硅基液晶测试平台的制作方法

本发明涉及硅基液晶半自动测试平台领域，尤甚涉及用于硅基液晶测试平台的伸缩转接器。

背景技术：

硅基液晶又称液晶硅基板(liquidcrystalonsilicon,lcos)其结构与薄膜晶体管液晶(tft-lcd)相类似，tft-lcd是在上下两块玻璃基板中灌入液晶，而lcos则是以cmos制程形成的驱动电路作为下层基板。

对于lcos产品，通常而言，可对其外观及功能性进行检测，举例而言，对于功能性的检测，可在一检测技术或检测环境下测试lcos内部电路的正确性或影像成像的质量；对于外观上的检测，可在检测技术或检测环境下检查玻璃或产品外观的缺陷，例如，表面及内部脏污确认。

为了对lcos进行检测，常使用一半自动测试平台，此平台具有一光学路径以对lcos进行检测，此光学路径可包括具有延迟板、相位板、偏振分光棱镜、分光镜、透镜、镜头以及一相机。而在此光学路径中，大部分光学组件的位置及间距是不可调的，举例而言，lcos与延迟板的间距为固定、延迟板至偏振分光棱镜的间距也为固定，同时，相机位置需配合操作流程与操作环境，因此也可能是固定的。而相机至镜头之间通常会有一个转接器来支撑或固定镜头，并且固定镜头与相机之间的距离。

由上述可知，在转接器的使用下，相机与镜头的距离可因此而固定。若需要在测试平台上要对不同lcos产品进行测试，则因lcos产品具有不同的面板尺寸，又因光学路径设计之下无法调动光学组件的间距，故在换一个不同的lcos产品测试时，需要更换一个不同尺寸的转接器来配合lcos产品，以达到测试平台的不同测试条件。另一方面，虽然镜头可以微调焦距，然而所能微调的程度较小，不足以应付不同尺寸类型的lcos产品。制造不同的转接器来满足不同产品的测试条件的成本非常高，因为产品的总类可能非常多，同时在更换转接器时常常使得光学路径的环境有所变动，可能会影响测试结果，甚至增加损伤光学组件或镜头的风险，对于不同总类产品的测试环境，若使用单一规格的转接器对于检测环境而言非常不方便、容易变更已固定的检测环境，并且增加了更多的时间与金钱上的成本。

技术实现要素：

有鉴于上述现有的单一规格转接器的缺失，本发明即用解决上述的问题。本发明的一目的在于提供一种硅基液晶测试平台，改进现有的测试平台使用的转接器需要花费过多时间更换转接器及需要制造许多不同规格的转接器的缺失，意即，本发明的硅基液晶测试平台的伸缩转接器，在更换测试产品的过程中不需将转接器拿下更换，或制造不同规格的转接器，而是使用伸缩长度来完成镜头位置的调节，可在不需更换转接器的状况下达到测试环境的要求。

为了达到上揭的目的及其他目的，本发明提供一种硅基液晶测试平台，测试平台的伸缩转接器，是使用多个环体耦接，进行伸缩，以调节转接器的长度。本发明的硅基液晶测试平台，至少包含：承载基座；伸缩转接器，配置于承载基座的上方，伸缩转接器至少包含：至少一第一环体，具有一第一半径的一第一孔洞贯穿；以及至少一第二环体，具有一第二半径的一第二孔洞贯穿，耦接至少第一环体，其中至少第一环体与至少第二环体具有至少一部分重叠，以增加或减少伸缩转接器的长度；镜头，连接伸缩转接器；及偏振分光棱镜，配置于检测光学路径上。

为达上述所有目的，其中第二半径大于或等于至少一第一环体的半径，使得至少一第二环体覆盖于至少一第一环体上。

为达上述所有目的，其中至少第二环体上具有止付螺纹，用以固定至少第一环体与至少第二环体。

为达上述所有目的，其中至少一第一环体的一第一表面向内延伸，用以嵌入一镜头。

为达上述所有目的，其中至少一第一环体与至少一第二环体的材料为铝。

为达上述所有目的，其中伸缩转接器伸缩范围为0至70mm。

为达上述所有目的，其中更包含至少一第三环体，耦接至少一第二环体，其中至少第三环体与至少第二环体具有至少一部分重叠，以增加或减少伸缩转接器的长度。

为达上述所有目的，本发明提供一种硅基液晶测试平台，至少包含：承载基座；伸缩转接器，配置于承载基座的上方，伸缩转接器至少包含：至少一第一环体，具有一第一半径的一第一孔洞贯穿；以及至少一第二环体，具有一第二半径的一第二孔洞贯穿，耦接至少第一环体，其中至少第一环体与至少第二环体具有至少一部分重叠，以增加或减少伸缩转接器的长度；镜头，连接伸缩转接器；偏振分光棱镜，配置于检测光学路径上；以及延迟板，配置于检测光学路径上，邻接偏振分光棱镜。

为达上述所有目的，其中至少一第一环体的第二表面向外延伸、至少一第二环体的第一表面向内延伸以及至少一第二环体的第二表面向外延伸，且其中至少一第一环体的第二表面与至少一第二环体的第一表面覆盖时使得伸缩转接器内部光线不外漏。

相较于先前现有技术，根据本发明的用于硅基液晶半自动测试平台的伸缩转接器，除了较传统转接器具有不必费时更换转接器的方便性外，更能达到避免破坏检测环境及降低制作多个单一规格转接器的成本等功效。

以上所述是用以说明本发明的目的、技术手段以及其可达成的功效，相关领域内熟悉此技术的人可以通过以下实施例的示范与伴随的图式说明及申请专利范围更清楚明了本发明。

附图说明

图1是根据本发明的一实施例说明硅基液晶测试平台的伸缩转接器的基本架构示意图。

图2是根据本发明的一实施例说明伸缩转接器与硅基液晶检测平台的示意图。

图3是根据本发明的一实施例说明硅基液晶测试平台的伸缩转接器的剖面示意图。

图4是根据本发明的一实施例说明硅基液晶测试平台的伸缩转接器的伸缩长度示意图。

符号说明

951硅基液晶

952延迟板

953偏振分光棱镜

954镜头

955承载基座

956相机

200、300、400、500用于硅基液晶半自动测试平台的伸缩转接器

501具有最长长度的伸缩转接器

502具有最短长度的伸缩转接器

210、310、410第一环体

212、312第一半径

213、313第一孔洞

220、320、420第二环体

222、322第二半径

223、323第二孔洞

330、430第三环体

414第一环体的第一表面

415第一环体的第二表面

424第二环体的第一表面

425第二环体的第二表面

434第三环体的第一表面

435第三环体的第二表面

444第四环体的第一表面

445第四环体的第二表面

560伸缩范围。

具体实施方式

本发明将以较佳的实施例及观点加以详细叙述。下列描述提供本发明特定的施行细节，俾使阅者彻底了解这些实施例的实行方式。然该领域的熟习技艺者须了解本发明亦可在不具备这些细节的条件下实行。此外，文中不会对一些已熟知的结构或功能或是作细节描述，以避免各种实施例间不必要相关描述的混淆，以下描述中使用的术语将以最广义的合理方式解释，即使其与本发明某特定实施例的细节描述一起使用。

第一实施例

图1是根据本发明的一实施例说明用于硅基液晶测试平台的伸缩转接器的基本架构示意图。本发明提供一种用于硅基液晶半自动测试平台的伸缩转接器，在一实施例中，伸缩转接器200至少包含：至少一第一环体210，具有一第一半径212的第一孔洞213(未显示于图)贯穿；以及至少一第二环体220，具有一第二半径222的一第二孔洞223(未显示于图)贯穿，耦接至少第一环体210，其中至少第一环体210与至少第二环体220具有至少一部分重叠，以增加或减少伸缩转接器的长度。

参阅图1的说明，在一实施例中，硅基液晶测试平台的伸缩转接器200的第一环体210的第一孔洞213，其半径为第一半径212贯穿第一环体210；第二环体220的第二孔洞223，其半径为第二半径222贯穿第二环体210，此第二半径222大于或等于第一环体210的半径，使得第二环体220耦接于第一环体210并覆盖于第一环体上210上。当第二半径222等于第一环体210的半径时，则第二缓体刚好覆盖于第一环体210上，当第二半径222大于第一环体210的半径时，则可增加垫片或其他材料，以通过垫片使得第二环体220盖于第一环体210上。此时，第二环体220应耦接并覆盖于210上，同时，第二环体220与第一环体210重叠，使得第二环体220移动于第一环体210之上，因此伸缩转接器200的长度可通过覆盖的长度伸长或缩短。

承上所述，在一实施例中，应当注意的是，涉及环体的半径及孔洞的半径，在此的数值仅为举例而非加以限制，在不背离本发明范畴下，使用者可考虑实际状况或考虑光通量对应的检测环境来制作环体半径及孔洞半径的规格，惟相耦接的两环体，需满足后一环体孔洞的半径大于或等于前一环体的半径，使后一环体可覆盖于前一环体上即可，至于环体半径或孔洞半径实际长度则与此无关。

承上所述，在一实施例中，第二环体220上具有止付螺纹，可固定第一环体210与第二环体220，如此一来，第一环体210与第二环体220将不互相移动，而可保持伸缩转接器200的固定长度。通常而言，为使止付螺丝可有效固定第一环体210与第二环体220，第一环体210与第二环体220必须具有一定长度的重叠。故在一实施例中，伸缩转接器可伸最长的长度为第一环体210的长度加上第二环体220的长度再扣掉两者至少需重叠部分的长度。举例而言，若第一环体的长度为28-32mm，较佳为30mm，第二环体的长度为18-22mm，较佳为20mm，至少需重叠5mm，则伸缩转接器可伸长的最长长度为41-49mm，较佳为45mm。

承上所述，在一实施例中，应注意的是，第一环体210与第二环体212的长度在制造时可为调整，意即，第一环体210与第二环体220的长度并非固定。如此一来，在第一环体210与第二环体200的最大重叠长度下，伸缩转接器200的可缩短的最短长度可为第一环体210的长度或第二环体220的长度。举例而言，若第一环体的长度为28-32，较佳为30mm，第二环体的长度为18-22mm，较佳为20mm，在最大重叠的状况下，则伸缩转接器可缩短的最短长度为28-32mm，较佳为30mm。在一实施例中，若第一环体的长度等于第二环体的长度，则在两者完全重叠时，有最短伸缩长度。

承上所述，在一实施例中，第一环体210与第二环体220所使用的材料为铝，且需要做阳极雾面染黑表面处理，以使伸缩转接器200耐用且具有不易反光及不易透光的特性。

第二实施例

图2是根据本发明的一实施例说明伸缩转接器与硅基液晶半自动检测平台的示意图。参阅图2所示，在一实施例中，硅基液晶测试平台，至少包含：承载基座955；伸缩转接器300，配置于承载基座955之上，伸缩转接器包含至少一第一环体310，具有一第一半径312的一第一孔洞313贯穿；以及至少一第二环体320，具有一第二半径322的一第二孔洞323贯穿，耦接至少第一环体310，其中至少第一环体310与至少第二环体320具有至少一部分重叠，以增加或减少所述伸缩转接器的长度；镜头954，连接伸缩转接器300；及偏振分光棱镜953，配置于检测光学路径上。

承上所述，在一实施例中，硅基液晶测试平台的伸缩转接器300，可包含两个以上的环体，且每个环体皆具有孔洞并且可相互重叠使得伸缩转接器300有更长的伸缩量。在一实施例中，伸缩转接器300具有第三环体330，此第三环体330的孔洞半径大于或等于第二环体320的第二半径322，使得第三环体330可覆盖于第二环体320，并在第二环体320上移动。

承上所述，在一实施例中，应当注意的是，本发明的环体并不只限于二个或三个，在不违背本发明的范畴下，更可包含超过三个以上的环体。惟每个环体孔洞的半径皆大于或等于与其耦接的下个环体的半径，举例而言，第三环体330的孔洞半径大于或等于第二环体320的半径；第二环体320的孔洞半径大于或等于第一环体310的半径，故每个环体皆可覆盖下一个与其耦接的较小半径的环体上，并可于其上移动或滑动，而使伸缩专接器300的整体长度伸长或缩短。

承上所述，在一实施例中，应当注意的是，涉及环体的半径及孔洞的半径，在此的数值仅为举例而非加以限制，在不背离本发明范畴下，使用者可考虑实际状况或考虑光通量对应的检测环境来制作环体半径及孔洞半径的规格，惟相耦接的两环体，需满足后一环体孔洞的半径大于或等于前一环体的半径，使后一环体可覆盖于前一环体上即可，至于环体半径或孔洞半径实际长度则与此无关。

参阅图2所示，在一实施例中，测试平台的测试环境具有一测试的光学路径。在光学路径中，从硅基液晶产品951出发的组件可包括有延迟板952、偏振分光棱镜953、镜头954及伸缩转接器300，其中，因第一环体310、第二环体320及第三环体330皆具有孔洞，因此光可通过伸缩转接器300最后到达相机956。应注意的是，伸缩转接器300是利用承载基座955所固定，同时也固定与伸缩转接器的镜头954。

参阅图2所示，在一实施例中，伸缩转接器300与镜头954及承载基座955耦接。通常而言，是使用螺丝将伸缩转接器300、镜头954及承载基座955三者固定，举例而言，在一实施例中，使用止付螺丝将伸缩转接器300的第一环体310与镜头954相固定，使用止付螺丝将伸缩转接器300的第三环体330固定于承载基座955上。当固定完成后，硅基液晶产品951的检测环境也为之固定，测试平台可开始进行测试。应当注意的是，不限于使用止付螺丝，伸缩转接器300与镜头954、及承载基座955的固定在不违背本发明的范畴下还可包括其他方式，举例而言，使镜头嵌入第一环体310，或使用上下压合的方式固定伸缩转接器300及承载基座955。

第三实施例

图3是根据本发明的一实施例说明用于硅基液晶半自动测试平台的伸缩转接器的剖面示意图。参考图3所示，在一实施例中，第一环体的一第一表面414为与镜头954耦接的表面，而第一表面可向内延伸，使第一孔洞的开口变小，利于镜头954的放入。在一实施例中，镜头954可平整地嵌入第一表面上而不使得入射或射出镜头954的光线受到伸缩转接器400挡住，并可再利用止付螺丝对镜头954与伸缩转接器400做固定。

参阅图4所示，在一实施例中，第一环体的一第一表面414为与镜头954耦接的表面，第一环体的一第二表面415为与第二环体420耦接的表面；第二环体的一第一表面424为与第一环体410耦接的表面，第二环体的第二表面425为与第三环体430耦接的表面；同理而言，第三环体的一第一表面434为与第二环体420耦接的表面，第三环体的第二表面435则为与第四环体410耦接的表面。

承上所述，在一实施例中，每两个环体互相耦接的表面为具有向内或向外延伸的表面，使得伸缩转接器400的接合处密封，而使得伸缩转接器的接合处不漏光。举例而言，第一环体的一第二表面415向外延伸，第二环体的第一表面424向内延伸，两表面交错互相盖合，加强第一环体410与第二环体420接缝处的密合，使其易于固定并不漏光；第二环体的一第二表面425向外延伸，第三环体的第一表面434则向内延伸，两表面交错互相盖合，加强第二环体410与第三环体430接缝处的密合，使其易于固定并不漏光。同理而言，第三环体与第四环体的耦接处亦为相同的设计。

第四实施例

图4是根据本发明的一实施例说明硅基液晶测试平台的伸缩转接器的伸缩长度示意图。在一实施例中，硅基液晶测试平台的伸缩转接器，可包含两个以上的环体，且每个环体皆具有孔洞并且可相互重叠使得伸缩转接器有足够的伸缩量。在一实施例中，伸缩转接器501具有三个环体，且环体间互相有部分重叠，而伸缩转接器的一端偶接镜头954，另一端耦接相机956，此外，伸缩转接器501为当三个环体互相移动使得伸缩转接器501具有最长的长度。反之，伸缩转接器502为当三个环体互相重叠使伸缩转接器502具有最短的长度。

参阅图4所示，在一实施例中，应注意的是，三个环体的长度不一定相同，应视测试环境使用者所决定，举例而言，若第三环体有最长的长度，则伸缩转接器502的最短长度可为第三环体的长度；同理可言，若三个环体长度相等，则在三个环体完全重叠时，伸缩转接器502具有最短长度。总而言之，用户可根据测试环境制造出相对应的伸缩转接器501，在此的环体数量、每一环体的长度及环体覆盖的长度均为举例而不为之限制，在不违背本发明范畴下，环体数量、每一环体的长度及每一环体的覆盖长度皆为可调，应视使用者实际需求的考虑而设定。

参阅图4所示，在一实施例中，伸缩转接器501、502的伸缩范围560则为伸缩转接器501的长度减去伸缩转接器502的长度。换言之，伸缩范围560为镜头954至相机956的距离变化量。伸缩范围560为伸缩转接器501是否适用于多个不同产品的判断，举例而言，若多个硅基液晶951需调动镜头954向相机956方向移动48-52mm，较佳为50mm，则伸缩范围560需介于0-50mm可在范围内适用此伸缩转接器。

承上所示，在一实施例中，伸缩转接器501的伸缩范围为0至72mm，较佳为0-70mm，意即，镜头954至相机956的距离可通过伸缩转接器501移动70-72mm，较佳为70mm。应注意的是，在此之伸缩转接器501的伸缩范围506仅为举例而非加以限制，在不违背本发明范畴之下，还可为其他值，例如0-71mm或0-50mm，应视使用者实际需求所设定。而设定的规格同样也可调整，举例而言，若伸缩范围560为0-71mm，可将最长伸长量71mm平均分散到四个环体的伸长量，或者对每个环体设定不同伸长量的规格，只要总伸长量可达71mm即可。

参阅图2及图4所示，在一实施例中，使用者可先预估所有硅基液晶产品可能会使镜头954移动的距离，规划所需的伸长范围，再行制作对应此伸缩范围560的伸缩转接器300，或直接选择已制作好的可容许伸长量的伸缩转接器300。当镜头954已固定于伸缩转接器300前端的环体310，且伸缩转接器的尾端环体320固定于承载基座955上后，则完成伸缩转接器300的设置，可使用硅基液晶半自动测试平台开始测试硅基液晶产品951，而需要变更硅基产品951进行测试，用户不须将镜头954、伸缩转接器300及承载基座955拆下，而是调整环体的止付螺丝，变更环体间的覆盖长度，进一步调整伸缩转接器适当的长度，即可进行下一个不同硅基液晶产品951的测试。

综上所述，本发明提供一种用于硅基液晶半自动测试平台的伸缩转接器，改进现有测试平台使用的转接器需要花费过多时间更换转接器及需要制造许多不同规格的转接器的缺失，意即，本发明的用于硅基液晶半自动测试平台的伸缩转接器，在更换测试产品的过程中不需将转接器拿下更换，甚至花费较多时间与成本制造不同规格的转接器，而是使用不同半径大小的环体互相耦接，以移动环体相互覆盖的长度来完成长度的伸长或缩短，固定镜头之后，通过伸缩长度来完成镜头位置的调节，可在不需更换单一规格转接器的状况下节省时间与成本来达到测试环境的要求。

上述的目的在于解释，各种特定细节是为了提供对于本发明的彻底理解。熟知本发明领域的通常知识者应可实施本发明，而无需其中某些特定细节。在其他实施例中，现有的结构及装置并未显示于方块图中。在图式组件之间可能包含中间结构。所述的组件可能包含额外的输入和输出，其并未详细描绘于附图中。

本发明包含各种处理程序，所述处理程序得以硬盘组件加以执行，或内嵌于计算机可读取指令中，其可形成一般或特殊目的且具有编程指令的处理器或逻辑电路，以执行程序，除此之外，所述程序亦得由硬件及软件的组合加以执行。

用基本形式来描述方法，在未脱离本发明范畴下，任一方法或讯息得自程序中增加或删除，熟知项技术领域的通常知识者应可进一步改良或修正本发明，特定实施方式仅用以说明，非限制本发明。

若文中有一组件“a”耦接(或耦合)至组件“b”，组件a可能直接耦接(或耦合)至b，亦或是经组件c间接地耦接(或耦合)至b。若说明书载明一组件、特征、结构、程序或特性a会导致一组件、特征、结构、程序或特性b，其表示a至少为b的一部分原因，亦或是表示有其他组件、特征、结构、程序或特性协助造成b。在说明书中所提到的“可能”一词，其组件、特征、程序或特性不受限于说明书中；说明书中所提到的数量不受限于“一”或“一个”等词。

本发明无论就目的、手段及功效，在在均显示其迥异于现有技术的特征，为一大突破。惟须注意，上述实施例仅为例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明的范围。虽然在这里已阐明与解释特定实施例与所揭露的应用，所述实施例并不意图局限于精确解释，任何熟于此项技艺的人士均可在不违背本发明的技术原理及精神下，对实施例作修改与变化。也应当了解，在不背离本发明所揭露的精神与范畴下，本发明所揭露于此的组件与其的各种修正、变更、对于此领域的技术者为显而易见的加以排列的延伸、操作、所述方法的细节，以及在此所揭露的装置与方法将不被局限，且应包含于前述权利要求范围内。