绑定区域导电粒子压合检测方法与流程

技术特征：

技术总结
本发明提供一种绑定区域导电粒子压合检测方法，包括：在第一印制电路板的电极所在位置一侧预留检测区域，电极位于第一印制电路板与第二印制电路板的绑定区域内；第二印制电路板上设置有连接器，连接器的第一端位于绑定区域内，且与电极绑定；在检测区域内设置与电极一一对应连接的检测点；利用检测装置对检测点、电极、连接器构成的回路进行测量。本发明提供的绑定区域导电粒子压合检测方法，通过在绑定区域一侧预留检测区域，并在检测区域内设置与电极一一对应的检测点，通过检测装置对检测点、电极、连接器构成的回路进行测量，可以精确的对每根电极进行测量，提高了对绑定区域导电粒子压合不良的检出能力，降低了漏检风险。

技术研发人员：方珊
受保护的技术使用者：武汉华星光电技术有限公司
技术研发日：2017.05.16
技术公布日：2017.09.08