专利名称：整片oled基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法
技术领域：
本发明涉及OLED显示器的制造工艺，具体涉及一种整片OLED基板玻璃点亮老化 时检查串笔的走线方法。
背景技术：
整片OLED基板点亮老化时，使用在后盖打孔和用金属探针连接的方式，按照现有 的整片OLED基板点亮老化的方法，如图1所示，1)喷码；2)大片屏老化；3)切割、裂片；4) 控制板电测；5)邦定、贴片、点胶；6)模组老化、测试；7)喷码、包装。该方法先进行只能全 屏点亮，不能检查串笔的问题；在老化完成后，还需要用导电胶条直接接触单粒屏的引脚， 单独点亮每粒屏，来检查串笔，容易污染引脚而导致引脚腐蚀问题，而且还多了一个工序。
发明内容
本发明的目的是提供一种整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法， 该方法解决了现有技术OLED模组生产过程中存在的问题，能够在整片OLED基板点亮老化 同时检查串笔问题，既减少了流程，提高效率；还能够减少对引脚的污染，提高产品的质量。本发明的目的是通过下述技术方案来实现的，一种整片OLED基板玻璃点亮老化 时检查串笔的走线方法，该方法包括下述步骤1)喷码利用喷码机，在整片玻璃的每个屏的后盖上，用油墨做喷码；2)大片屏老化、电测利用老化机，将整片玻璃点亮，做显示检测，并分别点亮阴 极单线、阴极双线、阳极单线、阳极双线，检查串笔；这样切割裂片后就不需要再做单粒屏的 电测老化，就不需要用导电胶条直接接触到单粒屏的引线，从而减少了对单粒屏引线的污 染造成的腐蚀问题，提高了产品的质量。3)切割、裂片利用切割机将整片玻璃划分成一粒一粒的屏，再用裂片机断裂成 一粒一粒的屏；4)邦定、贴片、点胶利用邦定机，将IC邦定到屏上引脚端的邦定位置上；并用贴 片机将偏光片贴附到屏的正面；然后用点胶机在邦定的位置点上保护胶；5)模组老化、测试利用模组老化机，将模组点亮老化，然后利用电测机点亮模组 做显示的检测；6)喷码、包装利用喷码机，在每个模组上喷码标识，然后使用包装材料，将模组 包装好并真空密封。本发明方法步骤2)进一步地，将屏走线的阴极单线、阴极双线、阳极单线和阳极 双线4种线，分别各用一个短路块短接，然后分别点亮，其步骤如下①全屏点亮将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，将阳极 单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并点亮全屏；②检查阴极单线串笔将阴极单线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、 阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；
③检查阴极双线串笔将阴极双线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、 阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；④检查阳极单线串笔将阳极单线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、 阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔；⑤检查阳极双线串笔将阳极双线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、 阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔。所述全屏点亮是利用在OLED后盖玻璃对应屏引脚位置打孔，基板上每个屏的引 脚用短路块短接，通过金属探针和短路块连接通电，从而实现OLED整片基板玻璃点亮老 化。所述短路块连接，在引脚端将阴极单线、双线各连接成一个短路块；阳极单线或双 线的短路块一个在引脚端，另一个在引脚端的对边。本发明的有益效果是，减少了 OLED模组生产过程中的一个流程(参见图1、图2)， 提高了生产效率；由于旧流程中的“屏电测”容易污染引脚，而本发明的流程去掉了 “屏电 测”的过程。因此，本发明还可以减少对引脚的污染，提高产品的质量。
图1是现有技术的OLED模组生产流程图；
图2是本发明OLED模组生产流程图。
具体实施例方式下面结合附图和具体实施方式
对本发明进行详细说明。如图2所示，该整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法包括下述步 骤1)喷码利用喷码机，在整片玻璃的每个屏的后盖上，用油墨做喷码；2)大片屏老化、电测利用老化机，将整片玻璃点亮，做显示检测，并分别点亮阴 极单线、阴极双线、阳极单线、阳极双线，检查串笔；3)切割、裂片利用切割机将整片玻璃划分成一粒一粒的屏，再用裂片机断裂成 一粒一粒的屏；4)邦定、贴片、点胶利用邦定机，将IC邦定到屏上引脚端的邦定位置上；并用贴 片机将偏光片贴附到屏的正面；然后用点胶机在邦定的位置点上保护胶；5)模组老化、测试利用模组老化机，将模组点亮老化，然后利用电测机点亮模组 做显示的检测；6)喷码、包装利用喷码机，在每个模组上喷码标识，然后使用包装材料，将模组 包装好并真空密封。本发明方法步骤2)进一步地，将屏走线的阴极单线、阴极双线、阳极单线和阳极 双线4种线，分别各用一个短路块短接，然后分别点亮，其步骤如下①全屏点亮将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，将阳极 单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并点亮全屏；②检查阴极单线串笔将阴极单线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；③检查阴极双线串笔将阴极双线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、 阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；④检查阳极单线串笔将阳极单线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、 阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔；⑤检查阳极双线串笔将阳极双线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、 阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔。进一步地，全屏点亮是利用在OLED后盖玻璃对应屏引脚位置打孔，基板上每个屏 的引脚用短路块短接，通过金属探针和短路块连接通电，从而实现OLED整片基板玻璃点亮 老化。所述短路块连接，在引脚端将阴极单线、双线各连接成一个短路块；阳极单线或双 线的短路块一个在引脚端，另一个在引脚端的对边。当金属探针和每个短路块都连接上后，通过外置电路的控制，可以实现全屏点亮， 本发明的特点在于可以实现单独点亮阴极的单线或双线、阳极的单线或双线，从而可以在 整片OLED基板玻璃点亮老化时，检查串笔的问题。当点亮老化完成后，在切割成单粒的屏时，可以将短路块和多余的老化辅助线切掉。
权利要求
整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，其特征在于，该方法包括下述步骤1)喷码利用喷码机，在整片玻璃的每个屏的后盖上，用油墨做喷码；2)大片屏老化、电测利用老化机，将整片玻璃点亮，做显示检测，并分别点亮阴极单线、阴极双线、阳极单线、阳极双线，检查串笔；3)切割、裂片利用切割机将整片玻璃划分成一粒一粒的屏，再用裂片机断裂成一粒一粒的屏；4)邦定、贴片、点胶利用邦定机，将IC邦定到屏上引脚端的邦定位置上；并用贴片机将偏光片贴附到屏的正面；然后用点胶机在邦定的位置点上保护胶；5)模组老化、测试利用模组老化机，将模组点亮老化，然后利用电测机点亮模组做显示的检测；6)喷码、包装利用喷码机，在每个模组上喷码标识，然后使用包装材料，将模组包装好并真空密封。
2.根据权利要求1所述的一种整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，其 特征在于，所述步骤2)将屏走线的阴极单线、阴极双线、阳极单线和阳极双线4种线，分别 各用一个短路块短接，然后分别点亮，其步骤如下①全屏点亮将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，将阳极单 线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并点亮全屏；②检查阴极单线串笔将阴极单线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极 双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；③检查阴极双线串笔将阴极双线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极 双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；④检查阳极单线串笔将阳极单线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、阴极 双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔；⑤检查阳极双线串笔将阳极双线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、阴极 双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔。
3.根据权利要求2所述的一种整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法， 其特征在于，所述全屏点亮是利用在OLED后盖玻璃对应屏引脚位置打孔，基板上每个屏的 引脚用短路块短接，通过金属探针和短路块连接通电，从而实现OLED整片基板玻璃点亮老 化。
4.根据权利要求2所述的一种整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，其 特征在于，所述短路块连接，在引脚端将阴极单线、双线各连接成一个短路块；阳极单线或 双线的短路块一个在引脚端，另一个在引脚端的对边。
全文摘要
本发明公开了一种整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，该方法包括下述步骤1)喷码；2)大片屏老化、电测；3)切割、裂片；4)邦定、贴片、点胶；5)模组老化、测试；6)喷码、包装。整片基板点亮老化时，每个单粒的屏可以独立点亮老化。通过电路控制，除了全屏点亮外，还可以单独点亮阴极单线或双线，也可以单独点亮阳极单线或双线，从而检查是否有串笔问题。该方法解决了现有技术OLED模组生产过程中存在的问题，可以在整片OLED基板点亮老化同时检查串笔问题，既减少了流程，提高效率，还可以减少对引脚的污染，提高产品的质量。
文档编号G09G3/00GK101986376SQ20101029533
公开日2011年3月16日 申请日期2010年9月28日 优先权日2010年9月28日
发明者宁养社 申请人:彩虹显示器件股份有限公司