026]图3是依照本发明的一实施例所绘示的触控装置的控制方法的流程图。
[0027]图4是依照本发明的一实施例所绘示的手势判断演算法的流程图。
[0028]图5A至图51是依照本发明一实施例所绘示的反射信号的范例。
[0029]图6是依照本发明的一实施例所绘示的触控装置的控制方法的流程图。
[0030]符号说明:
[0031]100、200:触控装置
[0032]110、210:触控平面
[0033]120、221、222:取像单元
[0034]130:处理单元
[0035]230:光线反射物件
[0036]A、B:信号点
[0037]C1 ?C3、E1 ?E2:遮断点
[0038]D:检测信号
[0039]L1、L2、R1、R2:箭号
[0040]P1?P3:触控位置
[0041]R:反射信号
[0042]S310 ?S330、S410 ?S430、S610 ?S630:步骤
【具体实施方式】
[0043]为了使触控装置的触控功能开关能够更为便利，本发明实施例所提出的触控装置及其控制方法与判断解锁的方法可在触控装置的触控功能关闭(触控锁定状态)时仍能够检测使用者的手势操作，并在使用者的手势符合特定手势时开启触控功能(触控开启状态)，让使用者通过手势操作即可控制触控功能的开启或关闭，提升操作触控装置时的便利性。
[0044]图1是依照本发明一实施例所绘示的触控装置的方块图。请参照图1，触控装置100包括触控平面110、至少两个取像单元(例如图1中的取像单元120)以及处理单元130。触控装置100例如是电容式(capacitive)、电阻式(resistive)以及光学式(optical)等触控装置，或例如是具备电容式、电阻式以及光学式等触控模组的电子装置(例如，手机、平板电脑、笔记本电脑等)，其功能分述如下。
[0045]触控平面110例如是具备触控功能的液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)、有机电激发光显不器(Organic Electro-Luminescent Display, OELD)、投影显示器(Project1n display)等显示器，并可应用例如电容式(capacitive)、电阻式(resistive)以及光学式(optical)等触控技术。
[0046]取像单元120分别设置于触控平面110旁，且每一个取像单元120可包括光源与取像元件。光源例如是激光二极管等激光产生器、发光二极管或其他适当的发光元件，而取像元件例如为互补式金属氧化物半导体感测器(Complementary Metal OxideSemiconductor Sensor, CMOS sensor)或电荷稱合兀件(Charge Coupled Device, CCD)。取像单元120可利用光源以沿着触控平面110的表面发射检测信号，且检测信号例如是可见光或不可见光(例如，红外光)。接着，取像单元120再利用取像元件以在触控平面110的表面进行取像，以检测由光源射出的检测信号经反射而形成的反射信号。此反射信号例如是由检测信号在与触控平面四周所设置的至少一个光线反射物件交会时经反射所形成，光线反射物件例如是反光边框。
[0047]处理单元130耦接触控屏幕110及取像单元120。处理单元130可以是中央处理单元(Central Processing Unit, CPU),或是其他可编程的一般用途或特殊用途的微处理器(Microprocessor)、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、可编程控制器、专用集成电路(Applicat1n Specific Integrated Circuit,ASIC)或其他类似元件或上述元件的组合。在本实施例中，处理单元130执行手势判断演算法以辨识使用者的手势，并在触控装置100的触控功能开启时，对应提供利用取像单元120所接收到的手势对应的触控信息。
[0048]在此需说明的是，在本发明实施例中，触控装置100操作在“触控开启状态”或是“触控锁定状态”可对应于触控装置100的触控功能为开启或关闭。详言之，当触控装置100操作在触控开启状态时，处理单元130会提供触控信息，例如是将触控信息传送至触控装置100的系统处理器，使触控装置100的作业系统(例如，Windows、Linux、Android、Mac等)可依据此触控信息而对应执行相关的功能。此触控信息例如是反射信号中各遮断点在触控平面110上对应的坐标位置，或例如是处理单元130依据手势判断演算法而获得的手势所对应的触控指令。而当触控装置100操作在触控锁定状态时，处理单元130则不提供上述的触控信息，而仅通过取像单元120检测反射信号，以获得手势所对应的遮断点数量及各遮断点在触控平面110上的位置等信息。
[0049]在此以图2A至图2D的实施例进一步说明。请参照图2A的示意图，触控装置200包括触控平面210、取像单元221、222、处理单元以及光线反射物件230。在此范例中，触控平面210例如是矩形的触控平面，且取像单元221、222分别设置于触控平面210的左上角与右上角，而光线反射物件230则设置在触控平面210四周的各边缘。
[0050]取像单元221、222可分别沿触控平面210的表面发出检测信号D，检测信号D可经由光线反射物件230的反射而形成反射信号R，并由取像单元221、222接收反射信号R。当使用者在触控平面210的表面进行操作，且其手指在触控平面210的触控位置P1?P3如图2D所示时，取像单元221可获得沿图2A中箭号L1、L2的方向的反射信号R的波形图(如图2B所示)，且取像单元222可获得沿图2A中箭号R1、R2的方向的反射信号R的波形图(如图2C所示)。其中，反射信号R的波形变化例如是对应其信号的亮度强弱程度。当检测信号D经由光线反射物件230反射时，反射信号R可具有较高亮度(例如，图2B中的信号点A、图2C中的信号点B);而当检测信号D与使用者的手指交会时，使用者的手指会遮断检测信号D，使得对应触控位置P1?P3的反射信号R具有较低亮度(例如，图2B中的遮断点C1?C3、图2C中的遮断点E1?E2)。其中，反射信号R例如包括遮断点的数量以及遮断点对应于触控平面210上的坐标位置等信息，故处理单元可通过分析反射信号R来得知使用者在触控平面210上的手势操作。
[0051]基于上述的装置架构，接着再举实施例以说明本发明实施例的触控装置的控制方法。请参照图3，图3是依据本发明一实施例所绘示的一种触控装置的控制方法的流程图，且适用于图1的触控装置100。以下即搭配图1中的各项元件说明本方法的详细步骤。
[0052]在步骤S310中，当触控装置100操作在触控锁定状态时，处理单元130通过至少两个取像单元120检测反射信号，以接收在触控平面110上的第一手势。具体而言，处理单元130可分析反射信号以获得多个遮断点的数量和所述遮断点分别在触控平面110上的多个位置，以获得第一手势。
[0053]以图2B、2C的反射信号为例，处理单元130分析反射信号，例如将反射信号的亮度小于一门槛值的位置视为遮断点，并比较各取像单元120所获得的遮断点数量(例如，图2B包括3个遮断点C1?C3，而图2C包括2个遮断点E1?E2)后，从而获得此反射信号具有3个遮断点C1?C3，并可对应计算遮断点C1?C3分别在触控平面110上的触控位置P1?P