米样开关Mssi的控制电路另一实施例的等效不意图。如图7所不，控制电路720的架构是基于图5所示控制电路420的架构，主要区别在于控制电路720使用多个晶体管制信号CK N1的信号电平。在本实施例中，晶体管M D及M E可根据控制信号SCe& SC D (例如，这两个控制信号SCe& SC D均对应于高电平)将信号CK N1的信号电平调节到低电平(例如，图6所示时间点Tl)，晶体管1￡可根据控制信号SC c (例如，控制信号SCc对应于低电平)控制信号CKni的信号电平以保持处于高电平并处于预定时间周期。应理解，本发明实施例还可以采用不同的电路拓扑结构提供控制信号SCc及SCD，并不局限于上述，此处不再对其予以赘述。
[0037]综上所述，本发明实施例的采样电路及其采样方法，使得各信号路径之间的失配源可仅为采样开关，因此可减少失配源，并减少由失配源导致的定时偏斜。并且，通过增大采样开关的设备尺寸可进一步减少失配源。另外，该采样电路由于可使用一个或多个底板采样及保存缓冲电路，因此还可以被融合在乘法数模转换器中。
[0038]再次说明，以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，例如各实施例之间技术特征的相互结合，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
【主权项】
1.一种对输入信号进行采样的采样电路，其特征在于，包括: 信号产生电路，产生第一控制信号； 采样开关，具有控制节点，所述采样开关用于根据所述控制节点处的信号电平确定所述输入信号的米样时间；以及 控制电路，控制所述控制节点处的所述信号电平，其中当所述控制节点的所述信号电平对应于第一电平时，且在改变所述第一控制信号的信号电平以将所述控制节点的所述信号电平调节到第二电平之前，所述控制电路将所述第一控制信号耦接到所述控制节点。2.如权利要求1所述的对输入信号进行采样的采样电路，其特征在于，当所述控制节点处的所述信号电平对应于所述第一电平时，所述采样开关接通，当所述控制节点处的所述信号电平对应于所述第二电平时，所述采样开关断开。3.如权利要求1所述的对输入信号进行采样的采样电路，其特征在于，所述第一控制信号是时钟信号。4.如权利要求1所述的对输入信号进行采样的采样电路，其特征在于，所述信号产生电路还用于产生第二控制信号，且所述控制电路包括: 晶体管，具有控制节点、第一连接节点及第二连接节点，其中所述晶体管的所述第一连接节点耦接到所述采样开关的所述控制节点，所述晶体管的所述第二连接节点耦接到所述第一控制信号；以及 电平移位电路，耦接到所述晶体管的所述控制节点，所述电平移位电路用于根据所述第二控制信号对所述晶体管的所述控制节点选择性地施加偏压。5.如权利要求4所述的对输入信号进行采样的采样电路，其特征在于，所述电平移位电路是耦接在所述晶体管的所述控制节点与所述晶体管的所述第二连接节点之间的升压电路(voltage boosting circuit)，且所述升压电路用于通过所述第二控制信号增大所述晶体管的所述控制节点与所述晶体管的所述第二连接节点之间的电压差，对所述晶体管的所述控制节点施加所述偏压。6.如权利要求1所述的对输入信号进行采样的采样电路，其特征在于，在将所述控制节点的所述信号电平调节到所述第二电平之后，所述控制电路进一步用于控制所述控制节点的所述信号电平，以使其在预定时间段内保持处于所述第二电平。7.如权利要求6所述的对输入信号进行采样的采样电路，其特征在于，所述信号产生电路还用于产生第三控制信号，且所述控制电路包括: 晶体管，具有控制节点、第一连接节点及第二连接节点，其中所述晶体管的所述控制节点耦接到所述第三控制信号，所述晶体管的所述第一连接节点耦接到参考电压，所述晶体管的所述第二连接节点耦接到所述采样开关的所述控制节点； 其中，在将所述采样开关的所述控制节点的所述信号电平调节到所述第二电平之后，所述控制电路根据所述第三控制信号控制所述控制节点的所述信号电平，以使其保持在所述第二电平。8.如权利要求1所述的对输入信号进行采样的采样电路，其特征在于，所述采样开关还具有第一连接节点，且所述采样电路还包括: 晶体管，具有控制节点、第一连接节点及第二连接节点，其中所述晶体管的所述控制节点耦接到所述采样开关的所述控制节点，所述晶体管的所述第一连接节点耦接到预定电压，且所述晶体管的所述第二连接节点耦接到所述采样开关的所述第一连接节点； 电容器，包括第一端子和第二端子，所述电容器的第一端子耦接到所述采样开关的所述第一连接节点；以及 输入开关，用于将所述输入信号选择性地耦接到所述电容器的所述第二端子。9.一种采样电路的控制方法，所述采样电路包括具有控制节点的采样开关，所述采样开关根据所述控制节点的信号电平确定输入信号的采样时间，其特征在于，所述控制方法包括: 产生第一控制信号；以及 当所述控制节点的所述信号电平对应于第一电平时，且在改变所述第一控制信号的信号电平以将所述控制节点的所述信号电平调节到第二电平之前，将所述第一控制信号耦接到所述控制节点。10.如权利要求9所述的采样电路的控制方法，其特征在于，当所述控制节点的所述信号电平对应于所述第一电平时，所述采样开关接通，当所述控制节点的所述信号电平对应于所述第二电平时，所述采样开关断开。11.如权利要求9所述的采样电路的控制方法，其特征在于，所述第一控制信号是时钟信号。12.如权利要求9所述的采样电路的控制方法，其特征在于，所述控制方法还包括:在将所述控制节点的所述信号电平调节到所述第二电平之后，控制所述控制节点的所述信号电平，以使其在预定时间段内保持在所述第二电平。13.一种对输入信号进行采样的采样电路，其特征在于，包括: 信号产生电路，用于产生第一控制信号； 多个采样开关，每个所述采样开关均具有对应的控制节点，其中每个所述采样开关用于根据所述对应的控制节点的信号电平确定所述输入信号的采样时间；以及 控制电路，用于控制每个所述采样开关的所述对应的控制节点的所述信号电平，其中当所述对应的控制节点的所述信号电平对应于第一电平时，且在改变所述第一控制信号的信号电平以将所述对应的控制节点的所述信号电平调节到第二电平之前，所述控制电路将所述第一控制信号耦接到所述对应的控制节点； 其中，所述控制电路将所述第一控制信号交替地耦接到各所述采样开关的所述对应的控制节点。14.如权利要求13所述的对输入信号进行采样的采样电路，其特征在于，当所述对应控制节点的所述信号电平对应于所述第一电平时，所述采样开关接通，当所述对应控制节点的所述信号电平对应于所述第二电平时，所述采样开关断开。15.如权利要求13所述的对输入信号进行采样的采样电路，其特征在于，所述第一控制信号是时钟信号。16.如权利要求13所述的对输入信号进行采样的采样电路，其特征在于，在将所述控制节点的所述信号电平调节到所述第二电平之后，所述控制电路进一步用于控制所述对应的控制节点的所述信号电平，以使其在预定时间段内保持在所述第二电平。
【专利摘要】本发明提供一种对输入信号进行采样的采样电路及其控制方法。该采样电路包括信号产生电路、采样开关及控制电路，信号产生电路产生第一控制信号，采样开关具有控制节点，并用于根据控制节点的信号电平确定输入信号的采样时间，控制电路控制控制节点的信号电平，其中当控制节点的信号电平对应于第一电平时，且在改变第一控制信号的信号电平以将控制节点的信号电平调节到第二电平之前，控制电路将第一控制信号耦接到控制节点。本发明能够减少各信号路径之间的失配源，减少由失配源导致的定时偏斜。
【IPC分类】H03M1/54
【公开号】CN105099455
【申请号】CN201510239896
【发明人】连原庆
【申请人】联发科技股份有限公司
【公开日】2015年11月25日
【申请日】2015年5月12日
【公告号】EP2945163A1, US20150333755