专利名称：100线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，是能对引线根数100线、节距 仅为0. 5mm的陶瓷四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化筛选和性能测试的插座。 本实用新型属电子信息技术可靠性领域。
背景技术：
目前，在我国电子元器件可靠性技 术领域，公知的国内一般老化试验插座的本 体材料大都采用的是非耐高温普通塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅 为-25°C +85°C，工作时间短、接触件节距宽、引线根数少、结构简单，存在着与被测器件 之间接触电阻大、老化温度低、一致性差和使用寿命短的重大缺陷，不能满足对器件的质量 筛选和性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。国内在可靠性技术领域内特别是对 配套于神舟飞船、大推力火箭、卫星、核潜艇、洲际导弹及其它国防军工、航天、航空、航海、 通信等重点国防尖端武器装备等重大项目的集成电路、微电子元器件，尚无高低温老化、测 试、筛选及可靠性试验的专用测试装置，所使用的测试插座大量依赖国外进口，价格极为昂 贵，国家每年要花费大笔外汇进口产品，订货周期较长，特殊规格的产品无法订货，部分重 要产品还因禁运而影响我国军用电子元器件研发生产进度。
发明内容为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不 足，本实用新型提供一种新型的专用于集成电路、微电子元器件在线通电状态下进行高低 温老化、测试、筛选及可靠性试验的100线、节距仅为0. 5mm的陶瓷四边引线扁平封装元 器件老化测试插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从_25°C +85°C扩展至-55°C +150°C，一次老化连续工作时间长达1500h(150°C )以上，插拔寿命8000次以上，而且在对 被测试器件进行高温老化试验和性能测试过程中，具有接触件细节距、引线根数多、接触电 阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠 性和使用寿命。本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是按照100线陶瓷四边引线扁平封 装体元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即由插座体、接触件和定 位装置三个部分统一组成。插座体由座、盖和钩组成，用于被试器件的自动压紧。接触件与 被试器件引出线相对应，由对称的100线、0. 5mm细节距的镀金簧片纵向排列组成，采用与 被试器件引出线相对应的方式，每面三排，采用中心对称方式排列在插座座体四面凹槽中， 即安装于插座体的座中。插座体和接触件是一个统一整体。插座的定位装置由座、压块和 定位板组成，与被试器件的引线与接触件相对应并安装在定位板上。插座的锁紧装置由座、 盖、钩、压块和定位板组成，定位板下面安装的压簧有很好的弹性力，促使插座更好的达到 锁紧的效果，保证被试器件受力均勻，这种翻盖式结构把接触件设计成自动压紧锁、零插拔 力结构。插座体选用耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体。该实用新型还采用由座、定位板和压块组成定位装置的新样式，插座体的座、盖、钩、压块和定位板可起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，使盖及安装在盖上的压块产生位移， 由于压块向下运动，被试器件压紧接触件，而定位板下面安装的压簧有很好的弹性，可以保 证被试器件受力均勻，促使插座达到更好的压紧效果。接触件采用弹性结构曲梁式设计冲 压成型，经300°C高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金。该实用新型在同一系列中属于 细小节距结构，接触件的节距仅为0. 5mm。这种翻盖式结构设计成零插拔力式的结构，可避 免接触件插拔时磨损电镀层，影响电接触性能，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过 程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点，还可以满足被试器件 不同引线(100线以内)的要求。本实用新型的有益效果是该实用新型可以满足军民通用的100线0. 5细节距和 其它同类陶瓷四边引线扁平封装元器件高温老化试验和性能测试，填补了国内空白，替代 进口，为国家节约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。
以下结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。
图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。图2是本实用新型外型结构俯视图。图1 :1中脚接触件、2座、3后脚接触件、4、定位板、5压簧、6前脚接触件、7轴、8扭 簧、9盖、10压块、11轴、12压簧、13钩
具体实施方案在在图1中，第一步，将前脚接触件(5)、中脚接触件(1)和后脚接触件(3)按与被 试器件引出线相对应结构插入座(2)中；第二步，将压簧(5)和定位板(4)装入座(2)中； 第三步，将压块(10)、轴(11)、钩(13)、压簧(12)和轴(7)装入插座体的盖(9)之中；第四 步，将装好的盖(9)、轴(7)和扭簧(8) —起装入插座体的座(2)中。该方案中，插座体和定位板用于被试器件的定位安装，同时插座体还起自动压紧 装置的作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，被试器件自动压紧接触件；活动的压块可以保 证被试器件受力均勻；接触件由镀金簧片按与被试器件引出线相对应、自动压紧和零插拔 力结构安装于插座体的座中。
权利要求1.一种100线0. 5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其特征是它是由 插座体、接触件和定位装置三个部分统一组成，插座体由座( 、盖(9)和钩(1 组成，用于 被试器件的自动压紧，接触件(1)、接触件(3)、接触件(6)与被试器件引出线相对应并安装 于插座体的座中。
2.根据权利要求1所述的100线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座， 其特征是插座体和接触件是一个统一整体，接触件(1)、接触件(3)、接触件(6)由对称的 100线、0. 5mm细节距的镀金簧片纵向排列组成，每面三排分别安装于座⑵的4面凹槽中。
3.根据权利要求1所述的100线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座， 其特征是插座的锁紧装置由座O)、盖(9)、钩(13)、压块(10)和定位板(4)组成，定位板 (4)下面安装有压簧，这种翻盖式结构把接触件设计成自动压紧锁、零插拔力结构。
4.根据权利要求1所述的100线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座， 其特征是插座的定位装置由座O)、压块(10)和定位板(4)组成，被试器件的引线与接触 件相对应并安装在定位板上。
专利摘要本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，能对引线根数100线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本实用新型按100线陶瓷四边引线片式载体系列、0.5节距封装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和定位装置。插座体由座、盖和钩组成，插座体的座、盖、钩、压块和定位板可起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，使盖及安装在盖上的压块产生位移，由于压块向下运动，被试器件压紧接触件，而定位板下面安装的压簧有很好的弹性，可以保证被试器件受力均匀，促使插座达到更好的压紧效果。接触件采用与被试器件引出线相对应的方式，每面三排接触件，采用中心对称安装在插座座体的四面凹槽内。插座由座、定位板和压块组成定位装置，被试器件的引线与接触件相对应并安装在定位板上。
文档编号H01R13/02GK201876477SQ201020281948
公开日2011年6月22日 申请日期2010年8月2日 优先权日2010年8月2日
发明者曹金学 申请人:曹金学