入驱动芯片的公共电压写入值的过程示意图；
[0051]图5为本发明实施例一提供的采用二次函数进行拟合后确定写入驱动芯片的公共电压写入值的过程示意图；
[0052]图6为本发明实施例一提供的不例一的流程图；
[0053]图7为本发明实施例一提供的确定满足第一条件的公共电压取值范围的一种方法的流程图；
[0054]图8为本发明实施例一提供的确定满足第一条件的公共电压取值范围的另一种方法的流程图；
[0055]图9为本发明实施例二提供的公共电压调节装置的结构框图；
[0056]图10为本发明实施例二提供的一种公共电压调节装置的优选结构示意图。
[0057]附图标记:
[0058]1-采样点，2-显示面板，3-驱动芯片，81-点屏单元，82-测量单元，
[0059]83-公共电压调节单元，84-计算与处理单元，841-拟合模块，
[0060]842-范围确定模块，843-择优模块，844-控制模块，85-写入单元。
【具体实施方式】
[0061]为了解决显示面板的闪烁不均一问题，本申请发明人对显示时，显示面板上中心区域和边缘区域闪烁差异较大的问题进行了详细分析，结果发现:
[0062]一方面，由于显示面板制作过程中制程工艺不能达到理想化的标准，结果使位于显示面板不同区域的薄膜晶体管(用于控制显示信号加载，以下简称TFT)的源-漏极寄生电容存在差别，而TFT充放电时产生的回赐电压又与源-漏极寄生电容相关，导致不同区域的回赐电压不同，因而造成不同区域的因回赐电压引起的闪烁不一致。
[0063]另一方面，由于显示面板上的栅极线、数据线具有阻抗，使得信号在其上传播时存在延迟，导致不同区域的TFT栅极电压、TFT源极电压存在差异，又由于TFT充放电时产生的回赐电压与当前的TFT栅极电压、TFT源极电压也相关，从这方面考虑，也会导致不同区域的TFT充放电时产生的回赐电压不同，进而造成不同区域的闪烁不一致。
[0064]考虑到显示面板的中心区域与边缘区域相距较远，由上述两方面原因引起的闪烁不一致问题在中心区域与边缘区域比对时表现的尤为明显。为了改善中心区域和边缘区域的闪烁不一致问题，提高显示面板的闪烁均一性，本申请发明提出了一种改进的技术方案，显示面板公共电压的写入值进行优化设置时，不仅考虑降低中心区域回赐电压的影响，同时也考虑降低边缘区域的回赐电压的影响，使显示器显示时，既能保证显示面板中心区域的闪烁较小，又能改善显示面板边缘区域的闪烁程度，从而提高闪烁均一性。
[0065]为了便于理解，下面将结合说明书附图，对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0066]实施例一
[0067]本实施例提供一种公共电压调节方法，包括:
[0068]步骤一、设置采样点，采样点至少包括:设置于显示面板中心区域的采样点和设置于显示面板边缘区域的采样点。
[0069]在本实施提供的公共电压调节方法中，通过测量采样点的闪烁值来获取该采样点所在区域的闪烁水平，考虑到显示面板中心区域和边缘区域的闪烁程度差异较大，本实施例至少在中心区域和边缘区域分别设置一个采样点。采样点越多，在显示面板分布越均匀，步骤二公共电压优化设置后闪烁越一致，但同时也意味着步骤二公共电压优化设置越困难，计算量越大，因此一般而言，只要在闪烁情况具有代表性的区域设置采样点即可，具体实施时本领域技术人员可参照实际情况或经验进行设置。如图1所示，为一种示例性的采样点I分布示意图，在显示面板2的中心区域设置有采样点b，在显示面板2上靠近驱动芯片3的边缘区域设置有采样点C，在远离驱动芯片3的边缘区域设置有采样点a。由前面关于闪烁不均一问题产生原因可知，显示面板上某个区域的闪烁情况与该区域到驱动芯片的距离有关，即距离驱动芯片远近不同则闪烁程度不同，因而采样点的分布应考虑驱动芯片的位置，优选地，在显示面板中心区域设置一个采样点，在显示面板的边缘区域设置四个采样点，且这四个采样点分别位于显示面板的四个角落区域。当然，设计人员可将采样点设计成其它分布，比如在上述五个采样点的基础上，在相邻的每两个边缘采样点的中间再添加一个米样点。
[0070]步骤二、对写入驱动芯片的公共电压值进行优化，使显示面板加载优化得到的公共电压值进行显示时，位于显示面板上的采样点的闪烁值均小于等于第一阈值。
[0071]步骤二中的第一阈值与显示面板闪烁值的设计要求有关，具体而言，第一阈值一般为显示面板设计要求中所规定的闪烁值上限值。如果不存在使显示面板上的所有采样点的闪烁值均小于等于第一阈值的公共电压值，即可判定显示面板质量不达标，将其进行降级或者返工等处理。本步骤中对写入驱动芯片的公共电压值进行优化，具体实施时存在多种实现方式，本实施例在此不再一一详述，仅为便于理解，在下文中示例性地举出几种进行详述。
[0072]另外，上述本实施例提供的公共电压调节方法中，对公共电压写入值的优化标准是，使位于显示面板上的所有采样点的闪烁值均小于等于第一阈值，需要强调的是，所有采样点中至少包括位于显示面板中心区域的采样点(以下简称第一采样点)和位于显示面板边缘区域的采样点(以下简称第二采样点)，基于这两种采样点对公共电压写入值进行优化，既能使第一采样点所在的中心区域的闪烁较小，又能使第二采样点所在的边缘区域闪烁较小，从而改善了中心区域和边缘区域之间闪烁程度的差异，提高了闪烁均一性。本文中的闪烁值用于描述显示面板上某点的闪烁程度。
[0073]另外，对公共电压写入值进行优化，再将优化得到的公共电压值写入，不仅能降低采样点所在区域的闪烁，还能改善采样点所在区域的残像，原因如下:TFT充放电时产生的回赐电压，不仅造成闪烁问题，还造成残像问题，而经优化得到的公共电压值可以降低回赐电压的影响，因而在改善闪烁问题的同时还会对残像问题有一定程度的改善。
[0074]以“使位于显示面板上的所有采样点的闪烁值均小于等于第一阈值”为优化标准，一般会得到公共电压的一个或多个连续取值范围，为使显示器达到更优的显示效果，实际上还可以对写入驱动芯片的公共电压值继续进行进一步优化，所述进一步优化的标准优选为:使显示面板加载优化得到的公共电压值进行显示时，在满足所有采样点的闪烁值均小于等于第一阈值的基础上，同时还使设置于显示面板中心区域的采样点的闪烁值最小。由于显示面板的中心区域为观看者的主要关注区域，因而降低中心区域的闪烁，可进一步提高人们的视觉享受。当然，对公共电压写入值进行进一步优化的标准还可以为，使显示面板上所有采样点的闪烁值闪烁差异最小，如此优化得到的写入值可以最大程度的提高闪烁均一性并降低闪烁。需要指出的是，进一步优化的标准并不局限于此，本领域的技术人员可根据获得最佳显示效果的思路，进行自主设计。
[0075]示例性地，下面介绍如何对写入驱动芯片的公共电压值进行优化，为便于理解，在此先陈述优化过程的设计思路。为了获得使所有采样点的闪烁值均小于等于第一阈值的公共电压值，本申请发明人深入研宄了单个采样点的闪烁值与显示面板加载的公共电压之间的关系，发现:显示面板加载的公共电压处于一定范围时，采样点的闪烁值一般随公共电压的增大呈现出先减小后增大的变化规律。基于上述发现，本申请发明人想到，可以通过测试多组某个采样点的闪烁值随公共电压变化的数据，然后根据测试数据进行函数拟合，拟合得到的函数关系式可以较为准确、完整地反映该采样点的闪烁值随公共电压的变化关系。在得到每个采样点对应的函数关系式的基础上，可以利用函数关系式对公共电压进行优化(即求解使函数关系式的函数值小于等于第一阈值的解)，从而准确地得到符合设计要求的公共电压值，然后将得到的公共电压值写入驱动芯片。
[0076]基于上述设计思路，本实施例提供的优化方法如图2所示，具体包括:
[0077]S1、将公共电压依次设置成多个尝试值，且每设置成一个尝试值时，对采样点的闪烁值进行一次测量。
[0078]本步骤是一个测试过程，测试数据的直接目的是用来进行函数模拟，得到较为准确反映采样点的闪烁值随公共电压的变化规律的函数。具体的测试过程可以多样化，比如，可以依次对每个采样点进行测试，具体而言，即对某一个采样点进行测试时，将公共电压依次设置成多个尝试值，且每设置成一个尝试值时，对该采样点的闪烁值进行一次测量(一次测量包括同一尝试值下多次测量取平均值的情况)，从而得到该采样点在多个尝试值下的闪烁值，然后换另一个采样点进行测量，最终得到所有采样点的测试数据；也可以每设置成一个尝试值同时对所有采样点进行测试。
[0079]根据上述的设计思路，本步骤得到的测试数据是为后续步骤中拟合出各采样点的函数关系式做准备。对一个采样点而言，为得到能较准确反映该采样点闪烁值随公共电压的变化规律函数关系式，对该采样点的测试数据有如下要求:(I)、为使拟合得到的函数关系式能够反映该采样点的闪烁值变化规律，要求测试数据的范围足够宽泛，能反映该采样点闪烁值随公共电压的增大呈现出先增大后减小的变化规律。(2)、为使拟合的函数关系式能够准确地反映该采样点的闪烁值与公共电压的关系，要求测试数据足够多。简言之，测试过程一切以拟合出准确反映该采样点闪烁值随公共电压的变化规律函数关系式为宜，本领域技术人员在此目的下可自主设置公共电压的尝试值。
[0080]S2、对每一个采样点，都根据该采样点的测试数据拟合出一个该采样点的闪烁值关于公共电压的函数关系式。
[0081]本步骤是一个函数拟合过程，是为了得到能够反映每