本申请涉及一种测试系统，特别是涉及一种集成电路测试系统。
背景技术：
结合图1所示，现有技术中，CMOS图像传感器集成电路的测试系统，包括用以实现图像算法处理的PC机101、测试机102和待测的CMOS图像传感器103，测试机中包括分立设置的多个检测模块：图像采集模块、以及漏电检测、开路/短路检测模块等，还包括用以实现不同检测模块切换的开关选择电路104。
该测试机中，由于采用分立模块方式，或者通过通用的IO端口来完成CMOS图像的数据采集功能，然后将图像数据上传至PC进行图像算法的处理。其存在的问题至少包括：图像数据的传递量较大，测试时间久。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试系统，以克服现有技术中的不足。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
本申请实施例公开一种集成电路测试系统，包括：
具有不同检测功能的多个检测模块，每个所述检测模块分别与待测的集成电路以及数据处理模块连接；
数据处理模块，包括PC机和算法计算模块，算法计算模块用于根据检测模块提供的输入信号进行计算，并将计算结果上传至PC机，其中：
所述算法计算模块与所述检测模块集成在一起。
优选的，在上述的集成电路测试系统中，所述多个检测模块集成于同一电路板上。
优选的，在上述的集成电路测试系统中，所述多个检测模块与待测的集成电路之间设置有开关选择电路，所述开关选择电路选择性的与所述检测模块连通或断开。
优选的，在上述的集成电路测试系统中，还包括一控制面板，其中：
该控制面板可选择性的控制执行一个或多个所述检测模块。
优选的，在上述的集成电路测试系统中，所述待测的集成电路为CMOS图像传感器。
优选的，在上述的集成电路测试系统中，还包括：
光源，向待测的集成电路提供输入信号。
优选的，在上述的集成电路测试系统中，至少一检测模块为图像传感器，图像传感器将从CMOS图像传感器采集到图像数据上传至算法计算模块。
优选的，在上述的集成电路测试系统中，所述算法计算模块与PC机之间通过USB接口或PCIe接口通讯。
优选的，在上述的集成电路测试系统中，至少一检测模块为漏电检测模块。
优选的，在上述的集成电路测试系统中，至少一检测模块为开路/短路检测模块。
与现有技术相比，本实用新型的优点在于：本实用新型直接将用以执行数据算法处理的硬件(算法计算模块)集成在检测模块的电路板上，通过在检测终端直接完成图像算法的处理，这样做的减少了数据的传递，降低了测试时间。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1所示为现有技术中CMOS图像传感器集成电路的测试系统的原理示意图；
图2所示为本实用新型具体实施例中集成电路测试系统的原理示意图；
图3所示为本实用新型具体实施例中具有控制面板的测试系统的原理示意图。
具体实施方式
通过应连同所附图式一起阅读的以下具体实施方式将更完整地理解本实用新型。本文中揭示本实用新型的详细实施例；然而，应理解，所揭示的实施例仅具本实用新型的示范性，本实用新型可以各种形式来体现。因此，本文中所揭示的特定功能细节不应解释为具有限制性，而是仅解释为权利要求书的基础且解释为用于教示所属领域的技术人员在事实上任何适当详细实施例中以不同方式采用本实用新型的代表性基础。
结合图2所示，本实施例提供一种集成电路测试系统，包括PC机201、测试机202、以及待测的集成电路203。
测试机202包括具有不同检测功能的多个检测模块，每个所述检测模块分别与待测的集成电路以及数据处理模块连接。
还包括算法计算模块，算法计算模块用于根据检测模块提供的输入信号进行计算，并将计算结果上传至PC机。
作为本案的改进，算法计算模块与所述检测模块集成在一起。
算法计算模块可以包括微处理器(MCU)，该MCU可以包括中央处理单元(Central Processing Unit,CPU)、只读存储模块(read-only memory,ROM)、随机存储模块(random access memory,RAM)、定时模块、数字模拟转换模块(A/D converter)、以及复数输入/输出埠。当然，算法计算模块也可以采用其它形式的集成电路，如：特定用途集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)或现场可程序化门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)等。本实施例中，算法计算模块优选为FPGA。
本案中，直接将用以执行数据算法处理的硬件(算法计算模块)集成在检测模块的电路板上，通过在检测终端直接完成图像算法的处理，这样做的减少了数据的传递，降低了测试时间。
在一实施例中，多个检测模块集成于同一电路板上。
在一实施例中，算法计算模块集成于所述同一电路板上。
结合图3所示，在一实施例中，多个检测模块与待测的集成电路之间设置有开关选择电路204，所述开关选择电路选择性的与所述检测模块连通或断开。
开关选择性电路包括多个导电通路，用于在检测模块和待测的CMOS图像传感器之间建立电连接的导电通路，通常的，导电通路的数量和检测模块的数量相匹配，每个导电通路的两端分别与一检测模块和待检测的CMOS图像传感器之间连接。
导电通路中所采用的开关，可以为本领域公知的各种开关。如本领域普通技术人员所熟知，开关可以包括三极管、可控硅、继电器开关、或金属氧化物半导体场效应管(Metallic Oxide Semiconductor Field Effect transistor,MOSFET)等常见的开关形式。
进一步结合图3所示，系统还包括一控制面板300，其中：该控制面板可选择性的控制执行一个或多个所述检测模块。
一般的通用型集成电路测试系统，由于追求适应于各种集成电路通用性测试要求，或者能够实现芯片特殊性能测试的需求,都需要对每个芯片的测试流程进行非常细节的专业编程以实现所期望的测试需要。
本案是针对这通用型集成电路测试系统，进行进一步的模块化设计和标准化设计，也就是说根据集成电路各种测试项目进行独立的模块化测试电路设计，并采用标准化的测试方法。这样，使得测试系统的操作可以非常的简单化，不再需要专业的编程人员来操作，就能实现符合集成电路芯片测试要求的芯片测试。
具体地，在同一测试装置集成多个用于不同项目测试的模块，比如：
项目A测试模块；
项目B测试模块；
项目C测试模块；
项目D测试模块；
项目E测试模块；
其他项目测试模块。
其中，项目A测试模块可以为开路/短路(O/S)检测模块，项目B可以为漏电(leakage)检测模块，项目C可以为图像检测模块，在对CMOS图像传感器进行测试时，可以仅仅对项目A、B、C进行选择，而对其他项目不选择。其他项目测试模块可以根据应用设置电流检测等模块。
在优选实施例中，所述待测的集成电路为CMOS图像传感器。需要说明的是，集成电路还可以为其他半导体器件。
为了实现CMOS图像传感器的检测，系统还包括一光源，该光源向待测的集成电路提供输入信号。
在一实施例中，至少一检测模块为图像传感器，图像传感器将从CMOS图像传感器采集到图像数据上传至算法计算模块。
本案中，通过图像传感器至少用以测试CMOS图像传感器在不同光照条件下的图像性能。
在待测的集成电路为CMOS图像传感器的技术方案中，对算法计算模块对图像数据进行计算，至少包括以下一种：
a、根据检测模块检测到的待测的CMOS图像传感器的输出信号与光源提供的输入信号相比较计算失真度；
b、根据检测模块检测到待测的CMOS图像传感器的输出信号计算图像噪声；
c、根据检测模块检测到待测的CMOS图像传感器的输出信号计算灵敏度；
d、根据检测模块检测到待测的CMOS图像传感器的输出信号计算动态范围；
e、根据检测模块检测到待测的CMOS图像传感器的输出信号计算响应速度；
f、根据检测模块检测到待测的CMOS图像传感器的输出信号至少判断图像坏点、污点、坏行、坏列、图像偏色。
在一实施例中，算法计算模块实时的读取图像传感器采集的光斑图像，并对采集的光斑图像进行处理，获得NU值，NU值与设定的阈值进行比较，当NU值小于设定的阈值时，待测CMOS图像传感器为合格件，当NU值大于设定的阈值时，待测CMOS图像传感器为残次品。NU值用于表征图像传感器的非线性度。
在优选的实施例中，所述算法计算模块与PC机之间通过PCIe接口通讯。在其他实施例中，还可以采用USB接口等进行通讯。
PCIe(PCI-Express，peripheral component interconnect express)是一种高速串行计算机扩展总线标准，属于高速串行点对点双通道高带宽传输，所连接的设备分配独享通道带宽，不共享总线带宽，主要支持主动电源管理，错误报告，端对端的可靠性传输，热插拔以及服务质量(QOS)等功能。该技术方案中，PC机基于PCIe接口可以快速地采集算法计算模块输出的图像数据。
在一实施例中，至少一检测模块为漏电检测模块。
该技术方案中，漏电检测模块用以测试CMOS图像传感器的漏电情况。
在一实施例中，至少一检测模块为开路/短路检测模块。
本实施例中，还包括为各检测模块、开关选择电路、算法计算模块供电的电源。
该技术方案中，开路/短路检测模块用以测试待测的CMOS图像传感器的Pin脚与电源Pin脚之间的开短路情况、Pin脚与地Pin的开短路情况、以及电源Pin与地Pin之间的开短路情况。
综上所述，本实用新型直接将用以执行数据算法处理的硬件(算法计算模块)集成在检测模块的电路板上，通过在检测终端直接完成图像算法的处理，这样做的减少了数据的传递，降低了测试时间。
本实用新型的各方面、实施例、特征及实例应视为在所有方面为说明性的且不打算限制本实用新型，本实用新型的范围仅由权利要求书界定。在不背离所主张的本实用新型的精神及范围的情况下，所属领域的技术人员将明了其它实施例、修改及使用。
在本申请案中标题及章节的使用不意味着限制本实用新型；每一章节可应用于本实用新型的任何方面、实施例或特征。
在本申请案中，在将元件或组件称为包含于及/或选自所叙述元件或组件列表之处，应理解，所述元件或组件可为所叙述元件或组件中的任一者且可选自由所叙述元件或组件中的两者或两者以上组成的群组。此外，应理解，在不背离本实用新型教示的精神及范围的情况下，本文中所描述的组合物、设备或方法的元件及/或特征可以各种方式组合而无论本文中是明确说明还是隐含说明。
除非另外具体陈述，否则术语“包含(include、includes、including)”、“具有(have、has或having)”的使用通常应理解为开放式的且不具限制性。
除非另外具体陈述，否则本文中单数的使用包含复数(且反之亦然)。此外，除非上下文另外清楚地规定，否则单数形式“一(a、an)”及“所述(the)”包含复数形式。另外，在术语“约”的使用在量值之前之处，除非另外具体陈述，否则本实用新型教示还包括特定量值本身。
应理解，各步骤的次序或执行特定动作的次序并非十分重要，只要本实用新型教示保持可操作即可。此外，可同时进行两个或两个以上步骤或动作。
应理解，本实用新型的各图及说明已经简化以说明与对本实用新型的清楚理解有关的元件，而出于清晰性目的消除其它元件。然而，所属领域的技术人员将认识到，这些及其它元件可为合意的。然而，由于此类元件为此项技术中众所周知的，且由于其不促进对本实用新型的更好理解，因此本文中不提供对此类元件的论述。应了解，各图是出于图解说明性目的而呈现且不作为构造图式。所省略细节及修改或替代实施例在所属领域的技术人员的范围内。
可了解，在本实用新型的特定方面中，可由多个组件替换单个组件且可由单个组件替换多个组件以提供一元件或结构或者执行一或若干给定功能。除了在此替代将不操作以实践本实用新型的特定实施例之处以外，将此替代视为在本实用新型的范围内。
尽管已参考说明性实施例描述了本实用新型，但所属领域的技术人员将理解，在不背离本实用新型的精神及范围的情况下可做出各种其它改变、省略及/或添加且可用实质等效物替代所述实施例的元件。另外，可在不背离本实用新型的范围的情况下做出许多修改以使特定情形或材料适应本实用新型的教示。因此，本文并不打算将本实用新型限制于用于执行本实用新型的所揭示特定实施例，而是打算使本实用新型将包含归属于所附权利要求书的范围内的所有实施例。此外，除非具体陈述，否则术语第一、第二等的任何使用不表示任何次序或重要性，而是使用术语第一、第二等来区分一个元素与另一元素。