一种语音控制的集成电路测试系统及方法
【专利摘要】本发明公开了一种语音控制的集成电路测试系统，包括音频信号采集器、音频分析处理器、通讯控制器及测试仪，所述音频信号采集器接受外部的语音信号，将语音信号进行采集及放大后输出至所述音频分析处理器，所述音频分析处理器将接收到的语音信号进行分析后输出至所述通讯控制器，所述通讯控制器将所述音频分析处理器传送过来的语音信号转变为所述测试仪支持的语音控制指令，使得所述测试仪执行所述通讯控制器产生的语音控制指令。本发明还公开了一种语音控制的集成电路测试方法。本发明通过语音远程对测试进行控制和监督，可以有效的提高生产效率，降低芯片测试及测试仪自身的成本，同时也能有效降低测试工人的视力疲劳问题。
【专利说明】一种语音控制的集成电路测试系统及方法
【技术领域】
[0001]本技术主要应用于集成电路测试领域，特别是一种语音控制的集成电路测试系统及方法。
【背景技术】
[0002]一般集成电路芯片在进行批量生产前，需要经过测试，该测试包含晶圆测试和成品芯片测试两类。在这两类测试中，均需要采用测试仪来实现自动化测试，以提高测试效率。传统的测试仪均采用液晶等显示屏来显示当前测试的状态信息，并通过触摸屏、键盘等输入方式手动输入测试要求，对测试过程进行控制。在上述传统测试控制过程中，在每次测试前工人需要手动将测试信息输入到测试仪中，花费时间较多。由于一般芯片的测试都是按照时间计算，该部分时间也会计算入芯片整体费用中，会增加芯片测试成本；为了满足输入要求，测试仪常常会使用触摸屏和键盘等设备，增加了测试仪整体的生产成本；测试工人在一个测试周期中，往往需要经常观察显示屏，而显示屏上信息较多，需要集中精力关注，时间长了会加剧眼镜疲劳，影响工人的身体健康。
【发明内容】
[0003]本发明的目的是提供一种语音控制的集成电路测试系统及方法，本发明使用语音控制整个测试过程，可以有效的提高生产效率，降低芯片测试及测试仪自身的成本，同时也能有效降低测试工人的视力疲劳问题。
[0004]为实现上述目的，本发明提供了一种语音控制的集成电路测试系统，其特征在于，包括音频信号采集器、音频分析处理器、通讯控制器及测试仪，所述音频信号采集器接受外部的语音信号，将语音信号进行采集及放大后输出至所述音频分析处理器，所述音频分析处理器将接收到的语音信号进行分析后输出至所述通讯控制器，所述通讯控制器将所述音频分析处理器传送过来的语音信号转变为所述测试仪支持的语音控制指令，使得所述测试仪执行所述通讯控制器产生的语音控制指令。
[0005]较佳的，所述音频信号采集器包括麦克风阵列及音频放大电路，所述麦克风阵列采集模拟语音信号传送给所述音频放大电路，所述音频放大电路对模拟语音信号进行放大并将放大后的模拟语音信号传送至所述音频分析处理器。
[0006]较佳的，所述音频分析处理器包括数模转换芯片和语音分析模块，所述数模转换芯片将所述音频信号采集器传送过来的放大的模拟语音信号转化为数字语音信号，并将转化后的数字语音信号传送给所述语音分析模块，由所述语音分析模块对数字语音信号进行噪音消除、音频信号增强处理，同时从数字语音信号中提取出需要的语音控制指令，并将该语音控制指令传送至通讯控制器。
[0007]较佳的，所述音频分析处理器可以预设多种语言的语音控制指令。
[0008]本发明还提供一种语音控制的集成电路测试方法，具体步骤如下:
[0009]a)将待测芯片放到所述测试仪或与其相连的传送带中；[0010]b)用户使用语音发送开始测试的语音指令；
[0011 ] c)所述音频信号采集器采集语音指令；
[0012]d)所述音频信号采集器将采集到的语音指令放大并传送至所述音频分析处理器；
[0013]e)所述音频分析处理器分析放大后的语音指令；
[0014]f)所述音频分析处理器输送分析后的语音指令至所述通讯控制器；
[0015]g)所述通讯控制器控制所述测试仪开始测试；
[0016]h)测试完成后，所述测试仪反馈结果给所述通讯控制器，
[0017]i)所述通讯控制器播放预设的测试完成语音并提示操作人员测试已完成；
[0018]j)取出已完成测试的芯片，测试结束；
[0019]与现有技术相比，上述技术方案使用语音控制整个测试过程，操作人员可以不用到测试机台前进行繁琐的输入，可以远程通过语音对测试进行控制和监督，可以有效的提高生产效率，降低测试时间及测试成本。同时因该语音控制模块成本要低于现有的大尺寸触摸屏或键盘，还能减少测试仪的成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0020]图1为本发明一种语音控制的集成电路测试系统结构框图
[0021]图2为本发明一种语音控制的集成电路测试方法流程图
【具体实施方式】
[0022]现在参考附图对本发明的实施例进行描述，如上所述，本发明提供了一种语音控制的集成电路测试系统及方法，该测试系统及方法通过语音远程对测试进行控制和监督，可以有效的提高生产效率，降低芯片测试及测试仪自身的成本，同时也能有效降低测试工人的视力疲劳问题。
[0023]参考图1，图1为本发明一种语音控制的集成电路测试系统结构框图，如图所示，本发明的一种语音控制的集成电路测试系统，其特征在于，包括音频信号采集器、音频分析处理器、通讯控制器及测试仪，所述音频信号采集器接受外部的语音信号，将语音信号进行采集及放大后输出至所述音频分析处理器，所述音频分析处理器将接收到的语音信号进行分析后输出至所述通讯控制器，所述通讯控制器将所述音频分析处理器传送过来的语音信号转变为所述测试仪支持的语音控制指令，使得所述测试仪执行所述通讯控制器产生的语音控制指令。所述音频信号采集器包括麦克风阵列及音频放大电路，所述麦克风阵列采集模拟语音信号传送给所述音频放大电路，所述音频放大电路对模拟语音信号进行放大并将放大后的模拟语音信号传送至所述音频分析处理器。所述音频分析处理器包括数模转换芯片和语音分析模块，所述数模转换芯片将所述音频信号采集器传送过来的放大的模拟语音信号转化为数字语音信号，并将转化后的数字语音信号传送给所述语音分析模块，由所述语音分析模块对数字语音信号进行噪音消除、音频信号增强处理，同时从数字语音信号中提取出需要的语音控制指令，并将该语音控制指令传送至通讯控制器。较佳的，所述音频分析处理器可以预设多种语言的语音控制指令。
[0024]参考图2，图2为本发明一种语音控制的集成电路测试方法流程图，具体步骤如下:
[0025]a)将待测芯片放到所述测试仪或与其相连的传送带中；
[0026]b)用户使用语音发送开始测试的语音指令；
[0027]c)所述音频信号采集器采集语音指令；
[0028]d)所述音频信号采集器将采集到的语音指令放大并传送至所述音频分析处理器；
[0029]e)所述音频分析处理器分析放大后的语音指令；
[0030]f)所述音频分析处理器输送分析后的语音指令至所述通讯控制器；
[0031]g)所述通讯控制器控制所述测试仪开始测试；
[0032]h)测试完成后，所述测试仪反馈结果给所述通讯控制器，
[0033]i)所述通讯控制器播放预设的测试完成语音并提示操作人员测试已完成；
[0034]j)取出已完成测试的芯片，测试结束；
[0035]以上结合最佳实施例对本发明进行了描述，但本发明并不局限于以上揭示的实施例，而应当涵盖各种根据本发明的本质进行的修改、等效组合。
【权利要求】
1.一种语音控制的集成电路测试系统，其特征在于，包括音频信号采集器、音频分析处理器、通讯控制器及测试仪，所述音频信号采集器接受外部的语音信号，将语音信号进行采集及放大后输出至所述音频分析处理器，所述音频分析处理器将接收到的语音信号进行分析后输出至所述通讯控制器，所述通讯控制器将所述音频分析处理器传送过来的语音信号转变为所述测试仪支持的语音控制指令，使得所述测试仪执行所述通讯控制器产生的语音控制指令。
2.如权利要求1所述的一种语音控制的集成电路测试系统，其特征在于，所述音频信号采集器包括麦克风阵列及音频放大电路，所述麦克风阵列采集模拟语音信号传送给所述音频放大电路，所述音频放大电路对模拟语音信号进行放大并将放大后的模拟语音信号传送至所述音频分析处理器。
3.如权利要求1所述的一种语音控制的集成电路测试系统，其特征在于，所述音频分析处理器包括数模转换芯片和语音分析模块，所述数模转换芯片将所述音频信号采集器传送过来的放大的模拟语音信号转化为数字语音信号，并将转化后的数字语音信号传送给所述语音分析模块，由所述语音分析模块对数字语音信号进行噪音消除、音频信号增强处理，同时从数字语音信号中提取出需要的语音控制指令，并将该语音控制指令传送至通讯控制器。
4.如权利要求3所述的一种语音控制的集成电路测试系统，其特征在于，所述音频分析处理器可以预设多种语言的语音控制指令。
5.一种语音控制的集成电路测试方法，其特征在于，包含以下步骤: a)将待测芯片放到所述测试仪或与其相连的传送带中； b)用户使用语音发送开始测试的语音指令； c)所述音频信号采集器采集语音指令； d)所述音频信号采集器将采集到的语音指令放大并传送至所述音频分析处理器； e)所述音频分析处理器分析放大后的语音指令； f)所述音频分析处理器输送分析后的语音指令至所述通讯控制器； g)所述通讯控制器控制所述测试仪开始测试； h)测试完成后，所述测试仪反馈结果给所述通讯控制器， i)所述通讯控制器播放预设的测试完成语音并提示操作人员测试已完成； j)取出已完成测试的芯片，测试结束。
【文档编号】G01R1/00GK103809108SQ201410052417
【公开日】2014年5月21日 申请日期:2014年2月16日 优先权日:2014年2月16日
【发明者】徐正元 申请人:成都市中州半导体科技有限公司