专利名称：修复分析装置和方法
技术领域：
本发明的示例性实施例涉及半导体存储器件，更具体而言涉及利用与存储器件中所检测到的故障单元相关的信息来计算修复方案的修复分析装置和方法。
背景技术：
在半导体存储器工业的早期，在半导体制造过程中可以生产出这样的晶片其具有大量的没有缺陷单元的原本即为良品的半导体裸片。然而，随着存储容量的增加，已难以制造出没有任何故障单元的存储芯片。因此，提出了一种用备用存储器单元(即，冗余存储器单元)来替换故障存储器单元的方法。为了用冗余存储器单元来替换故障存储器单元，使用外部设备来计算替换路径。 而最近这种修复电路已被安装在存储芯片中。存储器自修复电路要考虑的三个主要参数可以是面积开销、修复率以及修复电路的分析速度。面积开销是与半导体芯片制造成本直接相关的参数。修复率是与半导体芯片的成品率相关的重要参数。修复电路的分析速度也可以被视为是与半导体芯片制造成本直接相关的参数，因为它与测试时间成比例。在现有技术1 (T. Kawagoe, J. Ohtani, M. Niiro, T. Ooishi, M. HamadaJP H. Hidaka, "A built-in self repair analyzer (CRESTA) for embeddedDRAMs，，in Proc. Int. Test Conf.，pp. 567-574，Oct. 2000)中公开了一种内建自修复分析器(CRESTA)。现有技术1的 CRESTA是一种比较广为人知的冗余分析操作电路。在现有的冗余分析操作电路之中，现有技术1的CRESTA具有最高的修复率(如果存在修复方案的话，修复率为100% )和最高的冗余分析操作速度。对于给定的冗余电路可用的冗余序列，使用辅助操作电路来实现所有的情况，并且由此可以同时地对所有的情况执行分析操作。因此，可以优化修复率和分析操作速度。然而，现有技术1的CRESTA要分别针对所有的情况建立单独的辅助操作电路。因此，如果冗余序列的情况的数量由于冗余单元的数量增加而增加，则现有技术1的CRESTA 使面积开销成指数增加。现有技术2 (P. Ohler, S. Hellebrand 禾口 H.-J. Wunderl ich，"An IntegratedBuilt-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy"inProc. European Test Symposium(ETS) ,pp. 91-96,May 2007)中公开了一禾中 “智能解决优先(intelligence solve first)”方法。现有技术2的“智能解决优先”方法是基于分支限界算法(branch-and-bounce algorithm)的一种较为近期的方法。现有技术 2的“智能解决优先”方法将必须修复线(must-impair line)排除在二叉树结构之外，由此保证了相对较低的面积开销和最优的修复率。然而，如果故障(即单元)的数量增加或者故障的分布变得复杂，则现有技术2的“智能解决优先”方法会过分地增加冗余分析操作时间。此外，现有技术2的“智能解决优先”方法不能保证最优的修复方案。在现有技术3 中(C. -T. Huang, C. -F. ffu, J. -F. Li 禾口 C.—W.Wu， "Built-inRedundancy Analysis for Memory Yield Improvement，，，IEEE Trans. Reliability,vol. 52,pp. 386-399,Dec. 2003)公开了一种必要备用主元(essential spare pivot,ESP)方法。为了减少面积开销，现有技术3中的ESP方法仅仅储存核心故障地址而不是故障位图。在测试过程期间执行故障地址收集过程，因而提高了自修复电路的分析速度。然而，用于储存故障地址的寄存器的容量不足，因而不能准确地复制故障现象。因此， 所述ESP方法不能保证最优的修复方案和分析结果。
发明内容
本发明的示例性实施例旨在减小通过分析与故障单元相关的信息来计算修复方案的修复分析装置的面积，并且提高所述修复分析装置的分析速度。根据本发明的一个示例性的实施例，一种修复分析装置包括选择单元，所述选择单元被配置为响应于控制码来选择多个备用主元故障单元的行地址中的一部分、以及所述备用主元故障单元的列地址中的一部分；以及分析单元，所述分析单元被配置为产生分析信号，所述分析信号指示多个非备用主元故障单元的行地址是否包括在选中的行地址中、 以及所述非备用主元故障单元的列地址是否包括在选中的列地址中。根据本发明的另一个示例性的实施例，一种修复分析方法包括以下步骤响应于控制码来选择多个备用主元故障单元的行地址中的一部分、以及所述备用主元故障单元的列地址中的一部分；以及确定多个非备用主元故障单元的行地址是否包括在选中的行地址中、以及所述非备用主元故障单元的列地址是否包括在选中的列地址中。
图1表示包括8个行和8个列的存储器件中的故障单元。图2表示根据本发明的一个示例性实施例的故障信息储存装置。图3是说明根据本发明的一个示例性实施例，将故障信息储存在图2的故障信息储存装置中的方法的流程图。图4表示在包括8个行和8个列并且包括2个冗余行(Rs)和2个冗余列(Cs)的存储器件中检测到的故障单元，以及检测所述故障单元的顺序。图5表示根据本发明的一个示例性实施例将与以图4中的顺序检测到的故障单元相关的信息储存到故障信息储存装置中的过程。图6表示根据本发明的一个示例性实施例的修复分析装置。图7表示根据本发明的另一个示例性实施例的修复分析装置。图8表示在存储器中检测到的故障单元的一个图样和检测故障单元的顺序(a)、 储存与故障单元相关的信息的故障信息储存装置(b)、以及修复分析装置的分析结果(C)。图9表示在存储器中检测到的故障单元的另一个图样和检测故障单元的顺序 (a)、储存与故障单元相关的信息的故障信息储存装置(b)、以及修复分析装置的分析结果
(C)。
具体实施例方式下面将参照附图更加详细地描述本发明的示例性实施例。然而，本发明可以用不同的方式来实施，并且不应当被理解为限于本文所提出的实施例。确切地说，提供这些实施例是为了使得本说明书将是清楚且完整的，且将会向本领域技术人员充分传达本发明的范围。在整个说明书中，在本发明的各个附图和实施例中相同的附图标记表示相同的部件。首先描述修复率和故障分类方法以便更好地理解本发明。A.修复率修复率由方程1定义如下。
^oc1 样瞀盘已修复的芯片数量+1 [。_ ^=可修复的芯片数量最优的修复率为100%。如果能够为可修复的故障找到一种或更多种解决方案，则修复率为100%。在上述的修复率方程中，分母是可修复的芯片数量。因此，无法为故障不可修复的情况(例如，故障单元的数量超过冗余存储器单元的数量的情况)找到方案并不会影响修复率。为了提高修复率，故障信息储存装置要储存与修复操作相关的完整的信息。图1图示包括8个行和8个列的存储装置中的故障单元。下面参照图1来描述故障的分类。附图标记Rs表示冗余行的数量，附图标记Cs表示冗余列的数量。在下文中，假设 Rs = 2 且 Cs = 2。B.故障的分类(1)单个故障单个故障是指在故障单元所在的列和行不存在其它故障单元的情况下的故障。参见图1，位于行O列5的故障单元A被分类为单个故障。可以通过用一个冗余行或一个冗余列替换单个故障来修复单个故障。例如，可以通过用冗余行替换行#0或者用冗余列替换列#5来修复图1的故障单元Α。(2)稀疏(sparse)故障线当任何单个的行存在k(l < k ^ Cs)个故障时，其被称为行线故障。此外，当任何单个的列存在k(l < k ^ Rs)个故障时，其被称为列线故障。因此，图1的故障单元B被分类为行线故障。可以通过用一个冗余行或k个冗余列进行替换来修复行线故障。此外，可以通过用一个冗余列或k个冗余行进行替换来修复列线故障。例如，可以通过用冗余行替换行#2 或者用两个冗余列替换列#0和列#2来修复图1的故障单元B。(3)必须修复(must-impair)故障线当任何单个的行存在k(k > Cs)个故障时，其被称为行必须修复故障(或必须修复故障行线)。此外，当任何单个的列存在k(k > Rs)个故障时，其被称为列必须修复故障 (或必须修复故障列线)。因此，图1的故障单元C被分类为行必须修复故障。要通过用冗余行替换行必须修复故障来修复行必须修复故障。此外，要通过用冗余列替换列必须修复故障来修复列必须修复故障。例如，图1的故障单元C可以通过用冗余行替换行#5来修复。
图2图示根据本发明的一个示例性实施例的故障信息储存装置。参见图2，根据本发明的一个示例性实施例的故障信息储存装置包括多个父存储器(parent memory) ΡΜ_0 至 PM_X 和多个子存储器(childmemory) CM_0 至 CM_Y。父存储器 ΡΜ_0至PM_X中的每个储存一个故障单元的列地址和行地址，还储存关于是否有必要针对所述一个故障单元的修复实施行修复的信息，以及关于是否有必要针对所述一个故障单元的修复实施列修复的信息。所述多个子存储器CM_0至CM_Y中的每个储存这样的故障单元的列地址所述故障单元的行地址与储存在相应的父存储器中的行地址相同；或者储存这样的故障单元的行地址所述故障单元的列地址与储存在相应的父存储器中的列地址相同。父存储器ΡΜ_0至PM_X中的每个储存与这样的故障单元相关的信息在测试过程所检测到的故障单元之中，所述故障单元不与储存在另一个父存储器中的故障单元共用行地址和列地址。例如，如果当检测到行0列3处的故障单元时行0列3的地址未被储存在其它的父存储器中，则将所述故障单元的地址(行0列3)储存到父存储器中。此外，如果所储存的故障单元被分类为是必须修复的，则父存储器储存与所述必须修复的故障单元相关的信息。储存在父存储器ΡΜ_0至PM_X中的故障单元被定义为备用主元故障单元。下面参照图2描述储存在父存储器中的信息。父使能标志父使能标志指示储存在相应父存储器中的地址是否有效。如果父使能标志为“1”， 则储存在相应的父存储器中的地址有效；而如果父使能标志为“0”，则储存在相应的父存储器中的地址无效。父使能标志占据1比特的储存空间。行地址所述行地址是指储存在相应的父存储器中的故障单元的行地址。行地址的储存空间根据行地址的比特数量而变化。例如，如果行地址由10个比特组成，则要占据10比特的储存空间来储存所述行地址。在图2中，附图标记M表示所有行的数量。如果附图标记M 是1024，则行地址可以由10个比特(log21024)组成。列地址所述列地址是指储存在相应的父存储器中的故障单元的列地址。列地址的储存空间根据列地址的比特数量而变化。例如，如果列地址由10个比特组成，则要占据10比特的储存空间来储存列地址。在图2中，附图标记N表示所有列的数量。如果附图标记N是 512，则列地址可以由9个比特(log2512)组成。行必须标志行必须标志指示储存在相应的父存储器中的行地址的故障单元是否被分类为行必须修复故障。如果行必须标志为“1”，则它指示行必须修复故障；而如果行必须标志为 “0”，则它不是行必须修复故障。行必须标志占据1比特的储存空间。列必须标志列必须标志指示储存在相应父存储器中的列地址的故障单元是否被分类为列必须修复故障。如果列必须标志为“1”，则它指示列必须修复故障；而如果列必须标志为“0”， 则它不是列必须修复故障。列必须标志占据1比特的储存空间。父存储器ΡΜ_0至PM_X与总的冗余数量、即Rs+Cs —样多。可由所有的父存储器ΡΜ_0至PM_X所储存的故障的数量等于总的冗余数量。如果要储存在父存储器ΡΜ_0至PM_ X中的故障单元的数量大于Rs+Cs，则它被分类为故障不可修复的存储器。子存储器CM_0至CM_Y与父存储器ΡΜ_0至PM_X中的一个相对应。子存储器CM_0 至CM_Y与相应的父存储器ΡΜ_0至PM_X共用列地址或行地址。子存储器CM_0至CM_Y储存与这样的故障单元相关的信息在测试过程所检测到的故障单元之中，所述故障单元具有已储存在相应的父存储器ΡΜ_0至PM_X中的列地址或行地址。如果检测到的故障单元的行地址已经被储存在父存储器的任何一个(A)中，则与所述检测到的故障单元相关的信息被储存到与父存储器A相对应的子存储器中。此外，如果检测到的故障单元的列地址已经被储存在父存储器的任何一个(B)中，则与所述检测到的故障单元相关的信息被储存到与父存储器B相对应的子存储器中。例如，如果行地址0和列地址3已经被储存在父存储器 PM_1中，则当检测到行0列2处的故障单元时，所述故障单元的列地址(列地址2)被储存到与父存储器PM_1相对应的子存储器中。储存在子存储器CM_0至CM_Y中的故障单元被定义为非备用主元故障单元。下面参照图2描述储存在子存储器中的信息。子使能标志子使能标志指示储存在相应的子存储器中的地址是否有效。如果子使能标志为 “1”，则储存在相应子存储器中的地址有效；而如果子使能标志为“0”，则储存在相应子存储器中的地址无效。子使能标志占据1比特的储存空间。行地址或列地址所述行地址或列地址是指储存在相应的子存储器中的故障单元的行地址或列地址。子存储器储存故障单元的行地址或列地址。地址的储存空间是由行地址的比特数量和列地址的比特数量中较大的一个来确定的。例如，如果行地址是9个比特而列地址是10个比特，则用于储存地址的储存空间在子存储器中占据10个比特。地址信息(子地址描述符)地址信息指示储存在相应的子存储器中的地址是行地址还是列地址。如果地址信息为“0”，则储存在相应的子存储器中的地址是行地址；而如果地址信息为“1”，则储存在相应的子存储器中的地址是列地址。地址信息占据1比特的储存空间。指针信息(父CAM 指针(parent CAM pointer))指针信息表示与子存储器相对应的父存储器。例如，如果指针信息是“4”，则它指示子存储器与父存储器PM_4相对应。指针信息的比特数量是根据父存储器的数量(= Rs+Cs)来确定的。具体地，指针信息的比特数量是10 (Rs+Cs)。子存储器的数量是{Rs (Cs-I) +Cs (Rs-I)}。父存储器的数量与子存储器的数量之和是2XRsXCs。这与为了找到可经由给定的冗余电路来修复的存储器的最优修复方案所要储存的故障地址的最大数量相等。根据本发明的故障信息储存装置根据故障的特征来对与故障单元相关的信息进行分类。储存在父存储器和相应的子存储器中的故障单元与线故障相对应。储存在父存储器中而没有储存在相应的子存储器中的故障单元与单个故障相对应。此外，被储存在储存有激活的必须标志的父存储器中的故障单元与必须修复故障相对应。图3是说明根据本发明的一个示例性实施例的将故障信息储存到图2的故障信息储存装置中的方法。参见图3，当检测到故障单元时，确定检测到的故障单元是否属于被分类为必须修复的行地址或被分类为必须修复的列地址(S310)。如果确定检测到的故障单元是属于必须修复的，则可以忽略与所述检测到的故障单元相关的信息，因为将不再需要它。即，不储存与位于被分类为必须修复的行地址或列地址处的故障单元相关的信息。另一方面，当检测到的故障单元被确定为不属于必须修复的时，则确定与检测到的故障单元的列地址或行地址相同的地址是否已经被储存在父存储器中(S320)。如果检测到的故障单元的列地址和行地址未被储存在父存储器中，则将检测到的故障单元的列地址和行地址写入父存储器中(S330)。如果检测到的故障单元的列地址和行地址之一已经被储存在父存储器中，则确定要被分类为新的必须修复故障的故障是否是由检测到的故障单元产生的(S340)。如果要被分类为新的行必须修复故障或新的列必须修复故障的故障是由检测到的故障单元产生的， 则将与检测到的故障单元相对应的父存储器(即，储存了与检测到的故障单元相同的行地址或列地址的父存储器)的必须修复标志激活(S360)。这里，如果被分类为新的必须修复故障的故障是列必须修复故障，则将列必须修复标志激活；而如果被分类为新的必须修复故障的故障是行必须修复故障，则将行必须修复标志激活。如果没有产生被分类为新的必须修复故障的故障，则将检测到的故障单元的列地址或行地址储存到子存储器中(S350)。S卩，根据本发明，如果检测到故障单元，则忽略所检测到的故障单元(S310)、将检测到的故障单元的列地址和行地址储存到父存储器中(S330)、利用检测到的故障单元将父存储器的必须修复标志激活(S360)、或者将检测到的故障单元的列地址或行地址储存到子存储器中(S350)。每当检测故障单元时，可以重复图3的过程。图4表示在包括8个行和8个列且包括2个冗余行(Rs)和2个冗余列(Cs)的存储器件中检测到的故障单元，以及检测所述故障单元的顺序。图5表示根据本发明的一个示例性实施例将与以图4的顺序检测到的故障单元相关的信息储存到故障信息储存装置中的过程。下面参照图4和图5来详细描述根据本发明的一个示例性实施例将与故障单元相关的信息储存到故障信息储存装置中的过程。在图5中，重复计数值指示先前在当前所检测到的故障单元的行地址处检测到的故障单元的数量，以及先前在当前检测到的故障单元的列地址处检测到的故障单元的数量。使用重复计数值来确定要将与当前所检测到的故障单元相关的信息储存在哪里。然而， 并不将重复计数值储存到故障信息储存装置中。参见图5的过程(a)，故障单元#1是首先检测到的故障单元。将故障单元#1的列地址(0)和行地址(5)与储存在父存储器ΡΜ_0至PM_3中的列地址和行地址相比较。然而， 由于当检测故障单元#1时所述列地址和行地址都未被写入在父存储器ΡΜ_0至PM_3中，因此将故障单元#1的列地址(0)和行地址(5)写入父存储器ΡΜ_0中。从图5的过程(a)可以看出，将父存储器ΡΜ_0的父使能标志写入为“1”，将行地址ADDR R写入为“5”，且将列地址ADDR C写入为“0”。参见图5的过程(b)，当检测到故障单元#2时，将故障单元#2的列地址(3)和行
9地址(5)与储存在父存储器ΡΜ_0至PM_3中的列地址和行地址相比较。由于故障单元#2 的行地址(5)与写入在父存储器ΡΜ_0中的行地址( 相同，因此将故障单元#2的列地址 (3)写入子存储器CM_0中。将子存储器CM_0的子使能标志写入为“1”，将地址ADDR写入为“3”，且将地址信息ADD DES写入为“1”以指示写入的地址是列地址。此外，将指针信息 POINTER写入为“0”以指示子存储器CM_0与父存储器ΡΜ_0相对应。参见图5的过程(c)，故障单元#3的列地址( 和行地址(6)与先前被写入在父存储器ΡΜ_0至PM_3中的地址不同，并且故障单元#4的列地址(3)和行地址(0)与先前被写入在父存储器ΡΜ_0至PM_3中的地址不同。因此，将故障单元#3的列地址(5)和行地址 (6)写入父存储器PM_1中，将故障单元#4的列地址( 和行地址(0)储存在父存储器PM_2 中。参见图5的过程(d)，故障单元#5的列地址(0)与先前被写入在父存储器ΡΜ_0中的列地址(0)相同。因此，将故障单元#5的行地址(2)储存到子存储器CM_1中。将子存储器CM_1的子使能标志ENABLE写入为“ 1 ”，将地址ADDR写入为“2”，且将地址信息ADD DES 写入为“0”以指示所写入的地址是行地址。此外，将指针信息POINTER写入为“0”以指示子存储器CM_1与父存储器ΡΜ_0相对应。由于故障单元#6的列地址(2)和行地址(2)与写入在父存储器ΡΜ_0至PM_3中的地址不相同，因此将故障单元#6写入父存储器PM_3中。参见图5的过程(e)，故障单元#7的行地址(5)与写入在父存储器ΡΜ_0中的行地址( 相同。这里，可以看出重复计数值为0，0)，它指示先前在故障单元#7的行地址 (5)处检测到的故障单元的数量是2。在行地址( 处发生的故障单元的数量(如果包括故障单元#7的话)变为3，这超出了冗余列的数量(Cs = 2)。于是，共用行地址(5)的所有的故障单元#1、#2、#7被分类为行必须修复故障。因此，父存储器ΡΜ_0的行必须修复标志MUSTR被激活为“1”。此外，由于不再需要储存与在行地址(5)处发生的故障单元#2相关的信息，因此子存储器CM_0的子使能标志ENABLE被去激活为“0”。参见图5的过程(f)，故障单元#8的列地址(5)与写入在父存储器PM_1中的列地址(5)相同。因此，子存储器CM_0的子使能标志ENABLE被写入为“ 1 ”，地址信息ADD DES 被写入为“0”以指示写入的地址是行地址，且指针信息POINTER被写入为“1”以指示子存储器与父存储器PM_1相对应。通过图5的过程(a)至⑴，用于修复故障单元的完整信息被储存到故障信息储存装置中。根据储存在故障信息储存装置中的信息，可以检测行必须修复的地址和列必须修复的地址，并且可以检测具有除必须修复故障之外的其它故障的故障单元的位置。S卩，产生了不需要分析的必须修复故障的地址。此外，由于可以检测到需要分析的具有单个故障和线故障的所有故障单元的位置，因此可以分析所检测到的故障单元的位置以确定如何修复单个故障和线故障。因此，本发明可以利用储存在故障信息储存装置中的信息来实现100%的修复率。在下文中，将描述利用与故障单元相关的信息来计算修复方案的方法。当完成与故障单元相关的信息的收集时，备用主元故障单元的行地址和列地址被储存在父存储器ΡΜ_0至PM_X中，而非备用主元故障单元的行地址和列地址之一被储存在子存储器CM_0至CM_Y中。此外，可以参照储存在子存储器和相应父存储器中的信息来检测非备用主元故障单元的行地址和列地址这二者。需要与备用主元故障单元的数量一样多的冗余线来修复存储器件中的所有备用主元故障单元。备用主元故障单元中的每个可以通过用冗余行线替换相应的故障单元的行线、或通过用冗余列线替换相应的故障单元的列线来修复。备用主元故障单元的数量等于父存储器的数量(Rs+Cs)。此外，假设储存在所有的父存储器中的信息都有效，则可能的修复候选方案的数量等于(Rs+Cs) ！ / (Rs ！ ) X (Cs ！)。如果存储器件是可修复的，则所述修复候选方案中的至少一个会覆盖所有的非备用主元故障单元。可以通过在储存的行地址中选择与冗余行的数量一样多的行地址并通过在储存的列地址中选择与冗余列的数量一样多的列地址来产生所述修复候选方案。假设= 1,2, ...,Rs)是从储存在父存储器中的备用主元故障单元的行地址中选中的行地址，且PE&是储存I^xi的父存储器的父使能标志值。同样地JgSPyjG =1,2, ...,Cs)是从储存在父存储器中的备用主元故障单元的列地址中选中的列地址， 且PEyj是储存Pyj的父存储器的父使能标志值。此外，假设Cxk、Cyk, CEk (k = 1,2,..., (Rs (Cs-I)+Cs (Rs-I))分别是储存在子存储器中的非备用主元故障单元的行地址、列地址和子使能标志。于是，修复候选方案的分析结果可以由布尔运算来表达。Row_Coverk指示Pxi中是否包括第k子存储器的行地址。Row_Covei~k由方程2表达如下。
权利要求
1.一种修复分析装置，包括选择单元，所述选择单元被配置为响应于控制码来选择多个备用主元故障单元的行地址中的一部分、以及所述备用主元故障单元的列地址中的一部分；以及分析单元，所述分析单元被配置为产生分析信号，所述分析信号指示多个非备用主元故障单元的行地址是否包括在选中的行地址中、以及所述非备用主元故障单元的列地址是否包括在选中的列地址中。
2.如权利要求1所述的装置，还包括有效性检查单元，所述有效性检查单元被配置为产生有效信号，所述有效信号指示必须行地址和必须列地址是否分别包括在所述选中的行地址以及所述选中的列地址中。
3.如权利要求2所述的装置，还包括冗余检查单元，所述冗余检查单元被配置为产生冗余信号，所述冗余信号指示非备用主元故障单元的与所述选中的行地址不同的行地址的数量和非备用主元故障单元的与所述选中的列地址不同的列地址的数量之和是否小于或等于剩余的冗余线的数量。
4.如权利要求3所述的装置，其中，所述剩余的冗余线的数量等于从行冗余线和列冗余线的总数量中减去所述备用主元故障单元的数量所获得的值。
5.如权利要求3所述的装置，还包括结果信号发生单元，所述结果信号发生单元被配置为响应于所述分析信号、所述有效信号和所述冗余信号来产生结果信号，其中所述结果信号指示是否响应于所述控制码而产生了正确的修复方案。
6.如权利要求5所述的装置，其中，如果产生了正确的修复方案，则使用行冗余线和列冗余线来替换所述选中的行地址的行线和所述选中的列地址的列线，以修复所述备用主元故障单元和所述非备用主元故障单元。
7.如权利要求5所述的装置，其中，如果所述分析信号和所述冗余信号中的至少一个被激活且所述有效信号被激活，则所述结果信号发生单元将指示产生了正确的修复方案的所述结果信号激活。
8.如权利要求7所述的装置，其中，当所述非备用主元故障单元中的每个的行地址或列地址与所述选中的行地址中的至少一个或所述选中的列地址中的至少一个相同时，所述分析单元将所述分析信号激活。
9.如权利要求1所述的装置，其中，所述控制码的比特的数量等于行冗余线和列冗余线的总数量。
10.如权利要求9所述的装置，其中，所述控制码的比特中被激活的比特的数量等于所述行冗余线的数量，而所述控制码的比特中被去激活的比特的数量等于所述列冗余线的数量。
11.如权利要求1所述的装置，其中，所述备用主元故障单元的行地址彼此不同，所述备用主元故障单元的列地址彼此不同；并且所述非备用主元故障单元中的每个具有与所述备用主元故障单元中的至少一个相同的行地址或列地址。
12.一种修复分析方法，包括以下步骤响应于控制码来选择多个备用主元故障单元的行地址中的一部分、以及所述备用主元故障单元的列地址中的一部分；以及确定多个非备用主元故障单元的行地址是否包括在选中的行地址中、以及所述非备用主元故障单元的列地址是否包括在选中的列地址中。
13.如权利要求12所述的方法，还包括以下步骤检查必须行地址和必须列地址是否包括在所述选中的行地址和所述选中的列地址中。
14.如权利要求13所述的方法，还包括以下步骤检查非备用主元故障单元的与所述选中的行地址不同的行地址的数量和非备用主元故障单元的与所述选中的列地址不同的列地址的数量之和是否小于或等于剩余的冗余线的数量。
15.如权利要求14所述的方法，其中，使用所述确定操作、所述检查操作和所述检查操作的结果来确定是否响应于所述控制码而产生了正确的修复方案。
16.如权利要求14所述的方法，其中，所述剩余的冗余线的数量等于从行冗余线和列冗余线的总数量中减去所述备用主元故障单元的数量所获得的值。
17.如权利要求12所述的方法，其中，所述备用主元故障单元的行地址彼此不同， 所述备用主元故障单元的列地址彼此不同；并且所述非备用主元故障单元中的每个具有与所述备用主元故障单元中的至少一个相同的行地址或列地址。
全文摘要
本发明公开了一种修复分析装置，所述修复分析装置包括选择单元和分析单元。选择单元被配置为响应于控制码来选择多个备用主元故障单元的行地址中的一部分、以及所述备用主元故障单元的列地址中的一部分。分析单元被配置为产生分析信号，所述分析信号指示多个非备用主元故障单元的行地址是否包括在选中的行地址中、以及所述非备用主元故障单元的列地址是否包括在选中的列地址中。
文档编号G11C29/44GK102479554SQ20111005868
公开日2012年5月30日 申请日期2011年3月11日 优先权日2010年11月23日
发明者姜成昊, 姜日权, 李周桓, 李庆燮, 李康七, 赵贞镐, 郑宇植 申请人:海力士半导体有限公司