专利名称：电子器件双轨检测设备及方法
技术领域：
本发明涉及一种用于检测微小电子器件的不合格或者正常与否而进行分类的电子器件双轨检测设备及方法，尤其是大幅提高在同一时间内可检测到的电子器件的数量，从而提高作业效率的电子器件双轨检测设备及方法。
背景技术：
图1是用于说明通常的电子器件检测设备的框图，图2是体现图1框图的构成的电子器件检测设备的构成图。
图1和图2是对相同的结构采用相同的标号的一个检测设备，为了有助于理解，同时示出了以框图的形式示出的图1和以构成图的形式示出的图2。
图1以及图2所示的电子器件检测设备包括储料器10，用于存储很多已成型的电子器件1，以便进行检测；送料装置20，通过振动作用移动由上述储料器10供给的电子器件1；线性送料装置30，其具有规定的长度，以便依次供给由上述送料装置20供给的电子器件；旋转装置40，其由玻璃板构成，以便更加容易地检测由上述线性送料装置30供给的电子器件；校正装置50，用于将电子器件排列成一列，以便对随上述旋转装置40旋转的电子器件进行正确的检测；拍摄(照相机)装置60，用于拍摄由上述校正装置50调整的电子器件的各面的形状；编码器70，用于确定由上述拍摄装置60拍摄的电子器件的位置信息；微型机80，用于输入由上述拍摄装置60拍摄的影像信号和为了确认电子器件1的数量而进行检测的计数传感器71和编码器70等的信号，并进行处理以及控制；控制装置90，根据上述微型机80的信号输出控制信号，且在规定的位置具有显示部(例如，触摸式面板等)，以便确认电子器件的合格品以及不合格品的数量；以及两个喷嘴91、92，用于喷射压缩空气，以便根据上述控制装置90的信号，分类排出电子器件的合格品以及不合格品。如图所示，喷嘴91、92由连接管连接，从而空气可以流入喷嘴，且虽然未图示，在喷嘴91、92的另一侧连接管的终端连接有阀门。在这里，通过阀门的开/关，空气沿着连接管流入，且通过喷嘴91、92喷射。这样，由于压缩空气从阀门经由连接管直到通过喷嘴91、92喷射有移动距离，所以消耗时间。
但是，如上面所述的现有电子器件检测设备在同一时间内可检测的电子器件的数量是有限的。
发明内容
为了解决上述问题而提出本发明，本发明的目的在于提供一种将两个电子器件为一组，对两个电子器件分别进行从线性送料装置到拍摄装置的处理，从而提高在同一时间内可检测的电子器件的数量，从而提高作业效率的电子器件双轨检测设备及方法。
为了实现上述目的，本发明提供一种用于检测电子器件的设备，其特征在于，包括送料装置，通过振动作用移动通过储料器供给的电子器件，上述储料器中存储有大量的上述电子器件，以便进行检测；两个以上的线性送料装置，其具有指定的长度且相邻设置，以便依次供给由上述送料装置供给的电子器件；旋转装置，具有圆形玻璃状，将由上述每个线性送料装置供给的电子器件放在其上面，以设置两个以上的轨道；校正装置，具有一次校正器，该一次校正器具有引导上述电子器件的通道，以便将放在上述玻璃板上的电子器件成一列地整理在用于检测的各个轨道上；拍摄装置，用于拍摄整理在各个轨道中的电子器件的各个面的形状；以及分类装置，在被检测完的电子器件中，将位于最外侧轨道中的电子器件分为合格品和不合格品，之后，将位于下一外侧轨道中的电子器件分为合格品和不合格品。在这里，下一个外侧轨道是指紧邻上述最外侧轨道的内侧轨道。
并且，根据本发明的上述检测设备的特征在于，还包括编码器，用于确认由上述拍摄装置拍摄的电子器件的位置信息；微型机，用于输入由上述拍摄装置拍摄的影像信号和为了确认上述电子器件的数量而进行检测的计数器传感器和上述编码器等的信号，并进行处理以及控制；控制装置，根据上述微型机的信号输出控制信号，且具有显示器部，以便可以确认上述电子器件的合格品或者不合格品或者再检测品的数量；以分类装置，根据上述控制装置的信号，将上述电子器件分为合格品或者不合格品或者再检测品。
上述校正装置还包括二次校正器，用于再次整理通过上述一次校正器整理的位于轨道中的电子器件中的由于上述玻璃板的离心力而偏离轨道的电子器件。
沿上述旋转装置的旋转方向相隔规定的距离分别设置上述拍摄装置，以便拍摄上述电子器件的6个面(左、右、前、后、上、下)，上述拍摄装置形成有第一侧面照相机，用于拍摄上述电子器件的左侧面；第二侧面照相机，用于拍摄上述电子器件的右侧面；后方照相机，用于拍摄上述电子器件的后面；底部照相机，用于拍摄上述电子器件的底面；顶部照相机，用于拍摄上述电子器件的顶部；以及前方照相机，用于拍摄上述电子器件的前面；并且，在每个上述照相机中分别形成有具有照明性能的卤素电灯，以正确地拍摄上述电子器件，且在与上述照相机相对的部分分别形成反射镜，以便容易地拍摄上述电子器件的面。
此外，本发明的电子器件检测方法的特征在于包括通过装有电子器件的储料器将电子器件供给送料装置的步骤；利用振动作用，将通过上述送料装置供给的电子器件分别供给两个以上的线性送料装置，之后，向旋转的玻璃板上的轨道中依次供给上述电子器件的步骤；利用照相机分别拍摄供给到上述对应轨道的电子器件的各个面，由接收所拍摄的影像信号的微型机检测是合格品或是不合格品的步骤；对结束上述检测的电子器件中的位于最外侧轨道中的电子器件进行合格品和不合格品的分类的步骤；以及在结束上述的最外侧轨道中的电子器件的合格品和不合格品的分类之后，对位于下一个外侧轨道中的电子器件进行合格品和不合格品分类的步骤。在这里，下一个外侧轨道是指紧邻上述最外侧轨道的内侧轨道。
并且，本发明的上述电子器件检测方法还包括，向玻璃板上的对应轨道依次供给(设置)上述电子器件之后，利用指定的校正装置进行整理，使上述电子器件分别位于玻璃板上的正轨道中的步骤。
此外，本发明的上述电子器件检测方法还包括所检测的电子器件为不合格品时，通过触发传感器和编码器正确地确认上述不合格品的位置的步骤；将上述确认的位置信息数据传输给微型机之后，通过上述微型机向控制装置输送信号的步骤；以及根据上述控制装置输出的信号，向对应的排出桶排出电子器件的步骤。
从而，本发明提供上述的电子器件双轨检测设备及方法，从而与现有的电子器件检测方式相比，同一时间内可以检测更多的电子器件，提高了作业效率。
图1是用于说明通常的电子器件检测设备的框图；图2是体现图1框图的结构的电子器件检测设备的构成图；图3是说明根据本发明实施例的电子器件双轨检测设备的框图；图4是说明根据本发明实施例的电子器件双轨检测设备的构成图；图5是说明根据本发明实施例的电子器件检测方法的流程图。
具体实施例方式
下面，参照附图详细说明根据本发明的优选实施例。
说明附图之前，首先说明现有电子器件检测设备和根据本发明的电子器件检测设备的不同点以及图示方式。
现有的电子器件检测装置在玻璃板上形成一个轨道，并且具有的线性送料装置、校正装置、拍摄装置以及分类装置等也是一个，以此进行位于上述轨道中的电子器件的供给、校正、检测以及分类。
相反，在本发明中，在玻璃板上形成两个以上的轨道，优选形成两个轨道，且上述轨道的数量相对应，将上述线性送料装置、校正装置、拍摄装置、分类装置等设置为两个，从而对位于上述两个轨道中的每个电子器件进行检测。从而，相同时间内的电子器件检测效率可以成倍提高。
如上述，在本发明中，在玻璃板上形成内侧轨道a和外侧轨道b等两条轨道。
从而，在本说明书中，与位于内侧轨道a中的电子器件2相关的设备的标号表示为线性送料装置为212、通道为237、二次校正器是238、作为拍摄装置的照相机是241～246。
此外，与位于外侧轨道b上的电子器件2′相关的设备的标号表示为线性送料装置是212′、通道是237′、二次校正器是238′、作为拍摄装置的照相机是241′～246′。
图3是用于说明根据本发明实施例的电子器件双轨检测设备的框图，图4是用于说明根据本发明实施例的电子器件双轨检测设备的构成图。
如上述，本发明的特征在于在玻璃板上形成两个以上的轨道，且具有与轨道的数量相同的线性送料装置、校正装置、拍摄装置、分类装置等，但是，在本说明书中主要说明具有两个上述装置以及轨道的情况。
并且，上述的“双轨”并不只表示两个，还包括两个以上。
如图3以及图4所示，根据本发明的电子器件双轨检测设备是用于检测设置于半导体装备或者电子机械之前完成的电子器件的设备。
双轨电子器件检测设备大致包括送料装置210、线性送料装置212、121′、旋转装置220、校正装置230、230′、拍摄装置240、240′、分类装置250、250′、编码器260、以及微型机270。
如上面所述，本发明中的上述线性送料装置212、212′、校正装置230、230′、拍摄装置240、240′、分类装置250、250′等都设置成两个，对两个电子器件分别进行规定操作(例如，供给、校正、拍摄、分类等)。
上述送料装置210通过振动作用移动上述电子器件2、2′，上述电子器件是由储料器(未图示)供给，为了检测上述电子器件2、2′，储料器中装有大量的电子器件2、2′。
设置两个以上(优选为两个)的上述线性送料装置212、212′，通过每个线性送料装置将电子器件2、2′依次放在具有玻璃板222的旋转装置220上(更加详细地说是玻璃板上的轨道中)。
上述线性送料装置212、212′具有调整成符合电子器件2、2′的尺寸的线形槽，其一端与上述送料装置210连接，另一端位于上述玻璃板222上。
在上述玻璃板222上相隔一定距离地放置有由上述线性送料装置212、212′供给的电子器件2、2′。也就是说，电子器件2通过第一线性送料装置212依次放在玻璃板222上的内侧轨道a中，电子器件2′通过第二线性送料装置212′依次放在玻璃板222上的外侧轨道b中。
上述玻璃板222是具有圆形形状的板，通过如同步进电动机(未图示)等旋转装置旋转。上述电子器件2、2′分别设置在形成于上述玻璃板222上的轨道a、b中，且通过上述旋转装置旋转。
校正装置230、230′是为了拍摄(检测)上述电子器件2、2′，将电子器件2、2′向各自的轨道a、b整理的装置。
上述校正装置230、230′包括一次校正器232和二次校正器238、238′。即，第一校正装置230由一次校正器232和二次校正器238构成，第二校正装置230′是由一次校正器232和二次校正器238′构成。
上述电子器件2、2′经由上述一次校正器232和二次校正器238、238′，在上述玻璃板222上的对应的轨道中进行细微地调整。
进一步详细地看上述校正装置230、230′，则一次校正器232设置在邻接于上述线性送料装置212的另一端的位置上。上述一次校正器232包括内侧引导件234、外侧引导件234′以及为了形成两个通道237、237′而形成在内侧引导件234和外侧引导件234′之间的固定引导件235。并且，上述一次校正器232还包括固定支持上述引导件234、234′、235的框架(未图示)。
从而，上述电子器件2、2′在经由上述内侧引导件234、固定引导件235以及外侧引导件234′之间形成的通道237、237′的同时被整理。即，内侧轨道a中的电子器件2在经由形成在内侧引导件234和固定引导件235之间的通道237的同时被整理，外侧轨道b中的电子器件2′在经由形成在固定导向235和外侧引导件234′之间的通道237′的同时被整理。
另一方面，即使由上述一次校正器232整理了电子器件2、2′，但电子器件2、2′中也一时作用有因上述玻璃板222的离心力而向外偏离的力量。从而，设置有二次校正器238、238′，用于细微地整理因上述玻璃板222的离心力而向外面偏离的电子器件2、2′。
上述二次校正器238、238′包括中间突出的突起引导件(未图示)和设置该突起引导件的框架(未图示)。
优选地，上述突起引导件的前端相对电子器件的轨道a、b位于外侧，且中间的突起部分使电子器件位于轨道a、b中。
在本发明中，对将电子器件向上述的玻璃板上的轨道中整理的方式或者校正器的数量没有特别的限定。
拍摄装置240、240′是用于拍摄通过上述校正装置230、230′在各个轨道中调整的电子器件2、2′的6个面(包括4个面)的形状的装置。
第一拍摄装置240由第一侧面照相机241、第二侧面照相机242、顶部照相机243、后方照相机244、底部照相机245、前方照相机246构成，第二拍摄装置240′由第一侧面照相机241′、第二侧面照相机242′、顶部照相机243′、后方照相机244′、底部照相机245′、前方照相机246′构成，且这些照相机分别相隔规定的距离，设置在玻璃板222的旋转方向上。
在本发明中，并不特别限定上述照相机的数量以及各个照相机的位置。即，照相机的数量可以是4个或者6个。也就是说，可以如同2002年12月28日授权的专利(专利号10-367863，发明名称使用视觉系统的电子器件检测方法)一样，具有4个照相机，也可以如同2004年10月22日公开的专利(公开号10-2004-89798，发明名称使用连续获得影像的电子器件检测设备以及方法)一样，具有6个照相机。
并且，照相机可以按照第一侧面照相机、第二侧面照相机、后方照相机、底部照相机、顶部照相机、前方照相机的顺序设置，也可以按照顶部照相机241、241′、底部照相机242、242′、后方照相机243、243′、前方照相机244、244′、第一侧面照相机245、245′、第二侧面照相机246、246′的顺序设置。
在这里，标号214是指拍摄位于内侧轨道a上的电子器件2的上部的照相机，214′是指拍摄位于外侧轨道b上的电子器件2′的上部的照相机。同样，标号215是指拍摄位于内侧轨道a上的电子器件2的下部的照相机，215′是指拍摄位于外侧轨道b上的电子器件2′的下部的照相机。
为了正确地拍摄上述电子器件2、2′，在上述照相机中分别形成有具有照明功能的卤素电灯(未图示)，为了容易地拍摄上述电子器件2、2′的面，在与上述照相机相对的部分分别形成反射镜(未图示)。
另一方面，在本发明中，在上述拍摄装置240、240′和校正装置230、230′之间，优选在上述二次校正器238、238′的侧面设置触发传感器(trigger sensor)262、262′。
上述触发传感器262、262′检测电子器件2、2′，且将其信息提供给微型机270。
上述编码器260是与触发传感器的信息一同使用，以确定由上述的拍摄装置240、240′拍摄的电子器件2、2′的位置信息。
上述微型机270是用于输入由上述拍摄装置240、240′拍摄的影像信号和为了确认上述电子器件的数量而检测的计数传感器274、274′和上述编码器260以及触发传感器等的信号，并进行处理以及控制的装置。
上述控制装置272根据上述微型机270的信号输出控制信号，且包括可以确认上述电子器件的合格品和不合格品的数量的显示部。
优选地，设置与各自轨道数量一致的分类装置250、250′。
上述分类装置250、250′包括通过控制装置272而喷射压缩空气的喷嘴252b、254b、256b、252b′、254b′、256b′、以及装入因上述喷嘴喷射的压缩空气而弹出来的电子器件的排出桶252a、254a、256a、252a′、254a′、256a′。
在本发明中，用于装入内侧轨道a上的电子器件2的排出桶252a、254a、256a和用于装入外侧轨道b上的电子器件2′的排出桶252a′、254a′、256a′之间优选相隔规定的距离。
上述分类装置250、250′根据上述控制装置272的信号将上述电子器件分别分为再检测品和不合格品以及合格品，并向各自的排出桶252a、254a、256a、252a′、254a′、256a′排出。尤其是，优选设置多个用于不合格品的排出桶，以便根据不合格品的类型进行不同的分类。
此外，在本发明中，优选地，首先向对应的排出桶252a′、254a′、256a′排出分类成再检测品、不合格品以及合格品等的外侧轨道b上的电子器件2′，之后，再向对应的排出桶252a、254a、256a排出分类成再检测品、不合格品以及合格品等的内侧轨道a上的电子器件2。
图1中，粗箭头表示上述电子器件2、2′的移动路线，细箭头表示信号的传输。
图5是用于说明根据本发明实施例的电子器件检测方法的流程图。
参照图3至图5所示，本发明首先在上述储料器(未图示)中装有多量的电子器件2、2′，之后开启提供电源的开关(未图示)、按下实施作业的开始按钮(未图示)，从而开始作业(S101)。
这时，装在上述储料器中的电子器件2、2′通过上述送料装置210移动，通过位于上述送料装置210的上端部的传感器判断上述送料装置210中的电子器件2、2′的数量未到规定的数量，则通过上述储料器供给，否则不供给(S102～S104)。
上述送料装置210对上述电子器件2、2′施加振动作用的同时进行旋转，从而将上述电子器件2、2′分别提供给第一、第二线性送料装置212、212′(S105)，由于上述线性送料装置212、212′被调整为符合上述电子器件2、2′的尺寸，所以通过上述线性送料装置212、212′供给的电子器件依次供给在上述玻璃板222上。(S106)。
通过上述线性送料装置212、212′供给的电子器件2、2′以放在由玻璃板222构成的旋转装置220的上部的状态下旋转。
通过上述旋转装置220旋转的电子器件2、2′被第一、第二校正装置230、230′成一列地排列在用于检测的轨道a、b上(S107)。
进一步详细地说明校正过程，上述电子器件2、2′在经由上述一次校正器232的通道237、237′的同时被调整，并且进入用于拍摄的轨道a、b中。之后，紧接着，由二次校正器238、238′的突起引导件的引导面再次细微地整理。
从而，由上述一次校正器232和二次校正器238、238′整理的电子器件2、2′与玻璃板222一起旋转，且由触发传感器262、262′确认该电子器件(S108)。
之后，由设置在各轨道上的6个241～246、241′～246′照相机分别拍摄电子器件的各个面(6个面)(S109)。此时，由上述照相机拍摄到的信息供给连接于上述微型机270的影像处理板(S110)。
微型机270对上述影像信息进行分析，判断电子器件为合格品、或不合格品、或是需要再次检测的器件(S111)。
并且，上述编码器260接收来自上述触发传感器262、262′的信号，确认由上述拍摄装置240、240′拍摄的电子器件2、2′的位置信息(S112)，且将该信息输送给微型机270(S113)。
上述微型机270根据电子器件的检测结果和该电子器件的位置信息，向上述控制装置272输送信号(S114)。
上述控制装置根据该控制信号控制喷嘴252b、254b、256b、252b′、254b′、256b′(S115)。即，在是需要再次检测的器件的情况下，当再检测器件位于再检测器件喷嘴252b、252b′的前面时，通过喷嘴喷射空气，从而将该电子器件向用于再检测器件的排出桶254a、254a′排出。此外，合格品的情况和不合格品的情况也以相同的方法分类(S116)。
在本发明中，优选地，首先向对应的排出桶252a、254a、256a排出位于外侧轨道b中的电子器件2′，之后，向对应的排出桶252a′、254a′、256a′排出位于内侧轨道a上的电子器件2。
确定是否反复进行这样的检测过程(S117)，决定是否结束。
另一方面，上述计数传感器274检测由于喷嘴256b工作而向用于合格品的排出桶256a排出的电子器件的数量，该喷嘴256b受到控制装置272的控制喷射空气，该控制装置272接收来自上述微型机270的、排出上述电子器件2、2′中的合格品的输出信号。
上述微型机270形成在用户可以容易操作的位置，可以通过显示上述微型机270的内容的显示器276直接确认由上述拍摄装置240、240′拍摄的影像。
并且，通过上述控制装置的显示部用户可以简单地确认上述电子器件2、2′的合格品以及不合格品的数量和比率。
并且，可以通过上述控制装置272的信号分别驱动上述喷嘴252b、254b、256b、252b′、254b′、256b′，从而可以向各自的排出桶排出上述电子器件2、2′的合格品、不合格品、再检测器件。
上述的电子器件2、2′是指微小单位的超小型器件，例如MLCC(Multi Layer Ceramic Capacitor多层陶瓷电容器)芯片或者贴片电阻(chip resistor)、变阻器(varistor)、贴片电感器(chip inductor)、芯片阵列(chip array)等，上述结构中，旋转动作是通过发动机的驱动实现，所以在此省略详细的说明。
并且，上述电子器件2、2′的检测是可以同时进行破损(破碎)、裂缝(crack)、电极露出、被夹、外部电极伸展、外部电极破损、没有电极、电极过大、电极短路、电极脱离、误切断、尺寸不良、爆裂、切割不良、针眼、异物、外部电极发生气泡、电极翘起、外部电极变色、厚度不良、以及镀金不良等项目。
如上述，参照本发明的上述说明以及附图，对根据本发明的双轨电子器件检测设备及方法进行了说明，但是，只是举例说明，在不脱离本发明记载的精神和原则范围内，本领域技术人员可以有多种变更以及修改。
附图标记210、210送料装置212、212′线性送料装置220旋转装置 230校正装置232一次校正器 238二次校正器240、240′拍摄装置 250分类装置260第一、第二编码器 270微型机
权利要求
1.一种电子器件双轨检测设备，其特征在于，其包括送料装置，通过振动作用移动通过储料器供给的所述电子器件，所述储料器中存储有大量的所述电子器件，用以进行检测；两个以上的线性送料装置，其具有规定的长度且彼此相邻设置，以便依次供给由所述送料装置供给的电子器件；旋转装置，具有圆形玻璃状，其上面放置由所述每个线性送料装置供给的电子器件，以形成两个以上的轨道；校正装置，具有一次校正器，所述一次校正器具有引导所述电子器件的通道，以便将放在所述玻璃板上的电子器件成一列地整理在用于检测的各个轨道；拍摄装置，用于拍摄整理在各个轨道中的电子器件的各个面的形状；以及，分类装置，在检测完的电子器件中，将位于最外侧轨道中的电子器件分为合格品和不合格品，之后，将位于下一外侧轨道中的电子器件分为合格品和不合格品。
2.根据权利要求1所述的电子器件双轨检测设备，其特征在于，所述检测设备还包括编码器，用于确认由所述拍摄装置拍摄的电子器件的位置信息；微型机，输入由所述拍摄装置拍摄的影像信号以及计数器传感器和所述编码器等的信号，进行处理以及控制，所述计数器用于检测所述电子器件的数量；控制装置，根据所述微型机的信号输出控制信号，且具有显示部，以便可以确认所述电子器件的合格品或者不合格品或者再检测品的数量；以及分类装置，根据所述控制装置的信号，将所述电子器件分为合格品或者不合格品或者再检测品。
3.根据权利要求1或2所述的电子器件双轨检测设备，其特征在于，所述校正装置还包括二次校正器，用于再次整理通过所述一次校正器位于轨道中的电子器件中的因所述玻璃板的离心力而从轨道偏离的电子器件。
4.根据权利要求1或2所述的电子器件双轨检测设备，其特征在于，沿所述旋转装置的旋转方向相隔规定的距离分别设置所述拍摄装置，以便拍摄所述电子器件的6个面(左、右、前、后、上、下)，所述摄像装置形成有第一侧面照相机，用于拍摄所述电子器件的左侧面；第二侧面照相机，用于拍摄所述电子器件的右侧面；后方照相机，用于拍摄所述电子器件的后面；底部照相机，用于拍摄所述电子器件的底面；顶部照相机，用于拍摄所述电子器件的顶部；以及前方照相机，用于拍摄所述电子器件的前面，并且，在所述照相机中分别形成有具有照明功能的卤素电灯，以正确地拍摄所述电子器件，且在与所述照相机相对的部分分别形成反射镜，以便容易地拍摄所述电子器件的面。
5.一种电子器件双轨检测方法，用于检测电子器件的方法，其特征在于，包括通过装有电子器件的储料器将电子器件供给送料装置；利用振动作用，将通过所述送料装置供给的电子器件分别供给两个以上的线性送料装置，之后，向旋转的玻璃板上的轨道中依次供给所述电子器件；通过照相机拍摄供给所述对应轨道的电子器件的各个面，且由接收所拍摄的影像信号的微型机检测出是合格品以及不合格品；对结束所述检测的电子器件中的位于最外侧轨道中的电子器件进行合格品和不合格品的分类；以及在结束所述的最外侧轨道中的电子器件的分类之后，对位于下一个外侧轨道中的电子器件进行合格品和不合格品分类。
6.根据权利要求5所述的电子器件双轨检测方法，其特征在于，还包括向玻璃板上的对应轨道依次供给所述电子器件，之后，利用指定的校正装置进行整理，使所述电子器件分别位于玻璃板上的轨道中。
7.根据权利要求5或6所述的电子器件双轨检测方法，其特征在于，还包括所检测的电子器件为不合格品时，通过触发传感器和编码器正确地确认所述不合格品的位置；将所述确认的位置信息的数据传送给微型机之后，通过所述微型机向控制装置输送信号的步骤；以及根据所述控制装置的输出信号，向对应的排出桶排出电子器件。
全文摘要
本发明提供了一种电子器件双轨检测设备及方法，根据本发明的电子器件双轨检测设备包括送料装置、线性送料装置、旋转装置、校正装置、拍摄装置、分类装置、编码器以及微型机。因此，与现有的电子器件检测方法相比，根据本发明的电子器件双轨检测设备在同一时间内可以检测更多的电子器件，从而可以提高工作效率。
文档编号B07C5/02GK101049596SQ200710090449
公开日2007年10月10日 申请日期2007年4月6日 优先权日2006年4月7日
发明者成庆 申请人:Rts股份有限公司