技术总结
本发明涉及一种基于电学法的键合丝瞬时触碰的检测方法、装置和平台，该方法包括：将待测集成电路的任意一个管脚配置为高电平，将剩余管脚配置为与高电平相反的低电平；扫描被配置为低电平的各管脚是否发生电平跳变；若扫描到任意一个管脚发生电平跳变，则判定所述待测集成电路发生键合丝触碰短路；输出检测结果。该方法通过捕捉待测集成电路的设定的管脚的电平变化，实现对键合丝触碰短路进行检测，不会发生漏检，并且无需开封获取待测集成电路内部键合丝的连接方式，适应性广。
技术研发人员：李勋平;何春华;周斌;尧彬;何小琦
受保护的技术使用者：中国电子产品可靠性与环境试验研究所
文档号码：201611201597
技术研发日：2016.12.22
技术公布日：2017.05.10