专利名称：一种频率器件老化率测试装置及测试方法
技术领域：
本发明涉及频率器件测试设备技术领域，尤其涉及一种频率器件老化率测试装置及测试方法。
背景技术：
频率器件在生产过程中，其老化率是最为重要的考核参数之一，用老化率来衡量一个频率器件在长期工作条件下的稳定度是否达标。行业内一般用日老率、年老化率指标来衡量产品的长期稳定度，要达到上述指标，需对频率器件连续15天进行30次取样，并测试取得一组频率数据，之后计算出该产品的老化率。传统的生产工艺中，一般采用人工方法来测试和记录数据，因为一次在线老化测试的产品数量很多，所以一天要对几千甚至上万个频率器件进行测试和记录，工作量非常庞大，需要投入大量的人力，整个过程极为繁琐，费工、费时且效率低下，同时，人工记录数据时非常容易出错，尤其在数据量较大的测试过程中，严重影响数据的准确性。因此，现有的测试频率器件老化参数的方式，存在费工、费时、效率低下、数据准确性差的缺陷。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，提供一种频率器件老化率测试装置及测试方法，从而实现自动化测试，不仅省时省力，而且提高了生产效率和数据的准确性。为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案。—种频率器件老化率测试装置，其包括有一计算机、一频率计、一铷原子频率源及多层测试架，每层测试架上设有一器件测试板及一测试控制板，所述器件测试板包括有多个器件座，所述测试控制板各自具有唯一的地址码，其中，所述铷原子频率源发送标准频率的振荡信号至频率计的标准频率信号端口，频率计以该振荡信号的频率作为参考频率；每个测试控制板包括有一 4514译码器及多个选通开关，所述计算机发送选位指令至4514译码器的选位端，4514译码器的多个输出端分别连接于多个选通开关的控制端，多个器件座的输出端分别连接于多个选通开关的输入端，多个选通开关的输出端相互连接后再连接至频率计的输入端，频率计将测试结果以电信号的形式发送至计算机。优选地，所述测试装置还包括有一直流电源，所述直流电源输出直流电压为器件座供电，该直流电压是OV 30V连续可调电压，所述直流电源还输出5V直流电压为测试控制板供电。优选地，所述测试架的层数是6层。优选地，每个器件测试板上设有16个器件座，每个测试控制板包括有16个选通开关。优选地，所述测试装置还包括有一扩展板，多个测试控制板分别通过IDC40而连接至扩展板，之后再通过DB25接口而转接至计算机的并口端。
优选地，所述频率计通过GPIB接口而连接至计算机。一种频率器件老化率测试方法，其包括如下步骤:步骤S101，在计算机上设置参数，所述参数包括频率器件在测试前的上电工作时长、取样天数和每日取样次数，计算机根据取样天数和每日取样次数得出取样时刻；步骤S102，频率器件按预设时长上电工作，且达到稳定工作状态；步骤S103，计算机将选位指令发送至测试控制板，以令多个器件座上多个频率器件之一的频率信号输出至频率计；步骤S104，频率计将测试结果反馈回计算机，并由计算机保存至数据库；步骤S105，计算机输出下一频率器件所对应的选位指令，重复步骤S103至步骤S104，直至器件测试板内的多个频率器件全部测试完成；步骤S106，计算机开始计时，直至下一取样时刻；步骤S107，重复步骤S103至步骤S106，直至多个频率器件在全部取样时刻的测试工作完成；步骤S108，计算机利用最小二乘法计算出每个频率器件的老化率K，计算公式为:
权利要求
1.一种频率器件老化率测试装置，其特征在于，所述测试装置包括有一计算机(10)、一频率计(20)、一铷原子频率源(30)及多层测试架，每层测试架上设有一器件测试板(40)及一测试控制板(50)，所述器件测试板(40)包括有多个器件座(400)，所述测试控制板(50 )各自具有唯一的地址码，其中， 所述铷原子频率源(30)发送标准频率的振荡信号至频率计(20)的标准频率信号端口，频率计(20)以该振荡信号的频率作为参考频率； 每个测试控制板(50 )包括有一 4514译码器(500 )及多个选通开关(501)，所述计算机(10)发送选位指令至4514译码器(500)的选位端，4514译码器(500)的多个输出端分别连接于多个选通开关(501)的控制端，多个器件座(400)的输出端分别连接于多个选通开关(501)的输入端，多个选通开关(501)的输出端相互连接后再连接至频率计(20)的输入端，频率计(20)将测试结果以电信号的形式发送至计算机(10)。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括有一直流电源(60),所述直流电源(60)输出直流电压为器件座(400)供电，该直流电压是OV 30V连续可调电压，所述直流电源(60 )还输出5V直流电压为测试控制板(50 )供电。
3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试架的层数是6层。
4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，每个器件测试板(40)上设有16个器件座(400 )，每个测试控制板(50 )包括有16个选通开关(501)。
5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括有一扩展板，多个测试控制板(50)分别通过IDC40而连接至扩展板，之后再通过DB25接口而转接至计算机(10)的并口端。
6.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述频率计(20)通过GPIB接口而连接至计算机(10)。
7.—种频率器件老化率测试方法，其特征在于，所述测试方法包括如下步骤: 步骤S101，在计算机(10)上设置参数，所述参数包括频率器件在测试前的上电工作时长、取样天数和每日取样次数，计算机(10)根据取样天数和每日取样次数得出取样时刻； 步骤S102，频率器件按预设时长上电工作，且达到稳定工作状态； 步骤S103，计算机(10)将选位指令发送至测试控制板(50)，以令多个器件座(400)上多个频率器件之一的频率信号输出至频率计(20)； 步骤S104，频率计(20)将测试结果反馈回计算机(10)，并由计算机(10)保存至数据库； 步骤S105，计算机(10)输出下一频率器件所对应的选位指令，重复步骤S103至步骤S104，直至器件测试板(40)内的多个频率器件全部测试完成； 步骤S106,计算机(10)开始计时,直至下一取样时刻； 步骤S107，重复步骤S103至步骤S106，直至多个频率器件在全部取样时刻的测试工作完成; 步骤S108，计算机(10)利用最小二乘法计算出每个频率器件的老化率K，计算公式为:
全文摘要
本发明公开了一种频率器件老化率测试装置，其包括有计算机、频率计、铷原子频率源及多层测试架，每层测试架上设有器件测试板及测试控制板，所述器件测试板包括有多个器件座，所述测试控制板各自具有唯一的地址码，其中，每个测试控制板包括有一4514译码器及多个选通开关，所述计算机发送选位指令至4514译码器的选位端，4514译码器的多个输出端分别连接于多个选通开关的控制端，多个器件座的输出端分别连接于多个选通开关的输入端，多个选通开关的输出端相互连接后再连接至频率计的输入端，频率计将测试结果以电信号的形式发送至计算机，并由计算机计算出每个频率器件的老化率K。本发明具有生产效率高和数据准确性好的优势。
文档编号G01R31/00GK103217600SQ201310084060
公开日2013年7月24日 申请日期2013年3月15日 优先权日2013年3月15日
发明者李丕宁, 方忠有, 朱辉, 李 浩, 孙仲秋 申请人:深圳市三奇科技有限公司