圆柱工件综合测量检具的制作方法

文档序号:6249989阅读:259来源:国知局
圆柱工件综合测量检具的制作方法
【专利摘要】本发明涉及圆柱工件综合测量检具,包括底座、测量架、表架以及千分表,所述测量架固定在底座上,所述表架与千分表设有多个,所述表架与千分表一一对应,所述千分表固定在表架上,所述表架固定在测量架上,所述测量架上设有多个供千分表通过的通孔,所述测量架上设有V形导轨,所述通孔设有三个,所述表架与千分表各设有两个,采用上述结构后,工件先用标准样件放入V形导轨校正表零位后即可测量,由于工件在V形导轨内旋转移动,尺寸、圆度、锥度一目了然。
【专利说明】圆柱工件综合测量检具

【技术领域】
[0001]本发明涉及一种检具,特别是圆柱工件综合测量检具。

【背景技术】
[0002]无心磨床磨削硬质合金刀具等圆柱工件要检测尺寸、圆度、锥度等,检测一个工件,过去是用千分尺多次测量,大量生产、频繁测量时效率很低。


【发明内容】

[0003]本发明的目的是提供一种实现尺寸、圆度、锥度一次检测且效率高的圆柱工件综合测量检具。
[0004]实现本发明目的的技术方案如下:
[0005]圆柱工件综合测量检具,包括底座、测量架、表架以及千分表,所述测量架固定在底座上,所述表架与千分表设有多个,所述表架与千分表对应,所述千分表固定在表架上,所述表架固定在测量架上,所述测量架上设有多个供千分表通过的通孔,所述测量架上设有^形导轨。
[0006]所述通孔设有三个。
[0007]所述表架与千分表各设有两个。
[0008]采用上述结构后,工件先用标准样件放入7形导轨校正表零位后即可测量,由于工件在V形导轨内旋转移动,尺寸、圆度、锥度一目了然。

【专利附图】

【附图说明】
[0009]下面结合附图和【具体实施方式】对本发明作进一步详细的说明。
[0010]图1为本发明的结构示意图。
[0011]图2为本发明的俯视示意图。
[0012]图中:1为底座,2为测量架,3为表架,4为千分表,5为通孔,6为乂形导轨。

【具体实施方式】
[0013]由图1和图2可知本发明圆柱工件综合测量检具包括底座1、测量架2、表架3以及千分表4,所述测量架2固定在底座1上,所述表架3与千分表4设有两个,所述表架3与千分表4 对应,所述千分表4固定在表架3上,所述表架3固定在测量架2上,所述测量架2上设有三个供千分表4通过的通孔5,所述测量架2上设有V形导轨6。
[0014]本发明工作时,先用标准样件放入7形导轨校正表零位后即可测量,由于工件在导轨内旋转移动,尺寸、圆度、锥度一目了然,表架。千分表表头可根据工件长度、直径调整检测。
【权利要求】
1.圆柱工件综合测量检具,其特征在于:包括底座、测量架、表架以及千分表,所述测量架固定在底座上,所述表架与千分表设有多个,所述表架与千分表 对应,所述千分表固定在表架上,所述表架固定在测量架上,所述测量架上设有多个供千分表通过的通孔,所述测量架上设有V形导轨。
2.根据权利要求1所述的圆柱工件综合测量检具,其特征在于:所述通孔设有三个。
3.根据权利要求2所述的圆柱工件综合测量检具,其特征在于:所述表架与千分表各设有两个。
【文档编号】G01B5/20GK104374258SQ201410686881
【公开日】2015年2月25日 申请日期:2014年11月25日 优先权日:2014年11月25日
【发明者】吕康贤 申请人:常州正康硬质合金有限公司
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