1.一种芯片校准方法，其特征在于，包括：
接收基准模拟信号，利用模数转换器将所述基准模拟信号转换成第一类数字信号；
接收待校准信号，利用所述模数转换器将所述待校准信号转换成第二类数字信号，所述待校准信号来自待校准芯片的信号产生器；
计算所述第一类数字信号和所述第二类数字信号的差值，根据所述第一类数字信号与所述第二类数字信号的差值和预设的差值范围完成校准；
其中，所述模数转换器的参考电压由所述待校准芯片以外的电压源提供。
2.根据权利要求1所述的芯片校准方法，其特征在于，所述根据所述第一类数字信号与所述第二类数字信号的差值和预设的差值范围完成校准包括：
若所述第一类数字信号和所述第二类数字信号的差值在预设的差值范围外，则执行如下步骤：
更新所述待校准芯片的信号产生器的配置，以使得所述待校准芯片更新所述待校准信号，并重新比较所述第一类数字信号和所述第二类数字信号的差值与所述预设的差值范围，直至所述差值落入所述预设的差值范围内，
或者确认所述差值无法落入所述预设的差值范围。
3.根据权利要求2所述的芯片校准方法，其特征在于，还包括，存储所述待校准芯片的信号产生器的配置。
4.根据权利要求2所述的芯片校准方法，其特征在于，所述更新所述待校准芯片的信号产生器的配置根据以下任一种方法进行：二分法、逐次比较法。
5.根据权利要求2所述的芯片校准方法，其特征在于，所述根据所述第一类数字信号和所述第二类数字信号的差值和预设的差值范围完成校准还包括：生成校准结果，所述校准结果用于指示所述差值落入所述预设的差值范围内，或者确认所述差值无法落入所述预设的差值范围。
6.一种芯片校准电路，其特征在于，包括：
模数转换器，适于接收基准模拟信号，将所述基准模拟信号转换成第一类数字信号，并且适于接收待校准信号，将所述待校准信号转换成第二类数字信号，所述待校准信号来自待校准芯片的信号产生器；
校准器，适于计算所述第一类数字信号和所述第二类数字信号的差值，根据所述第一类数字信号与所述第二类数字信号的差值和预设的差值范围完成校准；
其中，所述模数转换器的参考电压由所述待校准芯片以外的电压源提供。
7.根据权利要求6所述的芯片校准电路，其特征在于，所述校准器包括：
判断单元，适于判断所述第一类数字信号和所述第二类数字信号的差值是否在预设的差值范围内；
配置更新单元，适于更新所述待校准芯片的信号产生器的配置，以使得所述待校准芯片更新所述待校准信号，并触发所述判断单元重新比较所述第一类数字信号和所述第二类数字信号的差值与所述预设的差值范围，直至所述差值落入所述预设的差值范围内，或者确认所述差值无法落入所述预设的差值范围。
8.根据权利要求7所述的芯片校准电路，其特征在于，所述待校准芯片的信号产生器的配置存储在非易失性存储器中。
9.根据权利要求7所述的芯片校准电路，其特征在于，所述配置更新单元，适于根据以下任一种方法更新所述待校准芯片的信号产生器的配置：二分法、逐次比较法。
10.根据权利要求7所述的芯片校准电路，其特征在于，所述校准器还包括校准结果生成单元，适于生成校准结果，所述校准结果用于指示所述差值落入所述预设的差值范围内，或者确认所述差值无法落入所述预设的差值范围。
11.一种芯片，其特征在于，包括如权利要求6～10任一项所述的芯片校准电路。