技术总结
本实用新型公开了一种TFT阵列基板缺陷快速检测系统，其包括：TFT阵列基板；背光源和偏光片；测试仪，用于向阵列基板施加预定的电压；其中，所述TFT阵列基板包括阵列排布的多个像素电路、多条栅线和多条数据线，每一像素电路包括串联设置的多个TFT晶体管、像素电极、存储电容和公共电极；一条栅线分别控制相邻像素电路内的不同位置的TFT晶体管的栅极，一条数据线控制连接一排或一列像素电路内的第1个晶体管的源极；每一像素电路内的第N个晶体管的漏极连接像素电极。本TFT阵列基板缺陷快速检测系统，其在绑定IC前，可快速检测出阵列基板的各种显示缺陷，进而避免IC的浪费，降低生产成本。
技术研发人员：董欣;李林;柳发霖;庄崇营;袁毅;何基强
受保护的技术使用者：信利半导体有限公司
文档号码：201621315076
技术研发日：2016.12.02
技术公布日：2017.05.31