X技术
首页
登录
注册
半导体器件及其制造方法与流程
文档序号:12180374
阅读:
来源:国知局
导航:
X技术
>
最新专利
>
电气元件制品的制造及其应用技术
>
半导体器件及其制造方法与流程
技术总结
本公开提供了一种半导体器件,该半导体器件包括:块分隔器,包括半导体膜和多层绝缘膜,其中,多层绝缘膜围绕半导体膜;存储块层叠,通过块分隔器彼此分开,每个存储块层叠包括交替地层叠的层间绝缘膜和导电图案,其中,导电图案耦接到存储单元;以及通道结构,穿过存储块层叠并且电耦接到存储单元。
技术研发人员:
李南宰
受保护的技术使用者:
爱思开海力士有限公司
文档号码:
201610121272
技术研发日:
2016.03.03
技术公布日:
2017.03.08
完整全部详细技术资料下载
当前第3页
1
 
2
 
3
 
相关技术
半导体器件及其制造方法与流程
存储器元件及其制造方法与流程
半导体结构及其制造方法与流程
具有衬层的鳍型场效应晶体管的...
拉伸性硅和压缩性硅锗的共整合...
用于减小开关功率损耗的方法和...
半导体器件的制作方法与工艺
半导体器件的制作方法与工艺
具有金属裂纹停止的集成电路结...
具有裂纹终止的集成电路结构及...
网友询问留言
已有
0
条留言
还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1
半导体器件物理与工艺相关技术
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
检查方法和系统以及使用其检查半导体器件的方法与流程
半导体器件的制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件的制造方法与流程
静电放电ESD保护器件和半导体装置的制造方法
一种工艺控制监控PCM器件及监控方法与流程
半导体存储器件及其操作方法与流程
功率半导体器件基础相关技术
半导体器件及其制造方法、半导体模块和电子器件与流程
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
检查方法和系统以及使用其检查半导体器件的方法与流程
半导体器件的制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
功率半导体器件的分类系统和分类方法与流程
半导体器件的制造方法与流程
静电放电ESD保护器件和半导体装置的制造方法
半导体器件基础相关技术
半导体器件及其制造方法、半导体模块和电子器件与流程
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
检查方法和系统以及使用其检查半导体器件的方法与流程
半导体器件的制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
功率半导体器件的分类系统和分类方法与流程
半导体器件的制造方法与流程
静电放电ESD保护器件和半导体装置的制造方法
半导体器件相关技术
一种混合型直流断路器及其分断方法与流程
一种零电压直流断路器及投入分断方法与流程
一种半导体器件及其制备方法与流程
一种Micro LED显示器件的制备方法与流程
一种兼顾光热协同管理的半导体器件的制造方法与工艺
基于横向结构发光二极管的制造方法与工艺
基于AlInAsSb体材料作倍增区的雪崩光电二极管及其制备方法与流程
一种半导体器件及制造方法与流程
半导体器件的制造方法与工艺
鳍式场效应晶体管结构及其制造方法与流程
半导体器件物理相关技术
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
检查方法和系统以及使用其检查半导体器件的方法与流程
半导体器件的制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件的制造方法与流程
静电放电ESD保护器件和半导体装置的制造方法
一种工艺控制监控PCM器件及监控方法与流程
半导体存储器件及其操作方法与流程
单极型半导体器件是相关技术
散热型半导体器件的制造方法与工艺
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件、FINFET器件及其形成方法与流程
半导体器件及制造方法与流程
半导体器件及制造方法与流程
半导体器件及制造方法与流程
半导体器件及制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件及其制造方法与流程
半导体器件及其操作方法与流程