1.一种用于高分子材料包覆的插头弹片抗弯曲性能的检测装置，其特征在于，
包括压重物、底板和第一立板；
所述第一立板竖直设置，其下端与水平设置的所述底板的一端连接；
所述第一立板上与所述底板垂直的第一侧面设有固定部；
所述固定部设有垂直于所述第一侧面的第一插槽；
所述固定部还至少设有一组垂直于所述第一侧面的斜插槽，所述斜插槽包括第二插槽和第三插槽；所述第一插槽位于所述第二插槽所在的直线和所述第三插槽所在的直线形成的夹角的角平分线上；
所述第二插槽和第三插槽靠近所述第一插槽的一端的距离大于所述第二插槽和第三插槽远离所述第一插槽的一端的距离；
所述固定部上设有竖直设置的第一通孔，所述第一通孔位于所述第一插槽的上方；
所述压重物位于所述固定部和第一立板的上方，其下部插入所述第一通孔，伸入所述第一插槽中。
2.根据权利要求1所述的用于高分子材料包覆的插头弹片抗弯曲性能的检测装置，其特征在于，
所述斜插槽的数量为四组，所述斜插槽以所述第一插槽为轴线旋转布置。
3.根据权利要求2所述的用于高分子材料包覆的插头弹片抗弯曲性能的检测装置，其特征在于，
所述第一插槽在垂直于所述第一插槽的延伸方向的平面上的截面形状为正方形。
4.根据权利要求1所述的用于高分子材料包覆的插头弹片抗弯曲性能的检测装置，其特征在于，
所述压重物的上部为圆柱金属块，所述压重物的下部一端与圆柱金属块的下底面连接，另一端伸入所述第一插槽。
5.根据权利要求4所述的用于高分子材料包覆的插头弹片抗弯曲性能的检测装置，其特征在于，
所述第一立板远离所述第一侧面的第二侧面的上端设有让位槽，所述让位槽上与所述第二侧面垂直的竖直侧壁上设有盲孔，
还包括限位块，所述限位块的上表面与所述圆柱金属块的底面贴合，所述限位块的下部靠近所述盲孔的侧面设有转轴；
所述转轴插入所述盲孔，与所述盲孔转动连接。
6.根据权利要求1所述的用于高分子材料包覆的插头弹片抗弯曲性能的检测装置，其特征在于，
所述底板远离所述第一立板的一端连接有竖直设置的第二立板，所述第二立板的上部设有第一螺纹孔，所述第一螺纹孔的轴线所在的直线与所述第一侧面垂直；
还包括第一螺栓；所述第一螺栓贯穿所述第一螺纹孔；
所述第一螺栓靠近所述固定部的一端连接有止推部，远离所述固定部的一端连接有拧动部。
7.根据权利要求1所述的用于高分子材料包覆的插头弹片抗弯曲性能的检测装置，其特征在于，
还包括滑扣，滑扣的中部设有第二通孔，
所述固定部的两侧均设有定位板，所述定位板的一端与所述固定部的侧面连接，另一端贯穿所述第二通孔；
还包括贯穿所述第二通孔的滑动板，所述滑动板的一个侧面与所述定位板贴合；
所述滑扣上设有轴线垂直于所述滑动板的第二螺纹孔，所述第二螺纹孔上设有第二螺栓。
8.根据权利要求1所述的用于高分子材料包覆的插头弹片抗弯曲性能的检测装置，其特征在于，
所述固定部的侧面分别设有垂直于所述第二插槽和第三插槽的第三螺纹孔；
还包括第三螺栓，所述第三螺栓贯穿所述第三螺纹孔伸入所述第二插槽或者第三插槽。
9.根据权利要求1所述的用于高分子材料包覆的插头弹片抗弯曲性能的检测装置，其特征在于，
所述固定部上还设有第三通孔，所述第三通孔位于所述第一插槽的下方，且与所述第一通孔在一条直线上；
所述第三通孔中设有支撑部，所述支撑部与所述第三通孔滑动连接；
所述第三通孔的下方设有挡板，所述挡板上设有竖直设置的第四螺纹孔，所述第四螺纹孔位于所述第三通孔的正下方；
还包括位于挡板下方的调节螺栓，所述调节螺栓的螺杆贯穿所述第四螺纹孔与所述支撑部的底面贴合。
10.根据权利要求1所述的用于高分子材料包覆的插头弹片抗弯曲性能的检测装置，其特征在于，
所述第一立板的下部设有第四通孔。