专利名称：记录媒体及其再生装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及能够进行数据的记录及其再生的磁光记录媒体(以下简单地称为「盘」)及其再生装置。
背景技术：
在微型盘中，刻入对应于用地址信息把用于旋转的作为同步信号的载波进行FM调制了的信号的波形形状的纹，该纹用于旋转控制和地址信息的检测。而且，该信息的记录再生方法一般称为摆动法。
另外，在刻入了上述那样的纹，并且在纹与纹之间的纹间进行记录的盘中，也提出摆动法。
图84示出现有的盘再生装置的结构。
如图84所示，该盘再生装置为了读出地址信息，使用衍射光栅把从光拾取头(未图示)的激光光源发出的激光光束分为主光束和2个子光束，在纹的中心跟踪控制主光束时，根据来自主光束的推挽信号读出地址信息，在纹间的中心跟踪控制主光束时，根据来自子光速的推挽信号读出记录在纹中的地址信息。
现有的盘由于在纹和纹间中记录数据，故与仅在纹中记录数据的情况相比记录道的总长度为其2倍。然而，为了仅在纹中记录地址信息，需要用于把从光拾取头的激光光源发出的激光光束分为主光束和2个子光束共3个光束的衍射光栅等的光学部件。
在这样现有的所谓“3光束方式”中，存在着不能够有效地利用从激光光源发出的激光光束的功率这样的问题。
发明的公开本发明的目的在于提供不仅向纹而且向纹间进行数据的记录再生时，都能够用1个激光光束读取通过使纹两侧的侧壁摆动而记录了的地址信息的记录媒体以及其再生装置。
该目的通过提供如下的记录媒体而实现，该记录媒体具备包含至少一方的宽度发生变化的纹间以及第1纹的地址识别部分，包含对于1个数据具有对应于2个地址信息摆动的侧壁，具有一定宽度，并且与第1纹连接的第2纹的地址单元。
另外，本发明的目的通过提供再生装置而实现，这是再生上述记录媒体的再生装置，具备在上述记录媒体上照射光并检测反射光的检测电路，响应通过上述检测电路检测出来的反射光再生地址信息的地址信息再生电路，响应由上述检测电路检测出的来自地址识别部分的反射光再生地址识别信息的地址识别信息再生电路，响应由地址识别信息再生电路再生的1个地址识别信息，选择用地址信息再生电路再生了的2个地址信息中某1个的选择电路。
而且，该发明的主要优点在于由于在再生装置中减少所需的光学部件的数目的同时能够提高用于数据再生的照射在记录媒体上的激光光束的强度，因此能够使用具有比现有装置更简单构造的再生装置，实现更可靠的数据再生。
附图的简单说明
图1是示出本发明实施形态1的盘的构造的透视图。
图2A～2E示出图1所示的盘的格式。
图3示出图2所示的地址标记部分的盘的平面构造。
图4示出在图2所示的表示地址部分的平面构造的图中光束点扫描纹的情况。
图5示出在图2所示的表示地址部分的平面构造的图中光束点扫描纹间的情况。
图6是示出设置在实施形态1的盘的外周部的TOC区域的构造的透视图。
图7示出实施形态1的再生装置的结构。
图8A～8D示出从包含在图7所示的再生装置中的比较器输出的地址识别信号的波形。
图9是示出本发明实施形态2的盘的数据部分的构造的透视图。
图10示出地址部分以及数据部分中的摆动用的2值信号的一例。
图11和图12是示出本实施形态2的盘的构造的平面图。
图13A～13D示出本发明实施形态2的盘的格式。
图14A示出图13C中所示的地址部分在盘上的配置，图14B示出通过地址部分的再生得到的摆动信号，图14C示出地址信息的内容。
图15是示出本发明实施形态2的再生装置结构的框图。
图16A、16B示出使用图15所示的再生装置生成的同步信号。
图17，图18以及图19示出图15所示的再生装置的再生特性。
图20用于说明时标摆动的形成部分中的数据再生。
图21是示出时标摆动的构造的平面图。
图22是示出本发明实施形态3的盘的构造的平面图。
图23A～23D示出本实施形态3的盘的格式。
图24A示出图23C所示的地址部分在盘上的配置，图24B示出通过地址部分的再生得到的摆动信号，图24C示出地址的内容。
图25是示出本发明实施形态4的盘的构造的平面图。
图26是示出本发明实施形态5的盘的构造的平面图。
图27是示出本发明实施形态6的盘的构造的平面图。
图28是示出本发明实施形态7的盘的构造的平面图。
图29A～29D示出本实施形态7的盘的格式。
图30A～30C是用于说明本实施形态7的盘的再生的波形图。
图31是示出本发明实施形态8的盘的构造的平面图。
图32A～32C用于说明基于精确时钟标记的检测的偏置校正的原理。
图33示出本发明本实施形态8的再生装置的结构。
图34是示出本发明实施形态9的盘的构造的平面图。
图35是示出本发明实施形态10的盘的构造的平面图。
图36是示出本发明实施形态11的盘的构造的平面图。
图37是示出本发明实施形态12的盘的构造的透视图。
图38是示出本发明实施形态12的盘的构造的平面图。
图39是示出图37以及图38中所示的摆动的构造的平面图。
图40A～40D用于说明基于双相调制方式的地址信息的记录。
图41是示出本实施形态12的盘的地址部分的构造的平面图。
图42示出本实施形态12的盘的地址部分的格式。
图43是示出用于制造本实施形态12的盘的刻纹装置结构的框图。
图44是示出本实施形态12的再生装置结构的框图。
图45用于说明图44所示的再生装置中的摆动的检测。
图46A、46B是用于说明图45所示的摆动检测电路动作的波形图。
图47示出本实施形态12的盘的再生特性。
图48示出本发明实施形态13的摆动检测电路的结构。
图49是示出本发明实施形态14的刻纹装置的结构的框图。
图50A～50C是用于说明图49所示的刻纹装置动作的波形图。
图51是示出本发明实施形态15的刻纹装置的结构的框图。
图52是示出本发明实施形态16的盘的构造的平面图。
图53是示出本发明实施形态17的盘的构造的平面图。
图54是示出本发明实施形态18的盘的构造的平面图。
图55是示出本发明实施形态19的盘的构造的平面图。
图56是示出本发明实施形态20的盘的构造的平面图。
图57A～57D用于说明照射到盘上的激光的位置与所得到的数据再生信号的关系。
图58A～58F用于说明为了除去漏泄量(leak-inquantity)的跟踪控制方法。
图59是示出本发明实施形态21的再生装置结构的框图。
图60示出图59所示的跟踪校正电路的结构。
图61示出图59所示的跟踪校正电路的结构的其它例。
图62是示出本发明实施形态22的盘的构造的平面图。
图63示出本实施形态22的漏泄消除电路的结构。
图64A～64C是用于说明图63所示电路的动作的波形图。
图65示出本发明实施形态23的漏泄消除电路的结构。
图66用于说明图65所示电路的动作。
图67是示出本发明实施形态24的盘的构造的平面图。
图68示出本发明实施形态25的漏泄消除电路的结构。
图69A～69C是用于说明图68所示电路动作的波形图。
图70示出本实施形态25的漏泄消除电路的结构。
图71是用于说明图70所示电路动作的波形图。
图72A～72D是用于说明本发明实施形态26的漏泄消除方法原理的波形图。
图73是示出本发明实施形态27的盘的构造的平面图。
图74是示出本实施形态27的盘的构造的透视图。
图75是示出本实施形态27的盘的构造的平面图。
图76示出本实施形态27的数据记录再生装置的结构。
图77用于说明本实施形态27的盘的再生。
图78A～78D是用于说明图76所示的数据记录再生装置动作的时序图。
图79示出图76所示的同步信号生成电路的结构。
图80A～80C用于说明记录在本实施形态27的盘中的地址信息。
图81A、81B以及图82用于说明作为摆动记录的地址信息的检测。
图83示出图76所示的地址检测电路的结构。
图84示出现有的盘及其再生装置的结构。
用于实施发明的最佳形态以下，参照附图详细地叙述本发明的盘及其记录再生装置等。另外，图中相同的符号表示相同或者相当的部分。
实施形态1图1是示出本发明实施形态1的盘的构造的透视图。
如图1所示，在该盘的表面，从盘的内周向外周旋涡状地刻着槽(纹)3。这里，在盘的玻璃底盘上，在校对环规(master ring)工序中，通过对应于以频偏±50KHz用双相信号把1.1MHz的载波调制了的摆动信号进行削刻，形成纹3。
另外，载波的频率虽然由分配给盘总体的地址数决定，然而最好设定在200KHz～10MHz的范围。
设置在这样形成了纹3的两侧的侧壁上的摆动的振幅沿盘半径(跟踪)方向大约是30nm～50nm。另外，纹3的深度大致取为激光波长的1/6～1/12，使得减少来自记录在纹间4和纹3中的相邻的记录道的交调失真。
进而，纹间4和纹3的间距是0.55μm。这里，盘上的纹间或者纹的各个记录道由环形的60个区域构成，在其再生时，进行各区域的转速恒定的所谓CAV(Constant Average Velocity)控制。
从而，使得基于该控制的线速度在各区域中基本上成为恒定，盘在内周侧的区域中以大转速旋转，在外周侧的区域中以小转速旋转。
图2A～2E示出图1所示的盘的格式。如图2A所示，在1个记录道中包含Nf个帧，具体地讲，在内周部分的区域内盘旋转1次期间的记录道中包含42个帧，外周部分的区域内盘旋转1次期间的记录道中包含101个帧。而且，各个帧如图2B所示，包含26个段，其中只有位于起始的地址段上记录着地址信息。另外，数据记录在接续在地址段的25个数据段中，该数据段的部分中纹的侧壁不摆动。
另外，如图2C和图2D所示，在各个段的起始记录着精确时钟标记20，由此进行盘的旋转控制。该精确时钟标记的振幅与地址信息相同沿着盘半径方向取为大致30nm～50nm。另外，该精确时钟标记是能够生成数据读出用的时钟信号的信号，能够实现不具有时钟成分的数据的调制方式。
另外，如图2C所示，地址段中，连接在精确时钟标记20以后，顺序记录着预约信息(Rvd)，地址标记(AM)，报头(PA)，地址1，地址2，报头(PA)，读出/写入(R/W)试验信息。这里，地址1以及地址2分别示出记录在纹中的数据或者记录在纹间的数据的位置。而且，各个地址1、2中，如图2D所示，从起始开始顺序把记录着4比特同步图形(Sync),24比特的地址数据，6比特的预约信息(Rvd),14比特的检错码(CIC-Cyclic Redundancy Code)。
另外，根据盘的容量和地址的设定方法，这些比特数可变，连接在地址数据后面的部分例如还能够作为摆动记录数据的记录或者再生时的激光功率的条件设定以及代替地址标记功能的信息等的与盘有关的固有的信息。
进而，关于地址信息的编码方式也不限于双相码，也可以使用曼彻斯特码和NRZ、NRZI码等。
另外，如图2B所示，各帧中的数据由被分离在各区的25个数据段构成，然而并不限定于此，也可以是不被分离在各区内的数据。
另外，如图2D所示，各个数据段中，在精确时钟标记20之后包括前区、数据区、后区。
图3示出图2C所示的地址标记(AM)部分的盘的平面构造。如图3所示，通过形成奇数纹30和偶数纹3E并且使得它们的相位相反，记录地址标记。即，纹30形成为其宽度一定，中心以区间L0为基准，在区间L1中向下偏移0.1μm，在区间L2中向上偏移0.1μm。另一方面，纹3E形成为其宽度与纹30相同，中心以区间L0为基准，在区间L1中向上偏移0.1μm，在区间L2中向下偏移0.1μm。另外，通过形成这些纹3O、3E，被夹在纹3O和纹3E中的纹间4E的宽度在区间L1中为0.35μm，在区间L2中为0.75μm。另一方面，被夹在纹3E和纹3O之间的纹间4O的宽度在区间L1中为0.75μm，在区间L2中为0.35μm。这些地址标记是记录用于识别被记录在纹3O、3E以及纹间4E、4O中的如图2C所示的地址1、地址2中对应于当前正在记录或者正在再生的数据的某一方的地址的标记。
图4以及图5示出记录了图2C所示的地址1，地址2的盘的平面构造。如图4以及图5所示，纹3O、3E具有一定宽度的同时，还具有对应于地址信息1、m、n摆动的侧壁。另外，纹间4E、4O中，通过摆动纹3O、3E的两侧壁，记录地址信息(n)、(m)。
另外，图中“NG”表示不记录地址信息。
图6是示出盘的外周部分使用的TOC(Table Of Content)区域的构造的透视图。
如图6所示，在TOC区中，以在纹82侧壁使用的摆动83记录数据记录时的激光功率、数据再生时的激光功率的各个信息，同时以凹槽84在纹82或者纹间81的平坦部分上记录盘的旋转速度等其它的信息。在这里，设置在纹82的两侧壁的摆动83具有频率200KHz～10MHz的范围，TOC区的长度从盘的外周起是160μm左右。
通过照射激光光束再生这样用纹和凹槽列记录的TOC信息。这里，通过用纹和凹槽列记录TOC信息能够高密度地记录TOC信息，而且能够高速地再生TOC信息。
图7示出本发明实施形态1的再生装置的结构。如图7所示，该再生装置具有由感光面被4分割了的区域构成的光检测器113，连接光检测器113的放大器241、253，连接放大器253的比较器254，连接比较器254的地址标记检测器100，连接放大器241的低通滤波器(LPF)242，连接LPF 242的反相放大器255以及切换跟踪极性的开关SW，连接放大器241的带通滤波器(BPF)256，连接BPF 256的比较器245，连接比较器245的地址标记检测器110。
从光拾取头的激光光源发出的激光光束通过准直透镜后，从半透镜入射到物镜，在盘上聚焦形成图4以及图5所示的光束点12。
激光振荡波长λ=635nm(允许范围620-650nm，以下相同)，物镜数值孔径NA=0.6(允许范围0.55-0.65，以下相同)，激光光束的聚光点尺寸大约是0.9μm(允许范围0.80-1.0μm，以下相同)。来自光束点的反射光由光检测器113变换为电信号。具体地讲，在放大器241中，取对应于由光检测器113的区域113a、113d检测出的光强度的信号(A+D)与对应于由区域113b、113c检测出的光强度的信号(B+C)的差，生成推挽信号，进而作为LPF 242的输出获得跟踪误差信号。另外，通过取对应于由区域113a、113c检测出的光的信号(A+C)与对应于由区域113b、113d检测出的光的信号(B+D)的差，生成象散法中的聚焦误差信号。
跟踪误差信号以及用反相放大器255将其反转了的信号输入到开关SW的端子，开关SW选择性地把其中某一方供给到伺服电路257。
由此，例如像图4所示那样在纹3E的中心跟踪控制光束点12。
另外，在该状态下通过把从放大器241输出的推挽信号输入到BPF265中，从比较器245输出摆动信号。
这里，BPF 256的频带中心频率是1.1MHz，去除了噪声的信号输出到比较器245中。比较器245把被输入的信号进行波形整形输出由矩形波构成的摆动信号。
从该比较器245输出的矩形波输入到FM解调器258中，FM解调器258把双相码解调后输出到NRZ解调器259中。NRZ解调器259从双相码解调作为地址(ATIP)的NRZ信号。这样得到的地址被输入到系统控制器268中。
在这里，例如，在光束点12扫描图4所示的纹3E的中心的情况下，对于1个数据，2个地址信息m、n被读取到系统控制器268中。
接着，说明对于被读取到系统控制器268中的1个数据的2个地址中的某一方的选择动作。
首先，如图3所示，光检测器113从左向右扫描纹3O的中心线OGL的情况下，从比较器245输出图8C所示的地址识别信号AMG1，地址标记检测器110把选择地址1的信号供给到系统控制器268。
另一方面，光检测器113从左向右扫描纹3E的中心线EGL的情况下，从比较器245输出图8D所示的地址识别信号AMG2，地址标记检测器110把选择地址2的信号供给到系统控制器268。
这样，系统控制器268选择1个地址信息识别与被记录到纹3O、3E的1个数据相对应的1个地址。从而，在图4所示的情况下，由系统控制器268识别地址信息n。
另外，上述动作主要是系统控制器268指示纹3O、3E中的数据的记录或者再生的情况的说明，以下，说明系统控制器268指示纹间4O、4E中的数据的记录或者再生的情况。
例如，如图5所示，在光束点12照射纹间4E的中心并且从左向右进行扫描的情况下，作为地址1虽然不读取地址信息(NG)，然而作为地址2读取地址信息(n)。
另一方面，由于在放大器253中取信号(A+D)与信号(B+C)的和，其结果被输入到比较器254中，因此作为来自盘的反射光量的变化检测纹间的宽度变化。这里，在光检测器113从左向右扫描纹间4E的中心线ELL的情况下，从图7所示的比较器254输出图8B所示的地址识别信号AML2，地址标记检测器100把选择地址2的信号供给到系统控制器268。
另外，在光检测器113从左向右扫描图3所示的纹间4O的中心线OLL的情况下，从图7所示的比较器254输出图8A所示的地址识别信号AML1，地址标记检测器100把选择地址1的信号供给到系统控制器268。
从而，在图5所示的情况下，对于被记录到纹间4E的1个数据，作为1个地址由系统控制器268识别地址信息(n)。
另外，控制光束点12使得照射纹间4O、4E的中心的情况下，开关SW通过系统控制器268切换为使得被反转了的跟踪误差信号供给到伺服电路257。
另外，由于本实施形态中的盘如上述那样构成，因此除去光磁记录媒体以外即使是CD-WO(改写型)盘和相变盘，或者，所谓的微型盘也认为相同。另外用于制造本实施形态中的盘的玻璃底盘，在刻纹工艺中，通过使用以频偏±50KHz由双相信号把1.1MHz的载波进行FM调制了的摆动信号形成，然而也可以不进行FM调制直接把双相信号用作为摆动信号形成纹。
另外，在上述的说明中，设置在纹3O、3E中的摆动的振幅沿着盘的半径方向取为30nm-50nm，然而不限定于此，也可以是10nm-50nm的范围。
实施形态2
图9是示出本发明实施形态2的盘中的数据记录部分(以下也简单地称为「数据部分」)的构造的透视图。本实施形态的盘与上述实施形态1的盘相同，是能够在纹间4和纹3的两方进行磁的数据记录再生的盘，但如图9所示，在盘的数据部分中生成用于盘的旋转控制时以及数据的记录再生时所需要的同步信号的纹3方面不同。该纹3具有一定的宽度，具有周期性的摆动的侧壁。另外，以下把在该数据部分中形成的摆动351称为「时标摆动」。
这里，时标摆动351的周期设定为记录数据的比特时钟频率16MHz的1/8的2MHz，使得能够与记录数据同步。而考虑到用于形成纹3的设备和再生系统电路中的频率特性，最好设定在大约200KHz到10MHz的范围。另外，也可以是从50KHz至10MHz的范围。
另外，设置在纹3的两侧壁上的时标摆动351的振幅沿着盘的半径方向大致是10nm～50nm。
盘上的纹间4或者纹3的各记录道由环形的60个区域构成，在其每个区域中进行转速恒定的所谓CAV控制。这里，该转速恒定的区域数越多则越能够谋求有效利用盘上可以记录数据的面积。
时标摆动351如图9所示，对于盘上的纹3以及纹间4的各个记录道，遍及其整体，在把纹间4夹在中间而形成的2个相邻的纹3的侧壁以相同的波形形状摆动，因此在转速恒定的60个区域内能够放射性地排列使相位相同的摆动。
图10示出地址段(地址部分)以及数据段(数据部分)中摆动用2值信号的一例。如图10所示，对于本实施形态的盘的数据段部分其结果作为双相数据的值全部记录着0(或者1)。从而，作为摆动，在地址段部分中记录把地址信息的数据进行双相调制了的信号，或者在数据段部分中记录着把其值为0(或者1)的数据进行了双相调制了的信号。
图11示出本实施形态2的盘的平面构造。如图11所示，该盘具有一定的宽度，而且在地址部分中，对应于地址1、PA1等两侧壁以相同的相位摆动，另外，对应于地址识别信息，相邻的纹3O、3E的侧壁以相反相位摆动，在间隔之后的数据部分中，具有两侧壁形成时标摆动351的纹3O、3E。
图12更具体地示出图11所示的构造，示出在地址部分中形成了对应于纹间用地址1的摆动172，对应于纹用地址2的摆动173的盘的平面构造。
这些地址1以及地址2通过图11所示的地址标记进行识别。而且，该识别方法与在上述实施形态1中说明过的方法相同。
图13A～13D示出本实施形态的盘的格式。如图13A所示，盘的1个记录道(1周)分为Nf个帧。而且，各帧如图13B所示，具有2720字节的长度，分为具有96字节长度的地址部分，具有2624字节长度的数据部分。其中，主要在数据部分中使用NRZI调制或(1-7)调制记录再生磁光信号(数据)。
这种情况下，如果被记录数据的比特密度为0.22μm/比特，则每帧的长度是4.7872mm，如果被记录数据的比特密度是0.20μm/比特，则每帧的长度是4.352mm。从而，与致密盘(CD)相同在12cm尺寸的盘的情况下，每1个记录道的帧数Nf是30～87个左右。
其次，如果设图13C所示的地址部分具有96字节的长度，并且把地址部分的最小的1个摆动周期作为「1个字节」，则1个摆动周期的盘上的长度为1.60～1.76μm的范围。另外，在盘上分别为报头(PA)1，报头(PA)2提供4字节的长度，为地址1、地址2各提供42字节的长度，为地址标记(AM)提供2字节的长度，为报头(PA)3和间隔各提供1字节的长度。
这种情况下，作为实际的数据长度，报头(PA)1、报头(PA)2分别具有4比特，地址1、地址2分别具有42比特，地址标记(AM)具有2比特，报头(PA)3、间隔分别具有1比特。
进而，如图13D所示，数据部分具有2624字节的长度，其中，报头(PA)4具有24字节，数据区具有2592字节，报头(PA)5具有8字节的长度。这里，具有2592字节长度的数据区包括具有2048字节长度的用户可记录区，具有32字节长度的记录着记录信号的DC成分抑制用数据的区域，记录用于纠错的数据的区域等。
这种情况下，如果使16字节的长度对应于用于生成为了进行数据记录和再生的同步信号的时标摆动的1个周期，则盘上的1个时标摆动的长度在比特密度是0.22μm/比特的情况下为28.16μm，比特密度是0.20μm/比特的情况下为25.6μm。而且，这时，在1帧中的数据部分内，存在164个时标摆动。
从而，1个记录道中存在60个帧，如果盘以1500rpm旋转，则时标摆动的频率成为255KHz。利用该时标摆动的频率由PLL电路生成用于记录再生数据的数据同步信号。
这里，例如作为数据调制方式使用NRZI的情况下，数据同步信号的频率成为32.64MHZ,PLL电路的分频比设定为1/128。另外，1个摆动的长度不限于16字节，例如，也能够对应于4字节，8字节或者20字节等的长度。这种情况下，虽然时标摆动的频率不同于255KHz，然而可以把生成数据同步信号的PLL电路的分频比设定为适当的值。本实施例中的盘中，时标摆动1个周期的长度取为5～50μm的范围。
图14A示出图13C所示的地址部分在盘上的配置，图14B示出基于地址部分的再生的摆动信号，图14C示出地址信息的内容。
在地址1、地址2上分别记录42比特的信息，如图14C所示，各地址包括表示记录道1周中顺序的8比特构成的帧地址，表示从内周或者外周计数盘总体的记录道的通用编号的16比特构成的记录道地址，由4比特构成的同步信号(Sync)，由14比特构成的检错码(CRC)。从而，在格式上，1个记录道中能够最大包含256个帧。盘总体能够具有最大65536个记录道。
图14A所示的PA1、PA2以及PA3作为用于正确地检测地址1、地址2以及地址标记(AM(O)、AM(E))的报头和报尾。为了记录这些信号使用的摆动的振幅取为大致相同。
更具体地讲，在纹3O、3E与纹间4O、4E的宽度的比例大致为1比1，纹3O、3E的间距是1.0～1.28μm的情况下，需要把该振幅取为15～150nm。特别是为了把摆动信号的信噪比取为一定的范围，正确地检测地址标记，最好为25～70nm。
另外，地址标记的记录方法以及基于地址标记的地址的识别方法与在上述实施形态1中说明过的相同，而为了可靠地进行该识别，作为地址标记的摆动的振幅，在纹3O、3E与纹间4O、4E的宽度的比率大致为1比1，纹3O、3E的间距在1. 0～1.28μm的情况下，最好为30～150nm范围的值，更理想的是取60～120nm范围的值。
另外，当1个摆动的周期大于1.2μm时将改善地址部分的误码率和范围，能够更高精度地进行再生。另一方面，如果加长其周期，则由于数据格式效率降低，因此作为周期长度需要设定为1.2～5μm范围的长度。这一点不限于磁光记录媒体，相变盘，染色型或者金属型的改写型的光盘中也适用。
图15示出再生本实施形态的盘的再生装置的结构。如图15所示，该再生装置虽然具有与图7所示的再生装置相同的结构，但不同之处在于还具有连接放大器241的地址解调用带通滤波器244，连接地址解调用带通滤波器244的FM解调器53，连接FM解调器53的双相解调电路54，连接双相解调电路54的地址译码器57，连接比较器245的PLL电路246、247，时钟分配电路562。另外，PLL电路247还包括分频器271，相位比较器272，低通滤波器(LPF)273，压控振荡器(VCO)274。
其次，说明该再生装置的动作。基于由光检测器113的区域113a、113d检测出的反射光的信号(A+D)与基于由区域113b、113c检测出的反射光的信号(B+C)输入到放大器241，从放大器241把表示其差的信号[(A+D)-(B+C)]供给到LPF 242，摆动检测用窄带带通滤波器252，地址解调用带通滤波器244中。
这里，供给到摆动检测用窄带带通滤波器256的信号[(A+D)-(B+C)]被截断其高频成分以及低频成分，基于图16A所示那样形成在数据部分的时标摆动351的波形175输入到比较器245中。比较器245把输入波形175进行2值化，把如图16A所示那样决定从下向上切断基轴BL的时刻T1、T2、Tn的2值化的信号供给到PLL电路246、247中。而且，PLL电路246、247分别响应从比较器245供给的信号，生成图16B所示的同步信号。在PLL电路246中生成的同步信号为了进行盘的旋转控制供给到伺服电路257中，另外，经过时钟分配电路56供给到FM解调电路53，双相解调电路54以及地址译码器57中。另一方面，在PLL电路247中生成的同步信号作为数据同步信号供给到信号解调电路中。
另外，本实施形态的盘中，时标摆动351的1个周期取为20～30μm范围的长度。
图17示出相对于把时标摆动351的1个周期取为20μm时的振幅变化，再生信号的C/N比以及跳动值的变化。另外，在数据再生中，以时标摆动351的周期为中心进行变化的频率(带宽)是3KHz。如图17所示，随着振幅加大再生信号的C/N比上升，跳动减少。另外，虽然该图示出把时标摆动351的1个周期取为20μm时的关系，然而取为25μm、30μm的情况下也能够得到同样的关系。
图17表示出越加大时标摆动351的振幅则数据再生特性越好，然而另一方面，在磁光记录媒体的情况下，如果加大时标摆动351的振幅则在被再生的数据中摆动信号漏泄，将带来不利影响。
图18示出测定了摆动信号的交调失真与再生数据信号的误比特率的关系的结果。另外，所谓“交调失真”，例如，在再生纹间4中记录的数据的情况下，表示来自纹3的反射光的再生信号强度对于其再生信号强度的比。
如图18所示，为了得到良好的误比特率特性，需要把交调失真取为-25dB以下。
图19示出相对于时标摆动351的振幅和1个周期的长度(摆动长度)变化，交调失真的变化状况。这里，纹和纹间的宽度比大致为1比1，纹的间距是1.0～1.28μm的情况下，为了高精度地再生记录在盘上的数据，需要把时标摆动351的振幅取为10～60nm，特别是在比特密度为0.15～0.24μm/比特，摆动长度为10～32μm时，振幅最好取为10～40nm另一方面，在相变盘，染色型或者金属型的改写型盘中，摆动长度最好是5～50μm，振幅最好是10～60nm范围的值。
以上那样的时标摆动351作为控制盘的旋转，或者生成数据的记录再生用的同步信号的基准是有效的，在不具有时钟成分的数据调制方式中也能够运用。即，在记录数据的情况下，进行盘的旋转控制使得能够获取与其数据同步的时钟信号和从盘上的时标摆动351再生的时钟信号的同步，在再生数据的情况下，能够使得与从盘上的时标摆动351再生的时钟信号同步，或者与从外部输入的时钟信号同步地读出再生数据。
进而，如果依据本实施形态2的盘，则光束点12与被控制在纹3的中心时的情况一样，被控制在纹间4的中心时，通过再生对应于形成在纹3的两侧壁的波形摆动信号能够得到由光束点12的照射得到的推挽信号。其结果，通过照射1个激光光束，能够在纹3和纹间4的每1个中进行盘的旋转控制和地址信息检测两方面的动作。
另外，关于在盘上形成上述时标摆动351，在数据再生时还将产生一个问题。即，数据再生所照射的激光光束的反射光的偏振方向受到时标摆动351的影响，不能够正确地进行磁记录的数据的再生。
图20用于说明形成时标摆动351的部分中的数据再生。如图20所示，形成在纹3的两侧壁的时标摆动351由于是相同相位，因此光束点12照射纹3的情况下，其反射光不是基于原来的数据磁化的偏振波，而具有由形成在纹3的两侧壁的时标摆动351所决定的纹3的方向，即，与箭头353相同方向的偏振波成分。另外，同样，基于光束点13的照射的反射光具有与表示其位置中的纹3的方向的箭头355相同方向的偏振波成分。
从而，通过在盘上形成图20所示的时标摆动351，由于在原来记录的数据的再生信号上重迭基于时标摆动351的影响的偏振波成分，因此数据再生特性降低，其结果，不能够正确地再生所记录的数据。
这个问题在纹3的任一侧壁上形成时标摆动351的情况下也将产生，但以下把对于数据再生信号的基于时标摆动351的影响的偏振波成分的比例定义为「漏泄量」。
图21是示出形成在纹3的两侧壁的时标摆动351的构造的平面图。如图21所示，时标摆动351是具有相同相位，而且波长W，振幅h/2(以下把“h”称为摆动振幅)的波形。
这里，决定时标摆动351的波长W和振幅h/2，使得漏泄量小于-25dB，误比特率小于1×10-4。
以下的表1示出使波长W在0.5～10μm的范围，使摆动振幅h在3～50nm的范围变化时的漏泄量。
表1
如表1所示，方框内漏泄量小于-25dB。即，在波长W是0.5～10μm，摆动振幅h是3～20nm，波长W是0.5～0.8μm,5～10μm，摆动振幅h是25nm，波长W是10μm，摆动振幅是35nm包围的范围内，漏泄量小于-25dB。
其次，在以下的表2中，示出使波长W在0.5～10μm的范围，摆动的振幅h在3～50nm的范围变化时的误比特率。另外，这种情况下，PLL电路246的分频比设定为1/3～1/64，同步信号长度是0.15～0.26μm。
表2
如表2所示，在方框内，误比特率小于1×10-4。即，在波长W是0.8～10μm，摆动振幅h是5～20nm，波长W是0.8μm，摆动振幅h是25nm，波长W是5～10μm，摆动振幅h是25nm，波长W是10μm，摆动振幅h是35nm时，误比特率小于1×10-4。
根据表1，表2，摆动振幅h大于25nm的情况下漏泄量加大，误比特率恶化，在小于5nm的情况下由于从再生信号得到的同步信号的特性恶化，因此误比特率恶化。从而，波长W最好是取1.2～5.0μm的范围，更理想的是1.6～3.0μm范围内的值。
另外，根据表1，表2，能够实现漏泄量小于-25dB，而且误比特率小于1×10-4的时标摆动351的尺寸为波长W是0.8～10μm的范围摆动振幅h是5～20nm的范围，以及波长W是0.8μm,5～10μm摆动振幅h是25nm，波长W是10μm摆动振幅h是35nm。另外，该波长W和摆动振幅h的值是在纹3的任一侧壁上形成时标摆动351的情况下也可以适用的值。
在ISO(International Standard Organization)的90mm磁光记录媒体等中，在盘上以凹槽记录地址信号，由于凹槽长度极短等因此在高速存取等时，有时引起记录道的误算。然而，如果依据本实施形态2的盘，则由于不仅地址信息而且用于数据的同步信号生成的信息都不是以凹槽，而是以纹进行记录，因此即使在高速存取等时也能够可靠地进行数据再生。
另外，在以往的微型盘中，有把地址信号进行双相调制了以后，以添加了调频的信号形成纹的盘。然而，这种情况下，由于载波信号的C/N比降低，以及以添加了调频信号记录着地址信号，因此带宽增加，从而难于从载波信号生成用于进行数据记录再生的同步信号。
另一方面，在再生本实施形态2的盘的再生装置中，用于得到摆动信号的带通滤波器256的频带既可以是向PLL电路246、247输入所需要的频带，也可以是窄带的带通滤波器256的频带。因此，即使时标摆动351的振幅减小C/N比稍稍恶化，实际的信噪比也将改善。从而，能够把跳动少的信号输入到PLL电路246、247中，能够高精度地生成用于进行数据的记录再生的同步信号。另外，在盘上，由于在不同的位置记录地址信息和数据，因此能够避免对于地址信息的再生数据和存取性能的不良影响。
实施形态3图22示出本实施形态的盘的平面构造。如图22所示，该盘在纹间4用和纹3用的地址部分中形成摆动210，与地址部分相邻的数据部分中，在纹3的两侧壁形成时标摆动351。这里，摆动210是根据1个地址信息调制了的摆动，其波长比时标摆动351的波长短，仅形成在纹3的一个侧壁上。
另外，摆动210兼作纹间4用的地址和纹3用的地址。
另外，在地址部分中，在纹3的两侧壁上不形成时标摆动351。
用上述图15所示的再生装置再生这样的盘，在再生时，激光光束再生摆动210而检测纹间4或者纹3的地址。然后使用激光光束在数据部分中与数据一起再生时标摆动351，从检测出的摆动波形生成数据的同步信号。
图23A-23D示出本实施形态的盘的格式。如图23A-23D所示，该格式是与图13A-13D所示的格式相同的格式，1帧具有2688字节的长度，包括具有64字节长度的地址部分和具有2624字节长度的数据部分。
这里，数据作为磁光信号，主要在数据部分中使用NRZI调制和(1-7)调制进行记录再生。这种情况下，被记录的数据的比特密度是0.22μm/比特时，每1帧的长度是4.73088mm，比特密度是0.20μm/比特时1帧的长度成为4.3008mm。从而，与致密盘(CD)相同在12cm尺寸的盘的情况下，每1个记录道的帧数Nf是30～87左右。
另外，如图23C所示，地址部分具有64字节的长度，如果把地址部分的最小的1个摆动周期作为1字节，则1个摆动周期在盘上的长度为1.60～1.76μm的范围。另外，地址部分作为PA1具有8字节，作为地址具有48字节，作为地址标记(AM)具有2字节，作为PA2具有4字节，作为间隔具有2字节的盘上的长度。这种情况下，作为实际的数据长度，PA1具有8比特，PA2具有4比特，地址具有48比特，地址标记具有2比特，间隔具有2比特。
进而，如图23D所示，数据部分具有2624字节的长度，包含具有24字节长度的PA3，具有2592字节长度的数据区，具有8字节长度的PA4。
这里，数据区的2592字节由作为用户能够进行记录区域的2048字节，作为记录信号的DC成分抑制用数据的32字节，用于纠错的数据等构成。这种情况下，如果在为了生成用于进行数据的记录再生的同步信号的时标摆动的1个周期中提供16字节的长度，则盘上的1个摆动的长度在比特密度是0.22μm/比特的情况下为28.16μm，比特密度是0.20μm/比特的情况下为25.6μm。而且，1帧中的数据部分中存在164个摆动。从而，1个记录道中存在60个帧，如果盘以1500rpm旋转，则摆动的频率成为252KHz。利用该摆动的频率由PLL电路生成用于记录再生数据的数据同步信号。这里，作为数据调制方式使用NRZI调制的情况下，数据同步信号为32.256MHz,PLL电路中的分频比成为1/128。另外，1个摆动的长度不限于16字节，例如也能够对应于4字节，8字节或者20字节的长度。这种情况下，摆动的频率与前面的252KHz不同，在PLL电路中设定的分频比也取不同的值。该实施形态的盘中，时标摆动的周期长取为5～50μm的范围。
另外，时标摆动的振幅如果考虑到再生的摆动信号的信噪比则越大越好，然而在磁光记录媒体的情况下，如图18，图19所示，被再生的数据上漏泄有摆动信号，将产生不良影响。即，在纹与纹间的宽度比大致为1比1，纹间距为1.0～1.28μm的情况下，为进行高精度的数据再生，把时标摆动的振幅取为10～60nm，特别是在比特密度是0.15～0.24μm/比特，1个摆动长度为10～32μm的情况下，摆动的振幅最好取为10～40nm。
另一方面，在相变盘，染色型或者金属系列的改写型光盘中，希望1个摆动的长度为5～50μm，振幅为10～60nm的范围。
图24A示出本实施形态的盘中地址部分的配置，图24B示出通过地址部分的再生得到的摆动信号，图24C示出地址的内容。如图24C所示，地址是由48比特构成的信息，包括表示记录道1周中的顺序的帧地址和表示盘总体的记录道从内周到外周的顺序的记录道地址等。
这里，由于帧地址取为10比特的信息，因此在格式上1个记录道能够最多包含1024个帧。另外，同样地由于记录道地址取为20比特的信息，因此在格式上，盘总体能够包含最多1048576条记录道。
在这些地址信息编码方式中，使用双相码和曼彻斯特码，NRZ,NRZI码等。
另外，由于仅纹3O、3E的一个侧壁用1个地址信息进行摆动，因此1个地址例如在纹3E与纹间4E这样相邻的2个记录道的数据再生中共用。
另外，PA1、PA2作为为了正确地检测地址和地址标记(AM)的报头和报尾使用。
这里，为了记录这些信号所形成的摆动的振幅取为基本上大小相同。在纹3O、3E与纹间4E、4O的宽度比大致为1比1，纹3O、3E的间距为1.0～1.28μm的情况下，需要把摆动振幅取为15～150nm。特别是，在确保摆动信号的信噪比的同时，为了正确地检测地址标记，最好取25～90nm的值。
地址标记(AM)用于识别被再生的地址对应于记录在纹间4E、4O上的地址还是对应于纹3O、3E上的地址，以及用于表示数据的记录再生的开始。而且，为了可靠地进行上述识别，在纹3O、3E与纹间4E、4O的宽度比大致为1比1，纹3O,3E的间距为1.0～1.28μm的情况下，需要把摆动的振幅取为30～200nm。特别是，最好取60～150nm的范围内的值。
另外，1个摆动周期大于1.2μm，则能够改善地址部分的误比特率和范围，能够高精度地进行再生。另一方面，如果加长该周期，则由于数据的格式效率降低，因此作为周期长度需要取为1.2～5μm的长度。这一点不限于光磁记录媒体，可以说在相变盘，染色型或者金属型的改写型光盘中也相同。
如以上所述，如果依据本实施形态的盘，则由于仅使纹3O、3E的一个侧壁通过1个地址信息进行摆动，因此能够谋求格式的进一步高效化。
实施形态4图25示出本实施形态的盘的平面构造。如图25所示，该盘在地址部分中纹3的一个侧壁通过在时标摆动351上迭加了用1个地址信息进行调制了的摆动200，进行摆动。
在这样的盘中，能够用激光光束再生摆动200，被检测出的地址能够用作为其两侧的纹间4以及纹3所用的地址。另外，在这样的盘中，被再生数据的同步信号根据形成在数据部分的时标摆动351，由上述实施形态2中说明过的图15所示的再生装置生成。
实施形态5图26示出本发明实施形态5的盘的平面构造。如图26所示，该盘具有在数据部分中仅一个侧壁上形成时标摆动351，同时地址部分中在时标摆动351上连续形成仅基于1个地址信息的摆动210的纹3。从而，纹3的一个侧壁350在地址部分和数据部分都不形成摆动。
这样的盘通过图15所示的再生装置进行数据再生，由形成在数据部分的时标摆动351生成数据同步信号。
实施形态6图27示出本发明实施形态6的盘的平面构造。如图27所示，该盘具有在一个侧壁上在地址部分和数据部分都形成时标摆动351的同时，在另一个侧壁仅在地址部分中形成对应于1个地址信息的摆动210的纹3。
从而，形成对应于地址信息的摆动210的侧壁在数据部分中不摆动。
这样的盘也由图15所示的再生装置进行数据再生，通过形成在数据部分的时标摆动351生成数据同步信号。
实施形态7图28示出本发明实施形态7的盘的平面构造。如图28所示，该盘具有在一个侧壁形成基于地址信息的频率调制的摆动50，在另一个侧壁上形成时标摆动351的纹3O、3E。
这里，把再生数据速率取为24MHz时，时标摆动351的频率是3MHz，摆动50的频率是281.25～375KHz。
本实施形态的盘中，摆动50和时标摆动351在整个区域中形成在纹3O、3E的两个侧壁上。
图29A-29D示出本实施形态的盘的格式。如图29B所示，每个扇区的地址信息包括同步图形(Sync)4比特，帧地址24比特，预约区(Rvd)4比特，纠错码(ECC-Error Correction Code)12比特的信息。这里，1个扇区中由于包括2kB长度的数据区，因此由上述44比特组成的地址信息表示对于2kB部分的数据的地址。
另外，时标摆动351对于数据的1个字节为1个，即如图29C、29D所示，每1个扇区形成2816个。而且，时标摆动351作为生成数据记录再生时所利用的数据同步信号的基准。
其次，参考图30A-30C说明本实施形态的盘的再生。该盘由图15所示的再生装置进行再生。这里，在用激光光束扫描图28所示的纹30的情况下，得到具有图30A所示波形的推挽信号。这是由于在纹30的一个侧壁上形成摆动50，在另一个侧壁上形成时标摆动351，因此迭加了基于2个摆动的信号。
另外，用激光光束扫描图28所示的纹间40的情况下，也可以得到图30A所示的推挽信号。另外，用激光光束扫描图28所示的纹3E、纹间4E的情况下也相同。
而且，图30B所示的信号供给到图15所示的摆动检测用窄带带通滤波器256和地址解调用带通滤波器244中。这里，供给到摆动检测用窄带带通滤波器256的推挽信号仅抽取出对应于时标摆动351的高频成分，图30C所示的信号输入到比较器245中。比较器245把被供给的信号进行2值化，把2值化了的信号供给到PLL电路246、247中。
PLL电路246对应于被输入的2值化信号的上升沿时刻生成时钟信号，供给到进行盘的旋转控制等的伺服电路257和时钟分配电路56中。
另外，PLL电路247响应输入的2值化信号，生成数据同步信号，供给到信号解调电路中。
另一方面，地址解调用带通滤波器244从被输入的推挽信号中仅抽取出低频成分，把对应于图30B所示的摆动50的信号供给到FM解调电路53中。FM解调电路53与从时钟分配电路56供给的时钟信号相同步，把输入的图30B所示的信号进行FM解调，把FM解调了的信号供给到双相解调电路254中。而且，双相解调电路54与从时钟分配电路56供给的时钟信号相同步双相解调被输入的信号，把双相解调了的信号供给到地址译码器57中。地址译码器57与从时钟分配电路56供给的时钟信号相同步，把地址输出到系统控制器268中。
如以上所述，如果依据本实施形态，则能够从形成在纹3O、3E的一个侧壁上的时标摆动351高精度地生成数据同步信号的同时，还能够得到由摆动产生的漏泄少的数据再生信号。
实施形态8一般，在实际的盘上多少存在缺陷，在再生这样的盘的情况下，从半导体激光器发出的激光光束从数据记录面的反射光以多少偏离的位置聚焦在光检测器113上。其结果，在数据再生信号中将产生偏离。因此，本实施形态中，说明能够校正这样偏离的再生装置。另外，该偏离还起因于照射的激光光束没有照射到纹间4或者纹3的中心。
如上述图2C、2D所示，在地址段，数据段的各个起始端由于记录着精确时钟标记20，因此通过检测出该精确时钟标记20，校正数据再生信号的偏离。另外，如图2D所示的精确时钟标记20记录在每个数据段的起始端，然而也可以记录在数据区中。
图31示出磁记录了数据的数据部分中，具有在两个侧壁每隔预定间隔W1形成了精确时钟标记20的纹3的本实施形态的盘的平面构造。这里，图31所示的预定间隔W1是50～300μm，形成精确时钟标记20的区域长度W2满足W2/W1=1/300～1/50的长度。
另外，该精确时钟标记20在盘的底盘成型的工艺中形成。
图32A-32C用于说明根据精确时钟标记20的检测进行的偏置校正的原理。
在激光光束照射纹间4或者纹3的情况下检测精确时钟标记20，在激光光束照射纹间4或者纹3的中心的情况下，如图32A所示，得到振幅(强度)IA与振幅(强度)IB相等的检测波形121。然而，在激光光束从纹间4或者纹3的中心偏离某一方照射盘的情况下，得到图32B或者图32C所示那样的IA＞IB或IA＜IB的检测波形122、123。从而，通过取检测出的强度IA与强度IB的差，能够检测激光光束照射的点从纹间4或者纹3的中心的偏离，即，在数据再生信号中产生的偏置。
图33示出本实施形态的再生装置的结构。如图33所示，该再生装置虽然具有与图15所示的再生装置相同的结构，然而不同点在于具有偏置校正电路132。
该偏置校正电路132包括第1峰值检测电路133，第2峰值检测电路134，连接第1峰值检测电路133以及第2峰值检测电路134的放大器135，连接放大器241以及放大器135的放大器137。
其次，说明该再生装置的偏置校正动作。从光检测器113输出由被4分割了感光面的光检测器113检测的来自精确时钟标记20的反射光中基于由区域113b和区域113c检测的反射光的信号(B+C)，基于由区域113a和区域113d检测的反射光的信号(A+B)。而且，信号(B+C)由第1峰值检测电路113检测出其强度IA，信号(A+B)由第2峰值检测电路134检测出其强度IB。被检测出的强度IA与强度IB在放大器135中得到其差值(IA-IB)。
另一方面，信号(A+D)和信号(B+C)输入到放大器241中，取这些信号的差[(A+D)-(B+C)]。
而且，在放大器137中把差[(A+D)-(B+C))与差(IA-IB)进行加法运算，输出到LPF 242中。通过这样的动作，校正踪误差信号的偏置。
如以上所述，如果依据本实施形态的再生装置，则由于能够使激光光束照射纹间4或者纹3的中心，因此能够实现更准确的数据再生。
另外，上述说明涉及数据再生中的偏置校正，而在记录数据的情况下，该偏置校正也有效。
即，在数据记录时，检测精确时钟标记20，通过偏置校正电路132校正跟踪误差信号的偏置，使得激光光束照射到纹间4或者纹3的中心，在正确的位置记录数据。另外，这种情况下使用的记录装置的结构与图33所示的再生装置相同。
实施形态9
图31所示的盘是纹3的两侧壁190、191不摆动的盘，而也可以同样考虑图34所示那样，纹3的两侧壁190、191在相位相同而且以一定周期W0摆动的记录道上形成精确时钟标记20的盘。
这里，以上的侧壁190、191的摆动是数据部分中的时标摆动351。
另外，精确时钟标记20是比时标摆动351频率高的摆动，精确时钟标记20的间隔W1在50～300μm的范围内恒定，形成精确时钟标记20的区域长度W2与间隔W1的比W2/W1满足1/300～1/50。
实施形态10图35示出本实施形态的盘中数据部分的平面构造。如图35所示，本实施形态的盘中的数据部分包括仅在一个侧壁190上形成时标摆动351，而且在两个侧壁190、191上形成了精确时钟标记20的纹3。
这里，精确时钟标记20的间隔W1在50～300μm的范围内恒定，精确时钟标记20的区域长度W2与间隔W1的比W2/W1满足1/300～1/50。
实施形态11图36示出本实施形态的盘的平面构造。如图36所示，该盘具有在两侧壁190、191上每隔预定间隔W1形成精确时钟标记20，进而，在记录地址信息m、n、1的地址部分中，仅一个侧壁191对应于地址信息n进行摆动的纹3。这里，精确时钟标记20的间隔W1与形成精确时钟标记20的区域长度W2与上述实施形态10相同。另外，纹3的一个侧壁191上作为摆动所记录的地址信息n用作为其摆动两侧的纹间4和纹3用的地址信息。
实施形态12在上述实施形态2中参照图20进行了说明，而在纹3的两个侧壁以相同相位形成时标摆动351的情况下，由于盘的反射光中不仅包含根据磁化的取向记录着的原来的数据引起的偏振波成分，还包含基于纹3的方向的偏振波成分，因此存在不能够正确地再生数据的问题。
因此，本实施形态的盘是能够解决这样的问题，同时通过形成在数据部分的摆动能够生成用于数据再生的同步信号的盘。
图37是示出本实施形态的盘10的构造的透视图。如图37所示，盘10具有在由聚碳酸酯、玻璃等构成的透明衬底1上形成了磁性膜2的构造。这里，磁性膜2包含由GdFeCo等构成的再生层和TbFeCo等构成的记录层。
盘10还具有纹3和纹间4，在纹3的两个侧壁上形成相位相互差180°的摆动5。即，摆动5形成为使得纹3或者纹间4的宽度对于激光光束的扫描方向以预定的周期进行变化。
图38示出盘10的平面构造。
如图38所示，盘10包括地址部分700和数据部分701，地址部分700和数据部分701的纹3的两侧壁上形成摆动5。这里，参照图39说明摆动5的波长以及振幅。
摆动5的波长W是0.8～20μm的范围，理想的是1.2～5μm的范围。另外，摆动5的振幅h/2是5～100nm的范围，理想的是10～30nm的范围。本实施形态的盘10中，通过形成在数据部分701中的摆动5，生成数据的记录再生中使用的数据同步信号。
另外，包含在本实施形态的盘10中的纹3如图38所示，在地址部分700对应于地址信息两侧的侧壁对于纹3的中心线呈对称地摆动。
这里，地址信息具体地讲，例如通过双相调制方式进行记录，参照图40A-40D说明基于该方式的地址信息的记录。
2值化了的地址信息，如果设用图40A所示的波形41表示“0”，用图40B所示的波形42表示“1”，则通过双相调制记录地址信息(10110)时的波形成为图40C所示的波形43。
从而，地址部分中形成在纹3的一个侧壁上的摆动波形成为图40D所示的波形44，形成在纹3的另一个侧壁上的摆动波形成为图40D所示的波形45。这里，波形44与波形45对于纹3的中心线48对称。
图41示出记录了地址G0～G3、L1、L2的地址部分的平面构造。
如图41所示，包含在地址部分中的纹31的一个侧壁上形成摆动61和摆动62，在纹31的另一个侧壁上对于纹31的中心线与摆动61对称地形成摆动63，与摆动62对称地形成摆动64。
另外，在纹32的一个侧壁上形成摆动61和摆动65，在另一个侧壁上对于纹32的中心线与摆动61、65对称地形成摆动63和摆动66。
进而，在纹33的一个侧壁上形成摆动67和摆动65，在纹33的另一个侧壁上，对于纹33的中心线与摆动67、65对称地形成纹68和摆动66。
这样，在纹31、32、33的两个侧壁上如果形成摆动61～68，则在纹31的地址部分中对应于形成在两个侧壁上的摆动61、63记录地址G1，对应于摆动62、64记录地址G0。另外同样地，在纹32的地址部分中记录地址G1和地址G2，在纹33的地址部分中记录地址G3和G2。进而，通过在纹31、32、33的两个侧壁上记录上述那样的摆动61～68，在纹间46通过摆动63和摆动61记录地址L1，在纹间47通过摆动65和摆动66记录地址L2。
这里，由于纹31、32、33或者纹间46、47的地址信息是通过形成在其两个侧壁的摆动61～68的波形而得到的，因此地址G1和地址L1，地址G2和地址L2是相同的信息。
如以上所述，在激光光束扫描纹31的情况下检测地址G1,G0，扫描纹间46的情况下检测地址L1，扫描纹32的情况下检测地址G1、G2，扫描纹间47的情况下检测地址L2，扫描纹33的情况下检测地址G3、G2。
另外，如果考虑到作为地址未被检测的信息NG也是一种地址，则在各纹31、32、33以及各纹间46、47中，如上述那样，分别检测各2个地址，上述实施形态1中说明的地址标记形成在盘上，通过再生该标记，作为记录到各纹31、32、33以及各纹间46、47的数据的地址识别某1个地址。
以下，把以上那样的地址信息记录方式称为「参差方式」。图42示出本实施形态的盘的地址部分中记录的地址信息的格式。如图42所示，地址部分具有96数据字节长度的区域，地址部分的数据量是96比特。即，对应于地址部分中的1比特的长度是所记录的比特的8倍，例如，记录比特的比特长度是0.22μm时，地址数据的数据比特长度相当于1.76μm。
另外，地址部分包括6数据字节长的报头(PA),42数据字节长的地址1，同样42数据字节长的地址2,2数据字节长的A图形，2数据字节长的地址标记(AM)。
这里，地址1包含4比特的第1同步信号(SYNC1)92,8比特帧地址93,16比特的记录道地址94,14比特的检错码(CRC)95。
另外，地址2包括4比特的第2同步信号(SYNC2)97,8比特的帧地址98,12比特的记录道地址99,14比特的CRC 103。
另外，通过用图40A所示的波形41表示“0”，用图40B所示的波形42表示“1”，分别在报头(PA)91中记录(101010101010)的信号，在第1同步信号92中记录(11100010)的信号，在预约区(Rev)96中记录(1010)的信号，在第2同步信号97中记录着(10001110)的信号，在A图形101中记录(10)的信号，在地址标记(AM)102中记录(1100)的信号。
图43示出用于生成本实施形态的盘的刻纹装置的结构。如图43所示，该刻纹装置具有生成聚焦用的波长633nm的激光光束的氦氖激光器166，生成458nm的激光光束的氩激光器160，连接氩激光器160去除激光光束的噪声的激光降噪电路161，连接激光降噪电路161，根据输入的控制信号使激光光束的功率变化的EO(Electro-Optical)调制器162，反射458nm的激光光束，透过从氦氖激光器166输出的激光光束的反射镜164，使激光光束聚焦在玻璃底盘168上的物镜165，反射从氦氖激光器166输出的激光光束的反射镜167。
这里，输入到EO调制器162的控制信号是决定激光光束的强度的信号，根据该控制信号，使氩激光器的强度周期性地发生变化，由此在纹3的两侧壁形成图37所示的摆动5。即，从EO调制器162输出以预定的周期强度发生变化的激光光束，然而用反射镜164反射，用物镜165聚焦，照射在玻璃底盘168上。
其结果，如果照射在玻璃底盘168上的激光光束的强度变化则光点的直径变化，因此在纹3的两侧壁上形成图37所示的摆动5。
图44示出再生该实施形态的上述盘的再生装置的总体结构。如图44所示，该再生装置具有光学头112，连接光学头112的再生信号放大电路114，连接再生信号放大电路114的信号解调电路118，连接再生信号放大电路114的摆动检测电路115，同样地连接再生信号放大电路114的地址检测电路116，连接摆动检测电路115的PLL电路117，连接PLL电路117的激光器驱动电路119，连接再生信号放大电路114的伺服电路111，连接伺服电路111的主轴电机120。
其次，说明上述再生装置的动作。
光学头112把激光光束聚焦并照射到盘10上的同时，用包含在光学头112中的光检测器113检测来自盘10的反射光。而且，再生信号放大电路114把来自光检测器113的再生信号进行放大，分别把聚焦误差信号，跟踪误差信号等供给到伺服电路111，把数据再生信号供给到信号解调电路118，把基于数据部分的再生的摆动信号供给到摆动检测电路115，把基于地址部分的再生的摆动信号供给到地址检测电路116。
这里，伺服电路111根据接收到的聚焦误差信号，跟踪误差信号控制光学头112以及主轴电机120。另外，信号解调电路118把以预定的调制方式调制了的再生信号根据从PLL电路117接受的同步信号进行解调作为再生数据供给到输出装置(未图示)。摆动检测电路115通过比较器把接收的摆动信号2值化，把其2值化了的信号供给到PLL电路117。另外，地址检测电路116通过比较器把接收的摆动信号2值化，把其2值化了的信号进行解调检测出地址信息，供给到微机(未图示)。PLL电路117根据接收的2值化信号生成同步信号供给到信号解调电路118以及激光器驱动电路119。另外，激光器驱动电路119响应接收的同步信号驱动包含在光学头112中的半导体激光器(未图示)，再生被记录在盘10上的信号。
图45用于说明由图44所示的摆动检测电路115进行的形成在数据部分中的摆动5的检测。如图45所示，光检测器113其感光面分割为4个区域113a、113b、113c、113d，并且配置为使得区域113a和区域113d，区域113b和区域113c排列在与激光光束的行进方向140相同的方向。这种情况下由区域113a和区域113d检测的光强度信号(A+D)，由区域113b和区域113c检测的光强度信号(B+C)通过再生信号放大电路114输入到包含在摆动检测电路115中的加法器1151中。用加法器1151进行了加法运算的光强度信号由带通滤波器1152去除噪声以后，在比较器1153中以0电平为基准进行2值化，该2值化了的信号供给到PLL电路117。
图46A示出供给到比较器1153的信号。具体地讲，这样的信号由比较器1153进行2值化，图46B所示的2值化信号供给到PLL电路117。而且，PLL电路117响应图46B所示的2值化信号的上升沿时刻150以及下降沿时刻151，在1个周期以2分割生成同步信号。另外，设置在数据部分的摆动5的波长W恒定，是0.28～20μm的范围，因此能够以比较短的间隔生成同步信号，能够正确地再生数据信号。
另外，记录在地址部分的地形信息也由具有与上述图45所示电路相同结构的地址检测电路116进行检测。
图47示出本实施形态的盘的摆动长度与交调失真之间的关系。这里，形成在该盘上的纹3的宽度是0.6μm，振幅是60nm。
这种情况下，如图47所示，即使缩短摆动长度，也不会加大交调失真。另外，当前的情况下可以确认摆动长度直至0.8μm也没有加大交调失真。从而，通过从缩短了摆动长度的摆动5生成同步信号能够进行特性良好的数据再生。
由此，如果依据本实施形态的盘，则由于照射在盘上的激光光束的偏振方向不受到由纹3的形状产生的影响，因此能够正确地再生所记录的磁光记录信号(数据)。另外，由于形成在数据部分的摆动的长度小于20μm，因此能够生成高频的同步信号，能够可靠地再生高密度地记录的数据。
实施形态13图48示出上述图44以及图45所示的光检测器113和摆动检测器115的其它实施形态。
如图48所示，在感光面被分割为4个区域113a、113b、113c、113d的光检测器113中，由在与激光光束的行进方向140相垂直的方向141排列的区域113c、113d检测的光强度信号(C+D)，由区域113a、113b检测的光强度信号(A+B)输入到加法器1151这一点与图45所示的光检测器113以及摆动检测器115不同。即便使用这样的光检测器113和摆动检测器115也能够起到与上述实施形态12的再生装置相同的效果。
实施形态14图49示出上述实施形态12中所示的刻纹装置的其它实施形态。
图49所示的刻纹装置虽然具有与图43所示的刻纹装置相同的结构，然而不同点在于具有振幅调制器181，连接振幅调制器181以及激光器降噪电路161的EO偏转器180。
这里，振幅调制器181输入图50A所示的载波信号CS和图50B所示的时钟信号CLK，把图50C所示的包络线与摆动5的波形相当的控制信号MS供给到EO偏转器180。由此，在玻璃底盘168上，激光光束沿着跟踪方向以高频率反复进行往复移动，在纹3的两侧壁形成摆动5。
实施形态15图51示出上述实施形态12、14中所示的刻纹装置的其它实施形态。
如图51所示，该刻纹装置虽然具有与图49所示的刻纹装置相同的结构，然而不同点在于除去激光器降噪电路161A和EO偏转器180A以外，还具有激光降噪电路161B，连接激光降噪电路161B的EO偏转器180B，反射镜183，使输入的时钟信号反转的反转电路182。
上述刻纹装置把用氩激光器160生成的激光光束分离为2个，使1个用作为在纹3的一个侧壁上形成摆动，使另一个用作为在纹3的另一个侧壁上形成摆动。
在一方的EO偏转器180B中，输入控制激光光束的跟踪方向的移动的时钟信号，在另一方的EO偏转器180A中输入用反转电路180使时钟信号反转了的信号。从而，从EO偏转器180B输出的激光光束和从EO偏转器180B输出的激光光束以纹3的中心为轴左右对称地移动，在纹3的两个侧壁形成图37所示的摆动。
实施形态16图52示出本实施形态的盘的平面构造。
如图52所示，该盘虽然具有与在上述实施形态12中图38所示的盘相同的平面构造，然而不同点在于在地址部分中在纹3的两个侧壁上形成同相位的摆动6。
具体地讲，在地址部分中以由同相位的摆动6进行双相调制方式，根据参差方式记录地址。
实施情况17图53示出本实施形态的盘的平面构造。
如图53所示，该盘虽然具有与在上述实施形态12中图38所示的盘相同的平面构造，然而不同点在于在地址部分中在纹3的一个侧壁7上不进行摆动。这样的盘，通过形成在地址部分的纹3的另一个侧壁6上的摆动，记录纹间4和纹3的地址，因此能够使地址信息的记录密度提高相应部分。
实施形态18图54示出本实施形态的盘的平面构造。
如图54所示，该盘虽然也具有与在上述实施形态12中图38所示的盘相同的平面构造，然而不同点在于在地址部分中的纹3的两侧壁上，以纹3的中心线为对称轴形成进行了FM调制的摆动。
实施形态19图55示出本实施形态的盘的平面构造。
如图55所示，该盘在地址部分以及数据部分的纹3的两侧壁上以纹3的中心线为对称轴对称地形成基于进行了FM调制的地址的摆动9。
如果依据具有这样构造的盘，则通过摆动9记录与记录在数据部分中的数据相对应的地址。
实施形态20图56示出本实施形态的盘的平面构造。
如图56所示，该盘虽然具有与图52所示的盘相同的构造，然而不同点在于在地址部分的纹3的一个侧壁上，形成把摆动5和相位与用同相位的虚线所示的摆动6相反的摆动重迭在一起的摆动220。
即使是用这样的盘，也能够得到与上述实施形态12的盘相同的效果。
实施形态21通过在地址部分的纹3的两侧壁上形成相位相反的摆动5，能够降低由摆动5的再生所产生的对于磁光信号(数据)的再生特性的漏泄，而在跟踪纹3的中心的情况下，跟踪由于衬底的倾斜(摆动)等从纹3的中心偏离，光束点接近形成在纹3的侧壁的摆动5时，由于摆动5的影响将在再生特性方面产生漏泄。
因此，在地址部分中设置了相位相反的摆动5的盘中，需要去除再生特性的漏泄量的再生装置。
图57A-57D用于说明照射在纹3的激光的位置和所得到的数据再生信号的关系。
如图57A所示，激光照射在纹3的中心线上，即，照射在光束点230上时，可以得到图57C所示的数据再生信号。另外，该数据再生信号是具有高频的信号，图57B至57D示出其数据再生信号的包络线。
其次，激光位于光束点231的位置，即，照射从纹3的中心线向图的上侧偏离的位置时，数据再生信号的包络线成为图57B所示。另一方面，激光照射了以光束点232表示的位置时，可以得到具有图57D所示的包络线的数据再生信号。这里，图57D所示的包络线的波形成为比图57B所示的包络线的波形偏离半个周期的波形。另外，在可以得到图57B、57D所示的包络线的数据再生信号的情况下，如果把包络线的宽度记为H，把振幅记为h/2，则对于再生特性的漏泄量检测为(h/2)/H。根据以上所述，为了去除漏泄量，可以使照射的激光跟踪纹3的中心。
图58A-58F用于说明为去除漏泄量的跟踪控制方法。
如图58A所示，激光照射光点240所示的位置时，可以得到具有图58D所示的包络线的数据再生信号Sd。另外，形成在纹3的两侧壁的摆动5的再生信号Sb具有图58B所示的波形。另外，通过比较器把图58B所示的摆动波形进行2值化，可以得到图58C所示的矩形波Sc。
这里，取图58E所示的上述矩形波Sc的上升沿时刻251与图58F所示的上述矩形波Sc的下降沿时刻252中的具有图58D所示的包络线的数据再生信号Sb的大小之差，把从跟踪信号减去与该差相当的信号后的信号作为新的跟踪信号使用，由此使激光跟踪纹3的中心。
另外，具有上述包络线的数据再生信号Sd的大小的差的值，由于与照射在纹3的激光的位置从纹3的中心线的偏移量成正比增大，因此如果用该偏离量校正跟踪信号，能够在纹3的中心线上进行跟踪。
图59是示出根据上述方法去除漏泄量的再生装置的总体结构。
如图59所示，该再生装置虽然具有与图44所示的再生装置相同的结构，然而不同点在于还具有连接再生信号放大电路114向伺服电路111供给跟踪信号的跟踪校正电路250。
其次，说明该再生装置的动作。由包含在光学头112中的光检测器113检测出的再生信号供给到再生信号放大电路114。而且，该再生信号中，磁光信号的再生信号供给到信号解调电路118和跟踪校正电路250，进而，跟踪误差信号供给到跟踪校正电路250。另外，再生信号中聚焦误差信号供给到伺服电路111，用于包含在光学头112中的物镜(未图示)的聚焦牵引。进而，再生信号中形成在纹3两侧壁的摆动5的再生信号供给到摆动检测电路115。在摆动检测电路115中，检测出图58B所示的摆动5的再生信号Sb，摆动5的再生信号Sb供给到跟踪校正电路250。跟踪校正电路250根据供给的磁光信号的再生信号与摆动5的再生信号Sb检测跟踪的偏移量，根据检测出的偏移量较正跟踪信号。
而且，被校正了的跟踪误差信号供给到伺服电路111，用于包含在光学头112中的物镜的跟踪。
图60示出跟踪校正电路250的结构。如图60所示，跟踪校正电路250包括同步检波电路260，连接同步检波电路260的积分电路264、265，连接积分电路264、265的减法器266，连接减法器266的减法器267。
另外，同步检波电路260包括取样保持电路261、262和摆动同步信号发生电路263。
以下，说明该跟踪校正电路250的动作。如图58D所示的数据再生信号Sb输入到包含在同步检波电路260中的取样保持电路261、262中。
另外，在摆动同步信号发生电路263中，把所输入的图58B所示的摆动5的再生信号Sb进行比较，生成图58C所示的矩形波Sc。而且，从该矩形波Sc生成与上升沿时刻同步的图58E所示的第1定时信号Se，与下降沿时刻同步的图58F所示的第2定时信号Sf，把第1定时信号Se供给到取样保持电路262，把第2定时信号Sf供给到取样保持电路261。取样保持电路261与从摆动同步信号发生电路263供给的第2定时信号Sf相同步，检测从再生信号放大电路114输入的数据再生信号Sd的大小，保持其值并且供给到积分电路264。另外，与此相同，取样保持电路262与从摆动同步信号发生电路263供给的第1定时信号Se相同步，检测从再生信号放大电路114输入的数据再生信号Sb的大小，保持其值并且供给到积分电路265。
积分电路264、265把所供给的值进行积分，把表示积分结果的信号供给到减法器266。减法器266取各积分电路264、265的积分值的差，把其结果输入到减法器267的负(-)端子。这里，在减法器267的正(+)端子输入跟踪使用的跟踪信号，减法器267从跟踪信号减去上述积分值的差，即，数据再生信号Sb的摆动宽度，作为被校正了的跟踪信号把其结果输出到伺服电路111。由此，能够校正跟踪的偏离，其结果，能够去除对于数据再生信号Sb的漏泄。
另外，跟踪校正电路250也可以具有图61所示的结构。即，跟踪校正电路250包括乘法器280和减法器267。
而且，在乘法器280中供给图58B所示的摆动5的再生信号Sb和图58D所示的数据再生信号Sd，这些信号的乘法运算结果输出到减法器267的负端子。
减法器267从被输入到正端子的跟踪信号减去上述减法结果，作为被校正了的跟踪信号把其结果输出到伺服电路111。
如果依据以上的跟踪校正电路250，根据被检测出的数据再生信号，始终校正跟踪信号，并且根据被校正的跟踪信号进行跟踪控制，因此在被检测出的数据再生信号中不发生的漏泄。
实施形态22本实施形态中，说明用于消除由于形成在纹3的侧壁上的摆动在磁光信号的再生特性中产生的漏泄的盘以及电路。
本实施形态的盘39在内周部分392和外周部分391中设置着TOC区域。这里，设置在内周部分392和外周部分391的TOC区域的双方或者一方记录有关漏泄量的信息，通过再生时检测该信息，从再生信号消除漏泄。
图63示出消除漏泄的电路的结构。输入到端子70的再生信号用带通滤波器(BPF)71去除了噪声以后，供给到PLL电路72和再生信号放大电路74。这里，PLL电路72中，输入图64A所示的摆动信号，生成同步信号。
该同步信号经过端子73供给到激光器驱动电路，译码器(未图示)，与同步信号相同步再生光磁信号。
另一方面，校正信号发生电路74，根据从端子75输入的记录在盘39的TOC区域的有关漏泄量的信息，进行校正使得图64A所示的摆动信号的相位和振幅与图64B所示的光磁信号的摆动波形的相位和振幅相等，把被校正了的摆动信号供给到减法器77的负端子。另外，从端子76，把迭加了图64B所示的摆动波形的光磁信号输入到减法器77的正端子。
减法器77从图64B所示的光磁信号减去被校正了的摆动信号生成图64C所示的信号。该生成的信号供给到译码器，进行了预定的解调以后，作为数据再生信号取出。
这样，可以消除形成在纹3的侧壁的摆动对于再生信号产生的漏泄。
实施形态23本实施形态中，决定根据记录在盘39的TOC区域的校正量变化的校正量，检测对于变化的各校正量的再生信号的出错率。而且，决定出错率为最小的校正量，作为再生信号获得对于所决定的校正量的信号。
图65示出本实施形态的漏泄消除电路的结构。校正量发生电路420中，输入基于从TOC区域再生的信息的校正量，决定根据该校正量变化的校正量的范围。另一方面，从端子421把再生信号输入到减法器422，减法器422从再生信号减去在校正量发生电路420中确定的各校正量。
其结果供给到出错率检测电路423，检测对于各校正量的出错率。这里，对于该校正量的出错率如图66所示具有极小点的关系，因此出错率检测电路423决定出错率为最小的校正量，从端子424输出对于所决定的校正量的再生信号。这种情况下，变化的校正量的范围是校正量的0.3～3倍。
实施形态24图67示出本实施形态的盘440的平面构造。如图67所示，盘440在内周部分392和外周部分391具有TOC区域，在信号记录区域445中，分组为记录了关于再生信号的信息的区域(以下称为「特定区域」)441、443和信号区域442、444。
这里，在特定区域441、443中，预先记录着[11111……],
,[1010101……]的某1个信号，在数据信号的再生之前再生这些信号。这些信号的记录由于排列为使得磁区的取向规则，因此可以得到与未记录数据情况的再生信号相同的信号。即，可以获得仅具有基于形成在纹3的侧壁的摆动成分的再生信号。从而，通过从再生信号减去该信号能够消除漏泄量。
图68示出本实施形态的漏泄消除电路的结构。
从端子450输入再生了[11111……],
,[1010101……]的某1个信号的图69A所示的再生信号Sg并且存储在波形存储器451中。
另一方面，从端子452把图69B所示的再生信号Sh输入到减法器453的正端子，与此相同步，在减法器453的负端子从波形存储器451输入图69A所示的再生信号Sg。减法器453从被输入的图69B所示的再生信号Sh减去图69A所示的再生信号Sg，把设有漏泄的图69C所示的信号Si输出到端子454。该信号供给到译码器，可以得到数据再生信号。
另外，这种情况下，通过记录[11111……],
,[1010101……]的信号检测漏泄量，然而通过施加磁头等的外部磁场的装置使得盘的再生层的磁化朝向1个方向也同样能够检测漏泄量。
实施形态25图70示出本实施形态的漏泄消除电路的结构。
输入到端子470的再生信号由A/D变换器471进行了A/D变换以后，供给到减法器475和同步检测电路472。在同步检测电路472中，从被供给的再生信号减去图71所示的摆动波形的再生信号，供给到加法器473。加法器473在100～10000次的范围把1个波长的再生信号进行相加，平均。而且，把其结果供给到波形存储器474中。另一方面，如上所述，A/D变换后的再生信号输入到减法器475的正端子，与此相同步负端子上从波形存储器474输入被平均化了的信号。加法器475从被输入的再生信号减去被平均化了的信号，消除漏泄。
实施形态26图72A-72D是用于说明本实施形态的漏泄消除方法原理的波形图。
图72A所示的波形BO表示4字节部分的信号，图72B所示的波形CO表示下1个4字节部分的信号。另外，图72A、72B所示的波形AO表示由形成在纹3的侧壁的摆动产生的摆动波形。这里，从图72A所示的波形BO减去波形AO，得到图72C所示的波形。
另外，在图72B所示的波形CO上加入波形AO，得到图72D所示的波形。这里，把波形AO的2倍振幅(以下，把振幅的2倍称为「全振幅」)记为A1，波形BO的全振幅记为B1，波形CO的全振幅记为C1，图72C所示的波形的全振幅记为Bh，图72D所示波形的全振幅记为Ch，则由于从(Ch-Bh)/2=[(C1+A1)-(B1-A1)]/2=A1(式中，C1=B1)能够正确地得到摆动波形的全振幅A1，因此通过取从图72A和图72B所示的波形BO,CO得到的全振幅B1、C1的差，能够得到消除了漏泄量的再生信号的全振幅。
实施形态27图73示出本实施形态的盘的平面构造。如图73所示，该盘540从内周向外周分割为n个区域541、……、54n，内周部分的区域541包括m个扇区5411、5412、5413、……、541m，外周部分的区域54n包括p个扇区54n1、54n2、54n3、……、54np。
这里，包含在各区域中的扇区的数目不限于相同，可以按照使信息的记录密度为最大进行决定。
图74是示出本实施形态的盘540的构造的透视图。如图74所示，盘540包括在一个侧壁上形成摆动553的纹551，与纹551相邻的不形成纹551、555的区域554，两个侧壁都没有摆动的纹555，纹间552。这里，区域554和纹555是接在纹551后交互反复形成的。
从而，关于纹间552，成为在一个侧壁上形成了摆动553以后，持续两个侧壁不摆动的状态。
图75示出图74所示的盘540的平面构造。如图75所示，盘540在平面上，纹551和纹间552的某一方侧壁上形成摆动553，随后按照每1个预定间隔561反复形成没有形成纹的区域554。
另外，具体地讲，在1个扇区中包含43个区域554。从而，图73所示的各扇区5411、5412、5413、……具有在其起始端形成伴随着摆动553的纹551，随后形成43个区域554的构造。
这里，摆动555的长度561是50～150μm的范围，区域554的长度562是0.5～4μm的范围。另外，纹551的长度563与纹555的长度561相同。另外，摆动553的全振幅是60～150nm的范围。
如以上所述，本实施形态的盘540的特征在于其构造是作为摆动553通过双相调制记录纹用和纹间用的地址信息，以预定的间隔形成区域554的构造。
由此，摆动553具有作为位于其两侧的纹间552和纹551中共同的地址信息的意义，区域554用于生成数据再生信号的记录或者再生中使用的同步信号。
即，激光光束从盘540的外周部分顺序地向内周部分进行扫描，在形成了扇区5411、5412、5413、……的区域中激光光束到达时，检测周期性出现的区域554，从基于区域554的检测的信号生成同步信号。
另外，摆动553形成在纹551的一个侧壁上，但也可以形成两侧壁上，这种情况下，作为纹间552或者纹551某一方的地址信息形成1个摆动553。
另外，盘540不限于光磁记录媒体，只要是具有相同构造的记录媒体就都可以同样进行考虑。
图76是示出在本实施形态的盘540上记录或者再生数据的装置的结构框图。如图76所示，该数据记录再生装置虽然具有与图44所示的再生装置相同的结构，然而不同点在于还具有磁头570，磁头驱动电路57，信号格式化电路586等。
首先，说明该装置的数据记录动作。通过光学头112在盘540上照射具有650(容许误差±15，以下相同)nm波长的激光光束，由区域554的光再生得到的再生信号和误差信号供给到再生信号放大电路114。而且，在再生信号放大电路114中把这些信号放大以后，分别把误差信号供给到伺服电路111，把再生信号供给到同步信号生成电路557中。
图77用于说明用包含在光学头112中的光检测器113进行的区域554的光再生。如图77所示，光检测器113的感光面分割为4个区域113a、113b、113c、113d，如箭头589所示那样配置盘540的半径方向，如箭头590所示那样配置切线方向。来自盘540的反射光用4个区域113a、113b、113c、113d检测，通过用区域113a、113d检测而生成的信号(A+D)，通过用区域113b、113c检测而生成的信号(B+C)输入到加法器587中。加法器587把信号(A+D)和信号(B+C)进行相加，其结果作为区域554的再生信号经过端子588供给到再生信号放大电路114。另外，也可以把区域554的再生信号获得为从信号(A+D)减去(B+C)的信号。
图78A是示出区域554的再生信号S1的波形图。如图78A所示，在激光光束照射区域554的时间T1～T2内，由于反射光的强度大，再生信号在该期间成为极大，每隔预定的间隔能够得到该极大值。
另外，照射在盘540上激光光束的光点以及光检测器113的感光面的直径由于大于纹间552的宽度，因此不仅在光再生纹551、555而且在光再生纹间52的情况下也可以获得具有图78A所示波形的再生信号S1。
另一方面，误差信号中，通过用减法器(未图示)从由区域113a、113c中的反射光的检测得到的信号(A+C)减去由区域113b、113d中的反射光的检测得到的信号(B+D)得到聚焦误差信号，从信号(A+D)减去信号(B+C)得到跟踪误差信号，并且分别供给到再生信号放大电路114中。
而且，再生信号放大电路路114在被供给的区域554的再生信号，跟踪误差信号以及聚焦误差信号中，分离出再生信号并且供给到同步信号生成电路557，把跟踪误差信号和聚焦误差信号供给到伺服电路111进而，同步信号生成电路557从被供给的区域554的再生信号生成同步信号。
图79用于说明同步信号生成电路557中的同步信号的生成。如图79所示，同步信号发生电路577包括比较器601,PLL电路602，时钟生成电路603。经过端子600输入到比较器601的图78A所示的区域554的再生信号S1在比较器601中与基准电压进行比较，图78B所示的信号S2从比较器601供给到PLL电路602。而且PLL电路602把与被输入的图78B所示的信号S2的上升沿相同步的图78C所示的定时信号TS供给到时钟生成电路603。时钟生成电路603响应上述的定时信号TS生成图78D所示的预定频率的同步信号CLK，经过端子604供给到伺服电路111，控制电路581以及信号格式化电路586中。
另外，本实施形态中，具体的讲，由于在区域554和区域554之间记录着68字节的数据，因此需要生成对应于544比特的同步信号CLK。从而，图78D所示的同步信号CLK成为在图78C所示的定时信号TS之间存在544个时钟的信号。
这样，生成了同步信号CLK以后，激光光束到达盘540的扇区5411、5412、5413、……，在扇区的起始端检测作为摆动533记录的地址信息。这里，地址信息通过双相调制把图80A所示的波形601记录为“1”，把图80B所示的波形611记录为“0”。从而，例如[1011010]的地址信息的摆动波形成为图80C所示的波形612。
图81A、图81B、图82用于说明检测作为摆动553记录的地址信息。
如图82所示，包含在光学头112中的光检测器113是与图77所示相同的光检测器，信号(A+D)和信号(B+C)输入到减法器630中。减法器630从信号(A+D)减去信号(B+C)，把其结果作为摆动553的再生信号经过端子631供给到再生信号放大电路114。从而，例如对于图80C所示的摆动的玻形612，把图81A所示的再生信号SA1供给到再生信号放大电路114中。
再生信号放大电路114把被供给的再生信号输出到地址检测电路578。
图83用于说明地址检测电路578。如图83所示，地址检测电路578包括比较器641和地址译码器642，例如，经过端子640输入的图81A所示的再生信号SA1在比较器641中与基准电压进行比较，变换图81B所示的两值化信号SA2。该2值化信号SA2输入到地址译码器642，地址译码器642从该2值化了的信号读出[1011010]的地址信息。这样检测出的地址信息经过端子643供给到控制电路581。
另一方面，伺服电路111与被输入的图78D所示的同步信号CLK相同步，以预定的转速使主轴电机120旋转的同时，通过跟踪误差信号，聚焦误差信号把包含在光学头112中的物镜进行跟踪伺服控制以及聚焦伺服控制。
另外，控制电路581根据从地址检测电路578输入的地址信息，把图78D所示的同步信号CLK供给到定时设定电路583。
定时设定电路583响应从控制电路581供给的同步信号CLK，生成用于获取把由包含在光学头112中的半导体激光器生成的激光光束脉冲化以后照射到盘540上的定时的第1定时脉冲，决定用于在通过磁头570在盘540上施加脉冲磁场的同时切换其S/N极的占空比和施加定时的第2定时脉冲。而且，分别把第1定时脉冲供给到占空比(duty)校正电路582，把第2定时脉冲供给到磁头驱动电路571。这里，第1定时脉冲在第2定时脉冲的S/N极切换时成为激光器不点亮的相位关系。这是因为在把磁场从S极切换为N极时存在一定的迁移时间，如果在该时刻把激光照射在盘上则不能够正确地记录数据。
另外，信号格式化电路586与从同步信号生成电路577供给的同步信号相同步，把记录的数据格式化，供给到磁头驱动电路571。
另外，磁头驱动电路571运算从定时设定电路583供给的第2定时脉冲与从信号格式化电路586供给的数据信号的逻辑和，根据其运算结果驱动磁头570，记录数据。
另外占空比校正电路582把从定时设定电路583供给的第1定时脉冲添加使激光光束接通或者断开的预定的占空比并且供给到激光器驱动电路119，激光器驱动电路119响应被供给的第1定时脉冲驱动包含在光头112中的半导体激光器。这样，脉冲化了的激光光束照射在盘540上。
其次，参照图76说明数据的再生动作。通过光学头112在盘540上照射具有650nm波长的激光光束，与数据信号的记录时相同再生区域554以及数据信号，被光再生了的区域554以及摆动553的再生信号、误差信号、数据再生信号都供给到再生信号放大电路114。这些信号在再生信号放大电路114中被放大以后，误差信号供给到伺服电路111，数据再生信号供给到低通电路579，区域554的再生信号供给到同步信号生成电路577，基于摆动533的再生信号供给到地址检测电路578。
控制电路581根据从地址检测电路578供给的地址信息，把图78D所示的同步信号CLK供给到定时设定电路583和A/D变换器580。
而且，定时设定电路583响应从控制电路输入的同步信号CLK，生成决定使由包含在光学头112中的半导体激光器生成的激光光束照射在盘540的定时的第1定时脉冲，并且供给到占空比校正电路582。
占空比校正电路582在被输入的第1定时脉冲上添加使激光光束接通或者断开的预定的占空比后供给到激光器驱动电路119。激光器驱动电路119根据该第1定时脉冲驱动包含在光学头112中的半导体激光器，脉冲化了的激光光束照射在盘540上。另外，数据再生时在盘540上不加入磁场。
另一方面，低通电路579去除从再生信号放大电路114供给的数据再生信号中的高频成分的噪声，把去除了噪声的数据再生信号供给到A/D变换器580。
A/D变换器580与从控制电路581输入的同步信号CLK相同步把该数据再生信号进行A/D变换，把数据再生信号供给到高通滤波器584。
高通滤波器584从该数字再生信号去除盘540中的多次折射等引起的低频噪声，把数字再生信号供给到PRML(Partial ResponseMaximum Like hood)电路585。
而且，PRML电路585把数字再生信号进行3值(3电平)判别，更正确地解调再生数据。
另外，在上述数据再生动作中，同步信号发生电路577，地址检测电路578以及伺服电路111的动作与数据记录时的动作相同。
如以上所述，如果基于本实施形态的盘，则由于在记录或者再生数据信号的区域的纹555的两侧壁不形成摆动，因此纹555的反射光的偏振方向不会产生由于受摆动影响而在数据再生特性方面带来不良影响这样的漏泄，能够得到良好的再生特性。另外，由于每隔68字节设置不形成为了生成同步信号所利用的摆动551、555的区域554，因此能够可靠地生成同步信号，能够使数据信号的记录或再生时的特性提高。
另外，本实施形态的盘540中，为生成同步信号在纹551和纹555之间周期性地形成区域554，然而不限于这样的构造，发明者认为具有激光光束的反射光强度周期性地变化这样构造的记录媒体也能够起到相同的效果。
权利要求
1．一种记录媒体，其特征在于，具备至少一个侧壁对应于地址信息进行摆动的第1纹(3、555)；与上述第1纹相连接，形成为具有周期性的形状变化的同时，记录数据的第2纹(3、555)。
2．一种记录媒体，其特征在于，具备具有一定宽度，并且具有对应于地址信息进行摆动的侧壁的纹(3、3O、3E)。
3．一种记录媒体，其特征在于，具备包括至少一方的宽度发生变化的纹间以及第1纹的地址识别部(21)；包括具有对于1个数据对应于2个地址信息进行摆动的侧壁，具有一定宽度，同时与上述第1纹连接的第2纹的地址部(22)。
4．一种记录媒体，其特征在于，具备对应于地址信息两侧的侧壁对称地进行摆动的纹(3)。
5．一种记录媒体，其特征在于，具备包括至少一方的宽度发生变化的纹间以及第1纹的地址识别部(21)；包括对于1个数据对应于2个地址信息、两侧的侧壁对称地进行摆动的同时，与上述第1纹连接的第2纹的地址部(700)。
6．一种记录媒体，其特征在于，具备在记录数据的数据部分中，具有一定宽度，并且具有周期性摆动侧壁的第1纹(3)。
7．如权利要求6所述的记录媒体，其特征在于还具备具有一定宽度，具有对应于地址信息进行摆动的侧壁，并且与上述第1纹连接的第2纹(3O、3E)。
8．如权利要求6所述的记录媒体，其特征在于还具备对应于地址信息、两侧的侧壁对称地摆动的同时，与上述第1纹连接的第2纹(3)。
9．一种记录媒体，其特征在于在记录了数据的数据部中，具备两侧的侧壁对称，而且周期性地摆动的第1纹(3)。
10．如权利要求9所述的记录媒体，其特征在于还具备具有一定的宽度，具有对应于地址信息进行摆动的侧壁，与上述第1纹连接的第2纹(3O、3E)。
11．如权利要求9所述的记录媒体，其特征在于还具备对应于地址信息、两侧的侧壁对称地摆动，并且与上述第1纹连接的第2纹(3)。
12．一种记录媒体，其特征在于在记录了数据的数据部中，具备至少在一方的侧壁上每隔预定的间隔形成精确时钟标记(20)的第1纹(3)。
13．如权利要求12所述的记录媒体，其特征在于还具备具有一定的宽度，具有对应于地址信息进行摆动的侧壁，并且与上述第1纹连接的第2纹(3O、3E)。
14．如权利要求12所述的记录媒体，其特征在于还具备对应于地址信息两侧的侧壁对称地进行摆动，并且与上述第1纹连接的第2纹(3)。
15．一种记录媒体，其特征在于，具备至少一方的侧壁对应于地址信息进行摆动的纹(3)。
16．一种记录媒体，其特征在于，具备包括至少一方的侧壁对应于地址信息进行摆动并且具有一定长度的第1纹(551)的地址部；包括与上述地址部连接，两侧壁不进行摆动，具有预定长度，并且记录了数据的多个第2纹(555)的数据部，上述多个第2纹以预定的间隔串联排列。
17．一种记述媒体，其特征在于在记录了数据的数据部中，具备至少一方的侧壁周期性地摆动的纹(3)。
18．一种再生装置，再生包括对于1个数据记录了2个地址信息的地址部，对应于上述1个数据记录了1个地址识别信息的地址识别部的再生记录媒体，其特征在于，具备在上述记录媒体上照射光，检测来自上述记录媒体的反射光的检测装置(113)；响应由上述检测装置检测出的反射光，再生上述地址信息的地址信息再生装置(244、53、54、57)；响应由上述检测装置检测出的来自上述地址识别部的反射光，再生上述地址识别信息的地址识别信息再生装置(100、110)；响应由上述地址识别信息再生装置再生的上述1个地址识别信息，选择由上述地址信息再生装置再生了的上述2个地址信息中的某1个的选择装置(268)。
19．一种再生装置，再生记录了数据的数据部中，形成至少一方的侧壁以预定的周期进行摆动的纹的再生记录媒体，其特征在于，具备在上述记录媒体上照射光，检测来自上述记录媒体的反射光的检测装置(113)；响应上述检测装置检测出的来自上述数据部的反射光的强度变化，生成具有上述预定周期的同步信号的同步信号生成装置(117、247)；响应由上述检测装置检测出的来自上述数据部的反射光生成再生信号，通过与上述同步信号相同步而解调上述再生信号，再生上述数据的再生装置(114、118)。
20．如权利要求19所述的再生装置，其特征在于，具备响应上述同步信号，检测由上述检测装置检测出的来自上述数据部的反射光的强度的再生信号电平检测装置(260)；响应由上述再生信号电平检测装置检测出的上述反射光的强度的变化量，跟踪控制上述检测装置的跟踪控制装置(266、267)。
全文摘要
本发明涉及用于以简易的结构得到特性良好的再生数据的磁光记录媒体及其再生装置，提供具备对应于地址信息至少一方的侧壁进行摆动的多个第1纹(3)，夹在与第1纹连接的第2纹的纹间的宽度发生变化的地址标记(21)，形成为两侧的侧壁对称，而且周期性地摆动，在磁记录数据的数据部中与第2纹连接的第3纹(3)的磁光记录媒体，以及再生该光磁记录媒体的装置。
文档编号G11B7/005GK1238060SQ97199900
公开日1999年12月8日 申请日期1997年7月14日 优先权日1996年9月26日
发明者浅野贤二, 间宫升, 内原可治, 鹫见聪, 中尾贤治, 渡部浩志, 日置敏昭, 堀吉宏, 松山久, 虎泽研示, 棚濑健司, 田中小夜子, 铃木誉久, 堀茂树 申请人:三洋电机株式会社