一种用于显示装置的测试装置的制作方法

技术特征：

1.一种用于显示装置的测试装置，其特征在于，包括：

主控芯片，用于提供第一控制信号；

存储器，其与所述主控芯片电连接，用于提供参数；

时钟电路，其与所述主控芯片电连接，用于根据所述参数向所述主控芯片提供分集信号，其中，所述主控芯片根据所述分集信号产生测试信号；

开关电路，其与所述主控芯片电连接，所述开关电路用于根据供电电压与所述第一控制信号产生背光信号与第二控制信号；

功率集成电路，其与所述开关电路电连接，用于根据所述第二控制信号产生输入电压；

分集模块，其分别与所述主控芯片、所述开关电路、所述功率集成电路电连接，用于根据所述背光信号、所述输入电压以及所述测试信号产生多个子测试信号，并将所述多个子测试信号提供至所述显示装置以对所述显示装置进行测试。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：

显示器，其与所述主控芯片电连接，用于显示测试结果；

输入设备，通过输入接口与所述主控芯片相连，用于将手动设置的所述参数提供至所述主控芯片。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述参数包括：定时时间与测试次数。

4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述主控芯片具有多个测试程序，每个所述测试程序对所述显示装置进行相应的测试。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述输入设备包括多个控制键以用于选择所述测试程序。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试信号包括视角信号与脉冲宽度调制信号。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述视角信号包括宽视角信号与窄视角信号。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述分集模块具有多个测试接口，所述分集模块通过每个测试接口将所述子测试信号提供至相应的所述显示装置中。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述存储器与所述主控芯片通过集成电路总线相连以提供所述参数。

10.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述时钟电路与所述主控芯片通过集成电路总线相连以提供所述分集信号。