转运装置的制作方法

本实用新型涉及半导体加工领域，特别是一转运装置。

背景技术：

半导体晶棒滚圆、开槽是半导体加工过程中非常重要的一步加工步骤。而在对半导体晶棒加工前，半导体晶棒能否精准定位将极大的影响到后续滚圆过程中半导体晶棒的利用率高低。现有的半导体滚圆开槽机采用卧式加工的方式，而该种加工方式在精准定位半导体晶棒时往往需要校准半导体晶棒的X轴及Y 轴状态，该种精准方式操作繁琐，效率低下。

技术实现要素：

为解决上述问题，本实用新型提供了一种用于辅助半导体晶棒竖向定位且可实现转运半导体晶棒的具有多种工能的转运装置。

为实现上述目的及其他相关目的，一种转运装置，包括：

XY平面驱动装置，设置于机座上用于驱动转运装置在XY平面内的水平移动；

第一机架，固设于所述XY平面驱动装置上；

万向承载台，设置于第一机架底部，用于支撑半导体晶棒下部端面；

压紧装置，设置于万向承载台上方，与所述万向承载台协同作用竖向夹紧半导体晶棒并驱动所述半导体晶棒转动。

本实用新型通过万向承载台实现了对两端具有倾斜端面的半导体晶棒在竖向夹紧时的自适应贴合，保证了半导体晶棒转动时的稳定性；同时，XY平面内的可移动设置使得本实用新型具备了转运功能，减少了转运过程中所需的反复定位，提升了加工效率。

本实用新型转运装置的进一步改进在于，所述万向承载台与第一机架之间通过调节平台连接；所述调节平台包括：Y轴调节台，与第一机架之间可沿Y 轴移动连接；X轴调节台，与Y轴调节台之间可沿X轴移动连接；所述Y轴调节平台、X轴调节平台通过设置在第一机架底部且位于调节平台四侧的调节螺钉调节定位。

本实用新型转运装置的进一步改进在于，所述压紧装置，包括：

压紧盘，设置于万向承载台上方并与万向承载台共轴；

压紧机构，设置于第一机架上驱动与之连接的压紧盘竖直升降；

旋转驱动，设置于第一机架上并驱动与之连接的压紧盘转动以带动夹紧于万向承载台与压紧装置之间的半导体晶棒转动。

本实用新型转运装置的进一步改进在于，所述压紧机构为丝杆结构，包括固设在第一机架顶部的压紧驱动机构；与所述压紧驱动机构的输出轴连接的丝杆；可在转动的丝杆驱动下实现升降的压紧臂梁。

本实用新型转运装置的进一步改进在于，所述压紧盘具有万向调节功能。

附图说明

图1是本实用新型的带有护罩的立体结构示意图；

图2是本实用新型去除护罩后的立体结构示意图；

图3是本实用新型去除护罩后的另一视角的结构示意图；

图4是本本实用新型的正视图；

图5是本实用新型的左视图；

图6是本实用新型的俯视图；

图7是竖向固定装置的结构示意图；

图8是竖向固定装置另一视角的结构示意图；

图9是半导体晶棒装夹在竖向固定装置上时的状态示意图；

图10是半导体晶棒装夹在竖向固定装置上时的俯视图；

图11是夹爪调节装置的结构示意图；

图12是夹爪调节装置的后视图；

图13是半导体晶棒装夹在转运装置上时的状态示意图；

图14是半导体晶棒装夹在转运装置上时的另一视角的状态示意图；

图15是组合砂轮的结构示意图；

图16是组合砂轮的剖面图；

图17a～17c是组合砂轮的剖面示意图以及作用在半导体晶棒上时与半导体晶棒之间的相对位置的示意图。

附图标记：1000.机座 2000.上料平台 2100.翻转机构 2110.托架 2200. 转动轮组 2300.固定装置 2310.压紧杆 2320.旋转气缸 3000.竖向定位装置 3100.第二机架 3110.纵向滑轨 3200.竖向固定装置 3210.上夹紧装置 3211.第一刀架 3211a.纵向滑槽 3211b.水平滑轨 3212夹爪 3212a.V形凹槽 3212b.水平滑槽 3213.夹爪驱动装置 3213a.第一驱动单元 3213b.传动齿条 3213c.传动齿轮 3214.压紧块 3215.对射传感器 3216.外径测量装置 3220.下夹紧装置 3221.第二刀架 3300.夹爪调节装置 3310.升降装置 3311.驱动电机 3312.第一减速机 3313.传动链条 3320.锁止装置 3321.锁定链轮 3322.锁止机构 3323.锁紧气缸 3324.锁止部 3325.保持部 3326.防脱离机构 4000.晶向定位仪 5000.磨削装置 5100.魔头升降装置 5200.砂轮驱动电机 5300.组合砂轮 5310.精磨砂轮本体 5311.第一定位台阶 5320.粗磨砂轮本体 5321.第二定位台阶 5330.切合砂轮本体 5331.第一定位圈 5332.第二定位圈 5340.巨魔砂圈 5350.粗磨砂圈 5360.切割砂圈 5370.排屑槽 6000.卸料平台 7000.转运装置 7100.XY平面驱动装置 7110.X轴滑台 7120.Y轴滑台 7200.第一机架 7300.万向承载台 7400.压紧装置 7410.压紧盘 7420.旋转驱动 7430.压紧驱动机构 7431.伺服电机 7432.第二减速机 7433.丝杆 7434. 压紧臂梁 8000.安全护罩 7500.调节平台 7510.Y轴调节台 7520.X轴调节台 7530.调节螺钉 9000.半导体晶棒

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本实用新型的不同结构。为了简化本实用新型的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本实用新型。此外，本实用新型可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本实用新型提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

参阅图1至图6所示，本实用新型的一种半导体晶棒立式滚圆开槽机，包括机座1000，在机座上则沿X轴方向依序的设置有上料平台2000、竖向定位装置3000、晶向定位仪4000、磨削装置5000、卸料平台6000以及将半导体晶棒在各个工作区内转运并驱动半导体晶棒在滚圆时转动的转运装置7000。

参阅图2、图3所示，上料平台包括一翻转机构2100，该翻转机构与机座铰接并在液压缸(图中未示出)的驱动下实现90°翻转。同时，在该翻转机构 2100上设置有两排X轴方向延伸的转动轮组2200以便于将半导体晶棒9000导入至上料平台中。在翻转机构的侧旁设置有两个固定装置2300，该固定装置包括一根压紧杆2310以及一个固定在翻转机构2100上的旋转气缸2320组成，上料时旋转气缸驱动压紧杆转动至翻转机构2100上方，并驱动压紧杆回缩转动到位后的压紧杆至抵压在半导体晶棒9000上以将半导体晶棒固定在上料平台上，同时在翻转机构的下方还设置有托架2110，用于承托被竖立起来的半导体晶棒防止其从上料平台2000下方掉落，以及限定半导体晶棒在被竖立起来后其下端面的最低下限位，优选的，该托架上设置有一半圆形凹口，以便于转运时转运装置7000对半导体晶棒9000下端面的承托。

当半导体晶棒翻转90°后，转运装置7000动作，移动至上料平台处夹紧位于半导体晶棒两端，于此同时，上料平台2000中的固定装置2300回复至初始位置以松开半导体晶棒。然后半导体晶棒9000被带离上料平台；上料平台翻转 90°回复至初始位置。

参阅图图2、图3、图13及图14所示；转运装置7000包括，能够在机座上实施XY平面内水平移动的XY平面驱动装置7100，该XY平面驱动装置由一个与机座1000滑动连接并可在机座上沿X轴方向移动的X轴滑台7110以及设置在X轴滑台上并可沿Y轴方向移动的Y轴滑台7120组成。第一机架7200 固定在Y轴滑台上，通过XY平面驱动装置7100调整其位于XY平面内的精确坐标。万向承载台7300可转动的设置在第一机架7100的底部。同时，在本实施例中，上述的万向承载台中的万向调节部分与其本体之间存在较大的阻尼(即万向调节部分必须在半导体晶棒重压下才会发生适应半导体晶棒端面角度的偏转，而在随半导体晶棒转动时则不会在半导体晶棒与万向承载台本体之间的相对转动)。

在万向承载台的上部设置有一压紧装置7400，用于将落位在万向承载台 7200上的半导体晶棒9000夹紧。该压紧装置的详细结构为：一个设置在万向承载台上方的且同样具有端面万向调节功能的压紧盘7410，压紧盘与下方的万向承载台共轴线，且在与其连接的旋转驱动7420的驱动下带动半导体进帮转动。同时该旋转驱动固定在可沿Z轴轴向升降的压紧机构7430上，以实现对半导体晶棒9000的夹紧固定。在具体实施方式中，旋转驱动可以为伺服电机、步进电机等。

详细的，该压紧机构包括具体结构包括，固定设置在第一机架7200顶部的压紧驱动机构7430，该压紧驱动机构由一伺服电机7431及一第二减速机7432 组成，在该第二减速机的输出轴上则固定连接有一随输出轴转动的丝杆7433，该丝杆纵向设置。同时在第一机架7200上还水平的设置有一压紧臂梁7434，其一端与丝杆螺接，并可在转动的丝杆驱动下实现精准的上下移动，一端固定的上表面固定安装有旋转驱动7420，并带动与旋转驱动7420固定连接的压紧盘 7410同步升降。在本实施例中，优选的，为了保证压紧臂梁在被丝杆驱动的过程中自身不会发生旋转，压紧臂梁与第一机架之间通过滑槽与滑轨形式。

在实际使用中，万向承载台和压紧盘在安装过程中难免会出现同心度不够的情况，而为了能够改善该种情况以使其能够在使用时能够随时保持万向承载台7300与压紧盘7410共轴转动，在万向承载台的底部设置有一调节平台7500。该调节平台包括：Y轴调节台7510，该Y轴调节台与第一机架的底部滑动连接通过T形滑槽实现滑动连接，用于调节其与第一机架之间在Y轴方向上的相对位置；以及一滑动安装在Y轴调节台7510上的X轴调节台7520，该X轴调节台与Y轴调节台之间同样通过T形槽滑动连接并且X轴滑台可在Y轴滑台上进行X轴方向位置的调节。同时在第一机架的底部设置有至少四个调节螺钉7530，分设在调节平台的四周，通过旋转拧转调节螺钉实现轴伸长度的改变，进而起到对X轴滑台和Y轴滑台定位调节。

已知，半导体晶棒截断时因为工艺及加工方式问题，必然会出现其两端的端面与自身的中心轴线垂直度不够，从而使得转运装置在装夹半导体晶棒时必然存在Z轴方向的偏转。因此在滚圆半导体晶棒前为了提升半导体晶棒的利用率，必然要对其进行Z轴方向的精确定位。

如上述所述，当半导体晶棒9000被转运装置7000带离上料平台后，通过调节XY平面驱动装置7100的位置，将半导体晶棒送入至竖向定位装置中，竖向定位装置随即对该半导体晶棒9000进行定位。

结合图2、图3、图7～图10所示，竖向定位装置3000包括：第二机架3100、竖向固定装置3200以及夹爪调节装置3300。其中，第二机架固定设置在机座 1000上，竖向固定装置则包括可在夹爪调节装置驱动下各自独立升降的上夹紧装置3210和下夹紧装置3220。

详细的，上夹紧装置包括与第二机架3100滑动连接的第一刀架3211。该第一刀架呈凹字型，其开口面向转运装置以方便半导体晶棒的进入。在第一刀架凹口两侧的悬臂上相正对的安装有两个用于定位以及夹紧半导体晶棒的夹爪 3212,以及两个相正对的用于测量半导体晶棒上部端面位置的对射传感器3215。其中，为了更加准全的定位半导体晶棒，使之能够在定位后与转运装置7000中的万向承载台以及压紧盘的转轴同轴度更高，两个夹爪的想对面上设置有一用于引导半导体晶棒趋向两个夹爪中心的V形凹槽3212a。优选的，该V形凹槽3212a的两条斜边为对称设置，且与V形凹槽的槽底之间的夹角范围在120°～150°。而该角度的最优选择则为135°，此时两条斜边之间的夹角为90度，则可保证半导体晶棒的周圈上能够均匀的受到四个互为九十度均衡的径向推力，从而提升半导体晶棒定位的精度。同时在第一刀架上还固定的安装有一夹爪驱动装置3213，该夹爪驱动装置能够驱动与之连接的两个夹爪作同步的相对运动，即同步张开或者同步合拢。在本实施例中，对射传感器用于后续半导体晶棒高度的测量以及检测半导体晶棒是否进入至竖向定位装置中；

而下夹紧装置3220则包括一与第二机架3100滑动连接的第二刀架3221，该第二刀架位于第一刀架下方且水平设置，同时该第二刀架结构同样呈开口面向转运装置7000的“凹”字形。在第二刀架的两个伸出的悬臂上同样相正对的安装有两个用于定位以及夹紧半导体晶棒的夹爪3212,以及两个相正对的用于测量半导体晶棒上部端面位置的对射传感器3215。并且在第二刀架上也同样安装有夹爪驱动装置3213，用于驱动两个夹爪同步的张开或者合拢。在本实施例中，对射传感器用于检测半导体晶棒是否进入至竖向定位装置中。

在本实施例中，当半导体晶棒被转运装置送入到位后，上夹紧装置上升，并通过对射传感器测得半导体晶棒的上端坐标数值，并通过所测得数据换算出半导体晶棒长度以确定下一步上夹紧位置定位和固定半导体晶棒时的夹持位置。

当半导体晶棒的长度测得，且上、下夹紧装置的夹持位置确定后，上夹紧装置3210、下夹紧装置3220工作，二者的两个夹爪3212同步的合拢。当合拢至一定位置时，上夹紧装置中的一个夹爪以及下夹紧装置中的一个夹爪必然与半导体晶棒一侧的倾斜面先行接触并对接触处施加一个持续的径向推力，随着上、下夹紧装置中夹爪组的持续合拢，半导体晶棒被慢慢矫正，直至上、下夹紧装置中的夹爪组合拢到位后(即两个夹爪中的四个斜面全都夹持在半导体晶棒的侧立面上)，此时半导体晶棒中线轴线的Z轴精确定位完成。

在本实施例的基础上，为了防止在定位校准的过程中夹爪组3212合拢时碰伤半导体晶棒，在夹爪3212a的两个斜面上分别设计有一块压紧块3214，该压紧块的材质为聚氨酯材质。(聚氨酯具有较大的刚性，在夹爪组与半导体晶棒的挤压下不会发生较大的形变，从而影响半导体晶棒的定位校准精度，且聚氨酯与半导体晶棒之间可产生较大的摩擦力，使的竖向固定装置能够较好的固定半导体晶棒。防止其出现滑动等现象。

结合图7和图12所示，在本实施例中，夹爪驱动装置3213包括：第一驱动单元3213a(具体实施方式中，该第一驱动单元可以为伸缩气缸、液压缸等具有轴向伸缩功能的驱动装置)。以伸缩气缸为例，伸缩气缸的伸缩杆的端部与两个夹爪3212中的其中一个固定连接，并将该夹爪作为主动夹爪，而伸缩气缸的缸体则分别固定在相应的第一刀架3211、第二刀架3221上。同时在两个夹爪上均水平的设置有一传动齿条3213b，在这两条传动齿条之间则设置有分别与这两条传动齿条相啮合的传动齿轮3213c。当需要夹住组合拢时，伸缩气缸的伸缩杆伸出，驱动与之连接的夹爪相另一夹爪靠拢，此时作为主动的夹爪通过两条传动齿条及传动齿轮的传动，带动另一从动的夹爪3212向主动夹爪靠拢以实现夹爪组的同步合拢。而当两个夹爪需要张开时，只需反向操作，即缩回伸缩气缸的伸缩杆即可完成。在本实施例中，优选的，为了保证传动的稳定性以及传动齿条3213b与传动齿轮采用斜齿结构。

在上述实施例的基础上，优选的，为了保证上夹紧装置3210及下夹紧装置 3220在第二机架3100上的升降时的稳定性，在第二机架上纵向的设置有至少一条的纵向滑轨3110，而在第一刀架3211及第二刀架3221上则分别设置有与之相适配的纵向滑槽3211a；

进一步地，为了能够保证夹爪3212在第一刀架、第二刀架上的稳定，防止出现被半导体晶棒过重而导致的夹爪变形，第一刀架3211、第二刀架3221上分别水平的设置有至少一条的水平滑轨3211b，而在夹爪3212上则设置有与之适配的水平滑轨相适配的水平滑槽3212b。

上述半导体晶棒定位过程中为半导体晶棒长度测量而所需的上夹紧装置 3210升降、下夹紧装置3220升降功能均通过夹爪调节装置3300实现。

结合图11、图12所示，夹爪调节装置3300包括：升降装置3310、锁止装置3320。

其中，升降装置的详细结构为，一台安装在第二机架3100顶部的驱动电机 3311、与驱动电机连接的第一减速机3312；一条纵向设置的传动链条3313，该传动链条绕设在上下分布的两个链轮上。上述两个链轮中位于上方的链轮固定在第一减速机输出轴的轴端上，而下方的链轮则可转动的固定在第二机架3100 的底部。在具体实施方式上，驱动电机3311可以为实施精确传动的步进电机、伺服电机等。

而锁止装置3320则包括锁定链轮3321和锁止机构3322，其中锁定链轮可转动的安装在第二刀架3221上，且与传动链条相啮合。锁止机构则同样固定在第二刀架上并通过与锁定链轮之间的结合、脱离来控制锁定链轮与传动链条之间的相对状态(即锁定链轮锁止在传动链条上或锁定链轮可相对传动链条转动)。

在具体实施方式上，锁止机构3322的详细结构为：包括一台固定安装在第二刀架上的锁紧气缸3323，该锁紧气缸的伸缩杆可沿锁定链轮的径向伸缩，同时在锁紧气缸的伸缩杆的端部上固定有一锁止部3324，该锁止部外部轮廓为矩形块结构，在该锁止部靠近锁定链轮一侧设置有一插销，当锁止部被锁紧气缸带动伸入锁定链轮时，锁定链轮卡死锁定链轮，使之与传动链条之间不再产生相对转动。此时，下夹紧装置随传动链条同步的升降。

同时，在具体实施过程中，因为锁止部3324在进入锁定链轮后，其所受的来自锁定链轮的作用力较大，容易导致锁紧气缸的伸缩杆在长时间的受力过程中产生形变，影响锁紧气缸的使用寿命。为了解决该问题，在第二刀架3221上还固定的设置有一保持部3325，该保持部由两块压板构成，分设在锁止部的两侧，且与第二刀架之间形成一平行于锁止气缸伸缩方向的滑动通道，锁止部可滑动的设置在该滑动通道中。当锁止部受到来自锁定链轮的较大作用力而要改变锁紧气缸的伸缩杆形态时，保持部压制在锁止部上方，起到一个稳定作用。

在其他可实现方式中，该保持部3325还可以是一沿着锁止部运动轨迹方向设置的长方块，在该长方块中设置有一滑槽，锁止部滑动设置在该滑槽中，并沿着锁定链轮径向的运动。

进一步地，已知，在某些情况下，传动链条在传动过程中可能会出现抖动情况，导致传动链条与锁定链轮之间脱离啮合，从而使得下夹紧装置与传动链条之间脱离连接。为了消除该种情况出现的可能。锁止机构中还设置了一个防脱离机构3326，该防脱离机构为U型结构，其两条平行侧边固定在第二刀架3221 上以使防脱离机构能够随下夹紧装置同步升降，而位于底部的防脱离机构3326 的槽底则与传动链条相贴近。当传动链条抖动而即将与锁定链轮脱离啮合时，防脱离机构的槽底则必然对传动链条施加一个朝向锁定链轮径向的作用力，从而阻挡挡传动链条从锁定链轮上脱离。

由上述可知，当半导体晶棒被上夹紧装置3210、下夹紧装置3220夹持并定位完成后，转运装置7000中的压紧装置7400上升与半导体晶棒的上端面脱离接触，而后半导体晶棒在竖向定位装置的作用下先整体抬升至离开万向承载台 7300台面一定距离，然后再在竖向竖向定位装置驱动下快速下落到万向承载台上，从而对万向承载台中的万向调节部分产生一个较大的冲击力，从而强迫该万向调节部分发生适应半导体晶棒下部端面切斜角度的角度转换，最后压紧装置中的压紧盘在压紧驱动装置作用的强压下，压紧盘的万向调节部分也发生适应半导体晶棒上部端面切斜角度的角度转换。此时转运装置夹紧半导体晶棒 9000完成，可进行下一步的半导体磨削作业。

结合图3、图15所示，磨削装置5000包括：固定设置在机座1000上的魔头升降装置5100、固定在魔头升降装置上并在魔头升降装置的驱动下实现升降功能的砂轮驱动电机5200，以及固定安装在砂轮驱动电机的输出端上并随其共同升降的组合砂轮5300。在本实施例中，组合砂轮具有粗磨、精磨、开槽功能；当需要对半导体晶棒实时粗磨、精磨作业时，通过转运装置7000调整半导体晶棒与组合砂轮5300之间的相对位置，使得转动的半导体晶棒与转动且上下移动中的组合砂轮中的粗磨工作区及精磨工作区相接触，以达到组合砂轮5300对半导体晶棒9000的外侧壁产生磨削作业。

而当需要割槽时，则需先将粗磨和精磨完毕的半导体晶棒转运至径向定位仪4000处进行内部晶相结构的测定，并在测定后转动半导体晶棒至所需割槽位置，而后通过转动的组合砂轮进行纵向的割槽作业。

具体的，结合图17a～17c所示，为使组合砂轮具有上述的粗磨、精磨、割槽功能，如图15、图16所示，组合砂轮5300依次包括直径依序增大的精磨砂轮本体5310、粗磨砂轮本体5320、切割砂轮本体5330。其中，精磨砂轮本体和精磨砂轮本体都安装在切割砂轮本体上，且精磨砂轮本体轴向突出于粗磨砂轮本体，三者呈阶梯状排布。而切割砂轮本体则与砂轮驱动电机的输出端固定连接。与此同时，精磨砂和粗磨砂轮面向半导体晶棒的一面上分别设置有相对应的精磨砂圈5340、粗磨砂圈5350；而在切割砂轮本体的轮缘上则设置有切割砂圈5360。

在实际使用过程中，因为半导体晶棒9000硬度较高，容易造成组合砂轮的中精磨砂轮本体5310与切割砂轮本体5330之间，粗磨砂轮本体5320与切割砂轮本体5330之间，均通过螺栓实现可拆卸连接。从而方便工人对使用过程中磨损严重的部分作出更换。同时上述组合砂轮整体可拆卸的安装在砂轮驱动电机 5200的输出端上。

在上述实施例的基础上，为了能够保证组合砂轮中的精磨砂轮本体、粗磨砂轮本体、切割砂轮本体在装配在一起后的同心度，在切割砂轮本体与精磨砂轮本体及粗磨砂轮本体相接处的一面上，分别设置有第一定位圈5331和第二定位圈5332。这两个定位圈均凹设与切合砂轮本体上，且与切割砂轮本体同心设置。同时在精磨砂轮本体面向切割砂轮本体的一侧则设置有与精磨砂轮本体同心的第一定位台阶5311，安装时，第一定位台阶嵌套在第一定位圈中，以保证精磨砂轮本体与切割砂轮本体之间的同心度。而粗磨砂轮本体面向切割砂轮本体的一侧则设置有与粗磨砂轮本体同心的第二定位台阶5321，安装时，该第二定位台阶嵌套在第二定位圈中，以保证粗磨砂轮本体与切割砂轮本体的同心度。同时上述结构也有利于工更换部件是的快速找准。在本实施例中，第一定位圈、第一定位台阶；第二定位圈、第二定位台阶的轮廓为圆形，但是上述组合的轮廓并不仅仅局限于圆形，也可以是规则的多边形等。

在上述实施例的基础上，在精磨砂圈5340、粗磨砂圈5350上均呈轮辐状的均设有若干个排屑槽5370，以用于组合砂轮磨削半导体晶棒是被摩除的废料能够快速的从该排屑槽中排出，防止出现废料无法快速排出而滞留在半导体晶棒与组合砂轮之间而降低磨削精度。优选的，排屑槽为U型凹槽。

在上述实施例的基础上，精磨砂圈5340、粗磨砂圈5350、切割砂圈5360 中用于对半导体晶棒9000产生磨削的有效成分为金刚砂。

在实际的磨削过程中，为了防止出现半导体晶棒表面出现阴阳面(组合砂轮在磨削半导体晶棒是有多个同时在半导体晶棒表面磨削产生)，组合砂轮5300 与半导体晶棒的轴线之间存在一定夹角。

进一步地，在磨削半导体晶棒外表面时，为了提升磨削的精准度，提升半导体晶棒整体的利用率。在竖向定位装置对半导体晶棒完成定位以及转运装置完成夹持后，竖向定位装置还可对半导体晶棒的外径进行测量。

而该测量动作则可通过分别安装在上夹紧装置3210和下夹紧装置3220上的外径测量装置3216完成。该外径测量装置沿半导体晶棒径向设置，当需要测量半导体晶棒时，转运装置转动半导体晶棒，外径测量装置3216通过接触半导体晶棒周圈测算出其外径数值，并将数值发送至PLC控制单元，PLC控制单元则根据所测得的半导体进晶棒外径数据换算出所需的进刀量。

当半导体晶棒磨削和切割完成后，转运装置将半导体转运至卸料平台处，卸料平台6000接受半导体晶棒9000，而后通过卸载至运料小车上。

其中，上述卸料平台的结构与上料平台相同，其卸料过程为上料过程的返现操作。

同时，在本实用新型外部还设置有以将本实用新型全部封闭的安全护罩 8000，用于保护外部工作人员，而在安全护罩上则设置有多个可开闭的观察门。