一种用于显示装置的测试装置的制作方法

本实用新型涉及一种测试装置领域，更具体地，涉及一种用于显示装置的测试装置。

背景技术：

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)现已成为市场上主流的显示技术,LCD的构造是:在平行的第一玻璃基板和第二玻璃基板之间设置液晶分子，第二玻璃基板上设置薄膜晶体管(Thin Film Transistor,简称TFT)，第一玻璃基板上设置彩色滤光片(Color Filter,简称CF)，通过对TFT提供不同的电压信号来控制液晶分子的转动方向，从而控制与每个像素点对应的光的偏转，最终达到液晶显示装置的显示目的。

装置是一种木工、铁工、以及其它一些手工艺品的大类工具，其主要是作为协助控制位置或动作(或两者)的一种工具。测试装置属于装置下面的一个类别，专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种装置。因其在生产线上主要用于产品的各项指标的测试，所以叫测试装置。

在对液晶显示装置进行量产前，需要进行大量的验证测试实验，其中经常进行的有可靠性老化(Reliability-Ageing，RA)实验、开/关(ON/OFF)实验、宽窄视角实验，以及脉冲宽度调制(Pulse Width Modulation，PWM)实验等。

现有的液晶显示装置测试装置在测试一个机种时，进行不同的实验需要更换不同的装置，以及下载不同的测试程序，降低了测试效率。对显示模组测试时，一个装置只能测试一片显示模组，同时测试多片显示模组时需要多套装置，测试成本增加。

技术实现要素：

有鉴于此，本实用新型针对现有技术中所存在的上述问题提供了一种用于显示装置的测试装置，以改善现有技术中，测试效率低，测试成本高的问题。

本实用新型提供了一种用于显示装置的测试装置，该测试装置包括：主控芯片，用于提供第一控制信号；存储器，其与所述主控芯片电连接，用于提供参数；时钟电路，其与所述主控芯片电连接，用于根据所述参数向所述主控芯片提供分集信号，其中，所述主控芯片根据所述分集信号产生测试信号；开关电路，其与所述主控芯片电连接，所述开关电路用于根据供电电压与所述第一控制信号产生背光信号与第二控制信号；功率集成电路，其与所述开关电路电连接，用于根据所述第二控制信号产生输入电压；分集模块，其分别与所述主控芯片、所述开关电路、所述功率集成电路电连接，用于根据所述背光信号、所述输入电压以及所述测试信号产生多个子测试信号，并将所述多个子测试信号提供至所述显示装置以对所述显示装置进行测试。

优选地，还包括：显示器，其与所述主控芯片电连接，用于显示测试结果；输入设备，通过输入接口与所述主控芯片相连，用于将手动设置的所述参数提供至所述主控芯片。

优选地，所述参数包括：定时时间与测试次数。

优选地，所述主控芯片具有多个测试程序，每个所述测试程序对所述显示装置进行相应的测试。

优选地，所述输入设备包括多个控制键以用于选择所述测试程序。

优选地，所述测试信号包括视角信号与脉冲宽度调制信号。

优选地，所述视角信号包括宽视角信号与窄视角信号。

优选地，所述分集模块具有多个测试接口，所述分集模块通过每个测试接口将所述子测试信号提供至相应的所述显示装置中。

优选地，所述存储器与所述主控芯片通过集成电路总线相连以提供所述参数。

优选地，所述时钟电路与所述主控芯片通过集成电路总线相连以提供所述分集信号。

本实用新型实施例的装置的有益效果是，设计了一种用于显示装置的测试装置，通过将多个测试程序存入一个测试装置的主控芯片中，使测试装置在进行一个机种的不同验证实验时，不需要更换装置以及程序，达到了提高了测试效率的目的；本实用新型还通过用分集模块将输出测试信号分为多个子测试信号的方法，使测试装置测试显示模组时，可以同时测多片显示模组，达到了大幅提高测试效率，降低测试成本的目的。

附图说明

通过以下参照附图对本实用新型实施例的描述，可以使本实用新型的上述以及其他目的特征和优点更为清楚。

图1示出本实用新型实施例的测试装置电路示意图。

图2示出本实用新型实施例的测试装置测试流程示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的和方案更加清楚，便于实施，下面将结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，可能未示出某些公知的部分。

在下文中描述了本实用新型的许多特定的细节，以便更清楚地理解本实用新型。但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本实用新型。

图1示出本实用新型实施例的测试装置电路示意图。

如图1所示，该测试装置包括主控芯片110、存储器120、显示器130、输入设备140、时钟电路150、开关电路160、功率集成电路170、分集模块180。

其中主控芯片110(用单片机实现)通过I/O接口(数字输入输出接口)分别与显示器130、开关电路160以及分集模块180相连；通过集成电路总线IIC分别与存储器120(用电可擦可编程读写存储器EEPROM实现)以及时钟电路150(用实时时钟RTC实现)相连；通过输入接口与输入设备140相连。其中，输入设备140可以用键盘、触摸屏等实现，输入接口可用PS2、USB等接口实现，PS2接口相比于USB接口的优点在于，在键位组合上，PS2接口可以实现全无冲突，即可以同时按下更多按键，相比于USB接口更加稳定。

主控芯片110用于存储多种测试程序，其中包括：RA实验测试程序、ON/OFF实验测试程序、HVA实验测试程序以及PWM实验测试程序；还用于通过集成电路总线IIC向存储器120提供参数，在该测试装置进行测试时，通过集成电路总线IIC从存储器120调用参数；还用于通过I/O接口向显示器130提供显示信号，通过I/O接口向开关电路160提供开关控制信号(第一控制信号)ctrl1，以及通过I/O接口向分集模块180提供测试信号，该测试信号包括视角信号HVA与脉冲宽度调制信号PWM，视角信号HVA包括宽视角信号与窄视角信号。

存储器120用于存储参数。

显示器130用于显示参数与测试信息。

输入设备140用于通过其上的控制键手动选择主控芯片110中的测试程序，还用于通过输入接口手动设置所述参数，其中，该参数包括执行每项测试程序所需的时间以及测试次数等相应的测试信息。

时钟电路150用于根据主控芯片110通过集成电路总线IIC提供的参数产生分集信号SQW，并将该分集信号SQW提供至主控芯片110，主控芯片110通过选定的测试程序与该分集信号SQW产生测试信号，其中，分集信号SQW用于控制每个测试接口依次输出相应的测试信号，即控制测试接口输出测试信号的启动和中断。

开关电路160用于根据供电电压VCC与开关控制信号ctrl1向分集模块180提供背光信号B/L；还用与根据供电电压VCC与开关控制信号(第一控制信号)ctrl1提供开关控制信号(第二控制信号)ctrl2控制功率集成电路170向分集模块提供输出电压VCI。

分集模块180具有第一测试接口01至第十测试接口10，分集模块180用于根据背光信号B/L、输出电压VCI以及测试信号产生十路相同的子测试信号，其中，脉冲宽度调制信号PWM用于承载宽窄视角信号HVA；每个子测试信号也包含了与脉冲宽度调制信号PWM相同的信息，每个子测试信号分别对应一个输出接口，即第一接口01至第十接口10。每个测试接口输出对应的子测试信号，对液晶显示器进行10片显示模组测试，实现了一个测试装置同时测试多片显示模组。即通过输入设备140选定的某个实验，对应时钟电路150控制每个接口对测试信号的输出与停止，以及输出测试信号的次数(对应接口的个数)。然而本实用新型实施例的参数设置不限于此，本领域技术人员可以根据实际需要进行相关设置。

为了更加清楚地说明本实用新型实施例提供的一种用于显示装置的测试装置，下面就该测试装置的工作流程进行详细的说明，图2示出本实用新型实施例的测试装置测试流程示意图。如图2所示，该测试装置进行测试的步骤分为：

S10，进行程序初始化。

S20，使用输入设备140通过输入接口手动选择主控芯片110中存有多种测试程序，即RA实验S21、ON/OFF实验S22、HVA实验S23以及PWM实验S24，选择相应的实验以后，显示器130进入与之对应的测试界面。

S30，根据所选择的试验，使用输入设备140通过输入接口手动设置不同的参数，该参数包括执行每项测试程序所需的时间以及测试次数等相应的测试信息，例如，ON/OFF实验所设置的参数为：开启时间ON为30秒，关闭时间OFF为30秒，HVA高电平进行10次，HVA低电平进行10次；HVA实验所设置的参数为：HVA低电平时间为30秒，HVA高电平时间为30秒；PWM实验所设置的参数为：HVA低电平时间为30秒，占空比为100％，HVA高电平时间为30秒占空比为47％，其中，HVA高电平为宽视角信号，HVA第电平为窄视角信号。该项实验的测试信息设置完成后，继续通过输入设备140控制主控芯片110选择下一项实验，进行该项试验的参数设置。当所有的试验参数依次设置完成后，把参数存入存储器中120进行存储。然而本实用新型实施例的参数设置不限于此，本领域技术人员可以根据实际需要进行相关设置。

S40，在使用该测试装置测试显示装置时，通过输入设备140选择试验，由主控芯片110从存储器中120中直接调用参数。

S50，在该测试装置进行试验的运行时，时钟电路150根据设置的每项测试程序所需的时间、测试次数等信息提供分集信号SQW，控制测试接口输出对应实验的测试信号，对显示装置进行测试。

本实用新型实施例的装置的有益效果是，设计了一种测试装置，通过将多个测试程序存入一个测试装置的主控芯片中，使测试装置在进行一个机种的不同验证实验时，不需要更换装置以及程序，达到了提高了测试效率的目的；本实用新型还通过用分集模块将输出测试信号分为多个子测试信号的方法，使测试装置测试显示模组时，可以同时测多片显示模组，达到了大幅提高测试效率，降低测试成本的目的。

应当说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

依照本实用新型的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本实用新型以及在本实用新型基础上的修改使用。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。