专利名称：64线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，是能对64线0.5mm节距陶瓷四 边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化筛选试验和性能测试的插座；本实用新型属电 子信息技术微电子元器件可靠性领域。
背景技术：
目前，在我国电子元器件可靠性技术领域，公知的国内一般老化试验插座的本 体材料大都采用的是非耐高温普通塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅 为-25°C +85°C，工作时间短、接触件节距宽、引线根数少、结构简单，存在着与被测器件 之间接触电阻大、老化温度低、一致性差和使用寿命短的重大缺陷，不能满足对器件的质量 筛选和性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。国内在可靠性技术领域内特别是对 配套于神舟飞船、大推力火箭、卫星、核潜艇、洲际导弹及其它国防军工、航天、航空、航海、 通信等重点国防尖端武器装备等重大项目的集成电路、微电子元器件，尚无高低温老化可 靠性试验和测试的专用测试装置，所使用的测试插座大量依赖国外进口，价格极为昂贵，国 家每年要花费大笔外汇进口产品，订货周期较长，特殊规格的产品无法订货，部分重要产品 还因禁运而影响我国军用电子元器件研发生产进度。
发明内容为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不 足，本实用新型提供一种新型的专用于集成电路、微电子元器件在线通电状态下进行高低 温老化、测试、筛选及可靠性试验的64线节距仅为0. 5mm的陶瓷四边引线扁平封装元器件 插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从-25°C +85°C扩展至-55°C +150°C，一次老 化连续工作时间长达1500h(150°C)以上，插拔寿命8000次以上，而且在对被测试器件进行 高温老化试验和性能测试过程中，具有引线根数多、接触件节距细、接触电阻小、一致性好、 低插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是按照64线0. 5节距陶瓷四边引 线扁平封装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件 和定位装置。插座体主要由座、盖和钩组成，选用耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺 技术制造成插座本体，接触件由轴向对称的64线、0. 5mm细节距的镀金簧片纵向排列组成， 与被试器件引出线相对应，分别安装于座的4面凹槽中。插座的锁紧装置由座、盖、钩、压块 和定位板组成，插座体的座、盖、钩及压块和定位板可起压紧装置作用，当被试器件放在定 位板上，钩受力向下翻转与座啮合时，使盖及安装在盖上的压块产生位移，由于压块向下运 动，被试器件压紧接触件，而定位板四个脚上有压簧，有很好的弹性，促使插座达到更好的 压紧效果。该实用新型在同一系列中属于细节距结构，接触件的节距仅有0. 5mm。采用与被 试器件引出线相对应的方式，并由中心对称、四面排列形式组成。该实用新型还采用由定位 板和压块组成定位装置的新样式，被试器件的引线与接触件相对应并安装在定位板上。通电后进行高温老化试验和性能测试。这种翻盖式结构设计成零插拔力式的结构，可避免接 触件插拔时磨损电镀层，影响电接触性能，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中 的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点，还可以满足被试器件不同 引线的要求。本实用新型的有益效果是该实用新型可以满足军民通用64线和其它同类陶瓷 四边引线扁平封装元器件高温老化试验和性能测试；本实用新型的研制成功填补了国内空 白，替代进口，为国家节约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效果。
以下结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。
图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。图2是本实用新型外型结构俯视图。图1 :1中脚接触件(簧片)2座3前脚接触件(簧片)4定位板5压簧6后脚 接触件(簧片)7轴8扭簧9盖10压块11轴12压簧13钩
具体实施方式
在图1中，第一步将接触件即前脚簧片(3)中脚簧片⑴和后脚簧片(6)按与 被试器件引出线相对应的结构插入座O)中；第二步将钩(13)、压簧(12)、轴(7)装入盖 (9)内；第三步将压簧(5)和定位板⑷装入座(2)内；第四步将压块(10)、轴(11)装 入盖(9)内；第五步再将装好的盖(9)、轴(7)和扭簧⑶装入座⑵内。该方案中，插座体用于被试器件的自动压紧，当钩受力向下翻转与座啮合时，被试 器件自动压紧接触件；接触件由镀金簧片按与被试器件引出线相对应、自动压紧和零插拔 力结构安装于插座体的座中；还采用由定位板和压块进行定位的新样式，确保被试器件放 入时的引线与接触件相对应并；定位块下的压簧可以确保接触件受力均勻。
权利要求1.一种64线0. 5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其特征是它是由插 座体、接触件和定位装置三个部分统一组成，插座体由座( 、盖(9)和钩(1 组成，插座体 选用耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造而成，接触件(1)、(3)、(6)与被试 器件引出线相对应并安装于插座体的座中。
2.根据权利要求1所述的64线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其 特征是插座体和接触件(1)、(3)、(6)是一个统一整体，接触件(1)、(3)、(6)由轴向对称 的64线、0. 5mm细节距的镀金簧片纵向排列组成，分别安装于座的4面凹槽中。
3.根据权利要求1所述的64线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其 特征是插座的锁紧装置由座O)、盖(9)、钩(13)、压块(10)和定位板(4)组成，定位板四 个脚上有压簧(5) (12)，这种翻盖式结构把接触件设计成自动压紧锁、零插拔力结构。
4.根据权利要求1所述的64线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其 特征是插座的定位装置由压块(10)和定位板(4)组成，被试器件的引线与接触件相对应 并安装在定位板上。
专利摘要本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，能对64线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老炼筛选和性能测试的插座。本实用新型按64线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装型的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和定位装置。插座体由座、盖和钩组成，插座体还起压紧装置作用，当被试器件安装在定位板上后，钩受力向下翻转与座啮合时，盖及压块向下运动，使被试器件压紧接触件。接触件采用与被试器件引出线相对应的方式，并由中心对称、四面排列形式组成。定位装置由定位板和压块组成。
文档编号H01R13/42GK201927782SQ20102028194
公开日2011年8月10日 申请日期2010年8月2日 优先权日2010年8月2日
发明者曹金学 申请人:曹金学