一种铌锌酸铅-钛酸铅单晶材料及其热释电应用的制作方法

文档序号:8052707阅读:505来源:国知局
专利名称:一种铌锌酸铅-钛酸铅单晶材料及其热释电应用的制作方法
技术领域
本发明涉及一种铌锌酸铅-钛酸铅单晶材料及其制备方法和应用,属于热释电单晶领域。
背景技术
热释电红外探测器成本低、响应广、无需制冷、结构紧凑、使用方便,在军事、民用、 商用红外探测器件中显示出重要的地位;作为非制冷的红外探测器,其作用过程包括红外波长光到热的转换、热到电的转换两个过程,其中热释电材料是热释电探测器的核心元件,它的性能的优劣直接决定红外探测的效果;基于铁电材料热释电性能的热释电探测器和列阵型器件,已获得广泛应用;目前应用的热释电材料,包括钽酸锂(LT)、硫酸三甘氨酸 (TGS)单晶,铌铁锆酸铅(PZ-FN)、改性钛酸铅(PT)陶瓷等;上述材料中,LT热释电系数小、 电容率低,不适合于探测器阵列中的小面积探测器,且热扩散系数太大,难以提高热释电探测器的横向热时间常数;TGS容易水解,需要密封,且介电损耗较大、探测优值不高,居里温度较低(49°C左右),加工使用不方便;陶瓷材料方面,各种探测优值都不高;热释电材料的性能局限,限制了热释电探测器的使用范围,因此,人们一直致力于寻找综合性能优异的新型热释电单晶材料,具有热电系数大、电流响应优值、电压响应优值和探测优值高、热扩散系数小、性能稳定、容易加工使用等特点。大尺寸、高质量的弛豫铁电单晶铌锌酸铅-钛酸铅(PZNT)的生长成功,是近年来无机功能材料领域的一项重大突破;PZNT铁电单晶的压电性能远远高于PZT系压电陶瓷, 压电应变常量d33达2200 pC/N、机电耦合系数k33达90-95%、电致伸缩应变最大达1. 7%,因而有望在医用超声成像仪、高应变固体驱动器和高灵敏度声纳等方面获得广泛的应用;近年来,人们对PZNT单晶的晶体生长、电学性能、准同型相界(MPB)效应及其结构本质展开了深入地研究,有关PZNT单晶的电光性能、电致伸缩效应的研究也正在进行;然而,对于PZNT 单晶的热释电性能及其在热释电器件方面的应用迄今为止鲜见报道。方必军、罗豪甦等人用改进的Bridgman法成功地生长出大尺寸、高质量的PZNT 单晶(Bijun Fang, Haiqing Xu, Tianhou He, Haosu Luo, Zhiwen Yin, Growth of Pb [ (Zn1/3Nb2/3) 0.91Ti0.09] O3 single crystals using an allomeric seed crystal and their electrical properties, J. Am. Ceram. Soc. , 2004,87(6) : 991—995.),在国际上引起一定的反响;近年来,方必军、罗豪甦等人又用熔体法生长出了较大尺寸的PZNT单晶,为PZNT单晶的规模化生长提供了广阔的前景(罗豪甦,方必军,徐海清,贺天厚,铌锌酸铅钛酸铅固溶体单晶的熔体法生长,中国发明专利,专利号ZL 02 1 11002.6);单晶的生长成功为开发材料新的物理性能、拓展和促进单晶的应用打下了坚实的基础。最近,方必军、罗豪甦等人发现PZNT单晶具有较大的热释电系数和较高的热电探测优值,与现有的铁电材料相比,弛豫铁电单晶具有居里温度较高;电容率大,介电损耗小;热释电系数大,探测优值高;热扩散系数小;化学性质稳定,加工使用方便等特点;使用 PZNT单晶制作热释电探测器,可以提高热释电探测器的横向热时间常数,促进线列阵探测器的小型化,提高热释电探测器的综合性能,改善探测器的制作工艺,有望在非制冷红外探测和成像器件方面获得应用。

发明内容
本发明用改进的Bridgman法(利用异质同构的PMNT单晶做籽晶、PbO做助熔剂)和熔体法(利用异质同构的PMNT单晶做籽晶)生长化学组成为(1-x) Pb (ai1/3Nb2/3)03-rfbTi03 (PZNT)的单晶,其中 0<xS 0. 20 ; 用X射线衍射方法对PZNT单晶进行定向,选取<001>、<110>、<111>结晶学方向,采用电荷积分法测量PZNT单晶的热释电系数,测量了 PZNT单晶的介电性能和比热,计算了 PZNT单晶的热释电性能指标,结果表明,组成χ为0. 05-0. 15、方向为<001>、<110>、<111>的PZNT 单晶是性能良好的热释电材料,可以在红外探测和成像方面得到广泛的应用。本发明的目的在于通过对PZNT单晶的热释电系数和相关性能的表征,综合分析评价该单晶的热释电性能及其在红外探测器上的应用前景,实现使用PZNT单晶制备热释电探测器件。本发明的主要内容包括
(1) PZNT单晶的生长和后处理
PZNT单晶采用改进的Bridgman法或专利ZL 02 1 11002. 6报道的熔体法进行生长。改进的Bridgman法晶体生长中,以纯度大于99. 9%的氧化物PbO、ZnO, Nb2O5, TiO2为原料,按照化学式(l-x)Pb (Znl73Nb273)O3-XPbTiO3配成混合原料,其中0<x £ 0. 20, 用B位氧化物预合成法制备晶体生长所需的配合料(Bi jun Fang, Renbing Sun, Yuejin Shan, Keitaro Tezuka, Hideo Imoto, On the feasibility of synthesizing complex perovskite ferroelectric ceramics via a B~site oxide mixing route, Journal of Materials Science, 2007,42(22) : 9227-9233.),晶体生长过程利用异质同构的 0. 69Pb (Mgl73Nb273)O3-O. 31PbTi0s (PMNT)单晶做籽晶,PbO做助熔剂,晶体生长沿着PMNT籽晶的<110>或<111>方向,晶体生长过程炉温控制在1225-1275°c,沿坩埚下降方向固液生长界面的温度梯度为30-60°C /cm,坩埚下降速度为0. 2-0. 6 mm/h。熔体法晶体生长中,以纯度大于99. 9%的氧化物m30、ai0、Nb205、TiA为原料,按照化学式(1-x)Pb(Sv3Ntv3)O3-XinyriO3配成混合原料,其中ο<χ < ο. 20,用β位氧化物预合成法制备晶体生长所需的配合料,利用异质同构的0. 69Pb (Mgl73Nb273)O3-O. 3IPbTiO3 (PMNT) 单晶作为籽晶,不加助熔剂,用坩埚下降法进行PZNT单晶的熔体法生长,晶体生长沿PMNT 籽晶的(111)或(110)面,晶体生长炉的炉温控制在1380-1420°c,固液生长界面的温度梯度为40-80°C /cm,坩埚下降速度为0. 5-1. 0 mm/h。晶体生长过程籽晶生长技术的应用,有效地抑制了晶体生长过程自发成核的发生,有利于实现晶体的可控制生长,得到大尺寸、高性能的PZNT单晶;选择PMNT单晶作为籽晶,基于以下原因PMNT单晶与所生长的PZNT单晶的晶体结构差别较小;PMNT、PZNT 两种组分中只有Mg元素一种杂质,可以减少杂质的引入;本发明申请人采用专利号为ZL 99113472. 9的晶体生长方法,可以稳定地提供大尺寸、高质量的PMNT籽晶。用改进的Bridgman法或熔体法生长的不同组成的PZNT单晶,用X射线衍射定向仪进行定向,选取<001>、<110>、<111>结晶学方向进行切割,制成具有不同组成和方向的PZNT单晶材料。(2) PZNT单晶的介电性能、比热、热释电系数的测量
PZNT单晶1 kHz的介电性能用Agilent HP4194A/^94A精密阻抗分析仪测定;图1示例给出了 <001>切型PZNT单晶的介电常数、介电损耗与温度的关系,当温度从20°C增加到 70°C时,介电常数稳定增加,而介电损耗随温度的变化不大,并呈现下降的趋势。PZNT单晶的比热用Netzsch STA 429⑶差示扫描量热仪测定,测定过程用红宝石作为标准样品;室温下PZNT单晶的质量比热随组成变化不大,约为0. 30 J/g ·Κ,室温下 PZNT单晶的密度约为8. 0 g/cm3,计算可得PZNT单晶粉末的体积比热约为2. 40-2. IO6 J/m3· K。PZNT单晶的热释电系数用电荷积分法测量;图2示例给出了 <001>切型PZNT单晶的热释电系数与温度的关系,室温下0. 95PZN-0. 05PT、0. 9IPZN-0. 09ΡΤ、0. 85ΡΖΝ-0. 15ΡΤ 单晶的热释电系数分别为458、1713、460 ^ C/ m2 ·Κ,数值较大,随着温度的升高,当温度从 20°C增加 40°C 时,0. 95PZN-0. 05PT、0. 9IPZN-0. 09ΡΤ、0. 85ΡΖΝ-0. 15ΡΤ 单晶的热释电系数分别增加31. 8%、18· 9%,24. 9%,增加较平缓。(3) PZNT单晶的热释电性能指标
热释电材料的性能好坏通常用电流响应优值巧T/C;、电压响应优值GT/(Cv εο ;
)、探测优值^o ^ tm )]来评价,其中/7为热释电系数,C;为体积比热(J/ m3 · K), Α丨=8. 854 x 10_12 F/m为真空电容率, 为相对介电常数。表1给出PZNT单晶的热释电性能指标;当化学组成χ处于0. 05-0. 15之间、晶体学方向为<001>、<110>、<111>时,PZNT单晶的热释电系数达到18,0 C/K · m2、电流响应优值达到0. 0656 m2/C、探测优值达到55. 05 ^ Pa1/2 ;PZNT单晶室温性能稳定,易于加工,作为热释电材料使用时最高使用温度可以达到100°C ;利用PZNT单晶作为热-电转换的响应元可以制备高性能的热释电探测器,在便携式、非制冷红外探测和成像器件方面获得应用。


为了对本发明作更详细的描述,现结合实施例与图简介如下 图1 <001>切型PZNT单晶的介电常数、介电损耗与温度的关系; 图2 <001>切型PZNT单晶的热释电系数与温度的关系。
具体实施例方式实施例1
用B位氧化物预合成法制备晶体生长所需的配合料;原料按照化学式 0. 95Pb (Znl73Nb273) O3-O. 05PbTi03 (0. 95PZN-0. 05PT)配比,将纯度大于 99. 9% 的的 ZnO、 Nb2O5, TiO2氧化物原料,用湿法球磨混合均勻,所得浆料干燥后置于加盖的钼金坩埚中,在 950°C热处理2小时,得到主成分为铌铁矿结构的铌酸锌(ZnNb2O6);上述粉料加入计量比的氧化铅,湿法球磨混合均勻,所得浆料干燥后置于加盖的钼金坩埚中,在750°C热处理2小时,得到主成分为钙钛矿结构的铌锌酸铅-钛酸铅0. 95PZN-0. 05PT ;用改进的Bridgman法进行0. 95PZN-0. 05PT单晶的生长,采用异质同构的0. 69Pb (Mg1/3Nb2/3)O3-O. 31PbTi03(P丽Τ) 单晶作为籽晶,晶体生长沿籽晶的(111)面。晶体生长炉的炉温控制在1235-1245°C,PbO 作为助熔剂,0. 95ΡΖΝ-0. 05ΡΤ与助熔剂的物质的量比为45:55,保温6小时后,以0. 25-0. 40 mm/h的速率下降坩埚,生长PZNT单晶;晶体生长阶段,沿坩埚下降方向的固液生长界面的温度梯度维持在35-45°C /cm ;晶体生长结束后,以15_25°C /h的速率降温,为防止晶体开裂,在700°C保温4小时进行退火,然后,以55-75°C /h的速率降至室温。用X射线衍射定向仪进行定向,选取<001>、<110>、<111>结晶学方向进行切割,制成具有不同组成和方向的PZNT单晶材料;单晶样品极化后,可以制备出热释电性能优异的热释电材料,用来制备非制冷红外探测和成像器件,其性能如表1所示。实施例2:
0. 9IPb (Znl73Nb273) O3-O. 09PbTi03 (0. 9IPZN-0. 09PT)单晶的改进的 Bridgman 法生长, ZnO,Nb205>TiO2混合原料在950°C热处理1. 5小时,添加计量比的氧化铅后在750°C热处理 1. 5小时,晶体生长炉的炉温控制在1M5-1255°C,坩埚下降速率0. 35-0. 45 mm/h,固液生长界面的温度梯度维持在40-50°C /cm,其余条件同实施例1 ;用X射线衍射定向仪进行定向,选取<001>、<110>、<111>结晶学方向进行切割,制成具有不同组成和方向的PZNT单晶材料;单晶样品极化后,可以制备出热释电性能优异的热释电材料,用来制备非制冷红外探测和成像器件,其性能如表1所示。实施例3
0. 85Pb (Znl73Nb273) O3-O. 15PbTi03 (0· 85PZN-0. 15PT)单晶的改进的 Bridgman 法生长, ZnO, Nb2O5, TiO2混合原料在1000°C热处理4小时,添加计量比的氧化铅后在775°C热处理 1小时,晶体生长炉的炉温控制在1250-U65°C,坩埚下降速率0. 30-0. 45 mm/h,固液生长界面的温度梯度维持在45-60°C/cm,其余条件同实施例1 ;用X射线衍射定向仪进行定向, 选取<001>、<110>、<111>结晶学方向进行切割,制成具有不同组成和方向的PZNT单晶材料;单晶样品极化后,可以制备出热释电性能优异的热释电材料,用来制备非制冷红外探测和成像器件,其性能如表1所示。实施例4
用B位氧化物预合成法制备晶体生长所需的配合料;原料按照化学式0. 91PZN-0. 09PT 配比,将纯度大于99. 9%的的&ι0、Nb2O5, TiO2氧化物原料,用湿法球磨混合均勻,所得浆料干燥后置于加盖的钼金坩埚中,在950°C热处理1. 5小时,得到主成分为铌铁矿结构的铌酸锌(ZnNb2O6);上述粉料加入计量比的氧化铅,湿法球磨混合均勻,所得浆料干燥后置于加盖的钼金坩埚中,在750°C热处理1. 5小时,得到主成分为钙钛矿结构的铌锌酸铅-钛酸铅 0. 91PZN-0. 09PT ;上述粉料用冷等静压法压成料块。用坩埚下降法进行0. 91PZN-0. 09PT单晶的熔体法生长,采用异质同构的0. 69Pb (Mgl73Nb273)O3-O. 31PbTiOs (PMNT)单晶作为籽晶, 晶体生长沿籽晶的(111)或(110)面,籽晶的横截面积与生长晶体的横截面积之比为80% 以实现晶体尺寸的连续放大;单晶炉的炉温升至1380°C熔化料块和籽晶顶部的小部分,保温6小时后,以0. 65 mm/h速率下降坩埚,生长PZNT晶体;随着生长的进行,单晶炉的炉温以6°C /24h速率升温,生长结束时炉温最高可达1420°C;晶体生长阶段,沿坩埚下降方向的最大温度梯度可达80°C /cm,稳态生长阶段固液生长界面的温度梯度维持在50°C /cm ;晶体生长结束后,用降温马达降温,降温速率为10-20°C /h ;在晶体生长降温阶段,在700°C时所
权利要求
1.一种铌锌酸铅-钛酸铅单晶材料,其特征在于该单晶材料的化学组成为(I-X) Pb (Zn1/3Nb2/3) O3-XPbTiO3, 其中0<x -()!0 ;单晶的晶体学方向为<001>、<110>或<111>方向。
2.如权利要求1所述的一种铌锌酸铅-钛酸铅单晶材料,其特征在于X为0.05-0.15。
3.如权利要求1所述的一种铌锌酸铅-钛酸铅单晶材料的制备方法,其特征在于包括以下步骤a)按化学式组成(1-x) Pb (ai1/3Nb2/3) O3-XPbTiO3 配比,其中 0<x s 0. 20 ;通过B位氧化物预合成法制备晶体生长所需的配合料将混合均勻的氧化锌、五氧化二铌和二氧化钛混合原料,在850-1150°C煅烧1-4小时,然后加入计量比的氧化铅在 700-800°C热处理1-2小时;利用异质同构的铌镁酸铅-钛酸铅0. 69Pb (Mgl73Nb273) O3-O. 31PbTi0s (PMNT)单晶做籽晶,PbO做助熔剂,采用改进的Bridgman法生长PZNT单晶,PZNT单晶的生长沿PMNT籽晶的 <110>或<111>方向,晶体生长过程晶体生长炉的炉温控制在1225-1275 ,固液生长界面的温度梯度为30-60°C /cm,下降速度为0. 2-0. 6 mm/h。
4.如权利要求1所述的一种铌锌酸铅-钛酸铅单晶材料的制备方法,其特征在于包括以下步骤a)按化学式组成(1-x) Pb (ai1/3Nb2/3) O3-XPbTiO3 配比,其中 0<x < 0. 20 ;通过B位氧化物预合成法制备晶体生长所需的配合料将混合均勻的氧化锌、五氧化二铌和二氧化钛混合原料,在850-1150°C煅烧1-4小时,然后加入计量比的氧化铅在 700-800°C热处理1-2小时;利用异质同构的铌镁酸铅-钛酸铅0. 69Pb (Mgl73Nb273) O3-O. 31PbTi0s (PMNT)单晶做籽晶,不加助熔剂,用坩埚下降法进行PZNT单晶的熔体法生长,PZNT单晶的生长沿PMNT籽晶的<110>或<111>方向,晶体生长炉的炉温控制在1380-1420°C,固液生长界面的温度梯度为 40-800C /cm,下降速度为 0. 5-1. 0 mm/h。
5.如权利要求1所述的一种铌锌酸铅-钛酸铅单晶材料,其特征在于所述单晶的晶体学方向为<001>或<111>方向,三方相PZNT单晶为<111>方向、四方相PZNT单晶为<001> 方向。
6.如权利要求1所述的一种铌锌酸铅-钛酸铅单晶材料作为热-电响应元在非制冷红外探测和成像器件的应用。
全文摘要
本发明涉及一种铌锌酸铅-钛酸铅(PZNT)热释电单晶材料及其应用,属于热释电单晶领域。该单晶材料的化学组成为(1-x)Pb(Zn1/3Nb2/3)O3-xPbTiO3(0<x≤0.20),分别利用异质同构的0.69Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.31PbTiO3(PMNT)单晶做籽晶、PbO做助熔剂、采用改进的Bridgman法和熔体法生长获得。当化学组成x≤0.20、晶体学方向为、、时,PZNT单晶的热释电系数达到1875≤C/m2·K、电流响应优值达到781.3pm/V、探测优值达到55.05≤Pa-1/2。PZNT单晶室温性能稳定,易于加工,作为热释电材料使用时使用温度可以达到100℃。利用PZNT单晶作为热-电转换的响应元可以制备高性能的热释电探测器,在便携式、非制冷红外探测和成像器件方面能够获得应用。
文档编号C30B11/00GK102492991SQ20111041776
公开日2012年6月13日 申请日期2011年12月14日 优先权日2011年12月14日
发明者丁建宁, 方必军, 潘姗姗, 罗豪甦 申请人:常州大学
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