光学式检测装置、显示装置及电子机器的制作方法

专利名称：光学式检测装置、显示装置及电子机器的制作方法
技术领域：
本发明涉及光学式检测装置、显示装置及电子机器等。
背景技术：
在移动电话、个人计算机、导航装置、售票机、银行的终端等电子机器中，近年来， 使用在显示部的前面配置有触摸面板的带有位置检测功能的显示装置。根据该显示装置， 用户可以一边参照在显示部中显示的图像，一边指点显示图像的图标等或输入信息。作为此种借助触摸面板的位置检测方式，例如已知有电阻膜方式或静电电容方式等。另一方面，在投射型显示装置(投影仪)或数字标牌用的显示装置中，与移动电话或个人计算机的显示装置相比，其显示区域更大。所以，在这些显示装置中，很难使用上述的电阻膜方式或静电电容方式的触摸面板实现位置检测。另外，作为投射型显示装置使用的位置检测装置的以往技术，例如已知有专利文献1、2中所公开的技术。但是，该位置检测装置中存在系统变得大型化等问题。专利文献1日本特开平11-345085专利文献2日本特开2001-14264
发明内容
根据本发明的几个方式，可以提供能够在宽广范围中检测出对象物的位置的光学式检测装置、显示装置及电子机器等。本发明的一个方式涉及一种光学式检测装置，其包括第一照射组件，其以放射状射出强度根据照射方向而不同的第一照射光；第二照射组件，其以放射状射出强度根据照射方向而不同的第二照射光；受光部，其接受由来自上述第一照射组件的上述第一照射光被对象物反射而成的第一反射光、由来自上述第二照射组件的上述第二照射光被上述对象物反射而成的第二反射光；检测部，其基于上述受光部中的受光结果，检测上述对象物的位置。根据本发明的一个方式，从第一照射组件中，以放射状射出强度根据照射方向而不同的第一照射光，从第二照射组件中，以放射状射出强度根据照射方向而不同的第二照射光。此外，利用受光部接收由第一照射光被对象物反射而造成的第一反射光、由第二照射光被对象物反射而造成的第二反射光，基于受光结果检测出对象物的位置。根据此种构成的光学式检测装置，由于可以使用由以放射状射出的第一照射光造成的第一反射光、由以放射状射出的第二照射光造成的第二反射光，检测出对象物的位置，因此可以实现能够在宽广范围中检测出对象物的位置的光学式检测装置。另外，本发明的一个方式中也可以是，上述检测部基于上述第一反射光的受光结果，将上述对象物相对于上述第一照射组件的方向作为第一方向检测出，基于上述第二反射光的受光结果，将上述对象物相对于上述第二照射组件的方向作为第二方向检测出，基于所检测出的上述第一方向及上述第二方向、和上述第一照射组件与上述第二照射组件之间的距离，来检测上述对象物的位置。如果如此设置，则可以通过检测出作为对象物相对于第一照射组件的方向的第一方向和作为对象物相对于第二照射组件的方向的第二方向，而根据这些第一、第二方向和第一、第二照射组件间的距离来恰当地检测出对象物的位置。另外，本发明的一个方式中也可以是，上述第一照射组件与上述第二照射组件在沿着上述对象物的检测区域的面的方向被拉开给定的距离而配置。如果如此设置，则由于在沿着对象物的检测区域的面的方向，射出放射状的第一照射光和放射状的第二照射光，因此可以在宽广的范围中检测出对象物。另外，本发明的一个方式中也可以是，上述第一照射组件包括射出第一光源光的第一光源部；射出第二光源光的第二光源部；曲线形状的第一光导管，其将射入一端侧的光入射面的上述第一光源光沿着曲线状的导光路径导光，并且将射入另一端侧的光入射面的上述第二光源光沿着曲线状的导光路径导光；第一照射方向设定部，其接受从上述第一光导管的外周侧射出的上述第一光源光或上述第二光源光，沿从曲线形状的上述第一光导管的内周侧朝向外周侧的方向设定上述第一照射光的照射方向，上述第二照射组件包括: 射出第三光源光的第三光源部；射出第四光源光的第四光源部；曲线形状的第二光导管， 其将射入一端侧的光入射面的上述第三光源光沿着曲线状的导光路径导光，并且将射入另一端侧的光入射面的上述第四光源光沿着曲线状的导光路径导光；第二照射方向设定部， 其接受从上述第二光导管的外周侧射出的上述第三光源光或上述第四光源光，沿从曲线形状的上述第二光导管的内周侧朝向外周侧的方向设定上述第二照射光的照射方向。如果如此设置，则例如相对于第一、第二照射组件的各照射组件，只要设置1个光导管即可，因此可以实现装置的紧凑化等。另外，本发明的一个方式中也可以是，上述第一照射组件包括射出第一光源光的第一光源部；射出第二光源光的第二光源部；曲线形状的第一光导管，其将射入一端侧的光入射面的上述第一光源光沿着曲线状的导光路径导光；曲线形状的第二光导管，其将射入另一端侧的光入射面的上述第二光源光沿着曲线状的导光路径导光；第一照射方向设定部，其接受从上述第一光导管的外周侧射出的上述第一光源光或从上述第二光导管的外周侧射出的上述第二光源光，沿从曲线形状的上述第一光导管及上述第二光导管的内周侧朝向外周侧的方向设定上述第一照射光的照射方向，上述第二照射组件包括射出第三光源光的第三光源部；射出第四光源光的第四光源部；曲线形状的第三光导管，其将射入一端侧的光入射面的上述第三光源光沿着曲线状的导光路径导光；曲线形状的第四光导管，其将射入另一端侧的光入射面的上述第四光源光沿着曲线状的导光路径导光；第一照射方向设定部，其接受从上述第三光导管的外周侧射出的上述第三光源光或从上述第四光导管的外周侧射出的上述第四光源光，沿从曲线形状的上述第三光导管及上述第四光导管的内周侧朝向外周侧的方向设定上述第二照射光的照射方向。如果像这样采用相对于第一、第二照射组件的各照射组件设置2个光导管的构成，就可以简化出光特性的调整等光学设计。另外，本发明的一个方式中也可以是，通过上述第一照射组件的上述第一光源部射出上述第一光源光，而在上述对象物的检测区域形成第一照射光强度分布，通过上述第一照射组件的上述第二光源部射出上述第二光源光，而在上述检测区域形成强度分布与上述第一照射强度分布不同的第二照射光强度分布，通过上述第二照射组件的上述第三光源部射出上述第三光源光，而在上述检测区域形成第三照射光强度分布，通过上述第二照射组件的上述第四光源部射出上述第四光源光，而在上述检测区域形成强度分布与上述第三照射强度分布不同的第四照射光强度分布。如果如此设置，则可以基于形成第一照射光强度分布时的受光结果和形成第二照射光强度分布时的受光结果，检测出对象物，基于形成第三照射光强度分布时的受光结果和形成第四照射光强度时的受光结果，检测出对象物。从而可以实现减少了环境光等干扰光的影响的对象物的检测，提高检测精度等。另外，本发明的一个方式中也可以是，上述第一照射光强度分布是照射光的强度随着从上述第一照射组件的一端侧接近另一端侧而变低的强度分布，上述第二照射光强度分布是照射光的强度随着从上述第一照射组件的另一端侧接近一端侧而变低的强度分布， 上述第三照射光强度分布是照射光的强度随着从上述第二照射组件的一端侧接近另一端侧而变低的强度分布，上述第四照射光强度分布是照射光的强度随着从上述第二照射组件的另一端侧接近一端侧而变低的强度分布。如果如此设置，则由于可以形成强度根据照射方向而不同的照射光强度分布，因此可以利用该强度分布，用简单的处理检测出对象物的位置。另外，本发明的一个方式中也可以是，包括进行上述第一光源部 上述第四光源部的发光控制的控制部，上述控制部在第一期间中进行使上述第一光源部与上述第二光源部交互地发光的控制，在第二期间中进行使上述第三光源部与上述第四光源部交互地发光的控制。如果如此设置，则控制部通过在第一期间中使第一、第二光源部交互地发光，就可以形成第一、第二照射光强度分布而检测出对象物的方向等，通过在第二期间中使第三、第四光源部交互地发光，就可以形成第三、第四照射光强度分布而检测出对象物的方向等。另外，本发明的一个方式中也可以是，包括进行上述第一光源部 上述第四光源部的发光控制的控制部，上述控制部按照使作为上述第一光源部发光的期间的第一发光期间中的上述受光部的检测受光量、与作为上述第二光源部发光的期间的第二发光期间中的上述受光部的检测受光量相等的方式，进行上述第一光源部及上述第二光源部的发光控制，并且按照使作为上述第三光源部发光的期间的第三发光期间中的上述受光部的检测受光量、与作为上述第四光源部发光的期间的第四发光期间中的上述受光部的检测受光量相等的方式，进行上述第三光源部及上述第四光源部的发光控制。如果如此设置，就可以抵消第一照射光强度分布形成时的干扰光的影响和第二照射光强度分布形成时的干扰光的影响，抵消第三照射光强度分布形成时的干扰光的影响和第四照射光强度分布形成时的干扰光的影响，从而可以提高检测精度等。而且，按照使第一发光期间的检测受光量与第二发光期间的检测受光量相等的方式进行的发光控制、或按照使第三发光期间的检测受光量与第四发光期间的检测受光量相等的方式进行的发光控制也可以是借助参照用光源部进行的发光控制。另外，本发明的一个方式中也可以是，在将从上述第一照射组件的配置位置，即第一配置位置朝向规定上述对象物的检测区域的一端侧的第一位置的方向设为第一方向，将从上述第一配置位置朝向规定上述检测区域的另一端侧的第二位置的方向设为第二方向，将从上述第二照射组件的配置位置，即第二配置位置朝向上述第一位置的方向设为第三方向，将从上述第二配置位置朝向上述第二位置的方向设为第四方向，将从上述第一配置位置朝向上述第二配置位置的方向设为第五方向，将上述第五方向的相反方向设为第六方向，将从上述第二配置位置朝向上述第一配置位置的方向设为第七方向，将上述第七方向的相反方向设为第八方向的情况下，上述第一光源部被配置于由上述第一方向和上述第六方向规定的第一方向范围内，上述第二光源部被配置于由上述第二方向和上述第五方向规定的第二方向范围内，上述第三光源部被配置于由上述第三方向和上述第七方向规定的第三方向范围内，上述第四光源部被配置于由上述第四方向和上述第八方向规定的第四方向范围内。如果像这样将第一、第二、第三、第四光源部分别配置于第一、第二、第三、第四方向范围内，就可以恰当地检测出存在于由第一、第二位置等规定的检测区域中的对象物的位置。另外，还可以抑制向无用的照射方向射出照射光，实现照射光强度分布的设定的容易化。另外，本发明的一个方式中也可以是，在将从上述第一照射组件的配置位置，即第一配置位置朝向规定上述对象物的检测区域的一端侧的第一位置的方向设为第一方向，将从上述第一配置位置朝向规定上述检测区域的另一端侧的第二位置的方向设为第二方向， 将从上述第二照射组件的配置位置，即第二配置位置朝向上述第一位置的方向设为第三方向，将从上述第二配置位置朝向上述第二位置的方向设为第四方向的情况下，上述第一照射组件在包括由上述第一方向和上述第二方向规定的方向范围的第一照射方向范围中射出上述第一照射光，上述第二照射组件在包括由上述第三方向和上述第四方向规定的方向范围的第二照射方向范围中射出上述第二照射光。如果如此设置，则只要第一照射组件在第一照射方向范围中射出第一照射光，第二照射组件在第二照射方向范围中射出第二照射光即可。从而还可以抑制向无用的照射方向射出照射光，实现照射光强度分布的设定的容易化。另外，本发明的一个方式中也可以是，上述第一照射组件及上述第二照射组件的各照射组件具有照射方向规制部，上述照射方向规制部将照射光的照射方向限制为沿着上述对象物的检测区域的面的方向。如果如此设置，就可以防止照射光沿与对象物的检测区域交叉的方向展宽，因此可以防止误检测等。另外，本发明的一个方式中也可以是，上述照射方向规制部是具有沿着上述检测区域的面的第一狭缝面及第二狭缝面的狭缝。如果如此设置，则只要在光学式检测装置的壳体中设置狭缝，就可以将照射光的照射方向限制为沿着对象物的检测区域的面的方向。另外，在本发明的一个方式中也可以是，在上述第一狭缝面及上述第二狭缝面形成有凹部。如果如此设置，则可以抑制第一、第二狭缝面中的表面反射，从而可以更为有效地防止照射光展宽的事态。另外，本发明的另一个方式涉及一种显示装置，其包括上述任意一项中记载的光学式检测装置。
另外，本发明的另一个方式涉及一种电子机器，其包括上述任意一项中记载的光学式检测装置。


图1(A)、图I(B)是本实施方式的光学式检测装置、显示装置等的基本构成例。图2(A)、图2(B)是本实施方式的检测方法的说明图。图3(A)、图3(B)是本实施方式的检测方法的说明图。图4是本实施方式的光学式检测装置的第一构成例。图5是本实施方式的光学式检测装置的第二构成例。图6是针对第二构成例中的光导管的配置的说明图。图7 (A)、图7⑶是用于说明本实施方式的检测方法的信号波形例。图8是针对配置光源部的方向范围或照射方向范围的说明图。图9(A)、图9(B)是照射方向规制部的说明图。图10是照射组件的详细的结构例。图11是照射组件的详细的结构例。图12是照射组件的详细的结构例。图13(A)、图13⑶是照射方向设定部的说明图。图14(A) 图14(C)是棱镜片、扩散片的说明图。图15是针对照射方向的设定方法的说明图。图16是检测部等的详细的构成例。附图标号说明EU、EU1、EU2照射组件，RU受光部，ARD显示区域，RDET检测区域，LG、LG1、LG2、LG11 LG22 光导管，LS1、LS2、LS11 LS22 光源部，RS、RS1、RS2 反射片， PS、PS1、PS2棱镜片，LF、LF1、LF2百叶膜，LE、LE1、LE2照射方向设定部，LT 照射光，LIDl 第一照射光强度分布，LID2第二照射光强度分布，SL狭缝，SFLl第一狭缝面，SFL2第二狭缝面，Dl D8第一 第八方向，10图像投射装置，20屏幕，50检测部，52信号检测电路，54 信号分离电路，56判定部，60控制部，70驱动电路。
具体实施例方式下面，对本发明的优选的实施方式进行详细说明。而且，以下说明的本实施方式并非对技术方案的范围中记载的本发明的内容进行不当限定的内容，本实施方式中所说明的所有构成不一定是作为本发明的解决途径来说所必需的。1.基本构成图1(A)、图I(B)中表示出本实施方式的光学式检测装置及使用它的显示装置或电子机器的基本构成例。图1(A)、图I(B)是将本实施方式的光学式检测装置应用于液晶投影仪或被称作数字微镜设备的投射型显示装置(投影仪)中的情况的例子。图1(A)、图 I(B)中，将彼此交叉的轴设为X轴、Y轴、Z轴(广义地说是第一、第二、第三坐标轴)。具体来说，将X轴方向设为横向，将Y轴方向设为纵向，将Z轴方向设为进深方向。本实施方式的光学式检测装置包括第一照射组件EU1、第二照射组件EU2、受光部RU和检测部50。另外还包括控制部60。另外，本实施方式的显示装置(电子机器)包括光学式检测装置和屏幕20 (广义地说是显示部)。此外，显示装置(电子机器)还可以包括图像投射装置10 (广义地说是图像生成装置)。而且，本实施方式的光学式检测装置、显示装置、电子机器并不限定于图1(A)、图I(B)的构成，可以进行省略其构成部件的一部分、 或追加其他的构成部件等各种变形实施。图像投射装置10从设于壳体的前面侧的投射透镜朝向屏幕20放大投射图像显示光。具体来说，图像投射装置10生成彩色图像的显示光，经由投射透镜向屏幕20射出。这样就会在屏幕20的显示区域ARD中显示彩色图像。本实施方式的光学式检测装置在如图1 (B)所示设定于屏幕20的前方侧(Z轴方向侧)的检测区域RDET中，光学地检测用户的手指或触摸笔等对象物。为此，光学式检测装置的第一、第二照射组件EU1、EU2射出用于检测对象物的照射光(检测光)。具体来说，第一照射组件EUl以放射状(沿着法线方向、半径方向的方向)射出强度(照度)根据照射方向而不同的第一照射光。另外，第二照射组件EU2以放射状(沿着法线方向、半径方向的方向)射出强度(照度)根据照射方向而不同的第二照射光。例如， 第一照射组件EUl在第一期间中以放射状射出第一照射光，第二照射组件EU2在第二期间中以放射状射出第二照射光。这样，就会在检测区域RDET中，形成强度根据照射方向而不同的照射光强度分布。例如在第一期间中，利用来自第一照射组件EUl的照射光，在检测区域RDET中形成强度根据照射方向而不同的照射光强度分布。另一方面，在第二期间中，利用来自第二照射组件EU2的照射光，在检测区域RDET中形成强度根据照射方向而不同的照射光强度分布。而且，检测区域RDET是在屏幕20 (显示部)的Z方向侧(用户侧)被沿着 XY平面设定的区域。受光部RU接受由来自第一、第二照射组件EU1、EU2的照射光被对象物反射而造成的反射光。例如，受光部RU接受由来自第一照射组件EUl的第一照射光被对象物反射而造成的第一反射光。另外，受光部RU接受由来自第二照射组件EU2的第二照射光被对象物反射而造成的第二反射光。该受光部RU例如可以利用发光二极管或发光晶体管等受光元件来实现。在该受光部RU处例如电连接有检测部50。检测部50基于受光部RU中的受光结果，至少检测出对象物的位置。该检测部50 的功能可以利用具有模拟电路等的集成电路装置、在微机上动作的软件(程序)等来实现。 例如，检测部50将因受光部RU的受光元件接受来自对象物的反射光而产生的检测电流变换为检测电压，基于作为受光结果的检测电压，检测出对象物的位置。具体来说，第一、第二照射组件EU1、EU2在沿着对象物的检测区域RDET的面的方向上被拉开给定的距离而配置。例如图1(A)、图I(B)中，沿X轴方向配置拉开给定的距离的第一、第二照射组件EU1、EU2。此外，检测部50基于由来自照射组件EUl的第一照射光被对象物反射造成的第一反射光的受光结果，将对象物相对于第一照射组件EUl的方向作为第一方向检测出。另外， 基于由来自第二照射组件EU2的第二照射光被对象物反射造成的第二反射光的受光结果， 将对象物相对于第二照射组件EU2的方向作为第二方向检测出。此后，基于所检测出的第一、第二方向和第一、第二照射组件间的距离，检测出对象物的位置。具体来说，检测出检测区域RDET的XY平面中的X、Y坐标。控制部60进行光学式检测装置的各种控制处理。具体来说，进行EU1、EU2的各照射组件所具有的光源部的发光控制等。该控制部60被与照射组件EU1、EU2、检测部50电连接。控制部60的功能可以利用集成电路装置或在微机上动作的软件等来实现。例如，照射组件EUl包含第一、第二光源部，照射组件EU2包含第三、第四光源部。该情况下，控制部 60在求出对象物相对于照射组件EUl的方向的第一期间中，进行使照射组件EUl的第一、第二光源部交互地发光的控制。另外，在求出对象物相对于照射组件EU2的方向的第二期间中，进行使照射组件EU2的第三、第四光源部交互地发光的控制。而且，本实施方式的光学式检测装置并不限定于图I(A)所示的投射型显示装置， 可以适用于搭载在各种电子机器中的各种显示装置。另外，作为可以应用本实施方式的光学式检测装置的电子机器，可以设想为个人计算机、导航装置、售票机、移动信息终端、或者银行的终端等各种机器。该电子机器例如可以包含显示图像的显示部(显示装置)、用于输入信息的输入部、基于所输入的信息等进行各种处理的处理部等。2.对象物的检测方法下面，对本实施方式的对象物的检测方法进行详细说明。而且，这里对图I(A)的照射组件EU1、EU2的一方的照射组件的构成、动作进行说明，然而另一方的照射组件的构成、动作也是相同的。如图2(A)所示，本实施方式的光学式检测装置的各照射组件(EU1、EU2)包括光源部LSI、光导管LG、照射方向设定部LE。另外，还包括反射片RS。此外，照射方向设定部LE 包括光学片PS及百叶膜(louverfilnOLF。而且，可以进行省略这些构成部件的一部分、或追加其他的构成部件等各种变形实施。光源部LSl是射出光源光的部分，具有LED (发光二极管)等发光元件。该光源部 LSl例如发出红外光(接近可见光区域的近红外线)的光源光。即，光源部LSl所发出的光源光最好是由用户的手指或触摸笔等对象物有效地反射的波长频带的光、或在成为干扰光的环境光中不怎么含有的波长频带的光。具体来说，是作为在人体的表面处的反射率高的波长频带的光的850nm附近的波长的红外光、或作为在环境光中不怎么含有的波长频带的光的950nm附近的红外光等。光导管LG (导光构件)是将光源部LSl所发出的光源光导光的构件。例如光导管 LG将来自光源部LSl的光源光沿着曲线状的导光路径导光，其形状为曲线形状。具体来说， 图2(A)中光导管LG为圆弧形状。而且，虽然图2㈧中光导管LG是其中心角为180度的圆弧形状，然而也可以是中心角小于180度的圆弧形状。光导管LG例如由丙烯酸树脂或聚碳酸酯等透明的树脂构件等形成。此外，来自光源部LSl的光源光被射入光导管LG的一端侧(图2㈧中是左侧)的光入射面。对光导管LG的外周侧(Bi所示的一侧)及内周侧(B2所示的一侧)的至少一方， 实施了用于调整来自光导管LG的光源光的出光效率的加工。作为加工方法，例如可以采用印刷反射点的丝网印刷方式、用溅射或喷墨来赋予凹凸的成形方式、槽加工方式等各种方法。利用棱镜片PS和百叶膜LF实现的照射方向设定部LE (照射光出射部)设于光导管LG的外周侧，接受从光导管LG的外周侧(外周面)射出的光源光。此后，射出将照射方向设定为从曲线形状(圆弧形状)的光导管LG的内周侧(B2)朝向外周侧(Bi)的方向的照射光LT。即，将从光导管LG的外周侧射出的光源光的方向设定(限制)为沿着光导管LG的例如法线方向(半径方向)的照射方向。这样，照射光LT就被以放射状沿从光导管 LG的内周侧朝向外周侧的方向射出。此种照射光LT的照射方向的设定是利用照射方向设定部LE的棱镜片PS或百叶膜LF等实现的。例如棱镜片PS将从光导管LG的外周侧以低视角射出的光源光的方向沿法线方向侧抬高，按照使出光特性的峰值处于法线方向的方式设定。另外，百叶膜LF遮挡 (除去)法线方向以外的方向的光(低视角光)。而且，也可以如后所述地在照射方向设定部LE中设置扩散片等。另外，反射片RS设于光导管LG的内周侧。通过像这样将反射片RS 设于内周侧，就可以改善朝向外周侧的光源光的出光效率。此外，如图2 (A)所示，通过光源部LSl向光导管LG的一端侧(B!3)的光入射面射出光源光，在对象物的检测区域(图I(B) WRDET)中形成第一照射光强度分布LID1。该第一照射光强度分布LIDl是照射光的强度随着从光导管LG的一端侧(Β； )接近另一端侧 (B4)而变低的强度分布。即，图2(A)中照射光LT的矢量的大小表示强度(照度)，在光导管LG的一端侧(Β； )照射光LT的强度最大，在另一端侧(B4)强度最小。这样，随着从光导管LG的一端侧接近另一端侧，照射光LT的强度单调地减少。另一方面，如图2(B)所示，通过光源部LS2向光导管LG的另一端侧(B4)的光入射面射出第二光源光，在检测区域中形成第二照射光强度分布LID2。该第二照射光强度分布LID2的强度分布与第一照射光强度分布LIDl不同，是照射光的强度随着从光导管LG的另一端侧(B4)接近一端侧(B3)而变低的强度分布。即，图2(B)中，在光导管LG的另一端侧照射光LT的强度最大，在一端侧强度最小。这样，随着从光导管LG的另一端侧接近一端侧，照射光LT的强度单调地减少。通过形成此种照射光强度分布LID1、LID2，接受由这些强度分布的照射光造成的对象物的反射光，就可以实现将环境光等干扰光的影响压缩为最小限度的、更高精度的对象物的检测。即，可以抵消干扰光中所含的红外成分，可以将该红外成分对对象物的检测造成的不良影响压缩为最小限度。例如图3(A)的El是表示在图2(A)的照射光强度分布LIDl中照射光LT的照射方向的角度与该角度下的照射光LT的强度的关系的图。图3(A)的El中，在照射方向为图 3(B)的DDl的方向(左侧方向)的情况下强度最高。另一方面，在为DD3的方向(右侧方向)的情况下强度最低，如果是DD2的方向则是其中间的强度。具体来说，相对于从方向 DDl朝向方向DD3的角度变化来说，照射光的强度单调地减少，例如线性地(直线地)变化。 而且，图3(B)中，光导管LG的圆弧形状的中心位置为光学式检测装置的配置位置PE。另外，图3 (A)的E2是表示在图2 (B)的照射光强度分布LID2中照射光LT的照射方向的角度与该角度下的照射光LT的强度的关系的图。图3(A)的E2中，在照射方向为图 3(B)的DD3的方向的情况下强度最高。另一方面，在为DDl的方向的情况下强度最低，如果是DD2的方向则是其中间的强度。具体来说，相对于从方向DD3朝向方向DDl的角度变化来说，照射光的强度单调地减少，例如线性地变化。而且，虽然图3(A)中照射方向的角度与强度的关系是线性的关系，然而本实施方式并不限定于此，例如也可以是双曲线的关系等。此外，如图3(B)所示，在角度θ的方向DDB存在有对象物0Β。这时，在如图2(A) 所示通过光源部LSl发光而形成了照射光强度分布LIDl的情况下(El的情况下)，如图 3(A)所示，存在于DDB (角度Θ)的方向的对象物OB的位置处的强度为INTa。另一方面，在如图2⑶所示通过光源部LS2发光而形成了照射光强度分布LID2的情况下(E2的情况下)，存在于DDB的方向的对象物OB的位置处的强度为INTb。所以，通过求出这些强度INTa、INTb的关系，就可以特定对象物OB所处的方向 DDB (角度θ )。此外，如果例如如后述的图4、图5所示设置2个照射组件EU1、EU2，求出对象物OB相对于EU1、EU2的各照射组件的方向DDBl ( θ 1)、DDB2 ( θ 2)，就可以利用这些方向 DDB1、DDB2和照射组件EU1、EU2之间的距离DS，来特定对象物OB的位置。为了求出此种强度INTa、INTb的关系，本实施方式中，图1 (A)的受光部RU接受形成如图2 (A)所示的照射光强度分布LIDl时的对象物OB的反射光(第一反射光)。在将此时的反射光的检测受光量设为( 的情况下，该( 就会对应于强度INTa。另外，受光部RU 接受形成如图2(B)所示的照射光强度分布LID2时的对象物OB的反射光(第二反射光)。 在将此时的反射光的检测受光量设为( 的情况下，该( 就会对应于强度INTb。所以，如果求出检测受光量( 和( 的关系，就可以求出强度INTa、INTb的关系，从而求出对象物OB 所处的方向DDB。例如，将图2(A)的光源部LSl的控制量(例如电流量)、变换系数、发出光量分别设为Ia、k、Ea。另外，将图2(B)的光源部LS2的控制量(电流量)、变换系数、发出光量分别设为lb、k、Eb0这时即成立下式(1)、(2)。Ea = k · Ia (1)Eb = k · Ib (2)另外，将来自光源部LSl的光源光(第一光源光)的衰减系数设为fa，将与该光源光对应的反射光(第一反射光)的检测受光量设为fe。另外，将来自光源部LS2的光源光 (第二光源光)的衰减系数设为fb，将与该光源光对应的反射光(第二反射光)的检测受光量设为(^。这时即成立下式⑶、⑷。Ga = fa · Ea = fa · k · Ia (3)Gb = fb · Eb = fb · k · Ib (4)所以，检测受光量Ga、Gb的比就可以如下式(5)所示地表示。Ga/Gb = (fa/fb) · (Ia/Ib) (5)这里Ga/(ib可以由受光部RU中的受光结果来特定，Ia/Ib可以由借助控制部60的照射组件的控制量来特定。此外，图3(A)的强度INTa、INTb与衰减系数fa、fb处于唯一的关系。例如在衰减系数fa、fb是小的值、衰减量大的情况下，就意味着强度INTa、INTb小。 另一方面，在衰减系数fa、fb是大的值、衰减量小的情况下，就意味着强度INTa、INTb大。 所以，通过根据上式( 求出衰减率的比fa/fb，就可以求出对象物的方向、位置等。更具体来说，将一方的控制量Ia固定为Im，按照使检测受光量的比Ga/(ib为1的方式，控制另一方的控制量让。例如如后述的图7(A)所示进行使光源部LSI、LS2以相反相位交互点亮的控制，分析检测受光量的波形，以观测不到检测波形的方式(使( / = 1 的方式)，控制另一方的控制量让。此后，根据此时的另一方的控制量rt = Lu· (fa/fb), 求出衰减系数的比fa/fb，从而求出对象物的方向、位置等。另外，也可以如下式(6)、(7)所示，按照使( / = 1的方式，并且使控制量Ia与 Ib的和恒定的方式来控制。Ga/Gb = 1 (6)
Im = Ia+Ib (7)如果将上式(6)、(7)代入上式(5)，则下式(8)成立。Ga/Gb = 1 = (fa/fb) · (Ia/Ib)= (fa/fb) ·{ (Im-Ib)/lb} (8)根据上式⑶，rt可以如下式(9)所示地表示。Ib = {fa/(fa+fb)} · Im (9)这里如果取α = fa/(fa+fb)，则上式(9)可以如下式(10)所示地表示，衰减系数的比fa/fb可以使用α如下式(11)所示地表示。Ib = α · Im (10)fa/fb = α /(1-α ) (11)所以，如果按照使( / = 1的方式，并且使控制量Ia与Λ的和恒定的方式来控制，则可以根据此时的Πκ^ιι利用上式(10)求出α，通过将所求出的α代入上式(11)，就可以求出衰减系数的比fa/fb。这样，就可以求出对象物的方向、位置等。此外，通过按照使 Ga/Gb = 1的方式，并且使控制量Ia与Λ的和恒定的方式来控制，就可以抵消干扰光的影响等，实现检测精度的提高。而且，以上对交互地形成图2 (A)的照射强度分布LIDl和图2 (B)的照射光强度分布LID2而检测对象物的方向、位置等的方法进行了说明。但是，在可以容许一定程度的检测精度的降低等的情况下，也可以仅形成图2(A)的照射光强度分布LIDl或图2 (B)的照射光强度分布LID2的一方，求出对象物的方向、位置等。3.构成例下面，对本实施方式的光学式检测装置的第一、第二构成例进行说明。图4中表示出光学式检测装置的第一构成例。该第一构成例中，第一照射组件EUl包括第一、第二光源部LS11、LS12、第一光导管LG1、第一照射方向设定部LE1。第一光源部LSll如图4的Fl所示设于第一光导管LGl 的一端侧，射出第一光源光。第二光源部LS12如F2所示设于第一光导管LGl的另一端侧， 射出第二光源光。曲线形状的第一光导管LGl将射入一端侧(Fl)的光入射面的来自第一光源部 LSll的第一光源光沿着曲线状的导光路径导光。另外，将射入另一端侧(^)的光入射面的来自第二光源部LS12的第二光源光沿着曲线状的导光路径导光。此外，第一照射方向设定部LEl接受从第一光导管LGl的外周侧射出的第一光源光或第二光源光，将第一照射光的照射方向设定为从曲线形状的第一光导管LGl的内周侧朝向外周侧的方向。该第一照射方向设定部LEl例如由棱镜片PSl和百叶膜LFl构成。另一方面，第二照射组件EU2包括第三、第四光源部LS21、LS22、第二光导管LG2、 第二照射方向设定部LE2。第三光源部LS21如图4的F3所示设于第二光导管LG2的一端侧，射出第三光源光。第四光源部LS22如F4所示设于第二光导管LG2的另一端侧，射出第四光源光。曲线形状的第二光导管LG2将射入一端侧(F!3)的光入射面的来自第三光源部 LS21的第三光源光沿着曲线状的导光路径导光。另外，将射入另一端侧(F4)的光入射面的来自第四光源部LS22的第四光源光沿着曲线状的导光路径导光。
此外，第二照射方向设定部LE2接受从第二光导管LG2的外周侧射出的第三光源光或第四光源光，将第二照射光的照射方向设定为从曲线形状的第二光导管LG2的内周侧朝向外周侧的方向。该第二照射方向设定部LE2例如由棱镜片PSl和百叶膜LFl构成。图5中表示出光学式检测装置的第二构成例。该第二构成例中，第一照射组件EUl 包括第一光源部LS11、第二光源部LS12、第一光导管LG11、第二光导管LG12、第一照射方向设定部LEl。第一光导管LGll将射入一端侧(Gl)的光入射面的来自第一光源部LSll的第一光源光沿着曲线状的导光路径导光。第二光导管LG12将射入另一端侧(6 的光入射面的来自第二光源部LS12的第二光源光沿着曲线状的导光路径导光。第一照射方向设定部LEl接受从第一光导管LGll的外周侧射出的第一光源光或从第二光导管LG12的外周侧射出的第二光源光，将第一照射光的照射方向设定为从曲线形状的第一光导管LGll及第二光导管LG12的内周侧朝向外周侧的方向。另一方面，第二照射组件EU2包括第三光源部LS21、第四光源部LS22、第三光导管 LG21、第四光导管LG22、第二照射方向设定部LE2。第三光导管LG21将从射入一端侧(G!3)的光入射面的来自第三光源部LS21的第三光源光沿着曲线状的导光路径导光。第四光导管LG22将射入另一端侧(G4)的光入射面的来自第四光源部LS22的第四光源光沿着曲线状的导光路径导光。第二照射方向设定部LE2接受从第三光导管LG21的外周侧射出的第三光源光或从第四光导管LG22的外周侧射出的第四光源光，将第二照射光的照射方向设定为从曲线形状的第三光导管LG21及第四光导管LG22的内周侧朝向外周侧的方向。而且，图5的第二构成例中，为了容易理解图面，将照射组件EUl的光导管LGll和 LG12描绘为沿圆弧形状的半径方向并排配置。另外，将照射组件EU2的光导管LG21和LG22 描绘为沿圆弧形状的半径方向并排配置。但是，这些光导管LGll和LG12、光导管LG21和 LG22实际上是以如图6所示的位置关系配置的。即，光导管LGll和LG12是在与沿着光导管LG21、LG22和照射方向设定部LEl所排列的方向的面交叉(正交)的方向DLG上并排配置的。光导管LG21和LG22也是在与沿着光导管LG11、LG12和照射方向设定部LE2所排列的方向的面交叉(正交)的方向DLG上并排配置的。例如，按照沿着与图I(B)的检测区域 RDET的面(平行于XY平面的面)交叉(正交)的方向(Z方向)的方式，配置光导管LG11、 LG12(LG21、LG22)。如果如此设置，则由于可以在光学式检测装置的各照射组件中紧凑地收纳光导管LG11、LG12(LG21、LG22)，因此可以防止光学式检测装置大型化。如上所述，在图4的第一构成例中，EUU EU2的各照射组件具有1个光导管，而图 5的第二构成例中，EUU EU2的各照射组件具有2个光导管。此外，在图4、图5的构成例的任意一种情况下，都可以如下所示地实现发光控制。 具体来说，通过照射组件EUl的光源部LSll射出第一光源光，而在对象物的检测区域形成 (设定)第一照射光强度分布。另外，通过照射组件EUl的光源部LS12射出第二光源光， 在检测区域形成强度分布与第一照射强度分布不同的第二照射光强度分布。该情况下，第一照射光强度分布如图2(A)所示，成为照射光的强度随着从照射组件EUl的一端侧(F1、Gl)接近另一端侧(F2、G》而变低的强度分布。另一方面，第二照射光强度分布如图2(B) 所示，成为照射光的强度随着从照射组件EUl的另一端侧(F2、G2)接近一端侧(F1、G1)而变低的强度分布。另外，在图4、图5的第一、第二构成例的任意一种情况下，通过照射组件EU2的光源部LS21射出第三光源光，在检测区域形成(设定)第三照射光强度分布。另外，通过照射组件EU2的光源部LS22射出第四光源光，在检测区域形成强度分布与第三照射强度分布不同的第四照射光强度分布。该情况下，第三照射光强度分布如图2(A)所示，成为照射光的强度随着从照射组件EU2的一端侧(F3、G!3)接近另一端侧(F4、G4)而变低的强度分布。 另一方面，第四照射光强度分布如图2(B)所示，成为照射光的强度随着从照射组件EU2的另一端侧(F4、G4)接近一端侧(F3、G3)而变低的强度分布。下面，对图4的第一构成例与图5的第二构成例的不同点进行详细说明。这里，虽然是以照射组件EU1、EU2中的照射组件EUl为例进行说明，然而对于照射组件EU2也是相同的。根据图4的第一构成例，相对于照射组件EUl (EU2)，只要设置1个光导管LGl即可。所以，具有可以实现光学式检测装置的紧凑化等优点。另一方面，图5的第二构成例中，设置光导管LGll和向其射入光的光源部LS11，并且设置光导管LG12和向其射入光的光源部LS12。此外，通过使光源部LS11、LS12如后述的图7(A)所示以相反相位交互地点亮，而交互地形成图2(A)的状态和图2(B)的状态。此后，接受对象物的反射光，基于受光结果来特定对象物的方向等。根据该第二构成例，可以将光导管LG11、LG12的光学设计简化。例如，为了形成如图3(A)所示的线性的强度分布，就需要利用丝网印刷方式等来调整光导管的出光特性的光学设计。即，在光源光的衰减率例如为0.9的情况下，就会像 90181^^73%这样，强度以双曲线的特性变化，而不会是线性的变化。由此，在形成如图 3(A)所示的线性的强度分布的情况下，就需要借助丝网印刷方式等的出光特性的调整。但是，在像图4的第一构成例那样使用1个光导管LG的方法中，很难进行此种出光特性的调整。即，如果以使照射光强度分布LIDl的强度变化变成线性的方式加工光导管的表面而调整出光特性，则照射光强度分布LID2中的强度变化就不会是线性的。另一方面，如果以使照射光强度分布LID2的强度变化变成线性的方式加工光导管的表面而调整出光特性，则此次照射光强度分布LIDl中的强度变化就不会是线性低。考虑到这一点，在图5的第二构成例中，与光源部LSI 1对应地设置光导管LGl 1，与光源部LS12对应地设置光导管LG12。对于光导管LGl 1，只要以使照射光强度分布LIDl成为线性的强度变化的方式，加工其表面而调整出光特性即可。另一方面，对于光导管LG12， 只要以使照射光强度分布LID2成为线性的强度变化的方式，加工其表面而调整出光特性即可。所以，就可以简化光学设计。而且，即使强度变化的特性并非如图3(A)所示的线性的特性，例如是双曲线等特性，也可以利用借助软件等的修正处理来应对。即，即使在光学上并非线性的特性，也可以通过对受光结果进行修正处理，而调整为变成线性的特性。所以，在进行此种修正处理的情况下，不用像图5那样设置2个光导管，而是采用像图4那样仅设置1个光导管的构成，从而可以实现光学式检测装置的紧凑化等。
另外，在图4、图5的第一、第二构成例的任意一种情况下，最好将受光部RU配置于与照射组件EUl、EU2相等距离(包括大致相等距离的情况)的位置。具体来说，按照使从照射组件EUl的配置位置PEl到受光部RU的配置位置(代表位置、中心位置)的第一距离、与从照射组件EU2的配置位置PE2到受光部RU的配置位置的第二距离为相等距离(大致相等距离)的方式，配置受光部RU。如果设为此种左右对称的配置，则来自照射组件EUl 的照射光与来自照射组件EU2的照射光的差就会具有单调性。所以，在受光部RU接受由这些照射光被对象物反射所造成的反射光而检测对象物的坐标的情况下，就可以最大限度地利用受光部RU中的受光量的检测分辨率，从而可以提高坐标检测精度。根据以上的本实施方式的光学式检测装置，通过使用同心圆状的曲线状的光导管，就可以实现角度的读出。例如通过将受光部共用地设置2个照射组件，就可以实现小型包装，可以实现能够读出宽广范围的光学式检测装置。另外，根据本实施方式的光学式检测装置，由于光导管为曲线状，因此可以以放射状射出照射光，与使用直线形状的光导管等的方法相比，可以实现宽广范围中的对象物的方向、位置等的检测。例如在使用直线形状的光导管的方法中，为了能够实现宽广范围的检测，需要延长光导管的长度，使得系统变得大型化。与之不同，根据本实施方式，只要如图 I(A)所示，配置占有面积小的照射组件，就可以检测宽广范围中的对象物的方向、位置等。 另外，根据本实施方式的光学式检测装置，例如与在显示区域的4角配置光源部(照射组件)的方法等相比，可以实现检测系统的紧凑化。此外，由于照射组件的配置数例如只要为 2个即可，因此机器的设置的自由度也会提高。另外，本实施方式中，例如只要如图I(A)所示在显示区域的上侧配置照射组件，就可以检测出对象物的方向、位置等，因此机器的设置也变得容易。另外，在显示区域的4角配置光源部的方法中，配置于这4个角的光源部的存在有可能对在显示区域中显示图像造成妨碍，然而根据本实施方式的光学式检测装置，也可以防止此种事态。4.位置检测方法下面，对使用本实施方式的光学式检测装置来检测对象物的位置的方法的一例进行说明。图7(A)是针对图4、图5的光源部LS11、LS12、LS21、LS22的发光控制的信号波形例。信号SLSll是照射组件EUl的光源部LSll的发光控制信号，信号SLS12是光源部LS12 的发光控制信号。这些信号SLS11、SLS12是相反相位的信号。另外，信号SLS21是照射组件EU2的光源部LS21的发光控制信号，信号SLS22是光源部LS22的发光控制信号。这些信号SLS21、SLS22是相反相位的信号。例如照射组件EUl的光源部LS11，在信号SLSll为H电平的情况下点亮(发光)， 在为L电平的情况下熄灭。另外，光源部LS12在信号SLS12为H电平的情况下点亮(发光)，在为L电平的情况下熄灭。所以，在图7(A)的第一期间Tl中，光源部LSll与光源部 LS12就会交互地点亮。即，在光源部LSll点亮的期间，光源部LS12熄灭。这样就可以形成如图2(A)所示的照射光强度分布LID1。另一方面，在光源部LS12点亮的期间，光源部 LSll熄灭。这样就可以形成如图2(B)所示的照射光强度分布LID2。另一方面，照射组件EU2的光源部LS21在信号SLS21为H电平的情况下点亮，在为L电平的情况下熄灭。另外，光源部LS22在信号SLS22为H电平的情况下点亮，在为L电平的情况下熄灭。所以，在图7(A)的第二期间T2中，光源部LS21与光源部LS22就会交互地点亮。即，在光源部LS21点亮的期间，光源部LS22熄灭。这样就可以形成如图2(A)所示的照射光强度分布LID1。另一方面，在光源部LS22点亮的期间，光源部LS21熄灭。这样就可以形成如图2(B)所示的照射光强度分布LID2。这样，图1的控制部60在第一期间Tl中，进行使光源部LSll与光源部LS12交互地发光(点亮)的控制。此外，在该第一期间Tl中，检测出从照射组件EUl看到的对象物所处的方向DDB1。具体来说，在第一期间Tl中进行例如像上述的式(6)、(7)那样使( / =1并且使控制量Ia与Λ的和恒定的发光控制。此外，求出图4、图5中对象物OB所处的方向DDBl(角度Θ1)。例如，根据上式(10),(11)求出衰减系数的比fa/fb，利用图3(A)、 图3(B)中说明的方法求出对象物OB的方向DDB1。另一方面，控制部60在与第一期间Tl连续的第二期间T2中，进行使光源部LS21 与光源部LS22交互地发光的控制。此外，在该第二期间T2中，检测出从照射组件EU2看到的对象物所处的方向DDB2。具体来说，在第二期间T2中进行例如像上述的式(6)、(7)那样使( / = 1并且使控制量Ia与Λ的和恒定的发光控制。此外，求出图4、图5中对象物OB所处的方向DDB2(角度θ 2)。例如，根据上式(10)、(11)求出衰减系数的比fa/fb， 利用图3(A)、图3(B)中说明的方法求出对象物OB的方向DDB2。这样，控制部60按照使作为光源部LSll发光的期间的第一发光期间中的受光部 RU的检测受光量( 与作为光源部LS12发光的期间的第二发光期间中的受光部RU的检测受光量( 相等的方式，进行光源部LS11、LS12的发光控制。这样，检测部50就可以求出对象物OB相对于照射组件EUl的方向DDB1。另外，按照使作为光源部LS21发光的期间的第三发光期间中的受光部RU的检测受光量( 与作为光源部LS22发光的期间的第四发光期间中的受光部RU的检测受光量( 相等的方式，进行光源部LS21、LS22的发光控制。这样， 检测部50就可以求出对象物OB相对于照射组件EU2的方向DDB2。此后，本实施方式中，基于如此求出的对象物OB的方向DDBl (第一方向)及方向 DDB2 (第二方向)、和照射组件EU1、EU2之间的距离DS，求出对象物OB的位置Ρ0Β。如果如此操作，则可以基于检测出的方向DDB1、DDB2和已知的距离DS，特定对象物OB的位置Ρ0Β， 从而可以用简单的处理求出位置Ρ0Β。5.照射方向范围的设定、光源部的配置图4、图5中给出如下的例子，即，光导管等是中心角为180度的圆弧状，照射光的照射方向范围为180度，然而本实施方式并不限定于此，照射方向范围也可以是小于180度的范围。例如，通过将照射组件的照射方向范围设定为对应于与检测区域的位置关系的最佳的范围，就可以使照射光强度分布的设定容易化，并且可以将照射光强度分布设定为最佳的分布。例如在图8中，对象物的检测区域RDET是由第一 第四位置Pl P4规定的例如矩形的区域(从Z方向看为矩形的区域)。此外，将从作为照射组件EUl的配置位置的第一配置位置PEl朝向规定检测区域RDET的一端侧的第一位置Pl的方向设为第一方向D1。 另外，将从第一配置位置PEl朝向规定检测区域RDET的另一端侧的第二位置P2的方向设定第二方向D2。另外，将从作为照射组件EUl的配置位置的第二配置位置PE2朝向第一位置Pl的方向设为第三方向D3。另外，将从第二配置位置PE2朝向第二位置P2的方向设为第四方向D4。而且，第一、第二位置Pl、P2是规定检测区域RDET的第一位置Pl 第四位置P4中的照射组件EU1、EU2侧的边(上边)的顶点位置。在该情况下，图8中，照射组件EUl在包括由第一方向Dl和第二方向D2规定的方向范围REl的照射方向范围(第一照射方向范围)中射出照射光(第一照射光)。例如在如下的照射方向范围中射出照射光，即，至少是能够相对于方向范围REl射出照射光的照射方向范围，并且小于180度。另外，照射组件EU2在包括由第三方向D3和第四方向D4规定的方向范围RE2的照射方向范围(第二照射方向范围)中射出照射光(第二照射光)。例如在如下的照射方向范围中射出照射光，即，至少是能够相对于方向范围RE2射出照射光的照射方向范围，并且小于180度。例如将从第一配置位置PEl朝向第二配置位置PE2的方向设为第五方向D5，将D5 的相反方向设为第六方向D6。另外，将从第二配置位置PE2朝向第一配置位置的方向设为第七方向D7，将D7的相反方向设为第八方向D8。在该情况下，图4、图5的照射组件EUl的第一光源部LSll配置于由第一方向Dl 和第六方向D6规定的第一方向范围RDl内。例如光源部LSll配置于由Dl与D6的夹角的二等分线的方向和方向Dl规定的方向范围内。另外，照射组件EUl的第二光源部LS12配置于由第二方向D2和第五方向D5规定的第二方向范围RD2内。例如光源部LS12配置于由D2与D5的夹角的二等分线的方向和方向D2规定的方向范围内。即，照射组件EUl中，按照使光源部LSl 1、LS12位于RDl、RD2 的方向范围内的方式，设定光源部LS11、LS12或光导管LG1(LG11、LG12)的形状或配置。另一方面，照射组件EU2的第三光源部LS21配置于由第三方向D3和第七方向D7 规定的第三方向范围RD3内。例如配置于由D3与D7的夹角的二等分线的方向和方向D3 规定的方向范围内。另外，照射组件EU2的第四光源部LS22配置于由第四方向D4和第八方向D8规定的第四方向范围RD4内。例如配置于由D4与D8的夹角的二等分线的方向和方向D4规定的方向范围内。即，照射组件EU2中，按照使光源部LS21、LS22位于RD3、RD4的方向范围内的方式，设定光源部LS21、LS22或光导管LG2(LG21、LG22)的形状或配置。如果将照射组件EU1、EU2的照射方向范围或光源部的配置如图8所示地设定，则至少可以对存在于检测区域RDET中的对象物恰当地进行检测。另外，由于照射方向范围被设定为小于180度的方向范围，因此可以防止向无用的照射方向射出照射光，也可以使照射光强度分布的设定容易化。S卩，图8中，即使向方向范围RD1、RD2、RD3、RD4照射照射光，该照射光也无助于检测区域RDET中的对象物的检测。所以，如果向这些方向范围RD1、RD2、RD3、RD4照射照射光，则照射光的功率就被无谓地消耗掉。另外，图8中，在照射组件EUl中，对于对象物的检测来说，例如最好在从方向Dl 到方向D2的范围中是如图3(A)所示照射光的强度变化的强度分布。另外，在照射组件EU2 中，对于对象物的检测来说，例如最好在从方向D3到方向D4的范围中是如图3(A)所示照射光的强度变化的强度分布。但是，如果照射组件EUl的照射方向范围是180度，则在照射组件EUl中，就会在从方向D6到方向D5的范围中形成照射光的强度变化的强度分布。另外，在照射组件EU2中，会在从方向D7到方向D8的范围中形成照射光的强度变化的强度分布。由此，就很难将照射光强度分布设定为最适于对象物的检测的强度分布。考虑到这一点，根据图8的方法，例如对于照射组件EUl，只要按照在从方向Dl到 D2的范围中使照射光的强度变化的方式设定强度分布即可。另外，对于照射组件EU2，只要按照在从方向D3到D4的范围中使照射光的强度变化的方式设定强度分布即可。所以，将照射光强度分布设定为最适于检测区域RDET中的对象物的检测的强度分布就会变得容易化，从而可以实现检测精度的提高等。另外，如果将光源部LSl 1、LS12、LS21、LS22分别配置于RDl、RD2、RD3、RD4的方向范围内，则还可以防止来自这些光源部的光源光的功率在光导管等中被无谓地消耗掉的事态。此外，由于通过防止此种无谓的消耗，作为结果向对象物照射的照射光的功率也会上升，因此就可以实现检测精度的提高等。6.照射方向的限制在设定如图I(B)所示的检测区域RDET而检测用户的手指等对象物的情况下，如果来自照射组件EU1、EU2的照射光成为在图I(B)的Z方向上展宽的光，则有可能进行错误的检测。S卩，虽然检测对象是手指，却有可能检测出用户的身体。例如在图KA)中，只要用户的身体向屏幕20 —方接近，就有可能误检测为在检测区域RDET中存在作为检测对象的用户的手指。所以，本实施方式的光学式检测装置中，设有照射方向规制部(照射方向限制部)，其将照射光的照射方向限制为沿着对象物的检测区域RDET的面(平行于XY平面的面)的方向。具体来说，图9(A)中，该照射方向规制部由狭缝SL实现。该狭缝SL具有沿着检测区域RDET的面的第一狭缝面SFLl和第二狭缝面SFL2。像这样，本实施方式中，通过对光学式检测装置的壳体HS设置沿照射方向开口的狭缝SL，来实现光学式检测装置的照射方向规制部。如果设置此种狭缝SL，则来自光导管LG(LG11、LG12等)的光就被限制为沿着狭缝面SFL1、SFL2的方向。这样，就可以将图I(B)中从照射组件EU1、EU2中射出的照射光限制为平行于X、Y平面的光。所以，就可以防止对检测区域RDET的照射光在Z方向上展宽的事态，在用户的身体接近屏幕20的情况下，可以防止将用户的身体误检测为手指或触摸笔等对象物的事态。所以，即使不设置检测Z方向的位置的装置，也可以实现对象物的恰当的位置检测。另夕卜，在图9⑶中，相对于狭缝面SFL1、SFL2形成有凹部。8口，虽然图9(A)中狭缝面SFLl、SFL2为平坦的形状，然而图9(B)中，狭缝面SFLl、SFL2并非平坦的形状，而是形成凹陷。通过设置此种凹部，就可以抑制狭缝面SFL1、SFL2中的表面反射，可以向检测区域 RDET射出与XY平面更为平行的光的照射光。而且，通过对狭缝面SFL1、SFL2的表面实施例如无反射涂刷等加工，也可以实现与凹部相同的功能。另外，虽然图9(A)、图9(B)中，表示的是利用狭缝SL来实现限制照射光的Z方向的偏转的照射方向规制部的情况，然而例如也可以使用百叶膜等光学片来实现照射方向规制部。例如，图2(A)的百叶膜LF具有将来自光导管LG的出射光的光指向的方向限制为法线方向的功能。所以，为了实现与借助狭缝SL的照射方向规制部的功能相同的功能，只要设置将来自光导管LG的光的出射方向限制为平行于图I(B)的XY平面的方向的配置构成的百叶膜即可。7.照射组件的详细的构成例下面，使用图10 图12对本实施方式的光学式检测装置的照射组件的详细的构成例进行说明。图10 图12是说明图4中说明的照射组件的详细的结构的图。而且，以下为了简化说明，而将图4的EU1、EU2的各照射组件记作照射组件EU而进行说明。另外，将图4的光导管LG1、LG2记作LG，将光源部LS11、LS21记作光源部LSI， 将光源部LS21、LS22记作光源部LS2而进行说明。反射片RSI、RS2、照射方向设定部LE1、 LE2等也相同。图10是从狭缝SL的开口侧看到的照射组件EU的立体图。该照射组件EU由扇形的壳体100、110构成。图11是将构成照射组件EU的扇形的壳体100、110分离而从其内侧面看到的壳体100、110的立体图。图12是从图11的Jl方向看到的壳体100的立体图。如图10、图11、图12所示，照射组件EU形成将扇形的壳体100、110以使其内侧面之间相面对的方式叠加的结构。如图11、图12所示，在壳体100的内侧面形成圆弧状的槽部102、104，在壳体110 的内侧面也形成圆弧状的槽部112、114。102、112是形成于内周侧的槽部，104、114是形成于外周侧的槽部。通过在壳体100、110中形成此种槽部102、104、112、114，而实现图9(B) 中说明的狭缝面SFL1、SFL2的凹部。如图11、图12所示，光导管LG配置于槽部102的内周侧。另外，在光导管LG的外周侧配置照射方向设定部LE(棱镜片、百叶膜等)。在光导管LG的内周侧设置反射片RS。 通过设为此种配置构成，从光导管LG的外周侧射出的照射光就由照射方向设定部LE将其方向设定为法线方向，从照射组件EU的狭缝SL中射出。此时，利用以槽部102、104、112、 114实现的照射方向限制部，将照射光的照射方向限制为沿着图I(B)的检测区域RDET的面 (平行于XY平面的面)。图13(A)、图13⑶是说明图11的J2所示的部分的详细的结构的图。如图13(A)所示，来自设于FPC(柔性印制电路板)中的光源部LS(LS1、LS2)的光被射入光导管LG的光入射面。在光导管LG的内周侧设有反射片RS，在外周侧，设有扩散片 DFS0在扩散片DFS的外周侧设有棱镜片PS1，在PSl的外周侧设有棱镜片PS2，在PS2的外周侧设有百叶膜LF。另外，如图13 (B)所示，棱镜片PSl与PS2被以将其棱线正交的方式配置。图13(A)、图13(B)(中，利用扩散片DFS，将从光导管LG的外周侧射出的光的表面亮度均勻化。即，通过穿过扩散片DFS，出射光变为均勻亮度的扩散光。棱镜片PS1、PS2具有将从扩散片DFS的外周侧射出的光沿从光导管LG的内周侧朝向外周侧的方向DN(法线方向)会聚的功能。即，在用扩散片DFS实现表面亮度的均勻化后，利用棱镜片PS1、PS2使光沿方向DN会聚，从而提高亮度。百叶膜LF是阻挡从棱镜片PS1、PS2的外周侧射出的低视角光的格子状的遮光构件。通过设置百叶膜LF，就会使沿着方向DN的光穿过百叶膜LF从照射组件EU向外周侧射出，而低视角光被阻挡。图14(A)中表示出棱镜片PS(PS1、PS2)的例子。棱镜片PS的棱镜面200例如由丙烯酸系树脂层200形成，基板202例如由聚酯薄膜层202形成。
图14(B)、图14(C)中表示出扩散片DFS的例子。该扩散片DFS是通过将珠子212 与粘合剂214—起涂布在基底薄膜210 (PET)上而形成的。这样就可以形成如图14(C)所示的具有凹凸的表面的扩散片DFS。图15是用于对利用棱镜片PS、百叶膜LF等实现的照射光设定部LE的功能进行说明的图。如图15所示，在光源光被以全反射在光导管LG内导光的情况下，通过对光导管 LG的例如内周侧以丝网印刷方式等实施表面加工，就会将光源光的一部分从光导管LG的外周侧射出。利用棱镜片PS、百叶膜LF等实现的照射光设定部LE将如此射出的光的方向 DLl、DL2设定为朝向方向DN (法线方向)。通过如此设置，就可以形成如图2 (A)、图2⑶所示的照射强度分布LID1、LID2。8.检测部下面，使用图16对检测部50等的具体的构成例进行说明。驱动电路70驱动光源部LSl的发光元件LEDA和光源部LS2的发光元件LEDB。该驱动电路70包括可变电阻RA、RB和倒相电路IV(inverter circuit)。向可变电阻RA的一端及倒相电路IV，从控制部60输入矩形波形的驱动信号SDR。可变电阻RA设于信号SDR 的输入节点W与发光元件LEDA的阳极侧的节点N2之间。可变电阻RB设于倒相电路IV 的输出节点N3与发光元件LEDB的阳极侧的节点N4之间。发光元件LEDA设于节点N2与 GND (VSS)之间，发光元件LEDB设于节点N4与GND之间。此外，在驱动信号SDR为H电平的第一发光期间TA中，经由可变电阻RA向发光元件LEDA流过电流，发光元件LEDA发光。这样就形成如图2 (A)所示的照射光强度分布LIDl。 另一方面，在驱动信号SDR为L电平的第二发光期间TB中，经由可变电阻RB向发光元件 LEDB流过电流，发光元件LEDB发光。这样就形成如图2(B)所示的照射光强度分布LID2。 所以，如图7(A)中说明所示，可以使光源部LSI、LS2交互地点亮，分别在第一、第二发光期间TA、TB中形成图2(A)、图2(B)的照射光强度分布LID2、LID2。也就是说，控制部60进行如下的控制，即，使用驱动信号SDR使光源部LSl和光源部LS2交互地发光，交互地形成照射强度分布LIDl和照射强度分布LID2。受光部RU包含利用发光二极管等实现的受光元件PHD、电流·电压变换用的电阻 R1。此外，在第一发光期间TA中，由来自发光元件LEDA的光造成的对象物OB的反射光被射入受光元件PHD，在电阻Rl及受光元件PHD中流过电流，在节点N5产生电压信号。另一方面，在第二发光期间TB中，由来自发光元件LEDB的光造成的对象物OB的反射光被射入受光元件PHD，在电阻Rl及受光元件PHD中流过电流，在节点N5产生电压信号。检测部50包含信号检测电路52、信号分离电路M、判定部56。信号检测电路52 (信号提取电路)包含电容器CF、运算放大器OPl和电阻R2。电容器CF作为除去节点N5的电压信号的DC成分(直流成分)的高通滤波器发挥作用。通过设置此种电容器CF，就可以除去由环境光引起的低频成分或直流成分，从而可以提高检测精度。由运算放大器OPl及电阻R2构成的DC偏压设定电路是用于对DC成分除去后的 AC信号设定DC偏置电压(VB/2)的电路。信号分离电路M包含开关电路SW、电容器CA、CB、运算放大器0P2。开关电路SW 在驱动信号SDR为H电平的第一发光期间TA中，将信号检测电路52的输出节点N7与运算放大器0P2的反相输入侧(-)的节点N8连接。另一方面，在驱动信号SDR为L电平的第二发光期间TB中，将信号检测电路52的输出节点N7与运算放大器0P2的非反相输入侧(+) 的节点N9连接。运算放大器0P2比较节点N8的电压信号(有效电压)和节点N9的电压信号(有效电压)。此后，控制部60基于信号分离电路M中的节点N8、N9的电压信号(有效电压) 的比较结果，控制驱动电路70的可变电阻RA、RB的电阻值。判定部56基于控制部60中的可变电阻RA、RB的电阻值的控制结果，进行对象物的位置的判定处理。本实施方式中，利用图16的检测部50等，实现上述的式(6)、(7)中说明的控制。 即，如果将第一发光期间TA中的受光元件PHD的检测受光量设为Ga，将第二发光期间TB中的受光元件PHD的检测受光量设为( ，则按照使该检测受光量的比( / 为1的方式，控制部60基于信号分离电路M中的比较结果来控制可变电阻RA、RB的电阻值。即，控制部60按照使在光源部LSl发光的第一发光期间TA中的受光部RU中的检测受光量( 与在光源部LS2发光的第二发光期间TB中的受光部RU中的检测受光量( 相等的方式，进行光源部LS1、LS2的发光控制。例如，在第一发光期间TA中的检测受光量( 一方大于第二发光期间TB中的检测受光量( 的情况下，控制部60增大可变电阻RA的电阻值，按照使发光元件LEDA中流过的电流值变小的方式控制。另外，减小可变电阻RB的电阻值，按照使发光元件LEDB中流过的电流值变大的方式控制。这样，第一发光期间TA中的受光元件PHD的检测受光量( 就会变小，而第二发光期间TB中的受光元件PHD的检测受光量( 就会变大，从而按照使GaAib =1的方式控制。另一方面，在第二发光期间TB中的检测受光量( 一方大于第一发光期间TA中的检测受光量( 的情况下，控制部60减小可变电阻RA的电阻值，按照使发光元件LEDA中流过的电流值变大的方式控制。另外，增大可变电阻RB的电阻值，按照使发光元件LEDB中流过的电流值变小的方式控制。这样，第一发光期间TA中的受光元件PHD的检测受光量( 就会变大，而第二发光期间TB中的受光元件PHD的检测受光量( 就会变小，从而按照使Ga/ Gb = 1的方式控制。而且，在( = Gb的情况下，则不使可变电阻RA、RB的电阻值变化。如果如此设置，就可以按照在对象物的位置，使图3 (A)的强度INTa与INTb相等的方式，控制光源部LS1、LS2的发光元件LEDA、LEDB的发出光量。此后，基于进行此种发光控制时的可变电阻RA、RB的电阻值等，利用上述的式(6) (11)等中说明的方法，检测出对象物的位置。如果如此设置，就可以将环境光等干扰光的影响压缩为最小限度，可以提高对象物的位置的检测精度。而且，本实施方式的发光控制方法并不限定于图16中说明的方法，可以进行各种变形实施。例如，也可以采用将图16的发光元件LEDB作为参照用光源部的发光元件使用的方法。该参照用光源部是如下所示地配置设定的光源部，即，通过例如与其他的光源部 (LS11 LS22)相比配置于与受光部RU更近的距离，或配置于与受光部RU相同的壳体内， 而限制周围光(干扰光、来自对象物的反射光等)的入射。此外，控制部60在第一期间中使图4、图5的第一光源部LSll与未图示的参照用光源部交互地发光，按照使受光部RU中的检测受光量相等的方式，进行第一光源部LSll与参照用光源部的发光控制。另外，在第二期间中使第二光源部LS12和参照用光源部交互地发光，按照使受光部RU中的检测受光量相等的方式，进行第二光源部LS12与参照用光源部的发光控制。另外，在第三期间中使第三光源部LS21和参照用光源部交互地发光，按照使受光部RU中的检测受光量相等的方式，进行第三光源部LS21与参照用光源部的发光控制。另外，在第四期间中使第四光源部 LS22和参照用光源部交互地发光，按照使受光部RU中的检测受光量相等的方式，进行第四光源部LS22与参照用光源部的发光控制。如果如此设置，就会按照借助参照用光源部使第一光源部LSll发光的第一发光期间中的检测受光量与第二光源部LS12发光的第二发光期间中的检测受光量实质上相等的方式，进行发光控制。另外，会按照借助参照用光源部使第三光源部LS21发光的第三发光期间中的检测受光量与第四光源部LS22发光的第四发光期间中的检测受光量实质上相等的方式，进行发光控制。 而且，虽然如上所述地对本实施方式进行了详细说明，然而对于本领域技术人员来说可以很容易地理解，可以在实质上不脱离本发明的新事项及效果地进行很多变形。所以，此种变形例全都包含于本发明的范围中。例如，在说明书或附图中，被至少一次与更为广义或同义的不同的用语一起记载的用语可以在说明书或附图的任何部位被置换为该不同的用语。另外，光学式检测装置、显示装置、电子机器的构成、动作也不限定于本实施方式中所说明的，可以进行各种变形实施。
2权利要求
1.一种光学式检测装置，其特征在于，包括第一照射组件，其以放射状射出强度根据照射方向而不同的第一照射光； 第二照射组件，其以放射状射出强度根据照射方向而不同的第二照射光； 受光部，其接受由来自所述第一照射组件的所述第一照射光被对象物反射而成的第一反射光、由来自所述第二照射组件的所述第二照射光被所述对象物反射而成的第二反射光；检测部，其基于所述受光部的受光结果，检测所述对象物的位置。
2.根据权利要求1所述的光学式检测装置，其特征在于， 所述第一照射组件与所述第二照射组件被相互分离地配置，所述检测部基于所述第一反射光的受光结果，检测所述对象物相对于所述第一照射组件的第一方向，基于所述第二反射光的受光结果，检测所述对象物相对于所述第二照射组件的第二方向，基于所检测出的所述第一方向及所述第二方向、所述第一照射组件与所述第二照射组件之间的距离，检测所述对象物的位置。
3.根据权利要求1所述的光学式检测装置，其特征在于， 所述第一照射组件包括射出第一光源光的第一光源部； 射出第二光源光的第二光源部； 包含以下的面的曲线状的第一光导，即，位于所述第一光导的一方的端部且所述第一光源光射入的第一光入射面、 位于所述第一光导的另一方的端部且所述第二光源光射入的第二光入射面、 以及从所述第一光入射面射入的所述第一光源光和从所述第二光入射面射入的所述第二光源光所射出的凸面；第一照射方向设定部，其接受从所述第一光导的所述凸面射出的所述第一光源光或所述第二光源光，将所述第一照射光的照射方向设定为所述凸面的法线方向， 所述第二照射组件包括 射出第三光源光的第三光源部； 射出第四光源光的第四光源部； 包含以下的面的曲线状的第二光导，即，位于所述第二光导的一方的端部且所述第三光源光射入的第三光入射面、 位于所述第二光导的另一方的端部且所述第四光源光射入的第四光入射面、 以及从所述第三光入射面射入的所述第三光源光和从所述第四光入射面入射的所述第四光源光所射出的凸面；第二照射方向设定部，其接受从所述第二光导的所述凸面射出的所述第三光源光或所述第四光源光，将所述第二照射光的照射方向设定为所述凸面的法线方向。
4.根据权利要求1所述的光学式检测装置，其特征在于， 所述第一照射组件包括射出第一光源光的第一光源部； 射出第二光源光的第二光源部； 包含以下的面的曲线状的第一光导，即，位于所述第一光导的一方的端部且所述第一光源光射入的第一光入射面、 以及从所述第一光入射面射入的所述第一光源光所射出的凸面； 包含以下的面的曲线状的第二光导，即，位于所述第二光导的另一方的端部且所述第二光源光射入的第二光入射面、 以及从所述第二光入射面射入的所述第二光源光所射出的凸面； 第一照射方向设定部，其接受从所述第一光导的所述凸面射出的所述第一光源光或从所述第二光导的所述凸面射出的所述第二光源光，将所述第一照射光的照射方向设定为所述第一光导及所述第二光导的所述凸面的法线方向， 所述第二照射组件包括 射出第三光源光的第三光源部； 射出第四光源光的第四光源部； 包含以下的面的曲线状的第三光导，即，位于所述第三光导的一方的端部且所述第三光源光射入的第三光入射面、 以及从所述第三光入射面射入的所述第三光源光所射出的凸面； 包含以下的面的曲线状的第四光导，即，位于所述第四光导的另一方的端部且所述第四光源光射入的第四光入射面、 以及从所述第四光入射面射入的所述第四光源光所射出的凸面； 第二照射方向设定部，其接受从所述第三光导的所述凸面射出的所述第三光源光或从所述第四光导的所述凸面射出的所述第四光源光，将所述第二照射光的照射方向设定为所述第三光导及所述第四光导的所述凸面的法线方向。
5.根据权利要求3或4所述的光学式检测装置，其特征在于，通过所述第一照射组件的所述第一光源部射出所述第一光源光，而在所述对象物的检测区域形成第一照射光强度分布，通过所述第一照射组件的所述第二光源部射出所述第二光源光，而在所述检测区域形成强度分布与所述第一照射强度分布不同的第二照射光强度分布，通过所述第二照射组件的所述第三光源部射出所述第三光源光，而在所述检测区域形成第三照射光强度分布，通过所述第二照射组件的所述第四光源部射出所述第四光源光， 而在所述检测区域形成强度分布与所述第三照射强度分布不同的第四照射光强度分布。
6.根据权利要求5所述的光学式检测装置，其特征在于，所述第一照射光强度分布是照射光的强度随着从所述第一照射组件的一方的端部接近另一方的端部而降低的强度分布，所述第二照射光强度分布是照射光的强度随着从所述第一照射组件的另一方的端部接近一方的端部而降低的强度分布，所述第三照射光强度分布是照射光的强度随着从所述第二照射组件的一方的端部接近另一方的端部而降低的强度分布，所述第四照射光强度分布是照射光的强度随着从所述第二照射组件的另一方的端部接近一方的端部而降低的强度分布。
7.根据权利要求3或4所述的光学式检测装置，其特征在于，包括进行所述第一光源部、所述第二光源部、所述第三光源部及所述第四光源部的发光控制的控制部，所述控制部在第一期间进行使所述第一光源部与所述第二光源部交替地发光的控制，在第二期间进行使所述第三光源部与所述第四光源部交替地发光的控制。
8.根据权利要求3或4所述的光学式检测装置，其特征在于，包括进行所述第一光源部、所述第二光源部、所述第三光源部及所述第四光源部的发光控制的控制部，所述控制部按照使所述第一光源部发光的第一发光期间中的所述受光部的检测受光量，与所述第二光源部发光的第二发光期间中的所述受光部的检测受光量相等的方式，进行所述第一光源部及所述第二光源部的发光控制，并且按照使所述第三光源部发光的第三发光期间中的所述受光部的检测受光量，与所述第四光源部发光的第四发光期间中的所述受光部的检测受光量相等的方式，进行所述第三光源部及所述第四光源部的发光控制。
9.根据权利要求3或4所述的光学式检测装置，其特征在于，在将从所述第一照射组件的配置位置，即第一配置位置朝向规定所述对象物的检测区域的一方的端部的第一位置的方向设为第一方向，将从所述第一配置位置朝向规定所述检测区域的另一方的端部的第二位置的方向设为第二方向，将从所述第二照射组件的配置位置，即第二配置位置朝向所述第一位置的方向设为第三方向，将从所述第二配置位置朝向所述第二位置的方向设为第四方向， 将从所述第一配置位置朝向所述第二配置位置的方向设为第五方向， 将所述第五方向的相反方向设为第六方向，将从所述第二配置位置朝向所述第一配置位置的方向设为第七方向， 将所述第七方向的相反方向设为第八方向的情况下，所述第一光源部被配置于由所述第一方向和所述第六方向规定的第一方向范围内， 所述第二光源部被配置于由所述第二方向和所述第五方向规定的第二方向范围内， 所述第三光源部被配置于由所述第三方向和所述第七方向规定的第三方向范围内， 所述第四光源部被配置于由所述第四方向和所述第八方向规定的第四方向范围内。
10.根据权利要求1所述的光学式检测装置，其特征在于，在将从所述第一照射组件的配置位置，即第一配置位置朝向规定所述对象物的检测区域的一方的端部的第一位置的方向设为第一方向，将从所述第一配置位置朝向规定所述检测区域的另一方的端部的第二位置的方向设为第二方向，将从所述第二照射组件的配置位置，即第二配置位置朝向所述第一位置的方向设为第三方向，将从所述第二配置位置朝向所述第二位置的方向设为第四方向的情况下， 所述第一照射组件在包括由所述第一方向和所述第二方向规定的方向范围的第一照射方向范围中射出所述第一照射光，所述第二照射组件在包括由所述第三方向和所述第四方向规定的方向范围的第二照射方向范围中射出所述第二照射光。
11.根据权利要求1所述的光学式检测装置，其特征在于，所述第一照射组件及所述第二照射组件的各照射组件具有狭缝，该狭缝具有沿着从所述第一照射组件朝向所述第二照射组件的方向的第一狭缝面及第二狭缝面。
12.根据权利要求11所述的光学式检测装置，其特征在于， 在所述第一狭缝面及所述第二狭缝面形成有凹部。
13.—种显示装置，其特征在于，包括权利要求1至12中任意一项所述的光学式检测装置。
14.一种电子机器，其特征在于，包括权利要求1至12中任意一项所述的光学式检测装置。
全文摘要
本发明涉及光学式检测装置、显示装置及电子机器，光学式检测装置包括第一照射组件，其以放射状射出强度根据照射方向而不同的第一照射光；第二照射组件，其以放射状射出强度根据照射方向而不同的第二照射光；受光部，其接受由来自上述第一照射组件的上述第一照射光被对象物反射而成的第一反射光、由来自上述第二照射组件的上述第二照射光被上述对象物反射而成的第二反射光；检测部，其基于上述受光部中的受光结果，检测上述对象物的位置。
文档编号G06F3/042GK102243551SQ20111012028
公开日2011年11月16日 申请日期2011年5月4日 优先权日2010年5月13日
发明者大西康宪 申请人:精工爱普生株式会社