技术总结
一种存储系统包括：半导体存储器件，包括存储单元和内部随机存取存储器(RAM)；以及控制器，适用于在用于存储单元的读取操作失败时，将读取重试表信息传输至半导体存储器件，其中，在存储系统的操作期间，内部RAM储存读取重试表，以及其中，半导体存储器件用读取重试电压来执行读取重试操作，基于读取重试表和读取重试表信息来确定所述读取重试电压。
技术研发人员：崔吉福;朴石光;朴玟相
受保护的技术使用者：爱思开海力士有限公司
文档号码：201510844813
技术研发日：2015.11.26
技术公布日：2016.12.21