技术总结
本申请公开了一种用于显示装置的测试装置，包括：主控芯片，用于提供第一控制信号；存储器，其与主控芯片电连接，用于提供参数；时钟电路，其与主控芯片电连接，用于根据参数向主控芯片提供分集信号，其中，主控芯片根据分集信号产生测试信号；开关电路，其与主控芯片电连接，开关电路用于根据供电电压与第一控制信号产生背光信号与第二控制信号；功率集成电路，其与开关电路电连接，用于根据第二控制信号产生输入电压；分集模块，其分别与主控芯片、开关电路、功率集成电路电连接，用于根据背光信号、输入电压以及测试信号产生多个子测试信号，并将多个子测试信号提供至显示装置以对显示装置进行测试。
技术研发人员：乔向洋;杨在野
受保护的技术使用者：昆山龙腾光电有限公司
技术研发日：2017.11.24
技术公布日：2018.05.29