专利名称：一种全微晶镜头的装调方法
技术领域：
本发明涉及一种望远镜头的装调方法，特别是全微晶镜头的装调方法。
背景技术：
全微晶镜头是遥感相机望远镜头的一种新颖形式，主要用于低温光学领域。而对于低温镜头而言，镜头需要在常温工况下完成加工、装调和测试之后，在低温工况下进行工作。全微晶镜头的研制属于全新的领域，其装调由于其结构形式的特殊性需要使用特殊的方法进行，并未见公开的资料报道。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种全微晶镜头的装调方法，实现全微晶镜头的高质量装调。本发明包括如下技术方案一种全微晶镜头的装调方法，全微晶镜头包括多个反射镜和多个结构件，其特征在于，包括下列步骤(1)利用外置的框式辅助支撑结构支撑全微晶镜头；(2)在全微晶镜头各个部件的连接面涂胶粘剂实施粘接；(3)利用干涉测量装置测量的全微晶镜头的彗差项来调整各反射镜的相对平移， 调整完成后继续监测干涉测量数据直至胶粘剂固化；(4)拆除框式辅助支撑结构完成全微晶镜头装调。所述步骤(1)中外置的框式辅助支撑结构与全微晶镜头的单边间隙0. 3-0. 5mm。 框式辅助支撑结构与全微晶镜头使用RTV胶粘接固定，或在周圈使用多个小型真空吸盘装置吸附固定。所述步骤(2)中全微晶镜头的各个部件的连接面涂胶粘剂的厚度为 0.01-0. 02mm。所述步骤O)中粘接过程需要零件相对滑动减少胶层气泡。通过控制胶层厚度保证了粘接强度、减少了气泡等粘接缺陷所述步骤(3)中测量的全微晶镜头的彗差项包括0°彗差和90°彗差，其中0°彗差对应反射镜水平方向的平移，90 °彗差对应反射镜竖直方向的平移。多个反射镜包括次镜、主四镜、三镜；多个结构件包括次镜框、主次镜间结构、三四镜间结构和三镜框；框式辅助支撑结构包括次镜支撑框、主次镜间结构支撑框、主四镜支撑框、三四镜间结构支撑框、三镜支撑框。所述步骤(3)中反射镜的平移为次镜和三镜的平移，其中次镜平移为主要调整环节，三镜平移为补充调整环节。所述步骤(4)拆除辅助支撑结构时使用刀片割断RTV胶，或者在真空吸盘中注入空气实现支撑结构与镜头的分离。本发明与现有技术相比的有益效果是
(1)外置的框式结构保证了粘接过程微晶零件的稳定，并提供支撑便于调整以及测试。(2)使用干涉测量数据作为调整依据提高了调整的精度，通过固化过程的监测保证了粘接过程受控，保证了镜头的质量。实现了全微晶镜头装调过程中监测固化过程像质， 克服微晶镜头粘接与测试难以同时进行的问题。(3)使用易于拆除的连接方式，避免镜头在拆除环节的损坏。
图1是本发明全微晶镜头的装调方法的结构示意图；图2是本发明进行全微晶镜头装调测试的示意图。
具体实施例方式如图1所示，本发明优选的全微晶镜头装调结构包括次镜1、次镜框2、主次镜间结构3、主四镜4、三四镜间结构5、三镜框6、三镜7、次镜支撑框8、主次镜间结构支撑框9、主四镜支撑框10、三四镜间结构支撑框11、三镜支撑框12。其中部件1-7构成全微晶镜头，部件8-12构成辅助支撑结构。其中次镜1、主四镜4和三镜7都是反射镜，如图2所示，进行全微晶镜头装调测试时，将干涉测量设备14设置在全微晶镜头的一侧，将反射镜13设置在全微晶镜头的另一侧，建立干涉测量自准直光路，用于在全微晶镜头装调时测试全微晶镜头的彗差。干涉测量设备发射出的光经全微晶镜头变为平行光，平行光经反射镜13反射回全微晶镜头，反射光通过全微晶镜头汇聚后入射到干涉测量设备，通过干涉测量设备测量全微晶镜头的彗差。干涉测量设备选用已有的干涉仪，如ZYGO 公司的GPI XP系列干涉仪。(请修改和补充)实施例1全微晶镜头的装调方法包括如下步骤(1)将次镜框2装入次镜支撑框8，三镜框6装入三镜支撑框12，主四镜4装入主四镜支撑框10，主次镜间结构3装入主次镜间结构支撑框9，三四镜间结构5装入三四镜间结构支撑框11，装框使用RTV胶(室温硫化硅橡胶)粘接固定，胶层厚度0. 3-0. 5mm。(2)将次镜1与次镜框2、三镜7与三镜框6使用环氧胶粘接并固化，胶层厚度 0. 01-0. 02mm。(3)在次镜框2、主次镜间结构3、主四镜4、三四镜间结构5、三镜框6的连接面上抹环氧胶，胶层厚度为0. 01-0. 02mm ；粘接过程需要零件相对滑动减少胶层气泡。(4)依次使用螺钉连接次镜支撑框8、主次镜间结构支撑框9、主四镜支撑框10、 三四镜间结构支撑框11、三镜支撑框12。(5)围绕全微晶镜头及辅助支撑结构架设平面镜13和干涉仪14，建立干涉测量自准直光路，测试全微晶镜头的像质。(6)获取干涉测试结果中的0°方向彗差和90°方向彗差参数，根据0°方向彗差调整次镜框支撑框8水平方向平移，根据90 °方向彗差调整次镜框支撑框8竖直方向平移， 直至系统像质满足要求，锁紧次镜支撑框8和主次镜间结构支撑框9间的连接螺钉。(7)再次测试镜头像质，获取干涉测试结果中的0°方向彗差和90°方向彗差参数，根据0°方向彗差调整三镜支撑框12水平方向平移，根据90°方向彗差调整三镜支撑框12竖直方向平移，直至系统像质满足要求，锁紧三四镜间结构支撑框11和三镜支撑框12 间的连接螺钉。(8)利用干涉仪14和平面镜13测试并监测系统的像质，直至环氧胶完全固化。(9)用刀片割断连接框与镜头间的RTV胶，取出镜头，装调完成。实施例2在辅助支撑结构与全微晶镜头固定时，通过在全微晶镜头外表面和辅助支撑结构内表面的周圈使用多个小型真空吸盘装置吸附固定；在辅助支撑结构与全微晶镜头分离时，通过在真空吸盘中注入空气实现支撑结构与镜头的分离。其它部分同实施例1。说明书中未作详细描述的内容属本领域技术人员的公知技术。
权利要求
1.一种全微晶镜头的装调方法，全微晶镜头包括多个反射镜和多个结构件，其特征在于，包括下列步骤(1)利用外置的框式辅助支撑结构支撑全微晶镜头；(2)在全微晶镜头各个部件的连接面涂胶粘剂实施粘接；(3)利用干涉测量装置测量的全微晶镜头的彗差项来调整各反射镜的相对平移，调整完成后继续监测干涉测量数据直至胶粘剂固化；(4)拆除框式辅助支撑结构完成全微晶镜头装调。
2.根据权利要求1所述的全微晶镜头的装调方法，其特征在于所述步骤(1)中外置的框式辅助支撑结构与全微晶镜头的单边间隙0. 3-0. 5mm。
3.根据权利要求1所述的全微晶镜头的装调方法，其特征在于所述步骤(1)中外置的框式辅助支撑结构与全微晶镜头使用RTV胶粘接固定，或在周圈使用多个小型真空吸盘装置吸附固定。
4.根据权利要求1所述的全微晶镜头的装调方法，其特征在于所述步骤O)中全微晶镜头的各个部件的连接面涂胶粘剂的厚度为0. 01-0. 02mm。
5.根据权利要求1所述的全微晶镜头的装调方法，其特征在于所述步骤(3)中测量的全微晶镜头的彗差项包括0°彗差和90°彗差，其中0°彗差对应反射镜水平方向的平移，90°彗差对应反射镜竖直方向的平移。
6.根据权利要求1所述的全微晶镜头的装调方法，其特征在于多个反射镜包括次镜、 主四镜、三镜；多个结构件包括次镜框、主次镜间结构、三四镜间结构和三镜框；框式辅助支撑结构包括次镜支撑框、主次镜间结构支撑框、主四镜支撑框、三四镜间结构支撑框、三镜支撑框。
7.根据权利要求6所述的全微晶镜头的装调方法，其特征在于所述步骤(3)中反射镜的平移为次镜和三镜的平移，其中次镜平移为主要调整环节，三镜平移为补充调整环节。
8.根据权利要求1所述的全微晶镜头的装调方法，其特征在于所述步骤中拆除辅助支撑结构时使用刀片割断RTV胶，或者在真空吸盘中注入空气实现辅助支撑结构与全微晶镜头的分离。
全文摘要
一种全微晶镜头的装调方法，利用外置的框式结构辅助支撑微晶反射镜及微晶结构件，在微晶零件的连接面涂胶实施粘接，利用干涉测量结果调整各反射镜的相对平移，监测干涉测量数据直至胶粘剂完全固化，拆除辅助支撑结构完成镜头装调。本发明实现了全微晶镜头的装调，在胶粘剂固化过程能够监控，保证镜头的质量。
文档编号G02B7/198GK102338919SQ201110317009
公开日2012年2月1日 申请日期2011年10月18日 优先权日2011年10月18日
发明者王昀, 王莹, 苏云, 陈佳夷 申请人:北京空间机电研究所