专利名称：电路板trl测试线的布线改良装置的制作方法
技术领域：
本实用新型为一种电路板TRL(Through Reflection Line)测试线的布线改良装置，特别是应用在高频电路中具有射频组件的传输线设计的电路中，以对该电路板或该射频组件做特性阻抗等相关测试。
(2)背景技术在一般高频的无线通讯所使用的印刷电路板中，由于所使用频率极高，故通常对于在电路板中的各组件的配置以及相关电路布线的设计均需严格设计与布置，以避免电路产生高频效应或其它不良效应的产生，而影响到整个电路的电气特性，尤其是目前流行的个人数字助理器(Personal Digital Assistant；PDA)以及非常普遍的移动电话以及其它高频通信产品，对于讯号的传输效能以及抗噪声能力要求更高。
在一般电路板或是主机板上除了一般传送讯号或电源的布线设计外，通常都会对传输线(trace)的设置特别注重，而为了验证电路板上传输线的设置及相关特性，例如是电路板的传输效能与特性阻抗的匹配以及抗噪声的能力等等，通常会在电路板的板边上加上若干测试线，以测试该电路板或该传输线的特性，并且在一般情况下可能必须设计若干条具有不同阻值的测试线方能达成目的。
而在对高频电路效能的整体评估中，射频组件在该电路的特性以及阻抗值为一项重要的影响因素，而在该电路板的各样组件被安装至电路板后必须对该电路板中的某些信号传输线或某些射频组件进行测量，其中在对射频组件阻抗的测量中是使用TRL所提出的测量方法。
请参阅图1，为现有使用TRL的测试线的布线。如图1所示，一电路板1是为一高频电路应用的电路板，一射频组件11位于一信号传输线12、13上，其中该信号传输线12、13仍连接至电路板上其它的电路(图一中未示)，而TRL所提出的方法是在相对该射频组件11以及该传输线12、13设计三条测试线14、15、16，该三条测试线14、15、16的长度系相对于该信号传输线12、13的长度而设计的，例如该信号传输线12连接至射频组件11的一端的长度为L，信号传输线13连接至射频组件11的另一端的长度亦为L，则将测试线14的长度设计为2L。而测试线15长度则设计为L，测试线16的长度则设计为2L+λ/4，其中λ代表波长，其中测试线14的两端设置有两测试垫141、142，测试线15的两端亦设置有两测试垫151、152，测试线16的两端亦同样设置有两测试垫161、162，这些测试垫是可供测试仪器在测量该射频组件11时方便连接或测试，该射频组件11的阻抗特性在高频响应下所展现的阻抗特性(R+jX)。这种结构的TRL测试线对射频组件的测量是设计在电路板上的，浪费电路板的实体板材，这种测量方法也较复杂。
(3)实用新型内容本实用新型是为解决上述现有技术的缺点所做的进一步改良。本实用新型的主要目的是设计一电路板测试线的布线改良装置，以避免TRL测试线对射频组件的测量在电路板上设计的缺点，进而降低电路板的实体板材面积，从而减少了产品的成本。
本实用新型的另一目的，是对TRL中具不同长度的测试线予以设计在同一条测试线中，在对该电路板做特性测试时可简化测试流程并提高测试过程的简易度。
本实用新型系一种电路板中有关TRL(Through Reflection Line)测试线设计的布线改良装置，是对于在电路中某一传输线上的一射频组件阻抗的测量，其中该射频组件在该传输线上分别向两端延伸的一特定距离均为L的设计下，通过将多条的测试线的若干个测试点整合在一条测试线中，其特征在是该测试线相对应平行于该传输线的一侧，设计该测试线可分别在距离为L处、距离为2L处、距离为2L+λ/4处设置测试点，除可达成TRL测试线原先的功能外尚有新的功效增加。
经由上述较佳实施例的所述，本实用新型的设计可提高测试线对射频组件阻抗测量的效率，除可简化电路设计的复杂程度外也可减少成本的支出，并可对现有技术的缺点作改良。通过上面所述，本实用新型的结构特征及各实施例皆已详细揭示，充分显示出本实用新型案在目的及功效上均深富实施的进步性，极具产业的利用价值。
为进一步说明本实用新型的上述目的、结构特点和效果，以下将结合附图对本实用新型进行详细的描述。
(4)
图1为习用电路板使用TRL的测试线的布线。
图2为本实用新型的一较佳实施例。
(5)具体实施方式
本实用新型涉及一种电路板TRL测试线的布线改良装置，是对于测量一印刷电路板中某测试线上的一射频组件阻抗值的设计，本实用新型的特征在于将该条测试线上设置相对应原本TRL方法中所提出的若干条测试线的若干测试点整合在一条测试线上。其中在该射频组件的传输线上分别向两端延伸的一特定距离均为L，并且该测试线是被设计在对该传输线相对平行的一侧，而该测试线可分别在距离为L处、距离为2L处、距离为2L+λ/4处设置若干测试点，其中λ为波长。
请参阅图2，为本实用新型的一较佳实施例。如图2所示，电路板2为一高频电路的电路板，一射频组件21是位于一信号传输线22、23上，其中该信号传输线22、23仍连接至电路板上其它的电路(图一中未示)，该信号传输线22连接至射频组件11的一端的长度为L，信号传输线23连接至射频组件11的另一端的长度亦为L。本实用新型所提出的方法是在相对平行该射频组件21以及该传输线22、23的一侧设计一条测试线24，该条测试线24是沿着本身的直线方向在若干个适当地方设置测试垫(PAD)，或是测试端子，也或者是可供仪器或测量工具所连接测试的其它设计，例如可以连接SMA Connectors的高频信号传输测试接头。再者该若干个测试垫的设置，分别在该测试线长度上的L处、2L处以及2L+λ/4处分别设置的，其中λ为波长。如此的设计是针对TRL所提出对一射频组件的测量所提出的布线方式的进一步改良。针对在该条测试线上的不同的特定长度例如L处、2L处、2L+λ/4处分别设置测试垫或测试端子，例如在长度为L处在该测试线24的两侧设置测试垫241、242，在长度为2L处在该测试线24的两侧设置测试垫243、244，以及长度为2L+λ/4处设置测试垫245、246。此种设计方式是为针对该射频组件21的阻抗特性以及进而对该电路板的整体效能作测量与评估，在一高频电路中的射频组件阻抗特性的表现对该高频电路有很大的影响，因此本实用新型是对现有技术中使用到三条的测试线予以改良设计为一条测试线，本实用新型所提出的设计除可保有原来现有技术所达到的功效外，尚可达到新的功效如对电路板的实体材料面积的节省，此点对在高频电路中对电路板实体面积的缩小化的要求有大的改进，又如对电路设计的简化以及测试过程的简化等等也有明显的改善。
当然，本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本实用新型，而并非用作为对本实用新型的限定，只要在本实用新型的实质精神范围内，对以上所述实施例的变化、变型都将落在本实用新型权利要求书的范围内。
权利要求1.一种电路板的TRL(Through Reflection Line)测试线的布线改良装置，其是应用于对一传输线上的一射频组件阻抗的测量，其中所述的射频组件在所述的传输线上分别向两端延伸的一特定距离均为L，其特征在于所述的测试线是设计于对所述的传输线相对平行的一侧，并且该测试线分别在距离为L处、距离为2L处、距离为2L+λ/4处设置若干测试点，其中λ为波长。
2.如权利要求1项所述的电路板的TRL测试线的布线改良装置，其特征在于所述的测试点是相对应该测试线的两侧分别设置的一测试垫。
3.如权利要求1项所述的电路板的TRL测试线的布线改良装置，其特征在于所述的测试点是相对应该测试线的两侧分别设置的一测试端子。
4.如权利要求1项所述的电路板的TRL测试线的布线改良装置，其特征在于所述的测试点连接至一SMA connector的高频信号传输测试接头。
专利摘要本实用新型为一种电路板中有关TRL(Through Reflection Line)测试线设计的布线改良装置，是对于在电路中某一传输线上的一射频组件阻抗特性的测量，其中该射频组件在该传输线上分别向两端延伸的一特定距离均为L的设计下，利用将多条的测试线的若干个测试点整合在一条测试线中，其特征在是该测试线相对应平行于该传输线的一侧，设计该测试线上的距离为L处、距离为2L处、距离为2L+λ/4处设置测试点。本实用新型的设计可提高测试线对射频组件阻抗测量的效率，除可简化电路设计的复杂程度外也可减少产品成本的支出。
文档编号H05K1/02GK2550990SQ0223121
公开日2003年5月14日 申请日期2002年4月26日 优先权日2002年4月26日
发明者杨志祥 申请人:神达电脑股份有限公司