封装结构的制作方法

文档序号:12451010阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种封装结构,其特征在于,包括:

芯片单元,所述芯片单元具有第一表面,所述第一表面包括器件区域;

保护盖板,所述保护盖板具有第二表面,所述第二表面与所述芯片单元的第一表面相对;

粘合单元,位于所述芯片单元的第一表面和所述保护盖板的第二表面之间,用于将所述芯片单元和所述保护盖板相粘结,其中,所述粘合单元包括具有不同粘度的第一区域和第二区域。

2.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述第一区域的粘度低于所述第二区域的粘度。

3.如权利要求2所述的封装结构,其特征在于,所述第一区域的粘度为零。

4.如权利要求2所述的封装结构,其特征在于,所述第一区域的体积占所述粘合单元的体积的30%至90%。

5.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述粘合单元包括第一粘合层,所述第一区域和所述第二区域位于所述第一粘合层内。

6.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述粘合单元包括第一粘合层、第二粘合层和位于所述第一粘合层和第二粘合层之间的透明基底,所述第一粘合层位于所述透明基底和所述保护盖板的第二表面之间,所述第二粘合层位于所述透明基底和所述芯片单元的第一表面之间。

7.如权利要求6所述的封装结构,其特征在于,所述第一区域和第二区域位于所述第一粘合层内。

8.如权利要求6所述的封装结构,其特征在于,所述粘合单元的第一区域为所述第一粘合层,所述粘合单元的第二区域为所述第二粘合层。

9.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,还包括支撑结构,所述支撑结构位于所述芯片单元的第一表面和所述粘合单元之间,所述器件区域位于所述支撑结构与所述粘合单元围成的凹槽内。

10.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,还包括支撑结构,所述支撑结构位于所述芯片单元的第一表面和所述粘合单元之间,所述支撑结构通过 粘胶层与所述芯片单元的第一表面相粘结,所述器件区域位于所述支撑结构与所述粘合单元围成的凹槽内。

11.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述保护盖板的材料为可透光材料。

12.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述芯片单元还包括:

焊垫,位于所述第一表面上且位于器件区域之外;

从所述芯片单元的第四表面贯穿所述芯片单元的通孔,所述通孔暴露出所述焊垫,所述第四表面与所述第一表面相对;

覆盖所述芯片单元的第四表面以及所述通孔侧壁表面的绝缘层;

位于所述绝缘层表面且与所述焊垫电连接的金属层;

位于所述金属层以及绝缘层表面的阻焊层,所述阻焊层具有暴露出部分所述金属层表面的开孔;

填充所述开孔、并暴露在所述阻焊层表面之外的焊接凸起。

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