本实用新型涉及一种PCIE卡的测试防护治具，属于计算机测试技术领域。
背景技术：
在日常的实验室测试或者工厂端测试中，由于要对不同的项目和不同的主板进行全方面的功能测试验证，因此需要对PCIE卡进行反复的插拔，但是，插拔次数过多会导致PCIE卡上的金手指磨损，并且，时间久了后还会产生接触不良甚至损坏的情况；此外，现有的功能测试验证中在进行PCIE卡的插拔时需要小心处理，否则会出现操作不当引起的板卡短路问题。由此造成的是，不但影响测试的正常进行，还会使PCIE卡这种贵重物品报废，造成很大的经济损失。为此，如何实现反复插拔测试中PCIE卡的可持续安全使用成为亟需解决的问题。
技术实现要素：
为解决以上技术上的不足，本实用新型提供了一种PCIE卡的测试防护治具，可保护PCIE卡金手指、防氧化，并可避免PCIE卡反复插拔磨损及短路风险。
本实用新型的技术方案如下：一种PCIE卡的测试防护治具，包括本体，所述本体的前端设置有插槽连接器，插槽连接器的连接器pin脚与本体上的焊盘连接，本体的后端设置有金手指，焊盘通过连接线与金手指连接，所述金手指包括可传输PCIE信号的第一金手指和提供PCIE卡电源通信的第二金手指，所述第二金手指与焊盘之间的连接线上设置有保险丝。
本实用新型的技术方案还包括：所述插槽连接器的右侧设置有定位凸起，所述定位凸起的位置与第一金手指和第二金手指之间的空隙相对应。
本实用新型的技术方案还包括：所述插槽连接器的左侧设置有开口。
本实用新型的技术方案还包括：所述插槽连接器的轴线与本体的轴线平行，连接器pin脚平行焊接在焊盘上。
本实用新型的技术方案还包括：所述插槽连接器的轴线与本体的轴线垂直，连接器pin脚穿过本体上的通孔后垂直焊接在焊盘上。
本实用新型的有益效果是：通过本实用新型的测试防护治具，测试过程中只需将PCIE卡插入插槽连接器中，之后的插入或拔出只需插拔治具的金手指即可，避免了PCIE卡金手指反复插拔造成的磨损，可保护PCIE卡的金手指、防止其氧化，并且，将本治具的金手指设计成可传输PCIE信号的第一金手指和提供PCIE卡电源通信的第二金手指，并在第二金手指与焊盘之间的连接线上设置了保险丝，由此可防止PCIE卡的电源短路，起到保护作用，从而可节省PCIE卡维修及报废费用，实现PCIE卡的可持续安全使用。
附图说明
图1是本实用新型的示意图。
1、本体，2、插槽连接器，3、第一金手指，4、第二金手指，5、保险丝，6、定位凸起，7、连接器pin脚，8、焊盘，9、连接线。
具体实施方式
以下结合附图，通过实施例对本实用新型作进一步说明。
本实用新型的一种PCIE卡的测试防护治具，主要有以下特点：一、保护PCIE卡金手指，防氧化；二、避免PCIE卡反复插拔磨损及短路风险；三、使用方便，治具可以反复更换；四、节省开支，可提高经济效益。
如图1所示，本新型的治具包括有本体1、位于本体1前端的插槽连接器2和位于本体1后端的金手指。其中，金手指包括第一金手指3和第二金手指4，第二金手指4为PCIE卡的电源通信部分，其上走12V，3.3V和3.3V_AUX三种电；第一金手指3传输PCIE卡的PCIE信号，可以是X1，X2，X4，也可以是X8，X16。
金手指通过连接线9与位于本体1上的焊盘8连接，焊盘8再与插槽连接器2的连接器pin脚7连接，以实现信号的传输。为了实现PCIE卡的安全使用，防止PCIE卡的三个电源短路，在第二金手指4与焊盘8之间的连接线9上分别设置了三个保险丝5。
插槽连接器2为了能够支持多种PCIE卡的测试，确保测试的灵活性，在其左侧设置了开口，此外，为了能够PCIE卡与治具插接可靠准确，在其右侧设置了定位凸起6，并且使定位凸起6的纵向位置与第一金手指3和第二金手指4之间的空隙相对应。
本新型的治具可以用于竖插式PCIE卡，如图1所示，此时插槽连接器2的轴线与本体1的轴线平行，且连接器pin脚7与焊盘8平行并焊接固定；本新型的治具也可以用于横插式PCIE卡，此时插槽连接器2的轴线与本体1的轴线垂直，例如可选用DIP（双列直插式封装）形式的连接器，且连接器pin脚7穿过本体1上的通孔与焊盘8垂直并焊接固定，即穿孔焊接。
本新型治具的使用方式为：
首先，将标准PCIE卡插入到本治具的插槽连接器2中；
其次，将本治具的金手指部分插入到主板上的标准PCIE卡插槽中上电进行测试；
最后，插入和拔出只需要插拔治具的金手指部分即可，实现了保护PCIE卡金手指的目的，而且能有效防止PCIE卡的电源短路。
以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型做任何形式上的限制，凡在本实用新型的精神和原则之内所做任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。