于在测试液晶显示面板时输入控制信号至测试开关207，开启开关。本实施例中，所述面板检测电路设有三条控制线，包括第一控制线206、第二控制线205及第三控制线204;其中，所述第一控制线206用于开启与所述第一测试线203连接的测试开关207，所述第二控制线205用于开启与所述第二测试线202连接的测试开关207，所述第三控制线204用于开启与所述第三测试线201连接的测试开关207。
[0037]当测试液晶显示面板的蓝色子像素是否正常时，通过第三测试线201输入一测试信号至蓝色子像素信号线，此时应通过第三控制线204输入控制信号至与所述蓝色子像素信号线连接的测试开关207上，使其处于开启状态，同时，与所述红色子像素信号线连接的测试开关207和与所述绿色子像素信号连接的测试开关207处于关闭状态，当第一个重叠区域209和第二个重叠区域210出现短路现象时，由于与所述红色子像素信号线连接的测试开关207和与所述绿色子像素信号连接的测试开关207处于关闭状态，测试信号无法通过测试开关207传至数据信号线217，从而整个面板测试可以照常进行。
[0038]当测试液晶显示面板的红色子像素是否正常时，通过第一测试线203输入一测试信号至红色子像素信号线，此时应通过第三控制线206输入控制信号至与所述红色子像素信号线连接的测试开关207上，使其处于开启状态，同时，与所述蓝色子像素信号线连接的测试开关207和与所述绿色子像素信号连接的测试开关207处于关闭状态，当第三个重叠区域211和第四个重叠区域212出现短路现象时，使得与所述蓝色子像素信号线连接的测试开关207和与所述绿色子像素信号连接的测试开关207处于开启状态，但是此时第三测试线201和第二测试线202并无测试信号输入，从而整个面板测试可以照常进行;所述测试信号具有一最低电平值，即只有当测试信号的电平值高于所述最低电平值，液晶面板才会显示，并且所述测试开关的启动电平值低于所述最低电平值，当第五个重叠区域213和第六个重叠区域214出现短路现象时，由于所述测试开关的启动电平值低于所述最低电平值，故即使第五个重叠区域213和第六个重叠区域214出现短路现象，控制信号的启动电平值也不足以使液晶面板有显示，整个面板测试可以照常进行。
[0039]当测试液晶显示面板的绿色子像素是否正常时，通过第二测试线202输入一测试信号至绿色子像素信号线，此时应通过第二控制线205输入控制信号至与所述绿色子像素信号线连接的测试开关207上，使其处于开启状态，同时，与所述蓝色子像素信号线连接的测试开关207和与所述红色子像素信号连接的测试开关207处于关闭状态，当第七个重叠区域215出现短路现象时，由于与所述红色子像素信号连接的测试开关207处于关闭状态，测试信号无法通过测试开关207传至数据信号线217，从而整个面板测试可以照常进行;所述测试信号具有一最低电平值，即只有当测试信号的电平值高于所述最低电平值，液晶面板才会显示，并且所述测试开关的启动电平值低于所述最低电平值，当第八个重叠区域216出现短路现象时，由于所述控制信号的启动电平值低于所述最低电平值，故即使第八个重叠区域216出现短路现象，使得与所述红色子像素信号线连接的测试开关207处于开启状态，但是此时第一测试线203并无测试信号输入，从而整个面板测试可以照常进行。
[0040]在测试液晶显示面板后，停止向控制线输入控制信号，以关闭测试开关207，使得测试信号无法由测试线传送至数据信号线217。因此，通过测试开关207，可直接关闭测试线与数据信号线217之间的路径，二不需要通过激光来切断测试线，以避免额外的激光切断步骤。
[0041]在液晶显示面板经过测试且确认为正常之后，驱动电路组件(未显示)可设置于基板的非显示区上，亦即数据信号线217的外侧，用于提供信号至数据信号线217。此时，驱动电路组件的电性接点(未显示)可直接接合于数据信号线217的输入端子208，使得驱动电路组件可电性连接于数据信号线217。在测试液晶显示面板之后，由于数据信号线217与测试线之间的测试开关207为关闭状态，因此，驱动电路组件可直接接合于数据信号线217的输入端子208上，且测试线可仍保留在测试后的液晶显示面板上，而不需被切断，以避免额外的激光切断步骤。
[0042]本发明所提供的面板检测电路通过在所述多条信号线上设置多个测试开关，并且用控制线控制所述测试开关，使得当在重叠区域出现短路时，整个面板测试仍能继续进行，并且检测后可不用通过激光来切断测试线，可以避免额外的激光切断步骤，再者，测试开关可以与像素的主动元件同时形成，而不需要额外的制程步骤。
[0043]以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种面板检测电路，其特征在于，包括: 多条数据信号线； 测试开关，其与所述数据信号线连接； 测试线，其与所述测试开关连接，包括:用于向所述测试开关输入红色子像素测试信号的第一测试线、用于向所述测试开关输入绿色子像素测试信号的第二测试线及用于向所述测试开关输入蓝色子像素测试信号的第三测试线；以及， 控制线，其与所述测试开关连接，包括:第一控制线、第二控制线及第三控制线；其中，所述第一控制线用于开启与所述第一测试线连接的测试开关，所述第二控制线用于开启与所述第二测试线连接的测试开关，所述第三控制线用于开启与所述第三测试线连接的测试开关。2.根据权利要求1所述的面板检测电路，其特征在于，所述测试开关为薄膜晶体管。3.根据权利要求2所述的面板检测电路，其特征在于，所述测试开关具有源极、漏极及栅极，所述源极与所述测试线连接，所述漏极与所述数据信号线连接，所述栅极与所述控制线连接。4.根据权利要求3所述的面板检测电路，其特征在于，所述测试线输入的测试信号具有一最低显示电平值。5.根据权利要求4所述的面板检测电路，其特征在于，所述测试开关具有一最低启动电平值，所述最低启动电平值小于所述最低显示电平值。6.根据权利要求5所述的面板检测电路，其特征在于，还包括驱动电路组件，设置于基板上，其中所述驱动电路组件电性连接所述数据信号线。7.根据权利要求6所述的面板检测电路，其特征在于，所述数据信号线具有金属端子，用于接收所述测试信号。8.一种液晶显示面板，其特征在于，包括面板检测电路，包括: 多条数据信号线； 测试开关，其与所述数据信号线连接； 测试线，其与所述测试开关连接，包括:用于向所述测试开关输入红色子像素测试信号的第一测试线、用于向所述测试开关输入绿色子像素测试信号的第二测试线及用于向所述测试开关输入蓝色子像素测试信号的第三测试线；以及， 控制线，其与所述测试开关连接，包括:第一控制线、第二控制线及第三控制线；其中，所述第一控制线用于开启与所述第一测试线连接的测试开关，所述第二控制线用于开启与所述第二测试线连接的测试开关，所述第三控制线用于开启与所述第三测试线连接的测试开关。9.根据权利要求8所述的液晶显示面板，其特征在于，所述测试线输入的测试信号具有一最低显示电平值。10.根据权利要求4所述的面板检测电路，其特征在于，所述测试开关具有一最低启动电平值，所述最低启动电平值小于所述最低显示电平值。
【专利摘要】本发明提供的面板检测电路，包括：多条数据信号线；测试开关，其与数据信号线连接；测试线，其与测试开关连接，包括：用于向测试开关输入红色子像素测试信号的第一测试线、用于向测试开关输入绿色子像素测试信号的第二测试线及用于向测试开关输入蓝色子像素测试信号的第三测试线；以及，控制线，其与测试开关连接，包括：第一控制线、第二控制线及第三控制线；其中，第一控制线用于开启与述第一测试线连接的测试开关，第二控制线用于开启与第二测试线连接的测试开关，第三控制线用于开启与第三测试线连接的测试开关。本发明所提供的面板检测电路可以使得当在重叠区域出现短路现象时，整个面板测试仍能继续进行。
【IPC分类】G02F1/13
【公开号】CN105676497
【申请号】CN201610255153
【发明人】甘启明
【申请人】深圳市华星光电技术有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2016年4月21日