一解多工器。
6.根据权利要求1所述的检测回复电路，其特征在于其中所述的运算单元可为一互斥或闸逻辑运算单元。
7.根据权利要求1所述的检测回复电路，其特征在于是可运用于磁碟阵列等级3、磁碟阵列等级4与磁碟阵列等级5的其中之一。
8.根据权利要求1所述的检测回复电路，其特征在于是可设置于电脑系统的一南桥芯片。
9.一种磁碟阵列的检测回复电路，其特征在于其包括复数缓冲器，分别接收并暂存一数据，该等缓冲器分别与一磁碟阵列的一磁碟机相耦接；复数运算单元，该等运算单元互相串列耦接，且分别与该等缓冲器耦接，用以接收耦接的该缓冲器的该数据，并运算该数据以产生一检测数据；以及一输出选择器，用以接收该检测数据，并选择其中一该缓冲器，以将该检测数据传送至与所选择的该缓冲器相耦接的该磁碟机；其中，于回复一待回复磁碟机的数据时，与其他该等磁碟机耦接的该等缓冲器传输耦接的该等磁碟机所储存的该数据或该检测数据至耦接的该等运算单元，以运算该数据与该检测数据产生一回复数据，并传输至该输出选择器以选择与该待回复磁碟机耦接的该缓冲器传送该回复数据至该待回复磁碟机。
10.根据权利要求9所述的检测回复电路，其特征在于其中所述的检测数据为一同位元检测数据。
11.根据权利要求9所述的检测回复电路，其特征在于其中所述的缓冲器可为一先输入先输出缓冲器。
12.根据权利要求9所述的检测回复电路，其特征在于其中所述的运算单元可为一互斥或闸逻辑运算单元。
13.根据权利要求9所述的检测回复电路，其特征在于其中所述的输出选择器可为一解多工器。
14.根据权利要求9所述的检测回复电路，其特征在于其中所述的输出选择器可受控于一软件。
15.根据权利要求9所述的检测回复电路，其特征在于是可运用于磁碟阵列等级3、磁碟阵列等级4与磁碟阵列等级5的其中之一。
16.根据权利要求9所述的检测回复电路，其特征在于是可设置于电脑系统的一南桥芯片。
17.一种磁碟阵列的检测回复方法，其运用于包括有复数磁碟机的一磁碟阵列且该等磁碟机分别耦接有一缓冲器，其特征在于该检测回复方法包括以下步骤分别传送一数据至该等缓冲器并暂存；运算该数据产生一检测数据；选择传送该检测数据至其中一该缓冲器；以及传送该检测数据至与所选择的该缓冲器相耦接的该磁碟机；其中，于回复一待回复磁碟机的数据时，与其他该等磁碟机耦接的该等缓冲器接收并暂存该等磁碟机所储存的该数据或该检测数据，以进行运算该数据与该检测数据产生一回复数据，并选择传输至与该待回复磁碟机耦接的该缓冲器以传送该回复数据至该待回复磁碟机。
18.根据权利要求17所述的检测回复方法，其特征在于其中于运算该数据产生一检测数据的步骤中，是对该数据进行互斥或闸逻辑运算。
19.根据权利要求17所述的检测回复方法，其特征在于其中所述的检测数据为一同位元检测数据。
20.根据权利要求17所述的检测回复方法，其特征在于是可运用于磁碟阵列等级3、磁碟阵列等级4与磁碟阵列等级5的其中之一。
全文摘要
本发明是有关于一种磁碟阵列的检测回复电路及其方法，用于产生磁碟阵列的检测数据或回复数据，本发明藉由复数缓冲器分别接收并暂存数据，供复数运算单元进行运算产生一检测数据并藉由一输出选择器选择其中一缓冲器，将检测数据传输至所耦接的一磁碟机；其中，于回复一待回复磁碟的数据时，利用其他该等磁碟机耦接的该等缓冲器将该等磁碟机所储存的数据或检测数据，传输至运算单元以运算数据与检测数据产生一回复数据，通过输出选择器选择与待回复磁碟机耦接的缓冲器，传送回复数据至待回复磁碟机；此外该等缓冲器亦可与复数输入选择器耦接，该等输入选择器用于选择传输其中一缓冲器的数据至耦接的运算单元。
文档编号G06F11/00GK1746853SQ200510103418
公开日2006年3月15日 申请日期2005年9月15日 优先权日2005年9月15日
发明者陈弘斌 申请人:威盛电子股份有限公司