专利名称：光信息装置及控制偏离检测方法
技术领域：
本发明涉及一种利用激光等光源在信息记录介质上记录信息的光信息装置以及 该光信息装置的控制偏离检测方法，尤其是涉及检测记录动作中的信息层上的光束点位置 控制的控制偏离状态的光信息装置及控制偏离检测方法。
背景技术：
以往，⑶、DVD以及BD(蓝光盘)之类的光盘已被广泛地利用于影像信号和音频 信号的记录及再生。在对光盘记录信息及从光盘再生信息的光盘装置中，读出写在光盘的 信息层中的信息的处理是通过由拾光器收束到信息层上的微小的光束点扫描微细的轨道 (track)或标记列(mark sequence)来进行。此时,为了正确且连续地读出写在光盘中的信 息，使光束点追踪光盘的任意的位置的伺服技术必不可少。
因此,在光盘装置中，一般是进行基于检测光束点与光盘的信息层在垂直方向 (以下，称为聚焦方向)的位置偏差的聚焦误差信号(以下，称为FE信号)，使光束点针对 信息层追随聚焦方向的聚焦控制。而且，在光盘装置中，还进行基于检测光束点与轨道中心 或标记列的中心在半径方向(以下，称为跟踪方向)的位置偏差的跟踪误差信号(以下，称 为TE信号)，使光束点针对轨道或标记列追随跟踪方向的跟踪控制。
另外，还提出有一种光盘装置(例如，参照专利文献I)，在光盘装置的记录动作 中，检测记录用光束的光束点脱离所期望的信息层的聚焦控制偏离(以下，称为聚焦跳跃 (focus jump))或记录用光束的光束点脱离所期望的半径位置的跟踪控制偏离(以下，称 为轨道跳跃(track jump)),中断记录动作。由此,可以防止误破坏其它的信息。
在这种光盘装置中，当记录动作中的FE信号的大小超过指定的上限阈值或指定 的下限阈值时，检测发生了聚焦跳跃，从而中断记录动作。同样，当在记录动作中的TE信号 的大小超过指定的上限阈值或指定的下限阈值时，检测发生了轨道跳跃，从而中断记录动 作。由此，可以防止由于记录动作中的聚焦跳跃或轨道跳跃而误破坏其它的信息。
另一方面，近年来，针对光盘进一步高密度化的要求，提出了一种光盘，增加信息 层的数目，并且将用于控制光束点的位置的伺服层和用于记录信息的信息层分离(例如， 参照专利文献2)。在对这种高密度化的光盘记录或再生信息的光盘装置中，针对光盘，伺服 用光束的光束点被聚光到伺服层，记录再生用光束的光束点被聚光到以记录或再生信息为 目的的信息层。
在此，记录动作时，利用基于聚光到伺服层的伺服用光束的返回光生成的伺服层 FE信号进行伺服用光束的光束点的聚焦控制。另外，利用基于聚光到信息层的记录用光束 的返回光生成的信息层FE信号进行记录用光束的光束点的聚焦控制。此外，利用基于聚光 到伺服层的伺服用光束的返回光生成的I个TE信号，进行使伺服用光束及记录用光束2个 光束点同时追随光盘的跟踪方向的跟踪控制。因此，不用设置多层伺服层就能对光盘的任 意位置记录信息。
专利文献1:日本专利公开公报特开平4-010233号
专利文献2 :日本专利公报第3110532号 发明内容
本发明的目的在于提供一种可以防止误破坏已记录的信息、或已记录的标记列变 成不连续的光信息装置及控制偏离检测方法。
本发明的一方面所涉及的光信息装置是通过使主光束和副光束收束到信息记录 介质的信息层上来记录信息的光信息装置，包括进行控制使所述主光束的收束点收束到 指定的信息层上的聚焦控制部；进行控制使所述主光束的收束点扫描信息层上的指定的轨 道或指定的标记列的跟踪控制部；接收被所述信息层反射的所述副光束，并输出与接收的 光量相应的信号的副光束受光部；在记录所述信息的记录动作中，基于来自所述副光束受 光部的信号检测所述主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态或者所述主 光束的收束点偏离信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态的控制偏 离检测部。
根据此结构，聚焦控制部进行控制使所述主光束的收束点收束到指定的信息层 上。跟踪控制部进行控制使所述主光束的收束点扫描信息层上的指定的轨道或指定的标记 列。副光束受光部接收被所述信息层反射的所述副光束，并输出与接收的光量相应的信号。 控制偏离检测部在记录所述信息的记录动作中，基于来自所述副光束受光部的信号，检测 所述主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态或者所述主光束的收束点偏 离信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态。
根据本发明，由于能够检测出聚焦控制偏离状态或者跟踪控制偏离状态，所以可 以防止已记录的信息被误破坏或已记录的标记列变成不连续，其结果，能够提高光信息装 置的记录可靠性。
本发明的目的、特征及优点通过以下的详细说明和附图将更为显著。
图1是表示本发明第I实施例的光盘装置的结构的方框图。
图2是本发明第I实施例的光盘的结构的一个例子的示意图。
图3是表不在本发明第I实施例的光盘的信息层上形成的主光束点、先行副光束 点及后行副光束点的照射位置的一个例子的示意图。
图4是表示图1所示的拾光器的主检测器及副光束受光部的检测区域的平面图。
图5是表示图1所示的FE运算部的结构的方框图。
图6是表示图1所示的SS运算部的结构的方框图。
图7(A)是表示由于聚焦控制偏离而使记录再生用光束收束到包含未记录区域的 信息层时副光束合成信号的变化的波形图，(B)是表示由于聚焦控制偏离而使记录再生用 光束收束到包含已记录区域的信息层时副光束合成信号的变化的波形图。
图8(A)是表示由于控制偏离而使记录再生用光束移动到未记录区域时的SSa信 号或SSb信号的变化的波形图，(B)是表示由于控制偏离而使记录再生用光束移动到已记 录区域时的SSa信号或SSb信号的变化的波形图，(C)是表示由于控制偏离而使记录再生用 光束移动到未记录区域或已记录区域时的SSa信号或SSb信号的调制度的变化的波形图。
图9是表示本发明第2实施例的光盘装置的结构的方框图。
图10是表不在本发明第2实施例的光盘的信息层上形成的主光束点、先行副光束 点及后行副光束点的照射位置的一个例子的示意图。
图11是表示图9所示的dSS运算部的结构的方框图。
图12是表示在本发明第2实施例中，在记录动作中发生了控制偏离时的副光束差 分信号dSS的变化的波形图。
图13是表示在第2实施例的第I变形例的光盘的信息层上形成的主光束点、先行 副光束点及后行副光束点的照射位置的一个例子的示意图。
图14是表示在第2实施例的第2变形例的光盘的信息层上形成的主光束点、先行 副光束点及后行副光束点的照射位置的一个例子的示意图。
图15是表示本发明第3实施例的信息记录介质的结构的示意图。
图16是表示本发明第3实施例的记录装置的结构的方框图。
图17是表示第3实施例的散射体和共振元件的配置位置的一个例子的示意图。
图18是表示在本发明第3实施例中，在记录动作中发生了跟踪控制偏离时来自共 振状态检测部的信号的变化的波形图。
图19是表示第3实施例的第I变形例的散射体和共振元件的配置位置的一个例 子的示意图。
图20是表示第3实施例的第2变形例的散射体和共振元件的配置位置的一个例 子的示意图。
图21是表示第3实施例的第3变形例的散射体和共振元件的配置位置的一个例 子的示意图。
图22是本发明第4实施例的记录装置的结构的方框图。
图23是表示第4实施例的散射体、第I共振元件和第2共振元件的配置位置的一 个例子的示意图。
图24是表示在本发明第4实施例中，在记录动作中发生了跟踪控制偏离时来自第 I共振状态检测部的信号的强度和来自第2共振状态检测部的信号的强度的差分的变化的 波形图。
图25是表示第4实施例的第I变形例的散射体、第I共振元件和第2共振元件的 配置位置的一个例子的示意图。
图26是表示第4实施例的第2变形例的散射体、第 配置位置的一个例子的示意图。
图27是表示第4实施例的第3变形例的散射体、第 配置位置的一个例子的示意图。I共振元件和第2共振元件的 I共振元件和第2共振元件的具体实施方式
以下，参照附图对本发明的实施例进行说明。并且，以下的实施例是将本发明具体 化的一个实例，并不限定本发明的技术范围的内容。
在此，例如，在为了高密度化而增加光盘的信息层的数目时，随着层数的增加彼此 相邻的信息层之间的间隔变得狭窄。随着彼此相邻的信息层之间的间隔的狭小化，来自信息层的返回光中所包含的其它层的杂散光成分增加，从返回光生成的FE信号的检测范围 变窄。此时，在以往的光盘装置中，用于区分记录动作中基于正常的聚焦控制时的控制残差 的FE信号强度和记录动作中聚焦跳跃发生时的FE信号强度的阈值的设定很困难。其结果， 无法正确地检测聚焦跳跃。此外，若在这种光盘中发生了聚焦跳跃，由于彼此相邻的信息层 之间的间隔狭窄，有可能对邻接于目标信息层的信息层进行聚焦控制。
因此，尤其是在彼此相邻的信息层之间的间隔狭窄的光盘中，即使在记录动作中 发生聚焦跳跃，并错误地对邻接于目标信息层的信息层进行了聚焦控制，也难以检测到聚 焦跳跃并中断记录动作。因此，有可能误破坏其它信息层的已记录的信息。
另外，在用于控制光束点位置的伺服层和记录信息的信息层被分离的光盘中，有 在信息层上不存在引导槽的情况。在这种情况下，由于无法检测TE信号，所以有可能无法 在记录动作中基于TE信号正确地检测记录用光束的轨道跳跃。因此，即使在记录动作中发 生轨道跳跃，也不能检测出该轨道跳跃并中断记录动作。因此，有可能误破坏已记录的信 息、被记录的标记列变成不连续。
解决所述问题的实施例如下述第I至4实施例所示。
(第I实施例)
图1是表示本发明第I实施例的光盘装置的结构的方框图。光盘装置通过使主光 束和副光束收束到光盘的信息层来记录信息。
图2是本发明第I实施例的光盘101的结构的一个例子的示意图。在图2中，纸 面的左右方向为跟踪方向。如图2所不,光盘101包括I层伺服层IOls和5层信息层IOla 至101e。伺服层IOls中通过引导槽而形成轨道116。另一方面,信息层IOla至IOle中未 形成轨道。而且，信息层IOla至IOle分别具有追记型的记录膜。
图3是表示在本发明第I实施例的光盘101的信息层上形成的主光束点112、先行 副光束点113a及后行副光束点113b的照射位置的一个例子的示意图。
在图3中，纸面的由上而下的方向是光盘101的旋转方向，纸面的左右方向是跟踪 方向、纸面的左方向为内周方向、纸面的右方向为外周方向。在图3中，虚线表示与伺服层 IOls的轨道中心对应的半径位置，点划线表示相邻的2个轨道之间的半径位置。如图3所 示，先行副光束点113a的照射位置位于相对于主光束点112离开O. 5轨道的内周侧。而且， 后行副光束点113b的照射位置位于相对于主光束点112离开O. 5轨道的外周侧。
另外，在第I实施例中，从光盘101的内周向外周记录信息，但是，本发明并不仅限 于此，也可以从外周向内周记录信息。
另外，先行副光束在主光束收束到轨道中心时收束于已记录信息的已记录区域 侧。后行副光束在主光束收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域侧。
图1所示的光盘装置包括拾光器100、TE运算部102、跟踪控制部103、跟踪驱动 部104、FE运算部106、聚焦控制部107、聚焦驱动部108、SS运算部110以及微型计算机 111。
拾光器100对至少一层伺服层聚光照射伺服用光束，对多层记录信息层聚光照射 记录再生用光束。
拾光器100包括射出记录再生用光束的记录再生用光源；射出伺服用光束的伺 服用光源；将记录再生用光源射出的记录再生用光束变换为大致平行光的第I准直透镜；将伺服用光源射出的伺服用光束变换为大致平行光的第2准直透镜；将记录再生用光束分 离为主光束和副光束的衍射元件；使记录再生用光束聚光到多层信息层的其中之一，并使 伺服用光束聚光到至少I层伺服层的物镜；使被第I准直透镜变换为大致平行光的记录再 生用光束的光轴和被第2准直透镜变换为大致平行光的伺服用光束的光轴相一致，并将记 录再生用光束及伺服用光束导入物镜的分束器；让物镜在光轴方向移动使记录再生用光束 的焦点向记录层移动，并让物镜在光盘101的半径方向移动使主光束的收束点追随信息层 上的指定的轨道或指定的标记列的物镜致动器；让第2准直透镜在光轴方向移动使伺服用 光束的焦点向伺服层移动的准直透镜致动器。
另外，拾光器100还包括主检测器114、副光束受光部115以及伺服用光束受光部 117。
主检测器114接收被信息层反射的主光束,输出与接收的光量相应的信号。副光 束受光部115接收被信息层反射的副光束，输出与接收的光量相应的信号。在第I实施例 中，副光束受光部115接收被信息层反射的2束副光束,输出分别与各接收的光量相应的2 个信号。伺服用光束受光部117接收被伺服层反射的伺服用光束，输出与接收的光量相应 的信号。
另外，作为拾光器100，例如，可利用日本专利公开公报特开2005-317180号公报所示的记录再生装置。
TE运算部102基于从伺服用光束受光部117输出的信号，运算表示伺服用光束的 光束点和伺服层IOls的轨道中心在跟踪方向的位置偏差的跟踪误差信号TE。
跟踪控制部103基于TE运算部102运算出的跟踪误差信号TE进行控制，使主光 束的收束点扫描信息层上的指定的轨道或指定的标记列。跟踪控制部103对TE运算部102 运算出的跟踪误差信号TE施行指定的信号处理而生成跟踪驱动信号，并输出到跟踪驱动 部 104。
跟踪驱动部104基于跟踪控制部103生成的跟踪驱动信号，驱动拾光器100的物 镜致动器。物镜致动器使伺服用光束的光束点、记录再生用光束的主光束点、记录再生用光 束的2个副光束点同时在跟踪方向移动。
FE运算部106基于从主检测器114输出的信号,运算表不主光束点和信息层在聚 焦方向的位置偏差的聚焦误差信号FE。
聚焦控制部107基于FE运算部106运算出的聚焦误差信号FE进行控制，使主光 束的收束点收束到指定的信息层。聚焦控制部107对FE运算部106运算出的聚焦误差信 号FE实施指定的信号处理而生成聚焦驱动信号，并输出到聚焦驱动部108。
聚焦驱动部108基于聚焦控制部107生成的聚焦驱动信号，驱动拾光器100的物 镜致动器。物镜致动器使记录再生用光束的主光束点和记录再生用光束的2个副光束点在 聚焦方向移动。
SS运算部110通过合成从副光束受光部115输出的2个信号,运算副光束合成信 号SS。
微型计算机111在记录信息的记录动作中，基于来自副光束受光部115的信号，检 测主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态或者主光束的收束点偏离信息 层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态。微型计算机111根据由SS运算部110运算出的副光束合成信号SS，检测在光盘装置的记录动作中记录再生用光束是否处于控制偏离状态。
当来自副光束受光部115的信号强度为来自已记录信息的已记录区域的反射光强度或来自未记录信息的未记录区域的反射光强度时，微型计算机111检测出是聚焦控制偏离状态或跟踪控制偏离状态。
图4是表示图1所示的拾光器100的主检测器114及副光束受光部115的检测区域的平面图。在图4中，纸面的上下方向为光盘101的跟踪方向、纸面的左右方向为轨道长度方向。
如图4所示，主检测器114被分割为4个受光区域A至D。副光束受光部115包括第I副检测器115a和第2副检测器115b。第I副检测器115a接收2束副光束中的先行副光束的返回光。弟2副检测器115b接收2束副光束中的后彳丁副光束的返回光。弟I副检测器115a在跟踪方向被分割为2个受光区域E、F。同样，第2副检测器115b在跟踪方向被分割为2个受光区域G、H。
图5是表示图1所示的FE运算部106的结构的方框图。图6是表示图1所示的 SS运算部110的结构的方框图。
FE运算部106包括加法器106a、加法器106b、减法器106c。
SS运算部110包括加法器110a、加法器110b、加法器110c。
另外，在第I实施例中，光盘装置相当于光信息装置的一个例子，聚焦控制部107 及聚焦驱动部108相当于聚焦控制部的一个例子，跟踪控制部103及跟踪驱动部104相当于跟踪控制部的一个例子，副光束受光部115相当于副光束受光部的一个例子，SS运算部 110和微型计算机111相当于控制偏离检测部的一个例子。
下面对上述结构的光盘装置的动作进行说明。
拾光器100将伺服用光束和记录再生用光束照射到光盘101。从记录再生用光源射出的记录再生用光束在拾光器100内，被衍射光栅等光学元件分割为O次衍射光的I束主光束和土 I次光的2束副光束。包含一束主光束和2束副光束的记录再生用光束例如收束于第I信息层101a。
如图3所不,一束主光束在第I信息层IOla上形成一个主光束点112, 2束副光束在第I信息层IOla上形成先行副光束点113a和后行副光束点113b。收束到第I信息层 IOla上的主光束被第I信息层IOla反射,射入拾光器100。射入拾光器100的主光束射入主检测器114。
射入主检测器114的主光束在主检测器114的各受光区域A至D被转换为电信号 MA至MD并被输出。来自主检测器114的电信号MA至MD被输入FE运算部106。加法器 106a将电信号MA、MC相加，作为FEP信号输出到减法器106c。加法器106b将电信号MB、 MD相加，作为FEN信号输出到减法器106c。FEP信号和FEN信号被输入减法器106c。
减法器106c从FEP信号减去FEN信号，作为表示主光束点和信息层A在聚焦方向的位置偏差的聚焦误差信号FE输出。聚焦误差信号FE被输入到聚焦控制部107。聚焦控制部107例如通过使聚焦误差信号FE通过由数字信号处理器(以下，称为DSP)等数字滤波器构成的 相位补偿电路及低频补偿电路，生成聚焦驱动信号。聚焦驱动信号被输入聚焦驱动部108。
聚焦驱动部108将聚焦驱动信号放大并输出到拾光器100。拾光器100的物镜致动器基于被放大的聚焦驱动信号让物镜在聚焦方向移动，使记录再生用光束的主光束点和 2个副光束点在聚焦方向移动。
如以上的动作所述，通过聚焦误差信号FE和聚焦控制部107，进行控制使记录再生用光束的主光束点正确地收束到光盘101的第I信息层IOla上的聚焦控制得以实现。
另一方面，从伺服用光源射出的伺服用光束被收束到伺服层IOls上。通过伺服用聚焦控制部(未图示)进行控制，使伺服用光束的光束点正确地收束到光盘101的伺服层 IOlS上。例如，伺服用聚焦控制部让将伺服用光源射出的伺服用光束转换为大致平行光的第2准直透镜在光轴方向上移动，使伺服用光束的焦点在伺服层IOls移动。
收束到伺服层IOls上的伺服用光束的反射光由伺服用光束受光部117接收，并被转换为电信号输出。来自伺服用光束受光部117的输出信号被输入到TE运算部102。TE 运算部102运算被输入的信号，将其作为表示伺服用光束的光束点和伺服层IOls的轨道中心在跟踪方向的位置偏差的跟踪误差信号TE输出。跟踪误差信号TE被输入到跟踪控制部 103。
跟踪控制部103例如通过使跟踪误差信号TE通过由DSP等数字滤波器构成的相位补偿电路及低频补偿电路生成跟踪驱动信号。跟踪驱动信号被输入到跟踪驱动部104。 跟踪驱动部104将跟踪驱动信号放大并输出到拾光器100。拾光器100的物镜致动器基于被放大的跟踪驱动信号让物镜在跟踪方向移动，使伺服用光束的光束点、记录再生用光束的主光束点、记录再生用光束的2个副光束点同时在跟踪方向移动。
如以上的动作所述，通过跟踪误差信号TE和跟踪控制部103，进行控制使伺服用光束正确地收束到光盘101的伺服层IOls上的轨道中心，并同时进行控制使记录再生用光束正确地收束到没有轨道的第I信息层IOla上与伺服层IOls上的轨道中心相对应的半径位置的跟踪控制得以实现。
并且，收束到第I信息层IOla上的2束副光束被第I信息层IOla反射，并射入拾光器100。射入拾光器100的2束副光束分别射入第I副检测器115a和第2副检测器 115b。射入第I副检测器115a的副光束在第I副检测器115a的各受光区域E、F被转换为电信号SE输出。射入第2副检测器115b的副光束在第2副检测器115b的各受光区域G、 H被转换为电信号SG、SH输出。
来自第I副检测器115a的电信号SE、SF被输入到SS运算部110。加法器IIOa将电信号SE、SF相加，并作为SSa信号输出到加法器110c。来自第2副检测器115b的电信号SG、SH被输入到SS运算部110。加法器IlOb将电信号SG、SH相加，并作为SSb信号输出到加法器110c。SSa信号和SSb信号被输入到加法器110c。
加法器IlOc将SSa信号和SSb信号相加,并作为副光束合成信号SS输出。副光束合成信号SS被输入到微型计算机111。微型计算机111基于输入的副光束合成信号SS 的信号强度，检测在光盘装置的记录动作中记录再生用光束是否处于控制偏离状态。
S卩，当第 I副检测器115a输出的信号强度与第2副检测器115b输出的信号强度之和为已记录信息的已记录区域的反射光强度或者为未记录信息的未记录区域的反射光强度时，微型计算机111检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
在检测出为控制偏离状态时，微型计算机111将用于中断记录动作的控制信号输出到拾光器100。拾光器100根据来自微型计算机111的控制信号中断记录动作。据此，光盘装置中断记录动作。
通过以上的动作，在记录动作中，如果发生了聚焦控制偏离状态或跟踪控制偏离状态，光盘装置可以通过微型计算机(控制偏离检测部)111检测出聚焦控制偏离状态或者跟踪控制偏离状态，使记录动作中断。
在此，对第I实施例中利用副光束合成信号SS的记录动作中的控制偏离检测方法进行说明。
图7(A)和图7(B)是表示在记录动作中发生了作为控制偏离之一的聚焦控制偏离时，记录再生用光束被收束到与目标信息层不同的信息层时副光束合成信号SS的变化的波形图。在此，图7(A)是表示由于聚焦控制偏离而使记录再生用光束被收束到包含未记录区域的信息层时副光束合成信号SS的变化的波形图。图7(B)是表示由于聚焦控制偏离而使记录再生用光束被收束到包含已记录区域的信息层时副光束合成信号SS的变化的波形图。此时，光盘101为一旦记录信息则反射率下降的High-to-Low光盘(以下，称为HTL光盘)。
在对具有追记型信息层的光盘101进行正常的记录动作中，记录再生用光束总是位于已记录区域和未记录区域的边界的记录边界处。此时，如图3所示，在先行副光束点 113a及后行副光束点113b的照射位置，标记列(已记录区域)总是存在于在内周侧，未记录区域存在于外周侧。因此，作为来自先行副光束点113a及后行副光束点113b的反射光量的总和的副光束合成信号SS，如图7(A)所示为某一恒定的信号强度SS0。
另一方面，在记录动作中，例如当发生了聚焦控制偏离，记录再生用光束被收束到与目标信息层不同的信息层时，记录再生用光束偏离记录边界。因此，不同信息层的先行副光束点113a及后行副光束点113b的照射位置的上述的关系不成立。
S卩，如果记录再生用光束收束的目的地区域为未记录区域，则先行副光束点113a 及后行副光束点113b的照射位置都在未记录区域。因此，作为来自先行副光束点113a及后行副光束点113b的反射光量的总和的副光束合成信号SS的信号强度如图7(A)所示，从信号强度SSO上升到信号强度SSl。
另外，如果记录再生用光束收束的目的地区域为已记录区域，则先行副光束点 113a及后行副光束点113b的照射位置都在已记录区域。因此，副光束合成信号SS的信号强度如图7(B)所示，从信号强度SSO下降到信号强度SS2。
因此，作为来自先行副光束点113a及后行副光束点113b的反射光量的总和的副光束合成信号SS的信号强度由于记录动作中的聚焦控制偏离而变化。
在第I实施例中，根据所述副光束合成信号SS的信号强度的变化，检测记录动作中的聚焦控制偏离。即，微型计算机111检测出在记录动作中副光束合成信号SS的信号强度从正常动作时的信号强度SSO变为信号强度SSl或信号强度SS2。由此，可以检测聚焦控制偏离。
另外，在发生了作为控制偏离之一的跟踪控制偏离时，副光束合成信号SS的信号强度也根据记录再生用光束移动到的目的地区域的状态而改变。因此，与聚焦控制偏离时相同，微型计算机111检测出在记录动作中副光束合成信号SS的信号强度从正常动作时的信号强度S`SO变为信号强度SSl或信号强度SS2。由此，可以检测跟踪控制偏离。
因此，在第I实施例中，光盘装置利用副光束合成信号SS能够正确地检测出在记录动作中的聚焦控制偏离或跟踪控制偏离，并中断记录动作。因此，可以防止已记录的信息被误破坏或已记录的标记列变成不连续。其结果，能够实现提高光盘装置的记录可靠性。
另外，光盘装置也可以具备预先存储表示来自未记录信息的未记录区域的反射光强度的信号强度SSl和表示来自已记录信息的已记录区域的反射光强度的信号强度SS2的存储器。微型计算机111可以从存储器读取信号强度SSl及信号强度SS2，并将读取的信号强度SSl及信号强度SS2与来自副光束受光部115的信号强度进行比较。此时，如果副光束受光部115的信号强度为信号强度SSl或为信号强度SS2时，微型计算机111检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
如上所述，第I实施例的光盘装置主要包括以下的结构。
S卩，第I实施例的光盘装置是通过使主光束和副光束收束到光盘的信息层上来记录信息的光盘装置，包括进行控制使主光束的收束点收束到指定的信息层上的聚焦控制部；进行控制使主光束的收束点扫描信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制部；接收被信息层反射的副光束，并输出与接收的光量相应的信号的副光束受光部；在记录信息的记录动作中，基于来自副光束受光部的信号检测主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态或者主光束的收束点偏离信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态的控制偏离检测部。
根据以上结构，可以防止已记录的信息被误破坏或已记录的标记列变成不连续。 其结果，能够实现光盘装置的记录可靠性的提高。
而且，在第I实施例的光盘装置中，控制偏离检测部可以在副光束受光部的信号强度为已记录信息的已记录区域的反射光强度或为未记录信息的未记录区域的反射光强度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
另外，在第I实施例中，用于检测记录动作中的控制偏离的副光束合成信号SS为 SSa信号和SSb信号相加的结果，即为先行副光束点113a的反射光量和后行副光束点113b 的反射光量的和信号，但是只利用SSa信号和SSb信号中的任意其中之一来检测控制偏离也能得到同样的效果。
另外，在第I实施例中，是根据副光束合成信号SS的信号强度的变化来检测记录动作中的控制偏离的，但也可以为以下的结构。即，只将SSa信号和SSb信号中的任意其中之一输入微型计算机111，微型计算机111可以根据输入的信号的调制度的变化来检测记录动作中的控制偏离。
另外，在第I实施例中，是使2束副光束收束到光盘101，但是，本发明并不仅局限于此，也可以使I束副光束收束到光盘101。光盘装置例如，可以在光盘101上形成图3所示的先行副光束点113a及后行副光束点113b中的任意其中之一。
S卩，光束被分割为主光束和I束副光束，当I束副光束在主光束被收束到轨道的中心时收束于已记录信息的已记录区域侧时，微型计算机111在来自副光束受光部115的信号强度从已记录区域的反射光强度变为未记录区域的反射光强度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟 踪控制偏离状态。
并且，光束被分割为主光束和I束副光束，当I束副光束在主光束被收束到轨道的中心时收束于未记录信息的未记录区域侧时，微型计算机111在来自副光束受光部115的信号强度从未记录区域的反射光强度变为已记录区域的反射光强度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
进一步，光束被分割为主光束和I束副光束，当I束副光束在主光束被收束到轨道的中心时收束于未记录信息的未记录区域和已记录信息的已记录区域的边界上时，微型计算机111在来自副光束受光部115的信号强度为未记录区域的反射光强度或为已记录区域的反射光强度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
另外，在第I实施例中，也可以使3束以上的副光束收束到光盘101。
在此，用图8(A)、图8(B)、图8(C)对第I实施例的变形例的记录动作中的控制偏离的检测进行说明。图8(A)是表示由于控制偏离而使记录再生用光束移动到未记录区域时的SSa信号或SSb信号的变化的波形图。图8(B)是表示由于控制偏离而使记录再生用光束移动到已记录区域时的SSa信号或SSb信号的变化的波形图。图8(C)是表示由于控制偏离而使记录再生用光束移动到未记录区域或已记录区域时的SSa信号或SSb信号的调制度的变化的波形图。
如上所述，正常的记录动作中，在先行副光束点113a及后行副光束点113b的照射位置，标记列总是存在于内周侧，未记录区域存在于外周侧。因此，从反射光生成的SSa信号或SSb信号中包含基于内周侧的标记列的高频成分。为此，正常地记录信息时的调制度如图8(C)所示,为某一;〖亘定的调制度modO。
另一方面，当记录动作中发生了控制偏离时，记录再生用光束偏离记录边界。因此，在先行副光束点113a及后行副光束点113b的照射位置，上述关系不成立。即，如果记录再生用光束移动到的目的地区域为未记录区域，则先行副光束点113a及后行副光束点 113b的照射位置都同样为未记录区域。此时，由于未记录区域不存在标记列，所以SSa信号或SSb信号不包含高频成分，SSa信号或SSb信号的调制度如图8 (C)所示，从调制度modO 下降到调制度modi。
另外，如果记录再生用光束移动到的目的地区域为已记录区域，则在先行副光束点113a及后行副光束点113b的照射位置，标记列总是存在于内周侧和外周侧。在这种情况下，SSa信号或SSb信号包含高频成分，SSa信号或SSb信号的调制度如图8 (C)所示，从调制度modO上升到调制度mod2。
因此，从来自先行副光束点113a的反射光生成的SSa信号的调制度、或从来自后行副光束点113b的反射光生成的SSb信号的调制度由于记录动作中的控制偏离而变化。
在第I实施例的变形例中，根据SSa信号或SSb信号的调制度的变化，记录动作中的聚焦控制偏离或跟踪控制偏离得以检测。微型计算机111在来自副 光束受光部115的信号的调制度为已记录区域的调制度或为未记录区域的调制度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。即，微型计算机111检测在记录动作中SSa信号或SSb信号的调制度从正常动作时的调制度modO向比调制度modO低的调制度modi或比调制度modO 高的调制度mod2变化。由此，可以检测出聚焦控制偏离或者跟踪控制偏离。
微型计算机111在从第I副检测器115a输出的信号的调制度和从第2副检测器 115b输出的信号的调制度之和为已记录信息的已记录区域的调制度或为未记录信息的未记录区域的调制度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
如上所述，在第I实施例的变形例的光盘装置中，当来自副光束受光部的信号调制度为已记录区域的调制度或为未记录区域的调制度时，控制偏离检测部可以检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
另外，光盘装置可以具备预先存储未记录信息的未记录区域的调制度modi和已记录信息的已记录区域调制度mod2的存储器。微型计算机111从存储器读出调制度modi 及调制度m0d2，将读出的调制度modi及调制度mod2与来自副光束受光部115的信号的调制度相比较。此时，微型计算机111在来自副光束受光部115的信号的调制度为调制度modi 或调制度mod2时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
另外，在第I实施例中，光盘101具备I层伺服层和多层信息层，但在记录动作中的控制偏离的检测时，该光盘101的层结构并不仅局限于此。例如，光盘101也可以具备多层伺服层。另外，光盘101也可以具备一层信息层。
另外，在第I实施例中，光盘101是HTL光盘，但是，在记录动作中的控制偏离的检测时，该光盘101的特性并不仅局限于此。即，光盘101也可以为若记录了信息则反射率上升的Low-to-High光盘(以下,称为LTH光盘)。
此时，在基于副光束合成信号SS的控制偏离的检测中，当记录动作中由于控制偏离记录再生用光束移动到未记录区域时，副光束合成信号SS的信号强度朝未记录区域的信号强度降低。另一方面，当记录动作中由于控制偏离记录再生用光束移动到已记录区域时，副光束合成信号SS的信号强度朝已记录的信号强度上升。如上所述，即便光盘101为 LTH光盘，在记录动作中通过利用副光束合成信号SS也能检测出控制偏离。
另外，在第I实施例的变形例中，使2束副光束收束到光盘101，但是，本发明并不仅局限于此，也可以使I束副光束收束到光盘101。光盘装置例如可以在光盘101上只形成图3所示的先行副光束点113a及后行副光束点113b的任意其中之一。
S卩，光束被分割成主光束和I束副光束，当I束副光束在主光束被收束到轨道中心时收束于已记录信息的已记录区域侧时，微型计算机111在来自副光束受光部115的信号的调制度从已记录区域的调制度变为未记录区域的调制度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
另外，光束被分割为主光束和I束副光束，当I束副光束在主光束被收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域侧时，微型计算机111在来自副光束受光部115的信号的调制度从未记录区域的调制度变为已记录区域的调制度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
并且，光束 被分割为主光束和I束副光束，当I束副光束在主光束被收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域与已记录信息的已记录区域的边界上时，微型计算机 111在来自副光束受光部115的信号的调制度为未记录区域的调制度或已记录区域的调制度时，可以检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
另外，在第I实施例的变形例中，也可以使3束以上的副光束收束到光盘101。
(第2实施例)
图9是表示本发明第2实施例的光盘装置的结构的方框图。另外，对与第I实施例相同的结构，赋予与第I实施例相同的符号，并省略其说明。
图10是表示在本发明第2实施例的光盘101的信息层上形成的主光束点112、先行副光束点213a及后行副光束点213b的照射位置的一个例子的示意图。
如图10所示，先行副光束点213a的照射位置位于相对于主光束点112离开O. 5 轨道的外周侧。而且，后行副光束点213b的照射位置位于相对于主光束点112离开O. 5轨 道的内周侧。
而且，先行副光束在主光束被收束到轨道的中心时收束于未记录信息的未记录区 域侧。后行副光束在主光束被收束到轨道的中心时收束于已记录信息的已记录区域侧。
图9所示的光盘装置包括拾光器100、TE运算部102、跟踪控制部103、跟踪驱动 部104、FE运算部106、聚焦控制部107、聚焦驱动部108、dSS运算部210以及微型计算机 111。
dSS运算部210通过计算从副光束受光部115输出的两个信号的差分，运算副光束 差分信号dSS。
微型计算机111在记录信息的记录动作中，基于来自副光束受光部115的信号，检 测主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态、或者主光束的收束点偏离信息 层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态。微型计算机111基于dSS运算部 210运算出的副光束差分信号dSS，检测在光盘装置的记录动作中记录再生用光束是否处 于控制偏离状态。
副光束受光部115包括接收被信息层反射的第I副光束的第I副检测器115a (参 照图4)和接收被信息层反射的与第I副光束不同的第2副光束的第2副检测器115b (参 照图4)。
微型计算机111，在从第I副检测器115a输出的信号强度与从第2副检测器115b 输出的信号强度的差分值未达到指定强度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制 偏离状态。
图11是表示图9所示的dSS运算部210的结构的方框图。
dSS运算部210包括加法器210a、加法器210b、减法器210c。
另外，在本第2实施例中，第I副检测器115a和第2副检测器115b相当于多个副 光束受光部的一个例子，dSS运算部210及微型计算机111相当于控制偏离检测部的一个 例子。
下面对所述结构的光盘装置的动作进行说明。另外，在以下的说明中，对于与第I 实施例相同的动作省略其说明。
第I副检测器115a的电信号SE、SF被输入dSS运算部210。加法器IlOa将电信 号SE、SF相加作为dSSa信号输出到减法器210c。第2副检测器115b的电信号SG、SH被输 入dSS运算部210。加法器210b将电信号SG、SH相加作为dSSb信号输出到减法器210c。 dSSa信号和dSSb信号被输入到减法器210c。减法器210c从dSSa信号减去dSSb信号作 为副光束差分信号dSS输出。副光束差分信号dSS被输入到微型计算机111。微型计算机 111基于输入的副光束差分信号dSS的信号强度，检测在光盘装置的记录动作中记录再生 用光束的控制偏离。
通过以上的动作，在记录动作中，当发生了聚焦控制偏离状态或跟踪控制偏离状 态时，光盘装置可以通过微型计算机(控制偏离检测部)111检测出聚焦控制偏离状态或者 跟踪控制偏离状态并使记录动作中断。
在此，对第2实施例中的利用副光束差分信号dSS的记录动作中的控制偏离检测方法进行说明。
图12是表示本发明第2实施例中，在记录动作中发生了控制偏离时的副光束差分信号dSS的变化的波形图。在此，假设光盘101为若记录了信息则反射率下降的HTL光盘。
在对具有追记型信息层的光盘101进行正常的记录动作中，记录再生用光束总是位于已记录区域和未记录区域边界的记录边界处。此时，如图10所示，先行副光束点213a 的照射位置总是在未记录区域，后行副光束点213b的照射位置总是在已记录区域。因此， 作为先行副光束点213a的反射光量和后行副光束点213b的反射光量之差的副光束差分信号dSS成为未记录区域的反射光量与已记录的反射光量的差，在正常的记录动作中，如图 12所不为恒定的信号强度dSSO。
另一方面，若在记录动作中发生了聚焦控制偏离或跟踪控制偏离，由于记录再生用光束偏离记录边界，所以先行副光束点213a及后行副光束点213b的照射位置的上述的关系不成立。
即，如果记录再生用光束移动到的目的地区域为未记录区域，则先行副光束点 213a及后行副光束点213b的照射位置同样都在未记录区域。此时，作为先行副光束点213a 的反射光量与后行副光束点213b的反射光量之差的副光束差分信号dSS的信号强度如图 12所示，从信号强度SSO下降到信号强度dSSl几乎为O。
另外，如果记录再生用光束移动到的目的地区域为已记录区域，则先行副光束点 213a及后行副光束点213b的照射位置同样都在已记录区域。此时，副光束差分信号dSS的信号强度如图12所示，从信号强度SSO下降到信号强度dSSl几乎为O。
因此，作为来自先行副光束点213a的反射光量与来自后行副光束点213b的反射光量之差的副光束差分信号dSS的信号强度，由于记录动作中的聚焦控制偏离或跟踪控制偏离而变化。
在第2实施例中，根据所述副光束差分信号dSS的信号强度的变化，检测记录动作中的聚焦控制偏离或跟踪控制偏离。即，微型计算机111检测出在记录动作中副光束差分信号dSS的信号强度从正常动作时的信号强度dSSO变成几乎为O的信号强度dSS。由此， 可以检测聚焦控制偏离或者跟踪控制偏离。
因此，在第2实施例中，光盘装置利用副光束差分信号dSS能正确地检测出记录动作中的聚焦控制偏离或跟踪控制偏离，并中断记录动作。因此，可以防止已记录的信息被误破坏或已记录的标记列变成不连续。其结果，能够实现光盘装置的记录可靠性的提高。
另外，光盘装置也可以具备预先存储用于比较从副光束受光部115输出的多个信号强度的差分的指定的阈值的存储器。指定的阈值例如可以为正常动作时的信号强度dSSO 与聚焦控制偏离或跟踪控制偏离发生时的信号强度dSSl之间的信号强度。微型计算机111 可以从存储器读出指定的阈值，将读出的指定的阈值与副光束受光部115输出的多个信号强度的差分进行比较。此时，微型计算机111在副光束受光部115输出的多个信号的强度的差分未达到指定的阈值时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
如上所述，第2实施 例的光盘装置主要具备以下的结构。
S卩，第2实施例的光盘装置是通过使主光束和副光束收束到光盘的信息层来记录信息的光盘装置，包括进行控制使主光束的收束点收束到指定的信息层的聚焦控制部； 进行控制使主光束的收束点扫描信息层上指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制部；接收被信息层反射的副光束，并输出与接收的光量相应的信号的副光束受光部；在记录信息的记录动作中，基于副光束受光部的信号检测主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态或者主光束的收束点偏离信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态的控制偏离检测部。
根据以上的结构，可以防止已记录的信息被误破坏或已记录的标记列变成不连续。其结果，能够实现光盘装置的记录可靠性的提高。
并且,在本第2实施例的光盘装置中，副光束包含多束光束,副光束受光部具有分别接收由信息层反射的多束光束的多个副光束受光部，当从多个副光束受光部输出的多个信号强度的差分未达到指定的强度时，控制偏离检测部检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
另外，第I实施例及第2实施例的控制偏离检测方法主要具有以下的结构。
S卩，第I实施例及第2实施例的控制偏离检测方法是通过使主光束和副光束收束到光盘的信息层上来记录信息的光盘装置的控制偏离检测方法。此时，控制偏离检测方法包括进行控制使主光束的收束点收束到指定的信息层的聚焦控制步骤；进行控制使主光束的收束点扫描信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制步骤；接收被信息层反射的副光束，输出与接收的光量相应的信号的副光束受光步骤；在记录信息的记录动作中， 基于在副光束受光步骤输出的信号检测主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态或者主光束的收束点偏离信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态的控制偏离检测步骤。
根据以上的结构，可以防止已记录的信息被误破坏或已记录的标记列变成不连续。其结果，能够实现光盘装置的记录可靠性的提高。
另外，在第2实施例中，记录再生用光束的主光束点112、先行副光束点213a及后行副光束点213b的照射位置为图10所示的位置，但也可以是以下的结构。
图13是表示在本发明 第2实施例的光盘101的信息层上形成的主光束点112、先行副光束点313a及后行副光束点313b的照射位置的一个例子的示意图。
如图13所示，在记录动作中记录再生用光束位于记录边界时，先行副光束点313a 位于与主光束点112同一轨道半径位置上的未记录区域,后行副光束点313b位于与主光束点112同一轨道半径位置上的已记录区域。
即使是以上的结构，微型计算机111根据副光束差分信号dSS的信号强度的变化， 也能检测出记录动作中的控制偏离。
图14是表不在本发明第2实施例的光盘101的信息层上形成的主光束点112、先行副光束点413a及后行副光束点413b的照射位置的一个例子的示意图。
如图14所示，先行副光束点413a位于相对于主光束点112离开1. 5轨道的内周侧，后行副光束点413b位于相对于主光束点112离开1. 5轨道的外周侧。
即使是以上的结构，微型计算机111根据副光束差分信号dSS的信号强度的变化， 也能检测出记录动作中的控制偏离。
另外，在第2实施例中，光盘101具备I层伺服层和多层信息层，但在记录动作中的控制偏离检测中，该光盘101的层结构并不仅局限于此。
另外，在第2实施例中，光盘101是HTL光盘，但是，在记录动作中的控制偏离检测中，该光盘101的特性并不仅局限于此。S卩，光盘101也可以是LTH光盘。此时，微型计算机111可以在记录动作中利用副光束差分信号dSS来检测控制偏离。
(第3实施例)
图15是本发明第3实施例的信息记录介质的结构的示意图。
在第I实施例及第2实施例中，作为信息记录介质，以图2所示的结构为例而被示出。但是，信息记录介质也可以具备彼此孤立、列状配置的记录区域。例如，如图15所示， 信息记录介质500可以具有列状配置于基板511上的多个微粒子512。通过让多个微粒子 512列状配置而形成轨道513。
第3实施例的记录装置将信息记录到图15所示的具有彼此孤立、列状配置的多个微粒子512的信息记录介质500。而且，彼此孤立的记录区域也可以是微粒子。或者，彼此孤立的微粒子512可以是柱状的台柱。
另外，图15中，影线装饰的微粒子512表示为已记录状态，没有影线装饰的微粒子 512表示为未记录状态。
图16是表示本发明第3实施例的记录装置的结构的方框图。
第3实施例的记录装置600具备散射体(记录部)501、共振元件502、跟踪控制部 503、共振状态检测部504及控制偏离检测部505。
散射体501将信息记录于微粒子(记录区域)512。共振元件502的共振状态根据微粒子512的记录状态而发生变化。跟踪控制部503进行控制使散射体501扫描指定的轨道513。共振状态检测部504检测对应于微粒子512的记录状态的共振元件502的共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变化相应的信号。控制偏离检测部505在记录信息的记录动作中，基于来自共振状态检测部504的信号，检测散射体501偏离指定的轨道 513的跟踪控制偏离状态。
例如，散射体501利用近场光记录信息。散射体501例如采用纳米级的微小金属， 通过照射光，让金属中的自由电子产生集团振动以激发等离子。通过激发等离子可以获得局部被增强的强电磁场。通过利用该特性使光射入散射体501，可以局部激发等离子，使散射体501附近的光电场(近场光)局部性地增强。然后，通过利用该近场光，可以在超过衍射极限的纳米级的微小区域记录信息。
作为散射体501，可以使用例如金、银、钼、铝或铬等金属材料。另外，散射体501也可以是图16所示的三角形的触角。或者，散射体501的形状也可以是圆柱形等。
另外，作为记录部的具体例子，例举了散射体501，但并不局限于此。例如，记录部也可以是利用磁的记录部。记录部只要可以使微粒子512的记录状态发生变化即可。
共振元件502的共振状态根据微粒子512的记录状态而变化。例如，共振元件502 和接近共振元件502的微粒子512的等离子共振的程度根 据微粒子512是已记录的状态还是未记录的状态而变化。
作为共振元件502，可以使用例如金、银、钼、铝或铬等金属材料。另外，共振元件 502也可以是图16所示的三角形的触角。或者，共振元件502的形状也可以是圆柱形等。
第3实施例的信息记录介质500的微粒子512含有根据记录状态与上述的共振兀件502的共振状态发生变化的材料。例如，第3实施例的信息记录介质500的微粒子512 可以含有电介质材料或含有金属的材料。
或者，微粒子512也可以含有相变化材料。据此，例如，通过由散射体501使近场 光照射微粒子512，微粒子512向非结晶状态或结晶状态变化。利用这种现象，比如，可以将 一个一个的微粒子512作为I单位，对微粒子512记录信息。例如，可以使记录状态对应于 结晶状态，未记录状态对应于非结晶状态。或者，反过来，也可以使记录状态对应于非结晶 状态，未记录状态对应于结晶状态。
共振状态检测部504检测对应于微粒子512的记录状态的共振元件502的共振状 态的变化。照射到共振元件502的光的反射光或透过光根据共振元件502的共振状态而变 化。因此，例如，利用这种现象，共振状态检测部504可以检测出共振元件502的共振状态 的变化。通过让光照射共振元件502并检测来自共振元件502的反射光或透过光的变化， 共振状态检测部504检测共振元件502的共振状态的变化。
第3实施例的记录装置600基于对应于微粒子512的记录状态的共振元件502的 共振状态的变化，在记录装置600记录动作中检测跟踪控制偏离。
由此，可以高精度地检测出跟踪控制偏离。因此，可以防止由于跟踪控制偏离引起 的已记录的信息被误破坏或已记录的记录区域列变成不连续。其结果，能够实现记录装置 的记录可靠性的提高。
另外，在第3实施例中，记录装置相当于光信息装置的一个例子，散射体501相当 于记录部的一个例子，共振元件502相当于共振元件的一个例子，跟踪控制部503相当于跟 踪控制部的一个例子，共振状态检测部504相当于共振状态检测部的一个例子，控制偏离 检测部505相当于控制偏离检测部的一个例子。
图17是表示第3实施例中的散射体和共振元件的配置位置的一个例子的示意图。 另外，在图17中，影线装饰的微粒子512表示已记录状态，没有影线装饰的微粒子512表示 未记录状态。
在图17中，纸面的从下向上的方向为散射体501及共振元件502的扫描方向。在 此，记录装置600也可以象光盘装置那样，通过让信息记录介质500旋转，使散射体501及 共振元件502扫描信息记录介质。或者,记录装置600也可以具备使散射体501及共振元 件502移动的移动部。即，通过利用移动部使散射体501及共振元件502移动，可以使散射 体501及共振元件502扫描信息记录介质500。
在图17中，纸面的左右方向为跟踪方向。当信息记录介质500为盘状时，例如，纸 面的左方向为内周方向、纸面的右方向为外周方向。另外，在图17中，虚线表示轨道513的 中心。点划线表示相邻的2个轨道的中间位置。
如图17所示，共振元件502被配置在相对于散射体501在跟踪方向偏离轨道间距 的一半的距离(O. 5轨道)的位置。共振元件502被配置在已记录信息的已记录区域和未 记录信息的未记录区域的边界上。
在此，利用图17所示的共振元件502说明跟踪控制偏离的检测方法。
假设在跟踪控制正常的情况下，来自共振状态检测部504的信号的强度为第I信 号强度RS1。在此，假设如果发生了跟踪控制偏离，散射体501及共振元件502的位置在跟 踪方向发生了偏移。由于跟踪控制偏离，共振元件502接近已记录状态的微粒子512时，来 自共振状态检测部504的信号强度变成与第I信号强度RSl不同的第2信号强度RS2。另 一方面，由于跟踪控制偏离，共振元件502接近未记录状态的微粒子512时，来自共振状态检测部504的信号强度变成与第I信号强度RSl及第2信号强度RS2不同的第3信号强度 RS3。
图18是表示在本发明第3实施例中，记录动作中发生了跟踪控制偏离时来自共振状态检测部的信号的变化的波形图。
如图18所示，在跟踪状态正常的情况下，来自共振状态检测部504的信号强度为第I信号强度RS1。在此，若记录动作中发生了跟踪控制偏离，共振元件502接近已记录状态的微粒子512时，来自共振状态检测部504的信号强度变成比第I信号强度RSl高的第2 信号强度RS2。另一方面，由于跟踪控制偏离，共振元件502接近未记录状态的微粒子512 时，来自共振状态检测部504的信号强度变成比第I信号强度RSl低的第3信号强度RS3。
控制偏离检测部505在来自共振状态检测部504的信号强度变成已记录信息的已记录区域的共振状态的强度或变成未记录信息的未记录区域的共振状态的强度时，检测出是跟踪控制偏离状态。
另外，根据共振状态，共振元件502接近已记录状态的微粒子512时，来自共振状态检测部504的信号强度有时也会变成比第I信号强度低的第2信号强度。另外，根据共振状态，共振元件502接近未记录状态的微粒子512时，来自共振状态检测部504的信号强度有时也会变成比第I信号强度高的第3信号强度。
这样，控制偏离检测部505通过利用来自共振状态检测部504的信号强度的变化， 能够检测在记录装置600的记录动作中的跟踪控制偏离状态。
另外，记录装置600也可以具备预先存储表示未记录信息的未记录区域的共振状态的第3信号强度RS3、表示已记录信息的已记录区域的共振状态的第2信号强度RS2的存储器。控制偏离检测部505可以从存储器读出第3信号强度RS3和第2信号强度RS2，将读出的第3信号强度RS3和第2信号强度RS2与来自共振状态检测部504的信号强度相比较。在这种情况下，控制偏离检测部505在来自共振状态检测部504的信号强度为第3信号强度RS3或第2信号强度RS2时，检测出是跟踪控制偏离状态。
另外，第3实施例的记录装置也可以进一步具备保持散射体501和共振元件502 的保持部。保持部可以将散射体501和共振元件502的位置固定。因此，在散射体由于跟踪控制偏离而产生位置偏差时，共振元件502也同样产生位置偏差。
另外，散射体501和共振元件502的配置位置，并不只限于图17所示的配置位置。
g卩，共振元件502并不限于相对于散射体501在跟踪方向偏离O. 5轨道，也可以相对于散射体501在跟踪方向偏离指定的距离。
另外，共振元件502和散射体501也可以在散射体501的扫描方向不错开。
另外，散射体501和共振元件502的配置位置也可以例如图19所示的配置位置。 图19是表示第3实施例的第I变形例的散射体和共振元件的配置位置的一个例子的示意图。
例如，如图19所示，共振元件502相对于散射体501在跟踪方向的偏离可以是向未记录状态的微粒子512存在的方向的偏离。此时，共振元件502相对于散射体501在跟踪方向只需错开指定的距离即可。
另外，例如，如图19所示，共振元件502可以相对于散射体501向与散射体501的扫描方向相反的方向离开指定的距离。或者， 共振元件502和散射体501也可以在散射体501的扫描方向不错开。
另外，散射体501和共振元件502的配置位置也可以例如，如图20或图21所示的配置位置。图20是表示第3实施例的第2变形例的散射体和共振元件的配置位置的一个例子的示意图。图21是表示第3实施例的第3变形例的散射体和共振元件的配置位置的一个例子的示意图。
如图20和图21所示，共振元件502和散射体501也可以在跟踪方向不错开。
例如，如图20所示，共振元件502可以被配置在与散射体501同一轨道上的未记录状态的微粒子512的附近。根据该结构，可以高精度地检测出由于跟踪控制偏离，而使散射体501错误地移动到已记录状态的微粒子512存在的区域。
或者，如图21所示，共振元件502可以被配置在与散射体501同一轨道上的已记录状态的微粒子512的附近。根据该结构，可以高精度地检测出由于跟踪控制偏离，散射体 501错误地移动到未记录状态的微粒子512存在的区域。
S卩，在来自共振状态检测部504的信号强度从已记录信息的已记录区域的共振状态的强度变成未记录信息的未记录区域的共振状态的强度时，或者从未记录区域的共振状态的强度变成已记录区域的共振状态的强度时，控制偏离检测部505检测出是跟踪控制偏离状态。
(第4实施例)
图22是表示本发明第4实施例的记录装置的结构的方框图。
如图22所示，第4实施例的记录装置700具备散射体(记录部)501、第I共振元件502a、第2共振元件502b、跟踪控制部701、第I共振状态检测部702、第2共振状态检测部703以及控制偏离检测部704。
第I共振元件502a的共振状态根据微粒子512的记录状态而变化。第2共振元件502b被配置在与第I共振元件502a不同的位置，其共振状态根据微粒子512的记录状态而变化。
跟踪控制部701进行控制，使散射体501扫描指定的轨道。第I共振状态检测部 702检测对应于微粒子512的记录状态的第I共振元件502a的共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变化相应的信号。第2共振状态检测部703检测对应于微粒子512的记录状态的第2共振元件502b的共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变化相应的信号。
在从第I共振状态检测部702输出的信号强度与从第2共振状态检测部703输出的信号强度的差分未达到指定的强度时，控制偏离检测部704检测出是跟 踪控制偏离状态。
第2共振元件502b的共振状态根据微粒子512的记录状态而变化。例如，第2共振兀件502b与接近第2共振兀件502b的微粒子512的等尚子共振的程度,根据微粒子512 是已记录状态还是未记录状态而变化。
作为第I共振元件502a和第2共振元件502b，例如可以采用金、银、钼、铝或铬等金属材料。另外，第I共振元件502a和第2共振元件502b也可以是图22所示的三角形的触角。或者，第I共振元件502a和第2共振元件502b的形状也可以是圆柱状等。
第2共振状态检测部703检测对应于微粒子512的记录状态的第2共振元件502b的共振状态的变化。照射到共振元件的光的反射光或透过光根据共振元件的共振状态而变化。因此，例如，利用这种现象，第2共振状态检测部703可以检测第2共振元件502b的共振状态的变化。通过让光照射第2共振元件502b，检测来自第2共振元件502b的反射光或透过光的变化，第2共振状态检测部703检测第2共振元件502b的共振状态的变化。
另外，在第4实施例中，记录装置700相当于光信息装置的一个例子，散射体501 相当于记录部的一个例子，第I共振元件502a相当于第I共振元件的一个例子，第2共振元件502b相当于第2共振元件的一个例子，跟踪控制部701相当于跟踪控制部的一个例子， 第I共振状态检测部702相当于第I共振状态检测部的一个例子，第2共振状态检测部703 相当于第2共振状态检测部的一个例子，控制偏离检测部704相当于控制偏离检测部的一个例子。
图23是表示第4实施例的散射体、第I共振元件和第2共振元件的配置位置的一个例子的示意图。
如图23所示，第I共振元件502a被配置在相对于散射体501在跟踪方向向存在未记录状态的微粒子512的一侧错开轨道间距的一半的距离(O. 5轨道)的位置。而且，第 2共振元件502b被配置在相对于散射体501在跟踪方向向存在已记录状态的微粒子512的一侧错开轨道间距的一半的距离(O. 5轨道)的位置。
在此，对利用图23所示的第I共振元件502a和第2共振元件502b的跟踪控制偏离的检测方法进行说明。
假设在跟踪控制正常的情况下，来自第I共振状态检测部702的信号强度和来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分为第I差分信号强度。在此，假设发生了跟踪控制偏离，散射体501、第I共振元件502a以及第2共振元件502b的位置在跟踪方向发生了偏移。由于跟踪控制偏离，第I共振元件502a和第2共振元件502b都接近已记录状态的微粒子512时，来自第I共振状态检测部702的信号强度和来自第2共振状态检测部703 的信号强度的差分变成与第I差分信号强度不同的第2差分信号强度。
另一方面，由于跟踪控制偏离，第I共振元件502a和第2共振元件502b都接近未记录状态的微粒子512时，来自第I共振状态检测部702的信号强度和来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分变成与第I差分信号强度不同的第3差分信号强度。
图24是表示在本发明第4实施例中，在记录动作中发生了跟踪控制偏离时来自第 I共振状态检测部的信号的强度和来自第2共振状态检测部的信号的强度的差分的变化的波形图。
如图24所示，在跟踪状态正常的情况下，来自第I共振状态检测部702的信号强度和来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分为第I差分信号强度dRSl。在此，当记录动作中发生了跟踪控制偏离，第I共振元件502a和第2共振元件502b接近已记录状态的微粒子512时，来自第I共振状态检测部702的信号强度和来自第2共振状态检测部 703的信号强度的差分变成比第I差分信号强度dRSl低的第2差分信号强度dRS2。另一方面，由于跟踪控制偏离，第I共振元件502a和第2共振元件502b接近未记录状态的微粒子512时，来自第I共振状态检测部702的信号强度和来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分变成比第I差分信 号强度dRSl低的第3差分信号强度dRS3。
此时，第2差分信号强度dRS2和第3差分信号强度dRS3都几乎为O。S卩，来自第I共振状态检测部702的信号强度和来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分未达 到指定强度。
如此，控制偏离检测部704通过利用来自第I共振状态检测部702的信号强度和 来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分的变化，能够在记录装置700的记录动作 中检测跟踪控制偏离。
据此，能够更高精度地检测跟踪控制偏离。为此，可以防止由于跟踪控制偏离，而 导致已记录的信息被误破坏或已记录的记录区域的列变成不连续。其结果，能够实现记录 装置的记录可靠性的提高。
另外，记录装置700也可以具备预先存储用于比较来自第I共振状态检测部702 的信号强度和来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分的指定的阈值的存储器。指 定的阈值为，例如第I差分信号强度dRSl和第2或者第3差分信号强度dRS2或者dRS3之 间的信号强度，所述第I差分信号强度dRSl表示正常动作时来自第I共振状态检测部702 的信号强度和来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分，所述第2或者第3差分信 号强度dRS2或者dRS3表示当发生了跟踪控制偏离时来自第I共振状态检测部702的信号 强度和来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分。控制偏离检测部704可以从存储 器读取指定的阈值，并将读出的指定的阈值与来自第I共振状态检测部702的信号强度和 来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分进行比较。在这种情况下，当来自第I共 振状态检测部702的信号强度和来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分未达到指 定的阈值时，控制偏离检测部704检测出是跟踪控制偏离状态。
另外，当第I共振状态检测部702输出的信号强度与第2共振状态检测部703输出 的信号强度之和变成已记录信息的已记录区域的共振状态的强度或变成未记录信息的未 记录区域的共振状态的强度时，控制偏离检测部704也可以检测出是跟踪控制偏离状态。
另外，第4实施例的记录装置也可以进一步具备保持散射体501和第I共振元件 502a以及第2共振元件502b的保持部。保持部可以固定散射体501和第I共振元件502a 以及第2共振元件502b的位置。据此，当由于跟踪控制偏离而使散射体501产生位置偏差 时，第I共振元件502a和第2共振元件502b也能产生同样的位置偏差。
另外，散射体501和第I共振元件502a以及第2共振元件502b的配置位置也可 以为下述的结构。
图25是表示第4实施例的第I变形例的散射体、第I共振元件和第2共振元件的 配置位置的一个例子的示意图。
如图25所示，第I共振元件502a被配置在与散射体501在同一轨道上的未记录 状态的微粒子512的附近。并且，第2共振元件502b被配置在与散射体501在同一轨道上 的已记录状态的微粒子512的附近。
即使散射体501、第I共振元件502a和第2共振元件502b被配置成如图25所示， 控制偏离检测部704也能通过利用来自第I共振状态检测部702的信号强度和来自第2共 振状态检测部703的信号强度的差分的变化，在记录装置700的记录动作中检测跟踪控制偏离。
图26是表示第4实施例的第2变形例的散射体、第I共振元件和第2共振元件的 配置位置的一个例子的示意图。
如图26所示，第I共振元件502a被配置在相对于散射体501向跟踪方向存在已记录状态的微粒子512的一侧偏离指定的距离(例如，1. 5轨道)的位置。并且，第2共振兀件502b被配置在相对于散射体501向跟踪方向存在未记录状态的微粒子512的一侧偏离指定的距离(例如，1. 5轨道)的位置。
即使散射体501、第I共振元件502a和第2共振元件502b被配置成如图26所示， 控制偏离检测部704也能通过利用来自第I共振状态检测部702的信号强度和来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分的变化，在记录装置700的记录动作中检测跟踪控制偏离。
图27是表示第4实施例的第3变形例的散射体、第I共振元件和第2共振元件的配置位置的一个例子的示意图。
如图27所示，第I共振元件502a与散射体501在散射体501的扫描方向没有错开。而且，第2共振元件502b与散射体501在散射体501的扫描方向也没有错开。
如图27所示，第I共振元件502a被配置在相对于散射体501向跟踪方向存在已记录状态的微粒子512的一侧偏离指定的距离(例如，2轨道)的位置。而且，第2共振元件502b被配置在相对于散射体501向跟踪方向存在未记录状态的微粒子512的一侧偏离指定的距离(例如，I轨道)的位置。
即使散射体501、第I共振元件502a和第2共振元件502b被配置成如图27所示， 控制偏离检测部704也能通过利用来自第I共振状态检测部702的信号强度和来自第2共振状态检测部703的信号强度的差分的变化，在记录装置700的记录动作中检测跟踪控制偏离。
如上述图23、图25、图26以及图27所示，散射体501和第I共振元件502a以及第2共振元件502b的配置位置可以为下述的结构。
S卩，第I共振兀件502a与散射体501相对于散射体501的扫描方向可以有偏离也可以没有偏离。而且，第2共振元件502b与散射体501相对于散射体501的扫描方向可以有偏离也可以没有偏离。或者，也可以只是第I共振元件502a和第2共振元件502b的其中之一相对于散射体501的扫描方向有偏离。
另外，第I共振元件502a相对于散射体501向跟踪方向的其中一侧可以有偏离也可以没有偏离。而且，第2共振元件502b相对于散射体501向跟踪方向的另一侧可以有偏离也可以没有偏离。或者，也可以只是第I共振元件502a和第2共振元件502b的其中之一在跟踪方向有偏离。
另外,第I共振兀件502a相对于散射体501向跟踪方向的其中一侧的偏离量与第 2共振兀件502b相对于散射体501向跟踪方向的另一侧的偏离量可以相同。或者，第I共振兀件502a相对于散射体501向跟踪方向的其中一侧的偏离量与第2共振兀件502b相对于散射体501向跟`踪方向的另一侧的偏离量也可以不同。
如上所述，可以将第I共振元件502a和第2共振元件502b的其中一方配置在已记录状态的微粒子512存在的区域，而将第I共振元件502a和第2共振元件502b中的另一方配置在未记录状态的微粒子512存在的区域。
如上所述的具体实施例主要包括具有以下结构的发明。
本发明的一方面所涉及的光信息装置是通过使主光束和副光束收束到信息记录介质的信息层上来记录信息的光信息装置，包括进行控制使所述主光束的收束点收束到 指定的信息层上的聚焦控制部；进行控制使所述主光束的收束点扫描信息层上的指定的轨 道或指定的标记列的跟踪控制部；接收被所述信息层反射的所述副光束，并输出与接收的 光量相应的信号的副光束受光部；在记录所述信息的记录动作中，基于来自所述副光束受 光部的信号检测所述主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态或者所述主 光束的收束点偏离信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态的控制偏 离检测部。
根据该结构，聚焦控制部进行控制使主光束的收束点收束到指定的信息层上。跟 踪控制部进行控制使主光束的收束点扫描信息层上的指定的轨道或指定的标记列。副光束 受光部接收被信息层反射的副光束，并输出与接收的光量相应的信号。控制偏离检测部在 记录信息的记录动作中，基于来自副光束受光部的信号，检测主光束的收束点偏离指定的 信息层的聚焦控制偏离状态或者主光束的收束点偏离信息层上的指定的轨道或指定的标 记列的跟踪控制偏离状态。
因此，由于能够检测聚焦控制偏离状态或者跟踪控制偏离状态，所以可以防止已 记录的信息被误破坏或已记录的标记列变成不连续，其结果，能够提高光信息装置的记录 可靠性。
而且，在上述的光信息装置中，优选，所述控制偏离检测部，在从所述副光束受光 部输出的信号的强度为已记录信息的已记录区域的反射光强度或为未记录信息的未记录 区域的反射光强度时，检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
根据该结构，在从副光束受光部输出的信号的强度为已记录信息的已记录区域的 反射光强度或为未记录信息的未记录区域的反射光强度时，能够检测出是聚焦控制偏离状 态或者是跟踪控制偏离状态。
因此，通过将从副光束受光部输出的信号的强度与来自已记录区域的反射光强度 或来自未记录区域的反射光强度相比较，能够容易地检测出聚焦控制偏离状态或者跟踪控 制偏离状态。
而且，在上述的光信息装置中，优选，所述副光束包含多束副光束；所述副光束受 光部包含分别接收被所述信息层反射的所述多束副光束的多个副光束受光部；所述控制偏 离检测部，在从所述多个副光束受光部输出的多个信号的强度之和为已记录信息的已记录 区域的反射光强度或为未记录信息的未记录区域的反射光强度时，检测出是所述聚焦控制 偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
根据该结构，副光束包含多束副光束。多个副光束受光部分别接收被信息层反射 的多束副光束。而且，当从多个副光束受光部输出的多个信号的强度之和为已记录信息的 已记录区域的反射光强度或为未记录信息的未记录区域的反射光强度时，能够检测出是聚 焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状态。
因此，通过将从多个副光束受光部输出的多个信号的强度之和与来自已记录区域 的反射光强度或来自未记录区域的反射光强度相比较，能够容易地检测出聚焦控制偏离状 态或者是跟踪控制偏离状态。
而且，在上述的光信息装置中，优选，所述副光束包括在所述主光束收束到轨道中 心时收束于已记录信息的已记录区域侧的第I副光束，和在所述主光束收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域侧的第2副光束。
根据该结构，副光束包括在主光束收束到轨道中心时收束于已记录信息的已记录 区域侧的第I副光束，和在主光束收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域侧的 第2副光束。
因此，通过利用被信息层反射的第I副光束和被信息层反射的第2副光束，能够可 靠地检测聚焦控制偏离状态或者跟踪控制偏离状态。
而且，在上述的光信息装置中，优选，所述控制偏离检测部，在来自所述副光束受 光部的信号的强度从已记录信息的已记录区域的反射光强度变为未记录信息的未记录区 域的反射光强度时，或从所述未记录区域的反射光强度变为所述已记录区域的反射光强度 时，检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
根据该结构，当光束被分割为主光束和I束副光束，且I束副光束在主光束被收束 到轨道的中心时收束于已记录信息的已记录区域侧时，在来自副光束受光部的信号强度从 已记录区域的反射光强度变为未记录区域的反射光强度时，检测出是聚焦控制偏离状态或 者是跟踪控制偏离状态。而且，当光束被分割为主光束和I束副光束，且I束副光束在主光 束被收束到轨道的中心时收束于未记录信息的未记录区域侧时，在来自副光束受光部的信 号强度从未记录区域的反射光强度变为已记录区域的反射光强度时，检测出是聚焦控制偏 离状态或者是跟踪控制偏离状态。
因此，基于副光束的反射光强度的变化，能够容易地检测聚焦控制偏离状态或者 跟踪控制偏离状态。
而且，在上述的光信息装置中，优选，所述控制偏离检测部，在所述副光束受光部 输出的信号的调制度为已记录信息的已记录区域的调制度或为未记录信息的未记录区域 的调制度时，检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
根据该结构，在副光束受光部输出的信号的调制度为已记录信息的已记录区域的 调制度或为未记录信息的未记录区域的调制度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪 控制偏离状态。
因此，通过将从副光束受光部输出的信号的调制度与已记录区域的调制度或未记 录区域的调制度相比较，能够容易地检测聚焦控制偏离状态或者跟踪控制偏离状态。
而且，在上述的光信息装置中，优选，所述副光束包含多束副光束；所述副光束受 光部包含分别接收被所述信息层反射的所述多束副光束的多个副光束受光部；所述控制偏 离检测部，在所述多个副光束受光部输出的多个信号的调制度之和为已记录信息的已记录 区域的调制度或为未记录信息的未记录区域的调制度时，检测出是所述聚焦控制偏离状态 或者是所述跟踪控制偏离状态。
根据该结构，副光束包含多束副光束。多个副光束受光部分别接收被信息层反射 的多束副光束。而且，在多个副光束受光部输出的多个信号的调制度之和为已记录信息的 已记录区域的调制度或为未记录信息的未记录区域的调制度时，检测出是聚焦控制偏离状 态或者是跟踪控制偏离状态。
因此，通过将从多个副光束受光部输出的多个信号的调制度之和与已记录区域的 调制度或未记录区域的调制度相比较，能够容易地检测聚焦控制偏离状态或者跟踪控制偏 离状态。
而且，在上述的光信息装置中，优选，所述多束副光束包含在所述主光束收束到轨 道中心时收束于已记录信息的已记录区域侧的第I副光束，和在所述主光束收束到轨道中 心时收束于未记录信息的未记录区域侧的第2副光束。
根据该结构，副光束包含在主光束收束到轨道中心时收束于已记录信息的已记录 区域侧的第I副光束，和在主光束收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域侧的 第2副光束。
因此，通过利用被信息层反射的第I副光束和被信息层反射的第2副光束，能够可 靠地检测聚焦控制偏离状态或者跟踪控制偏离状态。
而且，在上述的光信息装置中，优选，所述控制偏离检测部，在所述副光束受光部 的信号的调制度从已记录信息的已记录区域的调制度变为未记录信息的未记录区域的调 制度时，或从所述未记录区域的调制度变为所述已记录区域的调制度时，检测出是聚焦控 制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
根据该结构，当光束被分割为主光束和I束副光束，且I束副光束在主光束被收束 到轨道的中心时收束于已记录信息的已记录区域侧时，在来自副光束受光部的信号的调制 度从已记录区域的调制度变为未记录区域的调制度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是 跟踪控制偏离状态。而且，当光束被分割为主光束和I束副光束，且I束副光束在主光束被 收束到轨道的中心时收束于未记录信息的未记录区域侧时，在来自副光束受光部的信号的 调制度从未记录区域的调制度变为已记录区域的调制度时，检测出是聚焦控制偏离状态或 者是跟踪控制偏离状态。
因此，基于副光束的调制度的变化，能够容易地检测聚焦控制偏离状态或者跟踪 控制偏离状态。
而且，在上述的光信息装置中，优选，所述副光束包含多束副光束；所述副光束受 光部包含分别接收被所述信息层反射的所述多束副光束的多个副光束受光部；所述控制偏 离检测部，在所述多个副光束受光部输出的多个信号的强度的差分未达到指定强度时，检 测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
根据该结构，副光束包含多束副光束。副光束受光部包含分别接收被信息层反射 的多束副光束的多个副光束受光部。控制偏离检测部，在多个副光束受光部输出的多个信 号的强度的差分未达到指定强度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是跟踪控制偏离状 态。
由于在多个信号的强度的差分未达到指定强度时能够检测出是聚焦控制偏离状 态或者是跟踪控制偏离状态，因此能够可靠地检测聚焦控制偏离状态或者跟踪控制偏离状 态。
而且，在上述的光信息装置中，优选，所述多束副光束包括，在所述主光束收束到 轨道中心时收束于已记录信息的已记录区域侧的第I副光束，和在所述主光束收束到轨道 中心时收束于未记录信息的未记录区域侧的第2副光束。
根据该结构，多束副光束包括在主光束收束到轨道中心时收束于已记录信息的已 记录区域侧的第I副光束，和在主光束收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域 侧的第2副光束。
因此，通过利用被信息层反射的第I副光束和被信息层反射的第2副光束，能够可靠地检测聚焦控制偏离状态或者跟踪控制偏离状态。
本发明的另一方面所涉及的控制偏离检测方法是用于通过使主光束和副光束收 束到信息记录介质的信息层上来记录信息的光信息装置的控制偏离检测方法，包括进行 控制使所述主光束的收束点收束到指定的信息层上的聚焦控制步骤进行控制使所述主光 束的收束点扫描信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制步骤；接收被所述信息 层反射的所述副光束，输出与接收的光量相应的信号的副光束受光步骤；在所述记录信息 的记录动作中，基于在所述副光束受光步骤输出的信号，检测所述主光束的收束点偏离指 定的信息层的聚焦控制偏离状态或者所述主光束的收束点偏离信息层上的指定的轨道或 指定的标记列的跟踪控制偏离状态的控制偏离检测步骤。
根据该结构，在聚焦控制步骤，进行控制使主光束的收束点收束到指定的信息层 上。在跟踪控制步骤，进行控制使主光束的收束点扫描信息层上的指定的轨道或指定的标 记列。在副光束受光步骤，接收被信息层反射的副光束，并输出与接收的光量相应的信号。 在控制偏离检测步骤，在记录信息的记录动作中，基于在副光束受光步骤输出的信号，检测 主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态或者主光束的收束点偏离信息层 上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态。
因此，由于能够检测出聚焦控制偏离状态或者跟踪控制偏离状态，所以可以防止 已记录的信息被误破坏或已记录的标记列变成不连续，其结果，能够提高光信息装置的记 录可靠性。
本发明的另一方面所涉及的光信息装置，是向具有彼此孤立的记录区域被列状配 置的轨道的信息记录介质记录信息的光信息装置，包括用于在所述记录区域记录信息的 记录部；共振状态根据所述记录区域的记录状态而变化的共振元件；进行控制使所述记录 部扫描指定的轨道的跟踪控制部；检测对应于所述记录区域的记录状态的所述共振元件的 共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变化相应的信号的共振状态检测部；在所 述记录信息的记录动作中，基于来自所述共振状态检测部的信号，检测所述记录部偏离所 述指定的轨道的跟踪控制偏离状态的控制偏离检测部。
根据该结构，记录部在记录区域记录信息。共振元件的共振状态根据记录区域的 记录状态而变化。跟踪控制部进行控制使记录部扫描指定的轨道。共振状态检测部检测对 应于记录区域的记录状态的共振元件的共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变 化相应的信号。控制偏离检测部在记录信息的记录动作中，基于来自共振状态检测部的信 号检测记录部偏离指定的轨道的跟踪控制偏离状态。
由于能够检测出跟踪控制偏离状态，所以可以防止已记录的信息被误破坏或已记 录的标记列变成不连续，其结果，能够提高光信息装置的记录可靠性。
而且，在上述的光信息装置中，优选，所述共振元件包括第I共振元件和配置在与 第I共振元件不同位置的第2共振元件，所述共振状态检测部包括检测对应于所述记录区 域的记录状态的所述第I共振元件的共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变化 相应的信号的第I共振状态检测部；和检测对应于所述记录区域的记录状态的所述第2共 振元件的共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变化相应的信号的第2共振状态 检测部；所述控制偏离检测部，在从所述第I共振状态检测部输出的信号的强度和从所述 第2共振状态检测部输出的信号的强度的差分未达到指定强度时，检测出是所述跟踪控制偏离状态。
根据该结构，共振元件包括第I共振元件和配置在与第I共振元件不同位置的第 2共振元件。第I共振状态检测部检测对应于记录区域的记录状态的第I共振元件的共振 状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变化相应的信号。第2共振状态检测部检测对 应于记录区域的记录状态的第2共振元件的共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态 的变化相应的信号。控制偏离检测部，在从第I共振状态检测部输出的信号的强度和从第 2共振状态检测部输出的信号的强度的差分未达到指定强度时，检测出是跟踪控制偏离状 态。
由于在从第I共振状态检测部输出的信号的强度和从第2共振状态检测部输出的 信号的强度的差分未达到指定强度时，检测出是跟踪控制偏离状态，因此，能够可靠地检测 跟踪控制偏离状态。
本发明的另一方面所涉及的控制偏离检测方法，是用于向具有彼此孤立的记录区 域被列状配置的轨道的信息记录介质记录信息的光信息装置的控制偏离检测方法，包括以 下步骤进行控制使用于向所述记录区域记录信息的记录部扫描指定的轨道的跟踪控制步 骤；检测共振状态根据所述记录区域的记录状态而变化的共振元件的共振状态的变化，并 输出与检测出的共振状态的变化相应的信号的共振状态检测步骤；在所述记录信息的记录 动作中，基于在所述共振状态检测步骤输出的信号，检测所述记录部偏离所述指定的轨道 的跟踪控制偏离状态的控制偏离检测步骤。
根据此结构，在跟踪控制步骤，进行控制使用于向记录区域记录信息的记录部扫 描指定的轨道。在共振状态检测步骤，检测共振状态根据记录区域的记录状态而变化的共 振元件的共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变化相应的信号。在控制偏离检 测步骤，在记录信息的记录动作中，基于在共振状态检测步骤输出的信号，检测记录部偏离 所述指定的轨道的跟踪控制偏离状态。
由于能够检测出跟踪控制偏离状态，所以可以防止已记录的信息被误破坏或已记 录的标记列变成不连续，其结果，能够提高光信息装置的记录可靠性。
另外，为实施发明的实施例的各项所说明的具体的实施方式或实施例，只不过是 使本发明的技术内容更明确起见，并不限定于那些具体的实施例而狭义地解释，只要是在 本发明的精神及权利要求的范围内，可以进行种种变更来实施。
产业上的可利用性
本发明所涉及的光信息装置及控制偏离检测方法，可以防止已记录的信息被误破 坏或已记录的标记列变成不连续，适用于通过使主光束和副光束收束到信息记录介质的信 息层上来记录信息的光信息装置及控制偏离检测方法。因此，可以利用于作为光信息装置 的应用设备的大容量的光盘刻录机或电脑用存储装置等。
权利要求
1.一种光信息装置，通过使主光束和副光束收束到信息记录介质的信息层上来记录信息，其特征在于包括 聚焦控制部，进行控制使所述主光束的收束点收束到指定的信息层上； 跟踪控制部，进行控制使所述主光束的收束点扫描信息层上的指定的轨道或指定的标记列； 副光束受光部，接收被所述信息层反射的所述副光束，并输出与接收的光量相应的信号; 控制偏离检测部，在记录所述信息的记录动作中，基于来自所述副光束受光部的信号，检测所述主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态或者所述主光束的收束点偏离信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态。
2.根据权利要求1所述的光信息装置，其特征在于 所述控制偏离检测部，在从所述副光束受光部输出的信号的强度为已记录信息的已记录区域的反射光强度或为未记录信息的未记录区域的反射光强度时，检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
3.根据权利要求1所述的光信息装置，其特征在于 所述副光束，包含多束副光束， 所述副光束受光部，包含分别接收被所述信息层反射的所述多束副光束的多个副光束受光部， 所述控制偏离检测部，在从所述多个副光束受光部输出的多个信号的强度之和为已记录信息的已记录区域的反射光强度或为未记录信息的未记录区域的反射光强度时，检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
4.根据权利要求3所述的光信息装置，其特征在于 所述多束副光束，包括在所述主光束收束到轨道中心时收束于已记录信息的已记录区域侧的第I副光束、和在所述主光束收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域侧的第2副光束。
5.根据权利要求1所述的光信息装置，其特征在于 所述控制偏离检测部，在来自所述副光束受光部的信号的强度从已记录信息的已记录区域的反射光强度变为未记录信息的未记录区域的反射光强度时，或从所述未记录区域的反射光强度变为所述已记录区域的反射光强度时，检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
6.根据权利要求1所述的光信息装置，其特征在于 所述控制偏离检测部，在所述副光束受光部输出的信号的调制度为已记录信息的已记录区域的调制度或为未记录信息的未记录区域的调制度时，检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
7.根据权利要求1所述的光信息装置，其特征在于 所述副光束，包含多束副光束， 所述副光束受光部，包含分别接收被所述信息层反射的所述多束副光束的多个副光束受光部， 所述控制偏离检测部，在所述多个副光束受光部输出的多个信号的调制度之和为已记录信息的已记录区域的调制度或为未记录信息的未记录区域的调制度时，检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
8.根据权利要求7所述的光信息装置，其特征在于 所述多束副光束，包括在所述主光束收束到轨道中心时收束于已记录信息的已记录区域侧的第I副光束、在所述主光束收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域侧的第2副光束。
9.根据权利要求1所述的光信息装置，其特征在于 所述控制偏离检测部，在所述副光束受光部的信号的调制度从已记录信息的已记录区域的调制度变为未记录信息的未记录区域的调制度时，或从所述未记录区域的调制度变为所述已记录区域的调制度时，检测出是聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
10.根据权利要求1所述的光信息装置，其特征在于 所述副光束，包含多束副光束， 所述副光束受光部，包含分别接收被所述信息层反射的所述多束副光束的多个副光束受光部， 所述控制偏离检测部，在所述多个副光束受光部输出的多个信号的强度的差分未达到指定强度时，检测出是所述聚焦控制偏离状态或者是所述跟踪控制偏离状态。
11.根据权利要求10所述的光信息装置，其特征在于 所述多束副光束，包含在所述主光束收束到轨道中心时收束于已记录信息的已记录区域侧的第I副光束、和在所述主光束收束到轨道中心时收束于未记录信息的未记录区域侧的第2副光束。
12.—种光信息装置的控制偏离检测方法，所述光信息装置通过使主光束和副光束收束到信息记录介质的信息层上来记录信息，其特征在于包括 聚焦控制步骤，进行控制使所述主光束的收束点收束到指定的信息层上； 跟踪控制步骤，进行控制使所述主光束的收束点扫描信息层上的指定的轨道或指定的标记列； 副光束受光步骤，接收被所述信息层反射的所述副光束，并输出与接收的光量相应的信号; 控制偏离检测步骤，在所述记录信息的记录动作中，基于在所述副光束受光步骤输出的信号，检测所述主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态或者所述主光束的收束点偏离信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态。
13.一种光信息装置，向具有彼此孤立的记录区域被列状配置的轨道的信息记录介质记录信息，其特征在于包括 记录部，用于向所述记录区域记录信息； 共振元件，其共振状态根据所述记录区域的记录状态而变化； 跟踪控制部，进行控制使所述记录部扫描指定的轨道； 共振状态检测部，检测对应于所述记录区域的记录状态的所述共振元件的共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变化相应的信号； 控制偏离检测部，在所述记录信息的记录动作中，基于来自所述共振状态检测部的信号，检测所述记录部偏离所述指定的轨道的跟踪控制偏离状态。
14.根据权利要求13所述的光信息装置，其特征在于 所述共振元件，包括第I共振元件和配置在与第I共振元件不同位置的第2共振元件； 所述共振状态检测部，包括第I共振状态检测部和第2共振状态检测部，所述第I共振状态检测部检测对应于所述记录区域的记录状态的所述第I共振元件的共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变化相应的信号；所述第2共振状态检测部检测对应于所述记录区域的记录状态的所述第2共振元件的共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变化相应的信号； 所述控制偏离检测部，在从所述第I共振状态检测部输出的信号的强度和从所述第2共振状态检测部输出的信号的强度的差分未达到指定强度时，检测出是所述跟踪控制偏离状态。
15.一种光信息装置的控制偏离检测方法，所述光信息装置向具有彼此孤立的记录区域被列状配置的轨道的信息记录介质记录信息，其特征在于包括 跟踪控制步骤，进行控制使用于向所述记录区域记录信息的记录部扫描指定的轨道； 共振状态检测步骤，检测共振状态根据所述记录区域的记录状态而变化的共振元件的共振状态的变化，并输出与检测出的共振状态的变化相应的信号； 控制偏离检测步骤，在所述记录信息的记录动作中，基于在所述共振状态检测步骤输出的信号，检测所述记录部偏离所述指定的轨道的跟踪控制偏离状态。
全文摘要
光盘装置包括控制使主光束的收束点收束到指定的信息层上的聚焦控制部(107)，控制使主光束的收束点扫描信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制部(103)，接收被信息层反射的副光束，输出与接收的光量相应的信号的副光束受光部(115)，在记录信息的记录动作中，基于来自副光束受光部(115)的信号，检测主光束的收束点偏离指定的信息层的聚焦控制偏离状态或者主光束的收束点偏离信息层上的指定的轨道或指定的标记列的跟踪控制偏离状态的微型计算机(111)。
文档编号G11B7/09GK103052985SQ20128000224
公开日2013年4月17日 申请日期2012年5月29日 优先权日2011年5月30日
发明者近藤健二, 山元猛晴, 藤畝健司 申请人:松下电器产业株式会社