技术总结
本发明提供了一种连接器、直插式DRAM颗粒、内存测试装置及方法，所述连接器包括：连接器本体和至少一个连接插针，其中，每一个所述连接插针包括插针本体、位于所述插针本体一端的动态随机存取存储器DRAM连接结构、位于所述插针本体另一端的焊盘连接结构；所述DRAM连接结构和所述焊盘连接结构具有导电特性；每一个所述连接器插针的插针本体穿透所述连接器本体，并使得所述DRAM连接结构和所述焊盘连接结构分别位于所述连接器本体的两侧；所述DRAM连接结构，用于通过两侧夹持的方式连接外部内存条上的DRAM颗粒；所述焊盘连接结构，用于通过插接的方式连接外部焊盘。本发明提供的方案能够针对内存条上每一个DRAM颗粒进行测试。
技术研发人员：李德恒
受保护的技术使用者：浪潮电子信息产业股份有限公司
文档号码：201610634329
技术研发日：2016.08.05
技术公布日：2017.01.04