专利名称：跟踪控制装置和光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及使用激光等光源，以光学方式在信息载体上记录信息，或将记录于信息载体的信息变换成信号进行再生的光学式记录再生装置，或是将预先记录在信息载体上的信息变换成信号进行再生的光学式再生装置等光盘装置。特别是涉及用于控制使光束点在磁道上正确扫描的跟踪控制装置和光盘装置。
背景技术：
作为以往的光盘装置的跟踪控制装置的一个例子，众所周知的有对透镜移动进行修正，以使相位差跟踪错误信号的偏置为零的例子。
图28是专利文献1公开的概略表示这种以往的光盘装置结构的框图。在图28所示的光盘装置中，光拾取器20具有激光发光元件(图中未示出)、聚束透镜22和调节器23，将光束21聚束照射到光盘10上。光拾取器20具有被进一步被分成4个检测部A～D的光检测器24，在光盘10的信息记录面用光检测器24检测反射的反射光束21’。光检测器24的各检测部A～D的输出被输入到信号生成电路30。
信号生成电路30具有相位差调整电路31a，31b，对于从光检测器24输入的检测部A，B的输出信号，调整光盘圆周方向(切线)的相位差(称为切线相位差)。这样，可以除去在各检测部A～D的输出间产生的相位差带来的偏置。加法电路32a，32b生成将位于光检测器24对角上的检测部的输出相加后的加法信号(A+D)和加法信号(B+C)，通过相位差检测电路33检测这些相位差。通过LPF34输出的相位差检测电路33的输出，变为相位差跟踪错误信号(称为DPDTE)。
数字信号处理器(称为DSP)50包括偏置调整部52、跟踪控制部53、偏置测定部61、透镜移动修正部62、A/D转换器51和D/A转换器54。
A/D转换器51将DPDTE变换成数字信号。在偏置调整部52DPDTE的数字信号加上跟踪控制的偏置。另外，跟踪控制部53通过对DPDTE的数字信号进行相位补偿和低通补偿的滤波运算，生成跟踪驱动值。生成的跟踪驱动值通过D/A转换器54，再变换成模拟信号，作为跟踪驱动信号输出到驱动电路91。驱动电路91对跟踪驱动信号进行电流放大，驱动光拾取器内置的调节器23，进行跟踪控制。
接着说明背景技术中透镜移动的修正方法。在光拾取器20中，由于以聚束透镜22，光检测器24为主的光学零件的安装误差，以及垂直保持装置所引起的聚束透镜的下垂和从激光装置射出的光束的光轴偏位，有时聚束透镜22的中心会偏离设定位置。此时，反射光束会偏离光检测器24的中心成像。在以下的说明中，将这一状态称为透镜移动。这种透镜移动，是在光拾取器内发生的与聚束透镜22的位置或光轴和光检测器24的中心的偏离。
图29(a)～(c)表示的是在未进行跟踪控制时，从各种透镜移动状态下的光拾取器输出的相位差跟踪错误信号。在图29(a)和(c)所示的信号中，由于透镜移动发生了切线相位差。具体地说，图29(a)和(c)所示的信号，在聚束透镜相对于磁道中心，分别在光盘的内周侧和外周侧移动了300μm左右时发生。与此相对，图29(b)所示的信号在聚束透镜没有偏离时可以得到。
如图29(a)和(c)所示，在由于透镜移动出现切线相位差时，如果通过跟踪控制使聚束透镜移动，则相位差跟踪错误信号的对称性变差，会发生偏置。这种DPDTE的偏置和透镜移动的关系如图30所示。在图30中，横轴表示聚束透镜的位置，纵轴表示DPDTE的偏置值。
如图30所示，聚束透镜的位置和DPDTE的偏置值，在透镜位置处于最佳透镜位置附近呈现线性关系。通过检测DPDTE的偏置，在跟踪驱动值加上偏置使DPDTE的偏置为0，可以使聚束透镜22的位置移动，对透镜移动进行修正。
下面参照图28，说明对透镜移动进行修正的步骤。将信号生成电路30的相位差调整电路31a，31b的调整错开，变为发生切线相位差的状态。在透镜移动发生时，会发生DPDTE的偏置，用偏置测定部61测定DPDTE的偏置。
透镜移动修正部62在跟踪控制部的输出值上加上该偏置。驱动电路91根据加上该偏置的跟踪控制部的输出值，使聚束透镜22移动。此时利用图30所示的线性关系，移动聚束透镜22，使得用偏置测定部61检测的DPDTE的偏置变为零，可以使透镜移动变为零。
专利文献1-特开2000-315327号公报。
例如DVD-RAM光盘那样，对在内周和外周相对于磁道移动1/2磁道配置的地址进行再生时，如果因为偏芯或光轴偏位等发生透镜移动，则地址部的RF信号的平衡就会被打破。因而无法生成用于检测和分离地址部的门脉冲信号，会发生地址部的RF信号振幅变小，SN比变差，从而无法正确再生地址信息这一问题。
为了通过所述以往的光盘装置中透镜移动的修正方法来解決这一问题时，就需要图28的信号生成电路所示的切线相位差的调整装置(检测器)和调整电路。因此，会发生很难降低光盘装置的成本，难以实现光拾取器的小型化这样的问题。
发明内容
鉴于以上所述问题的存在，本发明的目的在于提供一种不使用相位差跟踪错误信号，即使是没有相位差调整电路的装置，或具有单纯分割的光检测器的光拾取器，也能将透镜移动变为零的跟踪控制装置和光盘装置。
本发明的跟踪控制装置，为了对在内周侧和外周侧相对于信息磁道各错开大约1/2磁道而配置的、具有第1地址和第2地址的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置、检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头进行控制。
本发明的跟踪控制装置具有根据所述光检测装置的输出，获得记录在所述信息载体上的地址的地址引导装置，判定所述地址引导装置获得了第1地址的第1地址引导判定装置，判定所述地址引导装置获得了第2地址的第2地址引导判定装置，依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，对所述第1地址引导判定装置和所述第2地址引导判定装置的判定结果为共同获得了地址的获得次数进行计数的透镜位置特性测定装置，求出所述获得次数的最大值，根据所述获得次数为最大值时的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的透镜移动调整装置。
另外，本发明的跟踪控制装置具有生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的差信号生成装置，将所述差信号生成装置的输出与给定的第1电平进行比较，生成门脉冲的第1门脉冲生成装置，将所述差信号生成装置的输出与给定的第2电平进行比较，生成门脉冲的第2门脉冲生成装置，依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，根据所述第1门脉冲生成装置生成的门脉冲数和所述第2门脉冲生成装置生成的门脉冲数求出计测数值的透镜位置特性测定装置，求出所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计测数值，根据与求出的计测数值相对应的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的透镜移动调整装置。
在某个优选的实施形态，所述计测数值是所述第1门脉冲生成装置生成的门脉冲数与所述第2门脉冲生成装置生成的门脉冲数之和，所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计测数值是其最大值。
在某个优选的实施形态，所述计测数值是所述第1门脉冲生成装置生成的门脉冲数与所述第2门脉冲生成装置生成的门脉冲数之差，所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计测数值为零或最接近于零的值。
此外，本发明的跟踪控制装置具有生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的差信号生成装置，检测所述差信号生成装置的输出的最大值的峰值检测装置，检测所述差信号生成装置的输出的最小值的底值检测装置，依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，根据所述峰值检测装置的检测值和所述底值检测装置的检测值求出计算值的透镜位置特性测定装置，求出所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计算值，根据与求出的计算值相对应的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的透镜移动调整装置。
在某个优选的实施形态，将所述峰值检测装置的检测值和所述底值检测装置的检测值分别表示为TEmax和TEmin时，所述计算值为(TEmax+TEmin)/(TEmax-TEmim)，所述聚束装置对于所述光检测装置的位置偏差为最小时的所述计算值为零或最接近于零的值。
另外，本发明的跟踪控制装置具有生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的差信号生成装置，根据所述差信号生成装置的输出，检测所述第1地址部的振幅的第1地址振幅检测装置，根据所述差信号生成装置的输出，检测所述第2地址部的振幅的第2地址振幅检测装置，依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，求出所述第1地址振幅检测装置的输出和所述第2地址振幅检测装置的输出的输出差的透镜位置特性测定装置，求出所述输出差为零或最接近于零的值，根据所述输出差为零或最接近于零的值时的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的透镜移动调整装置。
另外，本发明的跟踪控制装置，为了对在内周侧和外周侧相对于信息磁道各错开大约1/2磁道而配置的、具有第1地址和第2地址的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置、检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头进行控制。跟踪控制装置具有生成所述光検由装置分割检测的各检测信号的差信号的差信号生成装置，测定所述差信号在给定期间的平均值的偏置测定装置，依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，对于所述信息载体的第1区域和第2区域求出所述聚束装置移动的各个位置的所述平均值的透镜位置特性测定装置，根据在所述信息载体的第1区域获得的所述偏置设定值和所述平均值的关系以及在第2区域获得的所述偏置设定值和所述平均值的关系，求出所述聚束装置对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述平均值，根据与求出的平均值相对应的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的透镜移动调整装置。
在某个优选的实施形态，所述透镜位置特性测定装置在使所述信息载体旋转1圈或其整数倍期间，获得所述获得次数、所述计测数值、所述计算值、所述输出差或所述平均值。
在某个优选的实施形态，跟踪控制装置还具有根据所述光检测装置的输出检测磁道偏差的跟踪错误信号生成装置，调整所述跟踪错误信号生成装置的偏置的偏置调整装置，通过所述偏置调整装置进行偏置调整后，使所述透镜位置特性测定装置动作。
在某个优选的实施形态，跟踪控制装置还具有根据所述光检测装置的输出检测磁道偏差的跟踪错误信号生成装置，调整所述跟踪错误信号生成装置的偏置的偏置调整装置，通过所述偏置调整装置进行偏置调整前，使所述透镜位置特性测定装置动作。
在某个优选的实施形态，跟踪控制装置还具有通过所述光检测装置的输出来检测磁道偏差的跟踪错误信号生成装置，调整所述跟踪错误信号生成装置的偏置的偏置调整装置，按照根据所述移动装置的所述聚束装置的移动量使所述偏置调整装置动作。
在某个优选的实施形态，所述信息载体包括由凸部和凹部形成的信息磁道，所述透镜位置特性测定装置分别对所述信息磁道的凸部和凹部进行测定，根据测定结果，所述透镜移动调整装置使所述聚束装置对于所述凸部和凹部移动。
在某个优选的实施形态，根据信息载体的位置，使所述透镜位置特性测定装置和透镜移动调整装置动作。
在某个优选的实施形态，所述透镜移动调整装置包括根据所述获得次数、所述计测数值、所述计算值、所述输出差或所述平均值和所述偏置设定值的关系决定近似函数的近似函数决定装置，利用所述近似函数，求出所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述偏置设定值。
在某个优选的实施形态，所述透镜移动调整装置求出所述获得次数、所述计测数值、所述计算值、所述输出差或所述平均值大致为一定值的范围，使得与所述为一定值的范围的中心相对应的偏置设定值，为对于所述光检测装置的位置偏差为最小时的所述偏置设定值。
在某个优选的实施形态，所述透镜位置特性测定装置根据所述信息载体的旋转相位求出所述获得次数、所述计测数值、所述计算值、所述输出差或所述平均值。
在某个优选的实施形态，所述透镜移动调整装置根据所述信息载体的旋转相位，决定所述偏置设定值。
在某个优选的实施形态，跟踪控制装置的所述第1门脉冲生成装置和所述第2门脉冲生成装置，使用与所述第1电平和第2电平不同的电平检测地址。
在某个优选的实施形态，所述第1地址振幅检测装置和所述第2地址振幅检测装置，在所述信息载体的第1地址部和第2地址部振幅大致稳定的给定部位检测振幅。
在某个优选的实施形态，所述透镜移动调整装置求出表示在所述情信息载体的第1区域获得的所述偏置設置值和所述平均值的关系的第1函数，以及表示在第2区域获得的所述偏置设定值和所述平均值的关系的第2函数，根据从所述第1函数和第2函数的交点能求出的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动。
本发明的光盘装置包括具有将光束聚束后向信息载体照射的聚束装置、检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头；和本发明上述任意1项中规定的跟踪控制装置。
本发明的跟踪控制方法，为了对在内周侧和外周侧相对于信息磁道各错开大约1/2磁道而配置的、具有第1地址和第2地址的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置、分割检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头进行控制。
跟踪控制方法包括依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，根据所述光检测装置的输出，对获得记录于所述信息载体的所述第1地址和所述第2地址的获得次数进行计数的步骤；求出所述获得次数的最大值，根据所述获得次数为最大值时的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的步骤。
另外，本发明的跟踪控制方法包括生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的步骤；将所述差信号同第1和第2电平进行比较，当所述差信号比所述第1和第2电平大时，生成第1和第2门脉冲的步骤；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，根据生成的所述第1和第2门脉冲数求出计测数值的步骤；求出所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计测数值，根据与求出的计测数值相对应的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的步骤。
在某个优选的实施形态，所述计测数值是所述第1和第2门脉冲数之和，所述移动步骤中所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的计测数值是其最大值。
在某个优选的实施形态，所述计测数值是所述第1和第2门脉冲数之差，所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计测数值为零或最接近于零的值。
另外，本发明的跟踪控制方法包括生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的步骤；检测所述差信号的最大值和最小值的步骤；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，根据所述最大值和最小值求出计算值的步骤；求出所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计算值，根据与求出的计算值相对应的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的步骤。
在某个优选的实施形态，将所述最大值和最小值分别表示为TEmax和TEmin时，所述计算值为(TEmax+TEmin)/(TEmax-TEmin)，所述聚束装置对于所述光检测装置的位置偏差为最小时的所述计算值为零或最接近于零的值。
另外，本发明的跟踪控制方法包括生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的步骤；检测所述差信号的所述第1地址部和第2地址部的振幅的步骤；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，求出所述差信号的第1地址部的振幅，与第2地址部的振幅的振幅差的步骤；求出所述振幅差为零或最接近于零的值，根据所述振幅差为零或最接近于零的值时的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的步骤。
另外，本发明的跟踪控制方法，为了对具有照射光束时的反射特性不同的第1和第2区域的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置、对于从所述信息载体获得的所述光束的反射光进行分割检测的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的控制光学头进行控制。跟踪控制装置包括生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的步骤；测定所述差信号在给定期间的平均值的步骤；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，对于所述信息载体的第1区域和第2区域求出所述聚束装置移动的各位置的所述平均值的步骤；根据在所述信息载体的第1区域获得的所述偏置设定值和所述平均值的关系，以及在第2区域获得的所述偏置设定值和所述平均值的关系，求出所述聚束装置对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述平均值，根据与求出的平均值相对应的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的透镜移动的步骤。
在某个优选的实施形态，求出表示在所述信息载体的第1区域获得的所述偏置设定值与所述平均值的关系的第1函数，以及表示在第2区域获得的所述偏置设定值和所述平均值的关系的第2函数，根据从所述第1函数和第2函数的交点能求出的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动。
将使计算机执行上述中任意1项所述的跟踪控制方法所规定的各步骤的程序，记录在计算机可读取的记录媒体上。
图1是表示本发明的光盘装置的第1实施形态的框图。
图2是表示图1所示的信号处理部的结构的框图。
图3是表示光盘构造的图。
图4(a)和(b)是对图3所示的光盘的地址部进行再生时的RF差信号的输出波形的一个例子。
图5是表示地址OK信号数与偏置设定值的关系的图。
图6是表示本发明的光盘装置的第2实施形态的框图。
图7是表示图6所示的地址门脉冲部的构成的框图。
图8(a)和(b)是表示输入到地址门脉冲部的RF差信号的波形的图。
图9是表示门脉冲计数数值和偏置设定值的关系的图。
图10是表示本发明的光盘装置的第3实施形态的框图。
图11是表示图10所示的地址门脉冲部的构成的框图。
图12是表示门脉冲计数数值之差与偏置设定值的关系的图。
图13是表示本发明的光盘装置的第4实施形态的框图。
图14是表示图13所示的对称性检测部的构成的框图。
图15(a)和(b)是表示输入到对称性检测部的地址部的TE波形的图。
图16是表示TE的对称性与偏置设定值的关系的图。
图17是表示本发明的光盘装置的第5实施形态的框图。
图18是表示图17所示的振幅检测部的构成的框图。
图19(a)和(b)是表示输入到振幅检测部的地址部的RF差信号的波形的图。
图20是表示RF差信号的振幅与偏置设定值的关系的图。
图21是表示本发明的光盘装置的第6实施形态的框图。
图22是表示具有特性不同的2个区域的光盘模式图。
图23是表示TE的偏置和偏置设定值的关系的图。
图24是表示透镜位置检测信号和偏置设定值的关系的图。
图25是表示透镜位置检测信号和偏置设定值的关系的图。
图26是表示透镜位置检测信号和偏置设定值的关系的图。
图27(a)和(b)是表示RF差信号的波形的图。
图28是表示以往的光盘装置的构成的框图。
图29(a)至(c)是表示相位差跟踪错误信号的波形的图。
图30是表示相位差跟踪错误信号的透镜移动特性的图。
下面简要说明附图符号21—光束；22—聚束透镜；23—调节器；51—A/D转换器；52—偏置调整部；53—跟踪控制部；54—D/A转换器；91—跟踪驱动电路；110—光盘；120—光拾取器；124—受光元件；130—减法电路；131—低通滤波器(LPF)；140—信号处理部；150—数字信号处理器(DSP)；161—透镜位置设定部；162—透镜位置特性测定部；163—存储器；164—最佳透镜位置求出部；具体实施方式
(第1实施形态)图1是表示本实施形态的跟踪控制装置和使用该跟踪控制装置的光盘装置的结构的框图。在光盘装置11中，光拾取器120具有激光等发光元件(图中未示出)，作为聚束装置的聚束透镜22，以及作为移动装置的调节器23，聚束透镜22将光束21聚束照射到作为信息载体的光盘110。光盘110具有对于例如信息磁道错开大约1/2磁道配置，含有地址信息的地址部。调节器23使聚束透镜22横穿信息磁道移动。
光拾取器120还具有包括在光盘的直径方向分割的检测部A和B的光检测器124，在光盘110的信息记录面用作为光检测装置的光检测器124检测反射的光束21’。光检测器124的检测部A和B的输出，被输入到减法电路130，生成从与在检测部A检测的光量相当的信号A，减去与在检测部B检测的光量相当的信号B的信号，即生成(A-B)的RF差信号。RF差信号通过低通滤波器(LPF)131，作为跟踪错误信号(以下称为TE)被输入到作为跟踪控制装置的数字信号处理(DSP)150。
DSP150包括信号处理部140、透镜位置特性测定部162、存储器163、最佳透镜位置搜索部164、透镜位置设定部161、A/D转换器51、偏置调整部52、跟踪控制部53和D/A转换器54。
A/D转换器51将TE变换为数字信号。偏置调整部52在变换为数字信号的TE加上跟踪控制的给定的偏置，输入到跟踪控制部53。跟踪控制部53对变换为数字信号的TE实施进行相位补偿和低通补偿的滤波运算，生成跟踪驱动值。生成的跟踪驱动值通过与透镜位置设定部161的输出相加，通过D/A转换器54再变换成模拟信号。D/A转换器54的输出变为跟踪驱动信号，被输出到驱动电路91。
驱动电路91对跟踪驱动信号进行电流放大，驱动内置于光拾取器120的作为移动装置的调节器23，进行跟踪控制。此时，DSP150的透镜位置设定部161在作为跟踪控制部53的输出的跟踪驱动值加上偏置，可以错开相对于聚束透镜22的光检测器124的位置。
另外，从减法电路130将RF差信号输入到DSP150的信号处理部140。可以通过该信号处理部140获得地址信息。图2是表示信号处理部140的详细结构的框图。在信号处理部140，高通滤波器(HPF)141将RF差信号的直流成分除去。除去直流成分的RF差信号通过2值化电路142，以适当的限制电平变换为数字化的数据。数字化的数据信号被输入到PLL电路143，根据数字化的数据信号，对数据采样的同步时钟信号进行频率和相位控制。PLL电路143的输出被输入到作为地址引导装置的译码器144，译码器144输出再生信息，即磁道或扇区地址的代码数据。
作为第1地址引导判定装置和第2地址引导判定装置的地址引导判定部145，根据译码器144的输出结果，判定地址是否能正确引导。判定地址能引导时，如图1所示，向透镜位置特性测定部162输出表示能引导地址的地址OK信号。
作为透镜位置特性测定装置的透镜位置特性测置部182，为了使透镜位置设定部161依次发生以给定的距离间隔使聚束透镜22的位置移动的偏置，向透镜位置设定部161输出偏置设定值，同时对在该偏置设定值收到的地址OK信号的数量进行计数。给定的距离间隔不一定是等间隔，将偏置设定值和此时的地址OK信号的数值输出到存储器163。存储器163依次存储偏置设定值和地址OK信号的数值。透镜位置设定部161根据从透镜位置特性测定部162收到的偏置设定值，依次发生偏置，将偏置加到作为跟踪控制部53的输出的跟踪驱动值。
下面对作为透镜移动调整装置的最佳透镜位置搜索部164进行详细说明，求出地址OK信号数的最大值，将此时的偏置设定值作为提供最佳透镜位置的偏置设定值，输出到透镜位置设定部161。透镜位置设定部161根据提供最佳透镜位置的偏置设定值，生成偏置，加到跟踪驱动值。这样，就能够将透镜移动设定为零。
图3是说明作为信息载体的光盘110的物理构造的模式图。在光盘110上，对于信息记录面由凸部形成的磁道T1和由凹部形成的磁道T2交互配置。在磁道T1和T2通过浓淡的标记等记录用户数据等信息。第1地址部A1，记录于光盘内周侧相对于磁道T1移动大约1/2磁道的位置，第2地址部A2，记录于光盘外周侧相对于磁道T1移动大约1/2磁道的位置。
图4是对图3所示的光盘110的地址部进行再生时的RF差信号的输出波形的例子。图4(a)是没有透镜移动时的波形，(b)是透镜移动到内周侧时的波形。如图4(b)所示透镜移动到内周侧时，2个地址部的波形不对称，外周侧的地址部无法获得足够的RF信号振幅，不能再生地址。图2所示的地址引导判定部145，在第1地址部A1和第2地址部A2二者的再生没有错误时，判定为可以引导地址，生成地址OK信号，输出到透镜位置特性测定部162。从图4可以看出，在发生了透镜移动时，地址OK信号的输出频度会降低。因此利用透镜位置特性测定部162计数的地址OK信号的数值，在透镜移动小时比透镜移动大时小的特点，可以检测透镜移动。
透镜位置特性测定部162设定的偏置设定值与地址OK信号数的关系如图5所示。在图5中，横轴表示偏置设定值，纵轴表示地址OK信号的数值。根据偏置设定值，透镜位置设定部161发生偏置，加到跟踪驱动值，因此横轴也表示相对的透镜位置。在图5所示的特性中，地址OK信号为最大的点A，是没有透镜移动的最佳透镜位置。最佳透镜位置求出部164求出保存在存储器163的地址OK信号数的最大值，将此时的偏置设定值作为最佳透镜位置，输出到透镜位置设定部161。透镜位置设定部161根据收到的偏置设定值，生成偏置，将偏置重叠到跟踪驱动值。从驱动电路91输出加上偏置的跟踪驱动信号，这样，透镜移动得到修正，地址部的RF差信号变为图4(a)所示的对称性好的波形。即可以获得良好的跟踪信号、RF信号，能够提供高可靠性的光盘装置。
另外，在本实施形态中，光检测器124具有被分割成2个的检测区域。不过，使用以往的例子的图28所示的4分割的光检测器24，使用将检测部A和检测部c的输出相加的信号，以及将检测部B和检测部D的输出相加的信号进行处理，也能得到同样的效果。
如上所述，通过本发明，以对设在信息载体的第1地址和第2地址进行再生时获得的信号为基础，修正对于光检测器的聚束透镜的透镜移动。特别是在本实施形态中，利用了第1地址和第2地址在内周侧和外周侧相对于信息磁道大约错开1/2磁道配置，两个地址能够正确再生时，透镜移动为零或较小的值的特点。
具体地说，为了使聚束透镜的位置发生变化，依次发生偏置设定值，使相对于光检测器的聚束透镜的位置发生变化。接着在各个位置，求出第1地址和第2地址可正确再生的次数。使用其次数最多时的偏置设定值，使聚束透镜移动，就能够修正使透镜移动为零或最小。
这样，在不使用相位差跟踪错误信号，没有相位差调整电路的装置，以及具有单纯分割的光检测器的光拾取器，即使因光学零件的安装误差和垂直设置导致初期的透镜移动，发生光轴偏位，也能得到良好的跟踪信号和RF信号。
(第2实施形态)图6是表示本实施形态的跟踪控制装置和使用该跟踪控制装置的光盘装置的结构的框图。在光盘装置12中，与第1实施形态的光盘装置11相同的构成要素加上相同的参照符号。
光拾取器120具有激光等发光元件(图中未示出)、作为聚束装置的聚束透镜22，以及作为移动装置的调节器23，聚束透镜22将光束21聚束照射到作为信息载体的光盘110。
光拾取器120还具有包括在光盘的直径方向分割的检测部A和B的光检测器124，在光盘110的信息记录面用作为光检测装置的光检测器124检测反射的光束21’。光检测器124的检测部A和B的输出，被输入到减法电路130，生成从与在检测部A检测的光量相当的信号A，减去与在检测部B检测的光量相当的信号B的信号，即生成(A-B)的RF差信号。RF差信号通过低通滤波器(LPF)131，作为跟踪错误信号(以下称为TE)被输入到作为跟踪控制装置的数字信号处理器(DSP)250。
DSP250包括地址门脉冲部240、透镜位置特性测定部262、存储器163、最佳透镜位置求出部264、透镜位置设定部161、A/D转换器51、偏置调整部52、跟踪控制部53和D/A转换器54。
A/D转换器51将TE变换为数字信号。偏置调整部52在变换为数字信号的TE加上给定的偏置，输出到跟踪控制部53。跟踪控制部53对变换为数字信号的TE实施进行相位补偿和低通补偿的滤波运算，生成跟踪驱动值。生成的跟踪驱动值与透镜位置设定部161的输出相加，通过D/A转换器54再变换成模拟信号。D/A转换器54的输出变为跟踪驱动信号，被输出到驱动电路91。
驱动电路91对跟踪驱动信号进行电流放大，驱动内置于光拾取器120的作为移动装置的调节器23，进行跟踪控制。此时，DSP250的透镜位置设定部181在作为跟踪控制部53的输出的跟踪驱动值加上偏置，可以错开相对于聚束透镜22的光检测器124的位置。
另外，作为LPF131的输出的TE，被输入到地址门脉冲部240。地址门脉冲部240根据TE生成门脉冲信号，对其数目进行计数。
图7是表示地址门脉冲部240的更具体结构的框图。地址门脉冲部240具有作为第1门脉冲生成装置的比较器241a和作为第2门脉冲生成装置的比较器241b。比较器241a，241b在TE超过给定的电平时，分别将输出信号输出到OR电路242。OR电路242在收到来自比较器241a或比较器241b的信号时，生成输出信号。作为计数装置的门脉冲计数部243对OR电路242的输出次数进行计数，将计数的数值输出到作为透镜位置特性测定装置的透镜位置特性测定部262。
透镜位置特性测定部262，为了使透镜位置设定部161依次发生以给定的时间间隔和给定的距离间隔使聚束透镜22的位置移动的偏置，向透镜位置設置部161输出偏置设定值，同时对在该偏置设定值从地址门脉冲部240收到的计数数值进行计数。给定的距离间隔不一定是等间隔。然后，将偏置设定值和此时的计数数值输出到存储器163。存储器163依次存储偏置设定值和计数数值。透镜位置设定部261根据从透镜位置特性测定部162收到的偏置设定值，依次发生偏置，将偏置加到作为跟踪控制部53的输出的跟踪驱动值。
下面对作为透镜移动调整装置的最佳透镜位置求出部264进行详细说明，求出计数数值的最大值，将此时的偏置设定值作为提供最佳透镜位置的偏置设定值，输出到透镜位置设定部161。透镜位置设定部161根据提供最佳透镜位置的偏置设定值，生成偏置，加到跟踪驱动值。这样，就能够将透镜移动设定为零。
图8(a)和(b)表示地址门脉冲部240的各部分信号的波形。如图8(a)所示，在地址门脉冲部240输入没有透镜移动时的TE时，TE的地址部超过设定在比较器241a，241b的比较器电平a，b，因此从比较器241a，241b分别输出外周门脉冲信号和内周门脉冲信号。此时，OR电路242对外周门脉冲信号和内周门脉冲信号进行计数，输出计数数值2。
另一方面，如图8(b)所示，输入了在内周侧发生透镜移动时的TE时，TE的地址部不超过比较器241a的a。因此，不会生成外周门脉冲信号，从比较器241b只生成内周门脉冲信号。此时，OR电路242输出计数数值1。
图8中仅表示了1个地址部，透镜位置特性测定部262设定有发生偏置设定值的时间间隔，以在某个偏置设定值接收多个地址部。因此，在发生了透镜移动时，生成的门脉冲信号的计数数值也变小。
基于透镜位置特性测定部262设定的偏置设定值的透镜位置和生成的门脉冲的计数数值的关系如图9所示。在图9中，横轴表示聚束透镜的位置，纵轴表示门脉冲的计数数值。根据偏置设定值，透镜位置设定部161发生偏置，加到跟踪驱动值，因此横轴也相对表示透镜位置。在图9所示的特性中，计数数值为最大的点A，是没有透镜移动的最佳透镜位置。最佳透镜位置求出部264求出保存在存储器163的计数数值的最大值，将此时的偏置设定值作为最佳透镜位置输出到透镜位置设定部161。透镜位置设定部161根据收到的偏置设定值，生成偏置，将偏置重叠到跟踪驱动值。从驱动电路91输出加上偏置的跟踪驱动信号，这样，透镜移动得到修正，地址部的RF差信号变为图4(a)所示的对称性好的波形。即可以获得良好的跟踪信号、RF信号，能够提供高可靠性的光盘装置。
如上所述，通过本发明，以对设在信息载体的第1地址和第2地址进行再生时获得的信号为基础，修正对于光检测器的聚束透镜的透镜移动。特别是在本实施形态中，利用了将在光盘的直径方向分割检测的各信号的差信号，与第1和第2电平比较，对差信号超过各个电平的次数进行计数。第1地址和第2地址在内周侧和外周侧相对于信息磁道大约错开1/2磁道配置，因此在超过第1电平的次数和超过第2电平的次数之和为最大时，透镜移动为零或较小的值的特点。
具体地说，为了使聚束透镜的位置发生变化，依次发生偏置设定值，使相对于光检测器的聚束透镜的位置变化。接着在各个位置，求出超过第1电平的次数和超过第2电平时的次数之和。使用其次数最多时的偏置设定值，使聚束透镜移动，就能够修正使透镜移动为零或最小。
这样，在不使用相位差跟踪错误信号，没有相位差调整电路的装置，以及具有单纯分割的光检测器的光拾取器，即使因光学零件的安装误差和垂直设置导致初期的透镜移动，发生光轴偏位，也能得到良好的跟踪信号和RF信号。
(第3实施形态)图10是表示本实施形态的跟踪控制装置和使用该跟踪控制装置的光盘装置的结构的框图。在光盘装置13中，与第1实施形态的光盘装置11相同的构成要素加上相同的参照符号。
光拾取器120具有激光等发光元件(图中未示出)，作为聚束装置的聚束透镜22，以及作为移动装置的调节器23，聚束透镜22将光束21聚束照射到作为信息载体的光盘110。
光拾取器120还具有包括在光盘的直径方向分割的检测部A和B的光检测器124，在光盘110的信息记录面用作为光检测装置的光检测器124检测反射的光束21’。光检测器124的检测部A和B的输出，被输入到减法电路130，生成从与在检测部A检测的光量相当的信号A，减去与在检测部B检测的光量相当的信号B的信号，即生成(A-B)的RF差信号。RF差信号通过低通滤波器(LPF)131，作为跟踪错误信号(以下称为TE)被输入到作为跟踪控制装置的数字信号处理器(DSP)350。
DSP350包括地址门脉冲部340、透镜位置特性测定部362、存储器163、最佳透镜位置求出部364、透镜位置设定部161、A/D转换器51、偏置调整部52、跟踪控制部53和D/A转换器54。
A/D转换器51将TE变换为数字信号。偏置调整部52在变换为数字信号的TE加上给定的偏置，输出到跟踪控制部53。跟踪控制部53对变换为数字信号的TE实施进行相位补偿和低通补偿的滤波运算，生成跟踪驱动值。生成的跟踪驱动值与透镜位置设定部161的输出相加，通过D/A转换器54再变换成模拟信号。D/A转换器54的输出变为跟踪驱动信号，被输出到驱动电路91。
驱动电路91对跟踪驱动信号进行电流放大，驱动内置于光拾取器120的作为移动装置的调节器23，进行跟踪控制。此时，DSP350的透镜位置设定部161在作为跟踪控制部53的输出的跟踪驱动值加上偏置，可以错开相对于聚束透镜22的光检测器124的位置。
另外，作为LPF131的输出的TE，被输入到地址门脉冲部340。地址门脉冲部340根据TE生成门脉冲信号，对其数目进行计数。
图11是表示地址门脉冲部340的更具体结构的框图。地址门脉冲部340具有作为第1门脉冲生成装置的比较器341a和作为第2门脉冲生成装置的比较器341b，以及作为计数装置的门脉冲计数部342a，342b。
比较器341a，341b分别拉收TE，在TE超过给定的比较器电平时，从门脉冲计数部342a，342b输出门脉冲信号。门脉冲计数部342a，342b对门脉冲信号的数目进行计数，将其数值分别输出到作为透镜位置特性测定装置的透镜位置特性测定部362。
透镜位置特性测定部362，为了使透镜位置设定部161依次发生以给定的时间间隔和给定的距离间隔使聚束透镜22的位置移动的偏置，向透镜位置設置部161输出偏置设定值，同时在该偏置设定值求出从地址门脉冲部340的门脉冲计数部342a，342b收到的计数数值之差。给定的距离间隔不一定是等间隔。然后，将偏置设定值和此时的计数数值之差输出到存储器163。存储器163依次存储偏置设定值和计数数值之差。透镜位置设定部161根据从透镜位置特性测定部362收到的偏置设定值，依次发生偏置，将偏置加到作为跟踪控制部53的输出的跟踪驱动值。
下面对作为透镜移动调整装置的最佳透镜位置求出部364进行详细说明，将计数数值之差为零或最接近于零的值时的偏置设定值，作为提供最佳透镜位置的偏置设定值，输出到透镜位置设定部161。透镜位置设定部161根据提供最佳透镜位置的偏置设定值，生成偏置，加到跟踪驱动值。这样，就能够将透镜移动设定为零。
如图8(a)所示，当在地址门脉冲部340输入没有透镜移动时的TE时，TE的地址部超过设定在比较器341a，341b的比较器电平a，b，因此从比较器341a，341b分别输出外周门脉冲信号和内周门脉冲信号。此时，从门脉冲计数部342a，342b输出的门脉冲信号的计数数值分别变为1，计数数值之差变为零。
另一方面，如图8(b)所示，输入了在内周侧发生透镜移动时的TE时，TE的地址部不超过比较器341a的比较器电平a。因此，不会生成外周门脉冲信号，从比较器341b只生成内周门脉冲信号。此时，从门脉冲计数部342a，342b输出的门脉冲信号的计数数值为1和0，计数数值之差为1。
与第2实施形态一样，通过设定发生偏置设定值的时间间隔，地址门脉冲部340可以接收多个地址部，可以根据更准确的计数数值之差和偏置设定值，求出与透镜的位置的关系。
基于透镜位置特性测定部362设定的偏置设定值的透镜的位置和计数数值之差的关系如图12所示。在图12中，横轴表示聚束透镜的位置，纵轴表示门脉冲的计数数值之差。根据偏置设定值，透镜位置设定部161发生偏置，加到跟踪驱动值，因此横轴也相对表示透镜位置。在图12所示的特性中，计数数值之差为零的点A，是没有透镜移动的最佳透镜位置。最佳透镜位置求出部364求出保存在存储器163的计数数值之差为零或最接近于零的值，将此时的偏置设定值作为最佳透镜位置输出到透镜位置设定部161。透镜位置设定部161根据收到的偏置设定值，生成偏置，将偏置重叠到跟踪驱动值。从驱动电路91输出加上偏置的跟踪驱动信号，这样，透镜移动得到修正，地址部的RF差信号变为图4(a)所示的对称性好的波形。即可以获得良好的跟踪信号、RF信号，能够提供高可靠性的光盘装置。
如上所述，通过本发明，以对设在信息载体的第1地址和第2地址进行再生时获得的信号为基础，修正对于光检测器的聚束透镜的透镜移动。特别是在本实施形态中，利用了将在光盘的直径方向分割检测的各信号的差信号的第1地址部和第2地址部，与第1和第2电平比较，对差信号超过各个电平的次数进行计数。第1地址和第2地址在内周侧和外周侧相对于信息磁道大约错开1/2磁道配置，因此在超过第1电平的次数和超过第2电平时的次数之差为零或最接近零的值时，透镜移动为零或较小的值的特点。
具体地说，为了使聚束透镜的位置发生变化，依次发生偏置设定值，使相对于光检测器的聚束透镜的位置变化。接着在各个位置，求出超过第1电平的次数和超过第2电平时的次数之差。使用其次数为零或最接近于零的值时的偏置设定值，使聚束透镜移动，就能够修正使透镜移动为零或最小。
这样，在不使用相位差跟踪错误信号，没有相位差调整电路的装置，以及具有单纯分割的光检测器的光拾取器，即使因光学零件的安装误差和垂直设置导致初期的透镜移动，发生光轴偏位，也能得到良好的跟踪信号和RF信号。
(第4实施形态)图13是表示本实施形态的跟踪控制装置和使用该跟踪控制装置的光盘装置的结构的框图。在光盘装置14中，与第1实施形态的光盘装置11相同的构成要素加上相同的参照符号。
光拾取器120具有激光等发光元件(图中未示出)，作为聚束装置的聚束透镜22，以及作为移动装置的调节器23，聚束透镜22将光束21聚束照射到作为信息载体的光盘110。
光拾取器120还具有包括在光盘的直径方向分割的检测部A和B的光检测器124，在光盘110的信息记录面用作为光检测装置的光检测器124检测反射的光束21’。光检测器124的检测部A和B的输出，被输入到减法电路130，生成从与在检测部A检测的光量相当的信号A，减去与在检测部B检测的光量相当的信号B的信号，即生成(A-B)的RF差信号。RF差信号通过低通滤波器(LPF)131，作为跟踪错误信号(以下称为TE)被输入到作为跟踪控制装置的数字信号处理(DSP)450。
DSP450包括对称性检测部440、透镜位置特性测定部462、存储器163、最佳透镜位置求出部464、透镜位置设定部161、A/D转换器51、偏置调整部52、跟踪控制部53和D/A转换器54。
A/D转换器51将TE变换为数字信号。偏置调整部52在变换为数字信号的TE加上给定的偏置，输出到跟踪控制部53。跟踪控制部53对变换为数字信号的TE实施进行相位补偿和低通补偿的滤波运算，生成跟踪驱动值。生成的跟踪驱动值与透镜位置设定部161的输出相加，通过D/A转换器54再变换成模拟信号。D/A转换器54的输出变为跟踪驱动信号，被输出到驱动电路91。
驱动电路91对跟踪驱动信号进行电流放大，驱动内置于光拾取器120的作为移动装置的调节器23，进行跟踪控制。此时，DSP450的透镜位置设定部161在作为跟踪控制部53的输出的跟踪驱动值加上偏置，可以错开相对于聚束透镜22的光检测器124的位置。
另外，作为LPF131的输出的TE，被输入到对称性检测部440。对称性检测部440检测TE在地址部的对称性。
图14是表示对称性检测部440的更具体的结构的框图。对称性检测部440包括作为峰值检测装置的峰值检测电路441和作为底值检测装置的底值检测电路442。峰值检测电路441支持地址部的TE的最大值TEmax。底值检测电路442支持地址部的TE的最小值TEmin。对称性检测部440将TEmax和Temin输出到作为透镜位置检测装置的透镜位置特性测定部462。
透镜位置特性测定部462，为了使透镜位置设定部161依次发生以给定的时间间隔和给定的距离间隔使聚束透镜22的位置移动的偏置，向透镜位置設置部161输出偏置设定值。给定的距离间隔不一定是等间隔。在其偏置设定值计算TE对称性(TEmax+TEmin)/(TEmax-TEmin)。然后，将偏置设定值和此时的TE对称性输出到存储器163。存储器163依次存储偏置设定值和TE对称性。透镜位置设定部161根据从透镜位置特性测定部462收到的偏置设定值，依次发生偏置，将偏置加到作为跟踪控制部53的输出的跟踪驱动值。
下面对作为透镜移动调整装置的最佳透镜位置求出部464进行详细说明，将TE对称性为零或最接近于零的值时的偏置设定值，作为提供最佳透镜位置的偏置设定值，输出到透镜位置设定都161。透镜位置设定部161根据提供最佳透镜位置的偏置设定值，生成偏置，加到跟踪驱动值。这样，就能够将透镜移动设定为零。
图15(a)和(b)将输入到地址门脉冲部440的TE在地址部的波形放大显示。
如图15(a)所示，没有透镜移动时在地址部的TE的波形与零对称。因此，根据峰值检测电路441的输出TEmax和底值检测电路442的输出TEmin计算的TE对称性(TEmax+TEmin)/(TEmax-TEmin)为零或接近零的值。
另一方面，如图15(b)所示，内周侧发生了透镜移动时在地址部的TE的波形与零不对称。因此，根据峰值检测电路441的输出TEmax和底值检测电路442的输出TEmi-n计算的TE对称性(TEmax+TEmin)/(TEmax-TEmin)为负值。
基于透镜位置特怯测定部462设定的偏置设定值的透镜的位置和TE对称性的关系如图16所示。在图16中，横轴表示聚束透镜的位置，纵轴表示TE对称性。根据偏置设定值，透镜位置设定部161发生偏置，加到跟踪驱动值，因此横轴也相对表示透镜位置。在图16所示的特性中，TE对称性为零的点A是没有透镜移动的最佳透镜位置。最佳透镜位置求出部464求出保存在存储器163的TE对称性为零或最接近于零的值(例如最接近零的值，或者设定接近零的阈值，比该阈值更接近零的值等)，将此时的偏置设定值作为最佳透镜位置输出到透镜位置设定部161。透镜位置设定部161根据收到的偏置设定值，生成偏置，将偏置重叠到跟踪驱动值。从驱动电路91输出加上偏置的跟踪驱动信号，这样，透镜移动得到修正，地址部的RF差信号变为图4(a)所示的对称性好的波形。即可以获得良好的跟踪信号、RF信号，能够提供高可靠性的光盘装置。
如上所述，通过本发明，以对设在信息载体的第1地址和第2地址进行再生时获得的信号为基础，修正对于光检测器的聚束透镜的透镜移动。特别是在本实施例中，利用了求出在光盘的直径方向分割检测的各信号的差信号在第1地址和第2地址的最大值和最小值。第1地址和第2地址在内周侧和外周侧相对于信息磁道大约错开1/2磁道配置，因此(最大值+最小值)/(最大值-最小值)变为零或最接近于零的值时，利用透镜移动为零或较小的值这一点。
具体地说，为了使聚束透镜的位置发生变化，依次发生偏置设定值，使相对于光检测器的聚束透镜的位置变化。接着在各个位置，求出(最大值+最小值)/(最大值-最小值)。使用该值为零或最接近于零的值时的偏置设定值，使聚束透镜移动，就能够修正使透镜移动为零或最小。
这样，在不使用相位差跟踪错误信号，没有相位差调整电路的装置，以及具有单纯分割的光检测器的光拾取器，即使因光学零件的安装误差和垂直设置导致初期的透镜移动，发生光轴偏位，也能得到良好的跟踪信号和RF信号。
(第5实施形态)图17是表示本实施形态的跟踪控制装置和使用该跟踪控制装置的光盘装置的结构的框图。在光盘装置15中，与第1实施形态的光盘装置11相同的构成要素加上相同的参照符号。
光拾取器120具有激光等发光元件(图中未示出)，作为聚束装置的聚束透镜22，以及作为移动装置的调节器23，聚束透镜22将光束21聚束照射到作为信息载体的光盘110。
光拾取器120还具有包括在光盘的直径方向分割的检测部A和B的光检测器124，在光盘110的信息记录面用作为光检测装置的光检测器124检测反射的光束21’。光检测器124的检测部A和B的输出，被输入到减法电路230，生成从与在检测部A检测的光量相当的信号A，减去与在检测部B检测的光量相当的信号B的信号，即生成(A-B)的RF差信号。RF差信号通过低通滤波器(LPF)131，作为跟踪错误信号(以下称为TE)被输入到作为跟踪控制装置的数字信号处理器(DSP)550。
DSP550包括振幅检测部540、透镜位置特性测定部562、存储器163、最佳透镜位置求出部364、透镜位置设定部161、A//D转换器51、偏置调整部52、跟踪控制部53和D/A转换器54。
A/D转换器51将TE变换为数字信号。偏置调整部52在变换为数字信号的TE加上给定的偏置，输出到跟踪控制部53。跟踪控制部53对变换为数字信号的TE实施进行相位补偿和低通补偿的滤波运算，生成跟踪驱动值。生成的跟踪驱动值与透镜位置设定部161的输出相加，通过D/A转换器54再变换成模拟信号。D/A转换器54的输出变为跟踪驱动信号，被输出到驱动电路91。
驱动电路91对跟踪驱动信号进行电流放大，驱动内置于光拾取器120的作为移动装置的调节器23，进行跟踪控制。此时，DSP550的透镜位置设定部161在作为跟踪控制部53的输出的跟踪驱动值加上偏置，可以错开相对于聚束透镜22的光检测器124的位置。
另外，作为减法电路230的输出的RF差信号，被输入到作为第1地址振幅检测装置和第2地址振幅检测装置的振幅检测部540。振幅检测部540检测RF差信号在地址部的振幅。
图18是表示振幅检测部540的更具体的结构的框图。振幅检测部540具有HPF(高通滤波器)541、峰值检测电路542、底值检测电路543以及减法电路544。
被输入到振幅检测部540的RF差信号，通过HPF541，其直流成分被除去。除去直流成分的RF信号被并行输入峰值检测电路542和底值检测电路543。峰值检测电路542、底值检测电路543分别支持除去直流成分的RF信号的最大值和最小值，将该值输出到减法电路544。减法电路544求出最大值和最小值之差，将该值作为RF信号振幅，输出到作为透镜位置特性测定装置的透镜位置特性测定部582。
透镜位置特性测定部562，为了使透镜位置设定部161依次发生以给定的时间间隔和给定的距离间隔使聚束透镜22的位置移动的偏置，向透镜位置設置部161输出偏置设定值。给定的距离间隔不一定是等间隔。另外，求出相对于磁道位于内周侧的第1地址部A1和位于外周侧的第2地址部A2(图3)的RF信号振幅的差。然后，将偏置设定償和此时的RF信号振幅之差输出到存储器163。存储器163依次存储偏置设定值和RF信号振幅之差。透镜位置设定部161根据从透镜位置特性测定部562收到的偏置设定值，依次发生偏置，将偏置加到作为跟踪控制部53的输出的跟踪驱动值。
下面对作为透镜移动调整装置的最佳透镜位置求出部564进行详细说明，将RF信号振幅之差为零或最接近于零的值时的偏置設置值，作为提供最佳透镜位置的偏置设定值，输出到透镜位置设定部161。透镜位置设定部161根据提供最佳透镜位置的偏置设定值，生成偏置，加到跟踪驱动值。这样，就能够将透镜移动设定为零。
对图3所示构造的光盘110的地址部进行再生时，RF差信号变为图19(a)和(b)所示的波形。如图19(a)所示，在振幅检测部540输入没有透镜移动时的RF差信号后，第1地址部A1的RF信号振幅a1和第2地址部A2的RF信号振幅a2几乎相等。因此，2部分的RF信号振幅之差几乎为零。
另一方面，如图19(b)所示，输入了在内周侧发生透镜移动时的TE时，与第1地址部A1的RF信号振幅a1相比，第2地址部A2的RF信号振幅a2变大。因此，2部分的RF信号振幅之差(a1-a2)变为负值。
基于透镜位置特性测定部562设定的偏置设定值的透镜的位置和RF信号振幅之差的关系如图20所示。在图20中，横轴表示聚束透镜的位置，纵轴表示RF信号振幅之差。根据偏置设定值，透镜位置设定部161发生偏置，加到跟踪驱动值，因此横轴也相对表示透镜位置。在图20所示的特性中，RF信号振幅之差为零的点A，是没有透镜移动的最佳透镜位置。最佳透镜位置求出部564求出保存在存储器163的RF信号振幅之差为零或最接近于零的值，将此时的偏置设定值作为最佳透镜位置输出到透镜位置设定部161。透镜位置设定部161根据收到的偏置设定值，生成偏置，将偏置重叠到跟踪驱动值。从驱动电路91输出加上偏置的跟踪驱动信号，这样，透镜移动得到修正，地址部的RF差信号变为图4(a)所示的对称性好的波形。即可以获得良好的跟踪信号、RF信号，能够提供高可靠性的光盘装置。
如上所述，通过本发明，以对设在信息载体的第1地址和第2地址进行再生时获得的信号为基础，修正对于光检测器的聚束透镜的透镜移动。特别是在本实施形态中，利用了求出在光盘的直径方向分割检测的各信号的差信号在第1地址和第2地址的振幅值。第1地址和第2地址在内周侧和外周侧相对于信息磁道に大约错开1/2磁道配置，因此在振幅值之差为零或最接近于零的值时，透镜移动为零或较小的值的特点。
具体地说，为了使聚束透镜的位置发生变化，依次发生偏置设定值，使相对于光检测器的聚束透镜的位置变化。接着在各个位置，求出振幅值之差。使用该值为零或最接近于零的值时的偏置设定值，使聚束透镜移动，就能够修正使透镜移动为零或最小。
这样，在不使用相位差跟踪错误信号，没有相位差调整电路的装置，以及具有单纯分割的光检测器的光拾取器，即使因光学零件的安装误差和垂直设置导致初期的透镜移动，发生光轴偏位，也能得到良好的跟踪信号和RF信号。
(第6实施形态)图21是表示本实施形态的跟踪控制装置和使用该跟踪控制装置的光盘装置的结构的框图。在光盘装置16中，与第1实施形态的光盘装置11相同的构成要素加上相同的参照符号。
光拾取器120具有激光等发光元件(图中未示出)，作为聚束装置的聚束透镜22，以及作为移动装置的调节器23，聚束透镜22将光束21聚束照射到作为信息载体的光盘110。
光拾取器120还具有包括在光盘的直径方向分割的检测部A和B的光检测器124，在光盘110的信息记录面用作为光检测装置的光检测器124检测反射的光束21’。光检测器124的检测部A和B的输出，被输入到减法电路230，生成从与在检测部A检测的光量相当的信号A，减去与在检测部B检测的光量相当的信号B的信号，即生成(A-B)的RF差信号。RF差信号通过低通滤波器(LPF)131，作为跟踪错误信号(以下称为TE)被输入到作为跟踪控制装置的数字信号处理器(DSP)650。
DSP650包括偏置测定部540、透镜位置特性测定部662、存储器163、最佳透镜位置求出部664、透镜位置设定部161、A/D转换器51、偏置调整部52、跟踪控制部53和D/A转换器54。
A/D转换器51将TE变换为数字信号。偏置调整部52在变换为数字信号的TE加上给定的偏置，输出到跟踪控制部53。跟踪控制部53对变换为数字信号的TE实施进行相位补偿和低通补偿的滤波运算，生成跟踪驱动值。生成的跟踪驱动值与透镜位置设定部161的输出相加，通过D/A转换器54再变换成模拟信号。D/A转换器54的输出变为跟踪驱动信号，被输出到驱动电路91。
驱动电路91对跟踪驱动信号进行电流放大，驱动内置于光拾取器120的作为移动装置的调节器23，进行跟踪控制。此时，DSP650的透镜位置设定部161在作为跟踪控制部53的输出的跟踪驱动值加上偏置，可以错开相对于聚束透镜22的光检测器124的位置。
另外，通过A/D转换器51被变换为数字信号的TE，被输入到偏置测定部640。偏置判定部640求出TE的平均值(偏置)，将该值输出到透镜位置特性测定部662。平均值根据从透镜位置特性测定部662收到的信息被复位。即透镜位置特性测定部662指示偏置测定部640应该求平均值的给定的期间。或者可以规定偏置测定部640本身用于求TE平均值的给定期间。
透镜位置特性测定部662，为了使透镜位置设定部161依次发生以给定的时间间隔和给定的距离间隔使聚束透镜22的位置移动的偏置，向透镜位置設置部161输出偏置设定值。给定的距离间隔不一定是等间隔。另外，为了在其偏置设定值求出给定期间的TE的平均值，向偏置测定部640输出信号，从偏置测定部640接收在该偏置设定值的TE的平均值。规定偏置测定部640本身求TE平均值的给定期间时，也可在透镜位置特性测定部662收到TE的平均值时，发生新的偏置设定值。透镜位置特性测定部662将偏置设定值和此时的TE平均值输出到存储器183。存储器163依次存储偏置設直值和RF信号振幅之差。透镜位置设定部161根据从透镜位置特性测定部662收到的偏置没定值，依次发生偏置，将偏置加到作为跟踪控制部53的输出的跟踪驱动值。
光盘装置16对于光盘610的性质不同的区域A和区域B进行这一步骤。接着，对作为透镜移动調贅装置的最佳透镜位置求出部664进行详细说明，求出表示区域A的偏置设定值与TE平均值的关系的曲线，与表示区域B的偏置设定值与TE平均值的关系的曲线的交点，将该交点的偏置设定值作为提供最佳透镜位置的偏置设定值，输出到透镜位置设定部161。透镜位置设定部161根据提供最佳透镜位置的偏置设定值，生成偏置，加到跟踪驱动值。这样，就能够将透镜移动设定为零。
如图22所示，光盘610包括区域A和区域B。区域A由凹坑形成的磁道构成，区域B的磁道由凹凸形状的引导槽构成。在这2个区域，由于槽探度或磁道距不同，对于光束21的反射特性不同，TE调制率也不同。因此，发生的偏置和透镜位置的特性，即对于透镜位置的TE的偏置的灵敏度也不同。
一般来说，TE的偏置除透镜移动引起的偏置外，还重叠有因光检测器124和减法电路230等产生的电路上的偏置。分离这些偏置非常困难，因此从TE的偏置无法求出没有透镜移动的最佳透镜位置。但是，在具有不同特性的2个区域A，B，分别求出偏置设定值与TE的平均值的关系，表示2个关系的曲线交于1点。即使在该点对于区域A，B的透镜位置的TE的偏置的灵敏度不同，也不会发生透镜移动，因此偏置设定值和TE的偏置的组合是一致的。
图23表示在区域A和区域B的，基于透镜位置特性测定部662设定的偏置设定值的透镜位置和TE平均值(偏置)的关系。在图23中，横轴表示聚束透镜的位置，纵轴表示TE的平均值。根据偏置设定值，透镜位置设定部161发生偏置，加到跟踪驱动值，因此横轴也相对表示透镜位置。
在区域A和区域B的特性曲线的交点A，由于以上原因，没有发生透镜移动，仅含有光检测器124的检测差和电路上的偏置。因此，交点A的透镜位置是没有透镜移动的最佳透镜位置。最佳透镜位置求出部664执行所述的步骤。即根据存储于存储器163的数据，求出表示区域A的偏置设定值和TE平均值的关系的曲线，和表示区域B的偏置设定值和TE平均值的关系的曲线的交点，将该交点的偏置设定償作为作为提供最佳透镜位置的偏置设定值，输出到透镜位置设定部161。透镜位置设定部161根据收到的偏置设定值，生成偏置，将偏置重叠到跟踪驱动值。从驱动电路91输出加上偏置的跟踪驱动信号，这样，透镜移动得到修正，地址部的RF差信号变为图4(a)所示的对称性好的波形。即可以获得良好的跟踪信号、RF信号，能够提供高可靠性的光盘装置。
从以上说明可以看出，图23的点A的TE平均值表示透镜移动以外的原因引起的偏置。因此，将点A的TE平均值如箭头660所示输入到偏置调整部52，可以除去因透镜移动以外的原因引起的TE的偏置。这样，可以同时进行透镜移动的调整和TE偏置的调整。
如上所述，通过本发明，以对设在信息载体的，照射光束时的反射特性不同的第1和第2区域进行再生时获得的信号为基础，修正对于光检测器的聚束透镜的透镜移动。特别是在本实施形态中，利用了求出在光盘的直径方向分割检测的各信号的差信号在第1区域和第2区域的平均值。由于第1和第2区域的反射特性互不相同，虽然对于透镜移动的差信号的影响程度不同，但在透镜移动为零时，没有对于透镜移动的差信号的影响，第1区域和第2区域的差信号的平均值一致的特性。
具体地说，为了使聚束透镜的位置发生变化，依次发生偏置设定值，使相对于光检测器的聚束透镜的位置变化。接着在各个位置，求出在光盘的直径方向分割检测的各信号的差信号在第1区域和第2区域的平均值。对于第1区域和第2区域求出偏置设定值和此时的差信号的平均值的关系，使用提供交点的偏置设定值，使聚束透镜移动，就能够修正使透镜移动为零或最小。
这样，在不使用相位差跟踪错误信号，没有相位差调整电路的装置，以及具有单纯分割的光检测器的光拾取器，即使因光学零件的安装误差和垂直设置导致初期的透镜移动，发生光轴偏位，也能得到良好的跟踪信号和RF信号。
此外，在所述各实施形态中，在求出设定最佳透镜位置之前，有时会因透镜移动而在TE发生偏置，导致跟踪控制变得不稳定。因此，在为求出最佳透镜位置进行的透镜位置特性的测定中，有时要跟踪控制会偏离。此时，在求出最佳透镜位置前，通过偏置调整部52除去TE的偏置，在透镜位置特性的测定中可以实施稳定的跟踪控制，构成高可靠性的跟踪装置。
另外，在求出设定最佳透镜位置后，有时会因为调整透镜位置，导致TE的偏置变化，跟踪控制变得不稳定。此时，在求出设定最佳透镜位置后，通过偏置调整部52除去因最佳透镜位置的设定引起透镜位置变化发生的TE的偏置，就能实现稳定的跟踪控制，构成高可靠性的跟踪装置。
这样，如果在求出设定最佳透镜位置前除去跟踪错误信号的偏置，则不会受到跟踪错误信号的偏置带来的磁道位置偏离的影响，可以对透镜移动进行修正。另外，如果在求出设定最佳透镜位置后除去跟踪控制的偏置，则可以除去包括因透镜移动发生的偏置在内的跟踪错误信号的偏置。这样，就可以实现对透镜移动和磁道的位置偏差进行修正的高精度的跟踪控制。关于在求出最佳透镜位置之前去除跟踪错误信号的偏置，还是在求出最佳透镜位置后去除跟踪错误信号的偏置，或者在求出最佳透镜位置前后去除跟踪错误信号的偏置，可根据跟踪装置要求的精度等来决定。
另外，在测定透镜位置特性时，随着透镜位置的变化会在TE发生偏置，导致跟踪控制目标偏离，因此有可能测定了受到磁道的位置偏差影响的透镜位置特性，最佳透镜位置的求出结果发生偏差。此时，为消除这种磁道的位置偏差的影响，预先测定由透镜位置的变化造成的TE的偏置特性。然后，根据测定透镜位置特性时的透镜位置的变化，根据预先测定的TE的偏置特性进行TE的偏置调整。这样，在测定透镜位置特性时就能够消除TE的偏置造成的影响，提高最佳透镜位置的求出精度。
另外，分别设保存于存储器131的偏置设定值和此时の地址OK信号数等，透镜位置特性测定部求出的透镜位置检测信号为x和y，将它们的关系近似为函数y＝f(x)，可以提高最佳透镜位置的求出精度。决定近似函数的系数时，可以使用最小二乘法。如第3、第4和第5实施形态所述，偏置设定值和此时的透镜位置特性测定部求出的透镜位置检测信号有线性关系时，求出2组以上偏置设定值和此时的透镜位置检测信号，将它们的关系用1次函数y＝ax+b近似。图24表示的是用1次函数近似它们关系的例子。在图24中，横轴是偏置设定值x，纵轴是透镜位置检测信号y。根据偏置设定值，透镜位置设定部161发生偏置，加到跟踪驱动值，因此横轴也相对表示透镜位置。根据图24的A～E的测定点通过最小二乘法决定系数和b，求出近似的1次函数y＝ax+b。使用该近似函数后，透镜位置检测信号y等于0时的x为-b/a。因此，将该值作为偏置设定值后，可以抑制因透镜位置检测信号的测定误差造成的影响，提高最佳透镜位置的求出精度。
另外，如第1和第2实施形态所示，在透镜位置的特性求最大或最小时，最好，偏置设定值和此时的透镜位置检测信号的关系用2次函数y＝ax2+bx+c近似。图25表示的是用2次函数近似透镜位置的特性的例子。在图25中，横轴是偏置设定值x，纵轴是透镜位置检测信号y。根据偏置设定值，透镜位置设定部161发生偏置，加到跟踪驱动值，因此横轴也相对表示透镜位置。根据图25的A～E测定点通过最小二乘法决定系数a，b和c，求出近似的二次函数y＝ax2+bx+c。在该二次函数中，透镜位置检测信号y为最大时的x等于b/2a。因此，将该值作为偏置设定值，可以抑制因透镜位置检测信号的测定误差造成的影响，提高最佳透镜位置的求出精度。
特别是在使用该近似函数求出最佳透镜位置时，即使不求出透镜位置检测信号y等于零或最大时的偏置设定值x，也能够从近似函数推断出透镜位置检测信号y等于零或最大的偏置设定值x。因此，在透镜位置特性测定部，即使设定的偏置设定值的间隔小，也能够正确设定最佳透镜位置。另外，也可以减少用于求出的偏置设定值x的数值，能够缩短求出时间。
另外，在所述实施形态中，如果光盘的偏芯少，偏芯造成的透镜移动的影响少，则如图26所示，在表示偏置设定值和透镜位置检测信号的关系的透镜位置的特性中，有时在透镜位置检测信号最大(或最小)附近的变化变缓。此时变为最大(或最小)的范围是图26中A所示的范围。但是，在范围A的端部，偏置值变化微小，而透镜位置检测信号变化很大。即将范围A的端点A3或端点A4的偏置值选择为提供最佳透镜位置的值时，因透镜位置偏离造成的边缘变窄。
因此，在这种情况下，根据测定结果求出大致为最大的范围A，将范围A的中心选择为提供最佳透镜位置的偏置值，可以扩大透镜位置偏差的边缘，进行稳定的跟踪控制。
另外，在进行跟踪控制时，由于光盘偏芯，因此根据光盘的旋转相位，有时透镜移动状态会发生变化。此时，最佳透镜位置的求出结果依赖于测定透镜位置特性时的光盘的旋转相位。为防止这一点，最好在使光盘旋转1圈或其整数倍期间，测定透镜位置特性，使偏芯造成的影响平均化。或者在给定的旋转相位的范围测定透镜位置特性，根据旋转相位求出最佳透镜位置后设定。通过这种方法，即使有光盘偏芯导致的透镜移动，也能够进行稳定的跟踪控制。
另外，在对光盘的磁道的凹部和凸部的信息进行记录或再生时，为吸收因凹凸造成的透镜位置特性的变化，分别测定凸部的透镜位置特性和凹部的透镜位置特性，按照凹凸部设定最佳透镜位置，可以构成不受磁道的凹凸形状影响的跟踪控制装置。
另外，由于光盘的翻倒，根据径的位置有时倾斜状态会发生变化。光盘和光束的光轴发生倾斜时，光束的反射光相对于光检测器偏离，影响透镜移动的特性。在这种情况下，在光盘的内周和外周的位置对调整透镜移动的结果进行线性修正，根据直径的位置设定最佳透镜位置，可以不受倾斜变化的影响，进行稳定的跟踪控制。
一般来说，光盘装置将地址门脉冲部的比较器的规定电平设定得较低，即使在因光盘偏芯造成的透镜移动最大时的透镜位置也能够生成门脉冲，使得即使有因光盘偏芯等造成的透镜移动，也能够检测地址。但是，在第2和第3实施形态中，在地址门脉冲部的规定电平低时，即使无法检测因微小的透镜位置偏离所造成的微妙的波形变化，波形不正常，也能够生成地址门脉冲信号。如图27(a)所示，比较器的电平a，b低时，即使在RF差信号的地址部的波形变为非对称，由于超过比较器电平a，b，也生成了2个门脉冲信号。
因此，在第2和第3实施形态中，最好设定与检测地址的比较器电平不同的比较器电平，测定透镜位置特性。如图27(b)所示，在测定透镜位置特性时，提高比较器的电平a，b，使得在没有透镜位置的偏差时的RF差信号的波形可生成门脉冲。这样，就能够检测出因透镜位置的微小偏差造成的微妙的波形变化，提高最佳透镜位置的检测精度，进行高可靠性的跟踪控制。
在所述第5实施形态中，在检测地址部的RF差信号的振幅时，根据记录于地址部的地址信息，RF信号的振幅发生变化，有时会造成最佳透镜位置的检测误差。因此，光盘的地址部由地址信息和引入PLL用的规定模式的重复信号构成时，最好在规定模式的重复部分进行RF差信号的振幅测定，这样，可以提高最佳透镜位置的检测精度，进行高可靠性的跟踪控制。
另外，在所述第1至第6实施形态中未作特别图示，在第1至第6实施形态中说明的进行跟踪控制的步骤；可以使用电子部件等通过电路硬件实现，也可以通过微型计算机和光盘装置的主计算机运行。通过微型计算机和主机进行运行时，用于执行所述步骤的计算机可读取的程序(固件)存储在EEPROM和RAM等信息记录媒体等中。
发明效果根据本发明，在不使用相位差跟踪错误信号的、没有相位差调整电路的装置，以及具有单纯分割的光检测器的光拾取器中，即使发生由于光学零件的安装误差或伴随垂直设置的初期的对物透镜移动而导致的光轴偏位，也能得到良好的跟踪信号和RF信号。
权利要求
1.一种跟踪控制装置，为了对在内周侧和外周侧相对于信息磁道各错开大约1/2磁道而配置的、具有第1地址和第2地址的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置、检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头进行控制，其特征在于包括根据所述光检测装置的输出，获得记录在所述信息载体上的地址的地址引导装置；判定所述地址引导装置获得了第1地址的第1地址引导判定装置；判定所述地址引导装置获得了第2地址的第2地址引导判定装置；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，对所述第1地址引导判定装置和所述第2地址引导判定装置的判定结果为共同获得了地址的获得次数进行计数的透镜位置特性测定装置；求出所述获得次数的最大值，根据所述获得次数为最大值时的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的透镜移动调整装置。
2.一种跟踪控制装置，为了对在内周侧和外周侧相对于信息磁道各错开大约1/2磁道而配置的、具有第1地址和第2地址的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置、检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头进行控制，其特征在于包括生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的差信号生成装置；将所述差信号生成装置的输出与给定的第1电平进行比较，生成门脉冲的第1门脉冲生成装置；将所述差信号生成装置的输出与给定的第2电平进行比较，生成门脉冲的第2门脉冲生成装置；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，根据所述第1门脉冲生成装置生成的门脉冲数和所述第2门脉冲生成装置生成的门脉冲数求出计测数值的透镜位置特性测定装置；求出所述聚束装置的相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计测数值，根据与求出的计测数值相对应的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的透镜移动调整装置。
3.如权利要求2所述的跟踪控制装置，其特征在于所述计测数值是所述第1门脉冲生成装置生成的门脉冲数与所述第2门脉冲生成装置生成的门脉冲数之和，所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计测数值是其最大值。
4.如权利要求2所述的跟踪控制装置，其特征在于所述计测数值是所述第1门脉冲生成装置生成的门脉冲数与所述第2门脉冲生成装置生成的门脉冲数之差，所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计测数值为零或最接近于零的值。
5.一种跟踪控制装置，为了对在内周侧和外周侧相对于信息磁道各错开大约1/2磁道而配置的、具有第1地址和第2地址的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置、检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头进行控制，其特征在于包括生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的差信号生成装置；检测所述差信号生成装置的输出的最大值的峰值检测装置；检测所述差信号生成装置的输出的最小值的底值检测装置；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，根据所述峰值检测装置的检测值和所述底值检测装置的检测值求出计算值的透镜位置特性测定装置；求出所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计算值，根据与求出的计算值相对应的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的透镜移动调整装置。
6.如权利要求5所述的跟踪控制装置，其特征在于将所述峰值检测装置的检测值和所述底值检测装置的检测值分别表示为TEmax和TEmin时，所述计算值为(TEmax+TEmin)/(TEmax-TEmim)，所述聚束装置对于所述光检测装置的位置偏差为最小时的所述计算值为零或最接近于零的值。
7.一种跟踪控制装置，为了对在内周侧和外周侧相对于信息磁道各错开大约1/2磁道而配置的、具有第1地址和第2地址的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置、检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头进行控制，具特征在于包括生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的差信号生成装置；根据所述差信号生成装置的输出，检测所述第1地址部的振幅的第1地址振幅检测装置；根据所述差信号生成装置的输出，检测所述第2地址部的振幅的第2地址振幅检测装置；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，求出所述第1地址振幅检测装置的输出和所述第2地址振幅检测装置的输出的输出差的透镜位置特性测定装置；求出所述输出差为零或最接近于零的值，根据所述输出差为零或最接近于零的最大值时的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的透镜移动调整装置。
8.一种跟踪控制装置，为了对具有照射光束时的反射特性不同的第1和第2区域的信息载体进行光学记录和/或再生，具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置，对于从所述信息载体获得的所述光束的反射光进行分割检测的光检测装置，使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的控制光学头，其特征在于包括生成所述光検由装置分割检测的各检测信号的差信号的差信号生成装置；测定所述差信号在给定期间的平均值的偏置测定装置；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，对于所述信息载体的第1区域和第2区域求出所述聚束装置移动的各个位置的所述平均值的透镜位置特性测定装置；从在所述信息载体的第1区域获得的所述偏置设定值和所述平均值的关系以及在第2区域获得的所述偏置设定值和所述平均值的关系，求出所述聚束装置对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述半均值，根据与求出的平均值相对应的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的透镜移动调整装置。
9.如权利要求1至8中任意1项所述的跟踪控制装置，其特征在于所述透镜位置特性测定装置在使所述信息载体旋转1圈或其整数倍期间，获得所述获得次数、所述计测数值、所述计算值、所述输出差或所述平均值。
10.如权利要求1至8中任意1项所述的跟踪控制装置，其特征在于还具有根据所述光检测装置的输出来检测磁道偏差的跟踪错误信号生成装置；调整所述跟踪错误信号生成装置的偏置的偏置调整装置；通过所述偏置调整装置进行偏置调整后，使所述透镜位置特性测定装置动作。
11.如权利要求1至8中任意1项所述的跟踪控制装置，其特征在于还具有根据所述光检测装置的输出检测磁道偏差的跟踪错误信号生成装置；调整所述跟踪错误信号生成装置的偏置的偏置调整装置；通过所述偏置调整装置进行偏置调整前，使所述透镜位置特性测定装置动作。
12.如权利要求1至8中任意1项所述的跟踪控制装置，其特征在于还具有通过所述光检测装置的输出来检测磁道偏差的跟踪错误信号生成装置；调整所述跟踪错误信号生成装置的偏置的偏置调整装置；按照根据所述移动装置的所述聚束装置的移动量，使所述偏置调整装置动作。
13.如权利要求1至8中任意1项所述的跟踪控制装置，其特征在于所述信息载体包括由凸部和凹部形成的信息磁道，所述透镜位置特性测定装置分别对所述信息磁道的凸部和凹部进行测定，根据测定结果，所述透镜移动调整装置分别使所述聚束装置相对于所述凸部和凹部移动。
14.如权利要求1至8中任意1项所述的跟踪控制装置，其特征在于根据信息载体的位置，使所述透镜位置特性测定装置和透镜移动调整装置动作。
15.如权利要求1至8中任意1项所述的跟踪控制装置，其特征在于所述透镜移动调整装置包括根据所述获得次数、所述计测数值、所述计算值、所述输出差或所述平均值与所述偏置设定值的关系来决定近似函数的近似函数决定装置；根据所述近似函数，求出所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述偏置设定值。
16.如权利要求1至8中任意1项所述的跟踪控制装置，其特征在于所述透镜移动调整装置求出所述获得次数、所述计测数值、所述计算值、所述输出差或所述平均值大致为一定值的范围，使得与所述为一定值的范围的中心相对应的偏置设定值，为对于所述光检测装置的位置偏差为最小时的所述偏置设定值。
17.权利要求1至8中任意1项所述的跟踪控制装置，其特征在于所述透镜位置特性测定装置根据所述信息载体的旋转相位求出所述获得次数、所述计测数值、所述计算值、所述输出差或所述平均值。
18.如权利要求1至8中任意1项所述的跟踪控制装置，其特征在于所述透镜移动调整装置根据所述信息载体的旋转相位来决定所述偏置设定值。
19.如权利要求2至3中任意1项所述的跟踪控制装置，其特征在于所述第1门脉冲生成装置和所述第2门脉冲生成装置，使用与所述第1电平和第2电平不同的电平来检测地址。
20.如权利要求7所述的跟踪控制装置，其特征在于所述第1地址振幅检测装置和所述第2地址振幅检测装置，在所述信息载体的第1地址部和第2地址部，在振幅大致一定的给定部位进行振幅检测。
21.如权利要求8所述的跟踪控制装置，其特征在于所述透镜移动调整装置求出表示在所述情信息载体的第1区域获得的所述偏置設置值和所述平均值的关系的第1函数，以及表示在第2区域获得的所述偏置设定值和所述平均值的关系的第2函数，根据从所述第1函数和第2函数的交点能求出的偏置设定值，利用所述移动装置使所述聚束装置移动。
22.一种光盘装置，其特征在于包括具有将光束聚束后向信息载体照射的聚束装置、检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头；由权利要求1至21中任意1项规定的跟踪控制装置。
23.一种跟踪控制方法，为了对在内周侧和外周侧相对于信息磁道各错开大约1/2磁道而配置的、具有第1地址和第2地址的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置、检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头进行控制，其特征在于包括依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，根据所述光检测装置的输出，对获得记录于所述信息载体的所述第1地址和所述第2地址的获得次数进行计数的步骤；求出所述获得次数的最大值，根据所述获得次数为最大值时的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的步骤。
24.一种跟踪控制方法，为了对在内周侧和外周侧相对于信息磁道各错开大约1/2磁道而配置的、具有第1地址和第2地址的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置、分割检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头进行控制，其特征在于包括生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的步骤；将所述差信号同第1和第2电平进行比较，当所述差信号比所述第1和第2电平大时，生成第1和第2门脉冲的步骤；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，根据生成的所述第1和第2门脉冲数求出计测数值的步骤；求出所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计测数值，根据与求出的计测数值相对应的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的步骤。
25.如权利要求24所述的跟踪控制方法，其特征在于所述计测数值是所述第1和第2门脉冲数之和，所述移动步骤中的所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的计测数值是其最大值。
26.如权利要求24所述的跟踪控制方法，其特征在于所述计测数值是所述第1和第2门脉冲数之差，所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计测数值为零或最接近于零的值。
27.一种跟踪控制方法，为了对在内周侧和外周侧相对于信息磁道各错开大约1/2磁道而配置的、具有第1地址和第2地址的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置、分割检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头进行控制，其特征在于包括生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的步骤；检测所述差信号的最大值和最小值的步骤；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，根据所述最大值和最小值求出计算值的步骤；求出所述聚束装置相对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述计算值，根据与求出的计算值相对应的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的步骤。
28.如权利要求27所述的跟踪控制方法，其特征在于将所述最大值和最小值分别表示为TEmax和TEmin时，所述计算值为(TEmax+TEmin)/(TEmax-TEmin)，所述聚束装置对于所述光检测装置的位置偏差为最小时的所述计算值为零或最接近于零的值。
29.一种跟踪控制方法，为了对在内周侧和外周侧相对于信息磁道各错开大约1/2磁道而配置的、具有第1地址和第2地址的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照射的聚束装置、分割检测从所述信息载体获得的所述光束的反射光的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的光学头进行控制，其特征在于包括生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的步骤；检测所述差信号的所述第1地址部和第2地址部的振幅的步骤；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在所述聚束装置移动的各个位置上，求出所述差信号的第1地址部的振幅与第2地址部的振幅的振幅差的步骤；求出所述振幅差为零或最接近于零的值，根据所述振幅差为零或最接近于零的值时的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的步骤。
30.一种跟踪控制方法，为了对具有照射光束时的反射特性不同的第1和第2区域的信息载体进行光学记录和/或再生，对具有将光束聚束后向所述信息载体照设的聚束装置、对从所述信息载体获得的所述光束的反射光进行分割检测的光检测装置和使所述聚束装置在横穿信息磁道的方向移动的移动装置的控制光学头进行控制，其特征在于包括生成所述光检测装置分割检测的各检测信号的差信号的步骤；测定所述差信号在给定期间的平均值的步骤；依次生成用于通过所述移动装置使所述聚束装置的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，对于所述信息载体的第1区域和第2区域，求出所述聚束装置移动的各位置的所述平均值的步骤；根据在所述信息载体的第1区域获得的所述偏置设定值和所述平均值的关系，以及在第2区域获得的所述偏置设定值和所述平均值的关系，求出所述聚束装置对于所述光检测装置的位置偏差最小时的所述平均值，根据与求出的平均值相对应的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动的透镜移动的步骤。
31.如权利要求30所述的跟踪控制方法，其特征在于求出表示在所述信息载体的第1区域获得的所述偏置设定值与所述平均值的关系的第1函数以及表示在第2区域获得的所述偏置设定值和所述平均值的关系的第2函数，根据从所述第1函数和第2函数的交点能求出的偏置设定值，通过所述移动装置使所述聚束装置移动。
32.一种程序，其特征在于使计算机执行权利要求23至31中任意1项所述的跟踪控制方法所规定的各步骤。
33.一种计算机可读取的记录媒体，其特征在于记录有权利要求32规定的程序。
全文摘要
本发明公开了一种跟踪控制装置，具有信号处理部(140)、透镜位置特性测定部(162)和最佳透镜位置求出部(164)。信号处理部(140)获得光盘(110)的第1地址和第2地址。透镜位置特性测定部(162)依次生成通过调节器(23)使聚束装置(22)的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在聚束透镜(22)移动的各个位置上，对共同获得的第1地址和第2地址的次数进行计数。最佳透镜位置求出部(164)求出获得地址的次数的最大值，根据获得次数为最大值时的偏置设定值，通过调节器(23)使聚束透镜(22)移动。即使是不使用相位差跟踪错误信号、没有相位差调整电路的装置，或具有单纯分割的光检测器的光拾取器，也能使透镜移动为零。
文档编号G11B7/095GK1437189SQ0310435
公开日2003年8月20日 申请日期2003年2月8日 优先权日2002年2月5日
发明者渡边克也, 冈田雄, 初濑川明广 申请人:松下电器产业株式会社