一种阵列基板和显示面板的制作方法
【专利摘要】本发明提供了一种阵列基板和显示面板，包括显示区域和非显示区域，显示区域包括多条栅极线、多条数据线和多个色阻，多条栅极线和多条数据线绝缘交叉限定出多个子像素区，色阻与子像素区对应设置；非显示区域包括栅极驱动电路，栅极驱动电路包括子栅极驱动电路，每个子栅极驱动电路都与栅极线连接，且至少一条栅极线与一个子栅极驱动电路相连；其中，子栅极驱动电路在数据线延伸方向上的长度大于或等于子像素区在数据线延伸方向上的长度的1.5倍。本发明中子栅极驱动电路的个数较少，并且，本发明中的子栅极驱动电路在数据线延伸方向上的长度可以大于或等于子像素区在数据线延伸方向上的长度的1.5倍，可以提高栅极驱动电路的AOI检测效率。
【专利说明】
_种阵列基板和显不面板
技术领域
[0001]本发明涉及显示设备技术领域，更具体地说，涉及一种阵列基板和显示面板。
【背景技术】
[0002]如图1所示，图1为现有的一种阵列基板的俯视结构示意图，该阵列基板包括位于显示区域的多条栅极线10、多条数据线11、由多条栅极线10和多条数据线11绝缘交叉限定出的多个子像素区12以及位于非显示区域的栅极驱动电路13和数据驱动电路14。该阵列基板还包括位于显示区域的多个色阻15，每个色阻15与至少一个子像素区12对应设置。其中，栅极驱动电路13包括多个子栅极驱动电路130，每条栅极线10都与两个子栅极驱动电路130相连，这两个子栅极驱动电路130分别位于阵列基板相对的两侧，且每个子栅极驱动电路130在数据线11延伸方向(如图1中箭头所示X方向)上的长度1^等于一个子像素区12在数据线11延伸方向上的长度L2。
[0003]在该阵列基板的制作过程中，由于生产线内的防静电水平较差，因此，在栅极驱动电路13制作完成后，需要对栅极驱动电路13进行AOI(Automatic Optic Inspect1n，自动光学检测)检测，以检测该栅极驱动电路13中是否存在短路或断路等常见缺陷。但是，与不具有色阻的阵列基板相比，上述具有色阻15的阵列基板的栅极驱动电路13的AOI检测效率较低。
【发明内容】
[0004]有鉴于此，本发明提供了一种阵列基板和显示面板，以解决现有技术中的阵列基板的栅极驱动电路AOI检测效率较低的问题。
[0005]为实现上述目的，本发明提供如下技术方案:
[0006]—种阵列基板，包括显示区域和非显示区域，所述显示区域包括多条栅极线、多条数据线和多个色阻，所述多条栅极线和所述多条数据线绝缘交叉限定出多个子像素区，所述色阻与所述子像素区对应设置；
[0007]所述非显示区域包括栅极驱动电路，所述栅极驱动电路包括多个子栅极驱动电路，每个所述子栅极驱动电路都与所述栅极线连接，且至少一条所述栅极线与一个所述子栅极驱动电路相连；
[0008]其中，所述子栅极驱动电路在所述数据线延伸方向上的长度大于或等于所述子像素区在所述数据线延伸方向上的长度的1.5倍。
[0009]—种显示面板，包括阵列基板和与所述阵列基板相对设置的对向基板，所述阵列基板为如上所述的阵列基板。
[0010]与现有技术相比，本发明所提供的技术方案具有以下优点:
[0011]本发明所提供的阵列基板和显示面板，由于至少一条栅极线与一个子栅极驱动电路相连，因此，与现有技术中每条栅极线都与两个子栅极驱动电路相连的方案相比，本发明中子栅极驱动电路的个数较少，因此，可以相对提高具有色阻的阵列基板上栅极驱动电路的AOI检测效率;并且，在减少子栅极驱动电路的个数的基础上，本发明中的子栅极驱动电路在数据线延伸方向上的长度可以大于或等于子像素区在数据线延伸方向上的长度的1.5倍，从而可以减小子栅极驱动电路内器件的分布密度，进一步提高栅极驱动电路的AOI检测效率。
【附图说明】
[0012]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0013]图1为现有的一种阵列基板的俯视结构示意图；
[0014]图2为本发明实施例提供的一种阵列基板的俯视结构示意图；
[0015]图3为图2所示的阵列基板的剖面结构示意图；
[0016]图4为本发明实施例提供的另一种阵列基板的剖面结构示意图；
[0017]图5为本发明实施例提供的另一种阵列基板的俯视结构示意图；
[0018]图6为本发明实施例提供的又一种阵列基板的俯视结构示意图；
[0019]图7为本发明实施例提供的又一种阵列基板的俯视结构示意图；
[0020]图8为本发明实施例提供的又一种阵列基板的俯视结构示意图；
[0021 ]图9为本发明实施例提供的显示面板的剖面结构示意图。
【具体实施方式】
[0022]正如【背景技术】所述，与不具有色阻的阵列基板相比，具有色阻的阵列基板的栅极驱动电路的AOI检测效率较低。这是因为，在不具有色阻的阵列基板上，栅极驱动电路未被色阻覆盖，可采用可见光成像进行AOI检测；而在具有色阻的阵列基板上，为了减小显示区域和非显示区域的段差，非显示区域也会设置色阻，即栅极驱动电路会被色阻覆盖，由于可见光中的大部分光会被色阻过滤，因此，无法采用可见光对被色阻覆盖的栅极驱动电路进行AOI检测，基于此，现有技术中，采用红外光对被色阻覆盖的栅极驱动电路进行AOI检测，但是，相对于可见光图像而言，红外光图像的清晰度较低，从而导致AOI检测的效率较低。
[0023]发明人研究发现，通过减少子栅极驱动电路的个数和TFT等器件的分布密度，可以提高栅极驱动电路的AOI检测效率。基于此，本发明提供了一种阵列基板，以克服现有技术存在的上述问题，该阵列基板包括显示区域和非显示区域；
[0024]所述显示区域包括多条栅极线、多条数据线和多个色阻，所述多条栅极线和所述多条数据线绝缘交叉限定出多个子像素区，所述色阻与所述子像素区对应设置;所述非显示区域包括栅极驱动电路，所述栅极驱动电路包括多个子栅极驱动电路，每个所述子栅极驱动电路都与所述栅极线连接，且至少一条所述栅极线与一个所述子栅极驱动电路相连；其中，所述子栅极驱动电路在所述数据线延伸方向上的长度大于或等于所述子像素区在所述数据线延伸方向上的长度的1.5倍。
[0025]本发明所提供的阵列基板中，子栅极驱动电路的个数较少，可以相对提高具有色阻的阵列基板上栅极驱动电路的AOI检测效率;并且，子栅极驱动电路在数据线延伸方向上的长度大于或等于子像素区在数据线延伸方向上的长度的1.5倍，从而可以减小子栅极驱动电路内器件的分布密度，进一步提高栅极驱动电路的AOI检测效率。
[0026]以上是本发明的核心思想，为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的【具体实施方式】做详细的说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0027]本发明的一个实施例提供了一种阵列基板，参考图2，图2为本发明实施例提供的一种阵列基板的俯视结构示意图，该阵列基板包括显示区域和位于显示区域四周的非显示区域。该显示区域包括多条栅极线20、多条数据线21以及由多条栅极线20和多条数据线21绝缘交叉限定出的多个子像素区22，该非显示区域包括数据驱动电路30和栅极驱动电路31ο
[0028]其中，每个子像素区22都对应设置一个子像素，每个子像素都包括设置在该子像素区22内的薄膜晶体管23和像素电极24。参考图3，图3为图2所示的阵列基板的剖面结构示意图，该薄膜晶体管23包括位于基板I上的栅极230、源极231和漏极232，其栅极230与对应的栅极线20相连、源极231与对应的数据线21相连、漏极232通过过孔240与像素电极24相连。此外，该阵列基板还包括位于基板I上的公共电极25，该公共电极25与多个子像素区22对应设置，以通过公共电极25和像素电极24之间的电压差驱动相应的子像素进行图像的显不O
[0029]本实施例中的阵列基板还包括色阻层26，该色阻层26包括黑矩阵260和多个色阻261，黑矩阵260在阵列基板的显示区域限定出多个色阻区域，每个色阻区域设置一个色阻261，且该色阻261与子像素区22对应设置。可选的，每个色阻261与一个子像素区22对应设置，或者，每个色阻261与多个子像素区22对应设置。
[0030]其中，为了减小显示区域和非显示区域的段差，本实施例中的色阻261至少部分覆盖子栅极驱动电路310。如图2所示，位于阵列基板左右两侧的色阻261至少部分覆盖与其相邻的子栅极驱动电路310，可选的，色阻261至少覆盖子栅极驱动电路310面积的80%。
[0031]在图3所示的结构中，色阻层26位于薄膜晶体管层和像素电极层之间，其中，薄膜晶体管层是指薄膜晶体管23所在膜层，像素电极层是指像素电极24所在膜层，当然，本发明并不仅限于此，色阻层26可以位于薄膜晶体管层、像素电极层和公共电极层中任意两层之间，即色阻层26可以位于薄膜晶体管23所在膜层、像素电极24所在膜层和公共电极25所在膜层中任意两层之间。
[0032]在图3所示的结构中，公共电极25所在膜层位于像素电极24所在膜层的表面，但是，本发明并不仅限于此，在其他实施例中，如图4所示，图4为本发明实施例提供的另一种阵列基板的剖面结构示意图，公共电极25所在膜层位于像素电极24所在膜层和色阻层26之间，此时，薄膜晶体管23的漏极232通过贯穿对应色阻和对应公共电极25的过孔241与该色阻表面的像素电极24相连。
[0033]本实施例中，参考图2，数据驱动电路30与所有的数据线21相连，用于向数据线21提供数据信号。栅极驱动电路31包括多个子栅极驱动电路310，每个子栅极驱动电路310都与栅极线20相连，用于向与栅极线20提供扫描信号，以控制与该栅极线20相连的薄膜晶体管23导通，从而使得数据线21中的数据信号通过导通的薄膜晶体管23传输到像素电极24中，进而使得该像素电极24对应的子像素进行图像的显示。
[0034]其中，本实施例中的子栅极驱动电路310为移位寄存器，其结构与现有的阵列基板中的移位寄存器的结构相同，在此不再赘述。并且，本实施例中，子栅极驱动电路310之间的连接关系只是移位寄存器的一种级联方式，本发明并不仅限于此，在其他实施例中，子栅极驱动电路310之间可以采用其他级联方式。
[0035]本实施例中，至少一条栅极线20与一个子栅极驱动电路310相连，从而可以减少阵列基板上子栅极驱动电路310的个数，进而提高栅极驱动电路31的AOI检测效率。在此基础上，本实施例中子栅极驱动电路310在数据线21延伸方向(如图2中箭头所示X方向)上的长度L3大于或等于子像素区22在数据线21延伸方向上的长度L4的1.5倍，以减小子栅极驱动电路内TFT等器件的分布密度，进而可以通过提高成像清晰度来提高栅极驱动电路31的AOI检测效率。可选的，本实施例中子栅极驱动电路310在数据线21延伸方向上的长度L3等于子像素区22在数据线21延伸方向上的长度L4的1.7倍，以使本发明实施例中具有色阻261的阵列基板上栅极驱动电路31的AOI检测效率与不具有色阻的阵列基板上栅极驱动电路的AOI检测效率相同或略高。
[0036]下面以子栅极驱动电路310在数据线21延伸方向上的长度L3等于子像素区22在数据线21延伸方向上的长度L4的1.7倍为例，结合具体的实施方式对阵列基板的结构进行说明。
[0037]在一个具体的实施方式中，如图5所示，图5为本发明实施例提供的另一种阵列基板的俯视结构示意图，每条栅极线20都与一个子栅极驱动电路310连接，并且，这些子栅极驱动电路310分布在阵列基板相对的两侧。图5所示的结构中，多条栅极线20沿数据线21的延伸方向顺序排列，可选的，沿图5中箭头所示X方向排序为奇数的栅极线20的子栅极驱动电路310位于阵列基板的一侧，沿图5中箭头所示X方向排序为偶数的栅极线20的子栅极驱动电路310位于阵列基板相对的另一侧，以提高子栅极驱动电路310分布的均匀性，进而栅极驱动电路31的AOI检测效率。
[0038]在另一个具体的实施方式中，如图6所示，图6为本发明实施例提供的又一种阵列基板的俯视结构示意图，多条栅极线20包括至少一条第一栅极线201和至少一条第二栅极线202，其中，每条第一栅极线201都与一个子栅极驱动电路310连接，可选的，相邻的两条第一栅极线201相连的子栅极驱动电路310分别位于阵列基板相对的两侧;每条第二栅极线202都与两个子栅极驱动电路310连接，这两个子栅极驱动电路310分别位于阵列基板相对的两侧，且这两个子栅极驱动电路310分别与第二栅极线202的两端连接。
[0039]在图6所示的结构中，至少一条第一栅极线201和至少一条第二栅极线202沿数据线21的延伸方向(如图6中箭头所示X方向)顺序排列，即所有的第一栅极线201顺序排列在阵列基板的上部分，所有的第二栅极线202顺序排列在阵列基板的下部分。
[0040]但是，在其他实施例中，如图7所示，图7为本发明实施例提供的又一种阵列基板的俯视结构示意图，至少一条第二栅极线202和至少一条第一栅极线201沿数据线21的延伸方向顺序排列，即所有的第二栅极线202顺序排列在阵列基板的上部分，所有的第一栅极线201顺序排列在阵列基板的下部分。
[0041]或者，在其他实施例中，如图8所示，图8为本发明实施例提供的又一种阵列基板的俯视结构示意图，第一栅极线201和第二栅极线202还可以间隔排序，并且，可选的，相邻的两条第一栅极线201相连的子栅极驱动电路310分别位于阵列基板相对的两侧，本发明并不仅限于此。
[0042]此外，需要说明的是，本实施例中的多个色阻261包括红色色阻、绿色色阻和蓝色色阻，当然，在其他实施例中，多个色阻261也可以包括红色色阻、绿色色阻、蓝色色阻和白色色阻，本发明并不仅限于此。需要说明的是，本实施例中子像素的颜色是由其对应设置的色阻的颜色决定的，也就是说，色阻的颜色是红色，则其对应的子像素的显示颜色也为红色，色阻的颜色是绿色，则其对应的子像素的显示颜色也为绿色，色阻的颜色是蓝色，则其对应的子像素的显示颜色也为蓝色。基于此，可通过不同颜色的子像素混色后进行图像的显不O
[0043]本发明实施例提供的阵列基板，由于至少一条栅极线与一个子栅极驱动电路相连，因此，与现有技术中每条栅极线都与两个子栅极驱动电路相连的方案相比，本发明中子栅极驱动电路的个数较少，因此，可以相对提高具有色阻的阵列基板上栅极驱动电路的AOI检测效率;并且，在减少子栅极驱动电路的个数的基础上，本发明中的子栅极驱动电路在数据线延伸方向上的长度可以大于或等于子像素区在数据线延伸方向上的长度的1.5倍，从而可以减小子栅极驱动电路内器件的分布密度，进一步提高栅极驱动电路的AOI检测效率。
[0044]本发明实施例还提供了一种显示面板，如图9所示，该显示面板包括上述任一实施例提供的阵列基板90和与该阵列基板90相对设置的对置基板91，当然，在本发明的一个【具体实施方式】中，该显示面板还包括设置在阵列基板90和对置基板91之间的液晶层92等，在此不再赘述。基于上述阵列基板结构，本实施例中的显示面板的制作时间较短，成本较低。
[0045]本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
【主权项】
1.一种阵列基板，包括显示区域和非显示区域，其特征在于: 所述显示区域包括多条栅极线、多条数据线和多个色阻，所述多条栅极线和所述多条数据线绝缘交叉限定出多个子像素区，所述色阻与所述子像素区对应设置； 所述非显示区域包括栅极驱动电路，所述栅极驱动电路包括多个子栅极驱动电路，每个所述子栅极驱动电路都与所述栅极线连接，且至少一条所述栅极线与一个所述子栅极驱动电路相连； 其中，所述子栅极驱动电路在所述数据线延伸方向上的长度大于或等于所述子像素区在所述数据线延伸方向上的长度的1.5倍。2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，每条所述栅极线都与一个所述子栅极驱动电路连接，所述多个子栅极驱动电路分布在所述阵列基板相对的两侧。3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述多条栅极线包括至少一条第一栅极线和至少一条第二栅极线； 每条所述第一栅极线都与一个所述子栅极驱动电路连接； 每条所述第二栅极线都与两个所述子栅极驱动电路连接，所述两个所述子栅极驱动电路分别位于所述阵列基板相对的两侧，且所述两个所述子栅极驱动电路分别与所述第二栅极线的两端连接。4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述至少一条第一栅极线和所述至少一条第二栅极线沿所述数据线的延伸方向顺序排列； 或者，所述至少一条第二栅极线和所述至少一条第一栅极线沿所述数据线的延伸方向顺序排列； 或者，所述第一栅极线和所述第二栅极线在所述数据线延伸方向上间隔排列。5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述子驱动电路在所述数据线延伸方向上的长度等于所述子像素在所述数据线延伸方向上的长度的1.7倍。6.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括薄膜晶体管层、像素电极层、公共电极层和色阻层； 所述色阻层包括所述多个色阻，所述色阻层位于所述薄膜晶体管层、所述像素电极层和所述公共电极层中任意两层之间。7.根据权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，所述色阻层位于所述薄膜晶体管层和所述像素电极层之间。8.根据权利要求6或7所述的阵列基板，其特征在于，所述色阻至少部分覆盖所述子栅极驱动电路。9.根据权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，所述色阻至少覆盖所述子栅极驱动电路面积的80%。10.—种显示面板，其特征在于，包括阵列基板和与所述阵列基板相对设置的对向基板，所述阵列基板为权利要求1?9任一项所述的阵列基板。
【文档编号】G09G3/00GK106023867SQ201610617410
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年7月29日
【发明人】金慧俊
【申请人】上海中航光电子有限公司, 天马微电子股份有限公司