触控面板及其制造方法与流程

本发明涉及触控面板及其制造方法，且特别系有关于一种具有对位标记的触控面板及其制造方法。

背景技术：

近年来，触控方式逐渐成为最主要的输入方式，被广泛应用在各种电子产品中，例如手机、个人数字助理(PDA)或掌上型个人计算机等。这些触控装置所采用的触控面板通常包括基板与形成于基板上的组件，如感测电极及触控讯号导线等，通常，形成组件的基板需要与一盖板贴合，盖板上通常分为可视区和环绕可视区的非可视区。然而，基板的对位标记系位于对应盖板的非可视区，对位标记容易被上述黑色遮蔽层挡住，因此需先将两个相距甚远的基板及盖版以两个观测组件分别对位测距，再贴合。然而，此方法会有三次造成误差的机会，分别为对两个基板对位的误差，以及贴合两基板时移动基板的误差，以上误差导致无法精准对位。

技术实现要素：

针对上述问题，业界仍须一种可更进一步提高制程良率的触控面板及其制造方法。本发明提供一种触控面板，包括：第一基板，具有第一区间及设于第一区间周围的第二区间，其中第一区间中具有至少一对位标记；以及第二基板，设于第一基板上，且第二基板包括：一遮蔽层，设于第二基板上，且遮蔽层系对应第一基板的第二区间设置，该遮蔽层包括邻近该对位标记的一第一侧边及第二侧边，其中该第一侧边与该第二侧边位于构成一转角

本发明更提供一种触控面板的制造方法，包括：提供第一基板，第一基板包括对位标记；提供第二基板，第二基板包括：一遮蔽层，设于第二基板的表面的周围上，且遮蔽层具有至少一转角；对向设置第一基板与第二基板，使第一基板与第二基板相距第三距离；以单一观测组件同时观测第一基板的对位标记及第二基板的转角，以将第一基板与第二基板对位；以及于对位第一基板与第二基板后，贴合第一基板与第二基板。

以上结构及其方法可以仅以单一个观测组件同时观测第一基板的对位标记及第二基板的转角，而非如传统的方法系以两个观测组件分别观察观测第一基板的对位标记及第二基板的转角或一个观测单元分两次观测再进行对位。

为让本发明的特征、和优点能更明显易懂，下文特举出较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。

附图说明

图1A系显示根据本发明某些实施例所述的触控面板的剖面图。

图1B系显示根据本发明某些实施例所述的触控面板的上视图。

图2系显示根据本发明某些实施例所述的触控面板的制造方法其中一步骤的第一基板及第二基板的上视图。

图3A系显示根据本发明某些实施例所述的触控面板的制造方法其中一步骤的第一基板及第二基板的剖面图。

图3B系显示根据本发明某些实施例所述的触控面板的制造方法其中一步骤的第一基板及第二基板的上视图。

图4系本发明对位标记的不同形态。

图5系本发明实施例的第一基板的上视图。

图6A-6C系本发明的不同实施例。

图7A系本发明另一实施例的第一基板的上视图。

图7B系沿着图7A的线段7B-7B’所绘制的剖面图。

100 触控面板；

102 第一基板；

104 第二基板；

108 对位标记；

108A 对位标记；

108B 对位标记；

108C 对位标记；

108D 对位标记；

108L 长度；

108W 宽度；

112 遮蔽层；

114 转角；

116A 第一区间；

116B 第二区间；

118 观测组件；

120 正方形区域；

122A 第一轴向感应电极；

122B 第二轴向感应电极；

122B1 第二轴向感应电极；

122B2 第二轴向感应电极；

124 连接线；

126 桥接结构；

128 虚置电极；

130 绝缘层；

130A 绝缘部；

130B 绝缘块；

132 胶黏层；

134 镂空网状结构；

S1 第一侧边；

S2 第二侧边；

D1 距离；

D2 距离；

D3 距离；

L 边长；

X1 第一轴向；

X2 第二轴向；

6A-6A’ 线段；

7B-7B’ 线段。

具体实施方式

以下针对本发明的触控面板及其制造方法作详细说明。应了解的是，以下的叙述提供许多不同的实施例或例子，用以实施本发明的不同样态。以下所述特定的组件及排列方式仅为简单清楚描述本发明。当然，这些仅用以举例而非本发明的限定。此外，在不同实施例中可能使用重复的标号或标示。这些重复仅为了简单清楚地叙述本发明，不代表所讨论的不同实施例及/或结构之间具有 任何关连性。再者，当述及一第一材料层位于一第二材料层上或之上时，包括第一材料层与第二材料层直接接触的情形。或者，亦可能间隔有一或更多其它材料层的情形，在此情形中，第一材料层与第二材料层之间可能不直接接触。

本发明实施例系以将对位标记设置于可视区中，如此可以通过单一观测组件同时观测第一基板的对位标记及第二基板的转角的方式，将第一基板与第二基板对位。如此可大幅提升基板对位的精准度。

首先参见第1A-1B图，其中图1A系显示根据本发明某些实施例所述的触控面板的剖面图，而图1B系显示根据本发明某些实施例所述的触控面板的上视图。如第1A-1B图所示，本发明的触控面板100包括第一基板102，一设于第一基板102上的第二基板104，一胶黏层132设置于第一基板102和第二基板104之间。所述第一基板102具有第一区间116A及设于第一区间116A周围的第二区间116B。此第一区间116A中具有至少一对位标记108。第二基板104相对于第一基板102的一侧设置一遮蔽层112，以定义出触控面板100的一可视区和一非可视区，且非可视区对应第一基板102的第二区间116B，可视区对应第一基板102的第一区间116A。

相较于传统第一基板的对位标记系对应第二基板的遮蔽层设置，本发明的对位标记108系设于未对应至遮蔽层112的区域(亦即第一区间116A)，且由后文可知，相较于传统的触控面板，本发明的触控面板可大幅降低对位误差，例如，在一些实施例中，本发明的对位误差可为0.1mm以下，例如为0.05mm以下。

参见图2，该图系显示根据本发明某些实施例所述的触控面板100的制造方法其中一步骤的第一基板102及第二基板104的上视图。如图2所示，首先提供一第一基板102及一第二基板104。在一实施例中，第一基板102为感应基板， 第二基板104为盖板。第一基板102可为透明基板，且第一基板102的第一区间116A上设有对位标记108，而第二基板104可为透明基板，且其表面的周围上设有遮蔽层112，且此遮蔽层112至少具有一第一侧边和一第二侧边构成至少一转角114。

详细而言，第一基板102的面积小于第二基板104，亦即后续对位时或贴合后，第二基板104可完全覆盖第一基板102。此外，当于后续第一基板102与第二基板104对位时，第一基板102上对应至第二基板104的遮蔽层112的部分为一第二区间116B，而未对应至遮蔽层112的部分为一第一区间116A，此第二区间116B系设于第一区间116A的周围，且如图2所示，第一区间116A及第二区间116B的边界系以虚线表示。而上述对位标记108系设于第一区间116A中。

在一些实施例中，对位标记108的长度108L可为约0.03mm-0.5mm，例如为约0.1mm-0.3mm，宽度108W可为约0.02mm-0.1mm，例如为约0.03mm-0.06mm。若此对位标记108的长度108L过长，例如长于0.5mm，则会占据过多触控面板100的面积，使实际可触控的面积减少。然而，若此对位标记108的长度108L过短，例如短于0.03mm，则会使观测组件难以对准，降低对位精准度。此外，若此对位标记108的宽度108W过宽，例如宽于0.1mm，则会占据过多触控面板100的面积，使实际可触控的面积减少。然而，若此对位标记108的宽度108W过小，例如小于0.02mm，则会使观测组件难以对准，降低对位精准度。

上述第一基板102及第二基板104的材料可各自独立地选自玻璃、陶瓷、塑料、蓝宝石、聚碳酸酯(PC)、聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)或其组合。而上述遮蔽层112的材料可为黑色光阻、黑色印刷油墨、黑色树脂或其它任何适合的 遮光材料与颜色。

此外，为清楚描述本发明，第一基板102上的其它组件(例如后续的感测电极、绝缘层)并未于第1-4图中绘出。上述第一基板102上的其它组件以及对位标记108将于后文及第5-6B图详细说明。

接着，参见第3A-3B图。图3A系显示根据本发明某些实施例所述的触控面板100的制造方法其中一步骤的第一基板102及第二基板104的剖面图，而图3B系显示根据本发明某些实施例所述的触控面板100的制造方法其中一步骤的第一基板102及第二基板104的对位后的上视图。如第3A-3B图所示，对向设置第一基板102与第二基板104，使第一基板102与第二基板104相距距离D3。在一实施例中，此距离D3为约1mm至5mm，例如为约2mm至3mm。

需注意的是，若此距离D3过大，例如大于5mm，则第一基板102与第二基板104相距之距离D3过大，会使后续移动第一基板102与第二基板104来靠近并贴合时的位移距离过大，造成精准度降低。

接着，以单一观测组件118同时观测第一基板102的对位标记108及第二基板104的转角114，以将第一基板102与第二基板104对位。详细而言，本发明将对位标记108设计位于第一基板102的第一区间116A，也就是位于触控面板100的可视区，如此可以仅以单一个观测组件118同时观测第一基板102的对位标记108及第二基板104的转角114，而非如传统的方法系以两个观测组件分别观察观测第一基板102的对位标记108及第二基板104的转角114或一个观测单元分两次观测再进行对位。

相较之下，本案系以单一观测组件118同时观测第一基板102的对位标记108及第二基板104的转角114，以将第一基板102与第二基板104对位，故可减少一次造成对位的误差的机会，故可提高对位的精准度。此外，本案系先将 第一基板102及第二基板104移动到非常靠近的距离(例如约1mm至5mm)之后才对位贴合，如此更可进一步减少两基板时移动贴合时的误差。在一些实施例中，本发明贴合基板的误差可为0.1mm以下，例如为0.05mm以下。

在一些实施例中，上述观测组件118可包括电荷耦合观测组件(Charge-coupled Device，CCD)，且其可藉由对焦于对位标记108的边缘或中心来对位。

继续参见图3B，需注意的是，在图3B中，由于第一基板102及其对位标记108系设于第二基板104之下，故其系以虚线表示。此外，在一些实施例中，第一基板102的对位标记108与第二基板104的遮蔽层112的转角114不重迭。

详细而言，在一些实施例中，如图3B所示，对位标记108的对位点可设于邻近转角114的任何一个预定位置。例如，在一些实施例中，以转角114及与此转角114相连的两个侧边作为基础，作一正方形区域120，而此对位标记108设于此正方形区域120中的任何一个预定位置。

在一些实施例中，遮蔽层112包括邻近对位标记108的第一侧边S1及第二侧边S2，其中第一侧边S1与第二侧边S2位于相异的两侧，且第一侧边S1与第二侧边S2互相垂直构成一转角。对位标记108的中心线至第一侧边S1的最短距离为第一距离D1，对位标记108的中心线至第二侧边S2的最短距离为第二距离D2，第一距离D1与第二距离D2的距离差为约0mm至0.5mm，例如为约0.1mm至0.4mm。在一实施例中，若此对位标记108系在正方形区域120的正中心，则第一距离D1与第二距离D2的距离差为0mm。

易言之，在一些实施例中，此正方形区域120的边长L为约2mm-5mm，例如为约3mm-4mm。而上述对位标记108至与转角114相连的两个侧边的距离D1及D2可各自独立地为约0.1mm-4.9mm，例如为约1mm-4mm，或约 2mm-3mm。且此距离D1及D2的距离差可为约0mm至0.5mm，例如为约0.1mm至0.4mm。

需注意的是，上述对位标记108的对位点可根据每一个产品的设计而设于不同的位置，只要能被观测组件118观测及对位即可。故本发明的范围并不以图3B的实施例为限。

接着，参见第1A-1B图。如第1A-1B图所示，于对位第一基板102与第二基板104后，贴合第一基板102与第二基板104，并完成触控面板100。

接着，参见图4，该图为本发明另一实施例的不同对位标记的示意图如图4所示，对位标记108A、108B、108C、108D可为圆形、正方形、长方形、圆形或其它任何适合的形状。

参见第5-6A图，图5系本发明实施例的第一基板102的上视图，而图6A系沿着图5的线段6A-6A’所绘制的剖面图。第一基板102包括设于其上的感应层122。在一实施例中，感应层122系设置于第一区间116A上，第二区间116B围绕感应层122。此感应层122包括多个沿第一轴向X1排列的第一轴向感应电极122A及多个沿第二轴向X2排列的第二轴向感应电极122B，此多个第一轴向感应电极122A与多个第二轴向感应电极122B之间彼此电性绝缘，且此第一轴向X1垂直于第二轴向X2。

感应层122更包括连接相邻第一轴向感应电极122A的复数条连接线124，且各第二轴向感应电极122B设置于连接线124两侧。第一基板102更包括设于感应层122上的桥接结构126，此桥接结构126于第二轴向X2上电性连接相邻的两个第二轴向感应电极122B(例如122B1及122B2)。

感应层122更包括设于多个虚置电极(dummy electrode)128，设有第一区间中第一轴向感应电极122A与多个第二轴向感应电极122B之外的区域。如图5 所示，在一些实施例中，对位标记108系设于第一基板102上对应虚置电极128的区域中，可以设置在虚置电极128之上，也可以设置在虚置电极128的区域中但不与虚置电极128相连接。此外，此虚置电极128并未与第一轴向感应电极122A及第二轴向感应电极122B电性连接。

上述第一轴向感应电极122A、第二轴向感应电极122B、连接线124、桥接结构126及虚置电极128的材料可为透明导电材料，例如为铟锡氧化物(ITO)氧化锡(TO)、氧化铟锡(ITO)、氧化铟锌(IZO)、氧化铟镓锌(IGZO)、氧化铟锡锌(ITZO)、氧化锑锡(ATO)、氧化锑锌(AZO)、上述的组合或其它适合的透明导电材料。第一轴向感应电极122A、第二轴向感应电极122B、连接线124、桥接结构126及虚置电极128可利用沈积制程以及微影与蚀刻等制程形成。沈积制程可为溅镀法、电镀法、电阻加热蒸镀法、电子束蒸镀法、或其它任何适合的沈积方式。此蚀刻制程包括干蚀刻、湿蚀刻或上述的组合。在其它实施例中，桥接结构126可包括金属材料。

图6A系本发明另一实施例的第一基板102的剖面图。如图6A所示，对位标记108为虚置电极128中的一贯孔，其完全贯穿虚置电极128。

详细而言，在一实施例中，可先毯覆性沈积一透明导电材料层于第一基板102上，再将此透明导电材料层经微影与蚀刻制程分别图案化以形成第一轴向感应电极122A、第二轴向感应电极122B、连接线124及具有作为对位标记108的贯孔的虚置电极128。

在一些实施例中，如图6B所示，第一基板102更包括设于感应层122上的绝缘层130，此绝缘层130包括设于感应层122与桥接结构126之间的绝缘部130A以及设于感应层122的虚置电极128上的对位标记108。易言之，在此实施例中，对位标记108为绝缘材料制成的有形图案。

详细而言，绝缘层130的材料(亦即绝缘部130A以及设于感应层122的材料)可包括聚酰亚酰胺(Polyimide)、聚丙烯(Polypropylene)、丙烯酸树脂(Acrylic)、氧化硅(Silicon Dioxide，SiO2)、氮化硅(Silicon Nitride，Si3N4)、氧化铝(Aluminum Oxide，Al2O3)或六甲基二硅氮烷(Hexamethyldisilazane，HMDS)，或前述的组合，或其它任何适合的绝缘材料。

此外，在一实施例中，可先毯覆性沈积一绝缘材料层于第一基板102上，再将此介电材料层经微影与蚀刻制程分别图案化以形成绝缘部130A及对位标记108(亦即绝缘层130)。因此，在此实施例中，绝缘部130A的高度与对位标记108的高度相同。

在另一实施例中，请参考图6C，该实施例中的对位标记是虚置电极128区域中的一绝缘块130B，具体而言，在虚置电极128中设置一贯孔，设置一绝缘块130B嵌入该贯孔中，其中该绝缘块不与虚置电极相连接。

需注意的是，虽然在一些实施例中，对位标记108为透明材料形成的结构，但此对位标记108仍可以观测组件118藉由特定波长的光线观测。应注意的是本发明的范围并不以上述的实施例为限。

第7A-7B图系本发明另一实施例的第一基板102的剖面图。图7A系本发明另一实施例的第一基板102的上视图。图7B系沿着图7A的线段7B-7B’所绘制的剖面图。本实施例的结构大致与第5、6A图的实施例的结构相同，差异点在于，本实施例的对位标记108为虚置电极128中的镂空网状结构134。其中网状的部分可为与感应层122相同的透明导电材料。

详细而言，在一实施例中，对位标记108可为与绝缘部130A相同的绝缘材料，且可与绝缘部130A于同一道制程中形成。然而，在其它实施例中，对位标记108可为与感应层122相同的透明导电材料，且可与感应层122于同一道制 程中形成。此技术领域中具有通常知识者亦可了解对位标记108亦可为与桥接结构126相同的导电材料或金属材料，且可与桥接结构126于同一道制程中形成。

综上所述，本结构将对位标记108设计位于第一基板102的第一区间116A，也就是位于触控面板100的可视区，如此可以以单一观测组件同时观测第一基板的对位标记及第二基板的转角，以将第一基板与第二基板对位，故可减少一次造成对位的误差的机会，故可提高对位的精准度。此外，本案系先将第一基板及第二基板移动到非常靠近的距离(例如约1mm至5mm)，之后才对位贴合，不像传统的方法先对位后再将两个相距甚远的基板移动并贴合，故本发明实施例可减少两基板时移动贴合时的误差。在一些实施例中，本发明贴合基板的误差可为0.1mm以下，例如为0.05mm以下。

值得注意的是，以上所述的组件尺寸、组件参数、以及组件形状皆非为本发明的限制条件。此技术领域中具有通常知识者可以根据不同需要调整这些设定值。另外，本发明的触控面板及其制造方法并不仅限于第1-7B图所图示的状态。本发明可以仅包括第1-7B图的任何一或复数个实施例的任何一或复数项特征。换言之，并非所有图标的特征均须同时实施于本发明的触控面板及其制造方法中。