一种阵列基板及其检测方法
【专利摘要】本发明公开了一种阵列基板及其检测方法。所述阵列基板包括显示区和检测区，在第一检测状态下，将第一至第六检测线路分成三组，依次向所述三组检测线路提供第一检测信号，以检测每行子区域中充电线和共享线的线路缺陷；在第二检测状态下，将第一至第六检测线路分成两组，依次向所述两组检测线路提供第二检测信号，以检测相邻行子区域中充电线和共享线的线路缺陷。
【专利说明】
一种阵列基板及其检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示【技术领域】，具体地说，涉及一种用于检测显示面板方法和显示面板。
【背景技术】
[0002]在传统的显示面板线路设计中，通常会在显示区域的外侧设计有环绕面板的称为短路杆(Shorting Bar)的外围走线，并将扫描线按照奇数(ODD)和偶数(EVEN)分别引出至外围走线，即整个面板上的奇数和偶数扫描线在显示区域的外围各自短接在一起。这种设计是为了在TFT制程的检测环节中，可以通过给奇数和偶数扫描线不同的电讯号来检查显示面板内是否存在短路或断路的情况，配合不同的数据信号还可以检查出其他类型的不良。短路杆(Shorting Bar)在检测后被断开或去除，不会影响到成品的正常显示。
[0003]为了改善垂直取向液晶显示器在大视角出现的色偏现象，会采用充电共享(Charge Sharing)的像素设计方案。图1为现有技术中具有短路杆的充电共享阵列基板的线路结构示意图。采用第N+2行充电扫描线(Charge Gate Line)信号来控制第N行电荷共享扫描线(Share Gate Line)的开启和关闭。如果第N行的充电扫描线和电荷共享扫描线之间发生短路，由于第N行的共享扫描线与后面第N+2行的充电扫描线相连，使得二者在顺序上皆为奇数或偶数，那么通过上述奇偶行分别引出短路杆的检测方式并无法在TFT制程段检出上述短路缺陷。只能依靠成盒(Cell)点灯甚至成品检测的方式方能检出，导致产品出现水平扫描线不良，良率降低。
[0004]现有技术中还提供一种在短路杆区域设置三条检测线路的阵列基板，如图2所示。检测线路G1、G2和G3依次连接至显示区域中的连续三行充电扫描线，并向三条检测线路依次提供检测信号。这种方案能够检测同一行中充电扫描线和电荷共享扫描线之间的短路缺陷，但检测方式更加复杂、耗时更长。特别是产品批量生产量后，由于各项制程已逐步稳定，上述短路缺陷出现的几率极低，继续采用该方案就会导致检测效率低下，影响产能。
【发明内容】
[0005]本发明所要解决的技术问题是现有技术中TFT制程阶段检测方式单一，并不能根据产品生产各个时期的良率状况切换检测方式，检测效率较低的缺陷。
[0006]为了解决上述技术问题，本申请的实施例提供一种阵列基板，包括:
[0007]显示区，其包括若干行子区域，每行子区域设置充电线和共享线，每行子区域的的共享线连接至行号增加值为偶数的子区域的充电线；
[0008]检测区，其包括第一至第六检测线路，所述第一至第六检测线路一一对应地连接至显示区中的连续六行子区域的充电线；
[0009]其中，在第一检测状态下，将第一至第六检测线路分成三组，依次向所述三组检测线路提供第一检测信号，以检测每行子区域中充电线和共享线的线路缺陷；
[0010]在第二检测状态下，将第一至第六检测线路分成两组，依次向所述两组检测线路提供第二检测信号，以检测相邻行子区域中充电线和共享线的线路缺陷。
[0011]在一个实施例中，在第一检测状态下，所述三组检测线路分别为第一和第四检测线路、第二和第五检测线路、第三和第六检测线路。
[0012]在一个实施例中，在第二检测状态下，所述两组检测线路分别为第一、第三和第五检测线路，以及第二、第四和第六检测线路。
[0013]在一个实施例中，所述第一检测信号有效时，通过充电线接收到第一检测信号的子区域的行号差值为3的倍数。
[0014]在一个实施例中，所述偶数为2或者4。
[0015]本申请的实施例还提供一种用于检测阵列基板的方法，所述阵列基板包括显示区和检测区，所述显示区包括若干行子区域，每行子区域设置充电线和共享线，每行子区域的的共享线连接至行号增加值为偶数的子区域的充电线；
[0016]所述检测区包括第一至第六检测线路，所述第一至第六检测线路一一对应地连接至显示区中的连续六行子区域的充电线；
[0017]所述方法包括以下步骤:
[0018]在第一检测状态下，将所述第一至第六检测线路分成三组，依次向所述三组检测线路提供第一检测信号，以检测每行子区域中充电线和共享线的线路缺陷；
[0019]在第二检测状态下，将所述第一至第六检测线路分成两组，依次向所述两组检测线路提供第二检测信号，以检测相邻行子区域中充电线和共享线的线路缺陷。
[0020]在一个实施例中，在第一检测状态下，所述三组检测线路分别为第一和第四检测线路、第二和第五检测线路、第三和第六检测线路。
[0021]在一个实施例中，在第二检测状态下，所述两组检测线路分别为第一、第三和第五检测线路，以及第二、第四和第六检测线路。
[0022]在一个实施例中，所述第一检测信号有效时，通过充电线接收到第一检测信号的子区域的行号差值为3的倍数。
[0023]在一个实施例中，所述偶数为2或者4。
[0024]本发明的有益效果在于，在检测区域中设置6条检测线路，提供两种检测状态，在两种状态下为6条检测线路提供不同的检测信号，产生不同的检测效果。可以根据TFT制程阶段的生产状况在两种检测状态下进行切换，提高检测效率和检测精度。
[0025]本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
【专利附图】
【附图说明】
[0026]附图用来提供对本申请技术方案或现有技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，但并不构成对本申请技术方案的限制。
[0027]图1是现有技术中具有短路杆的充电共享阵列基板的线路结构示意图；
[0028]图2是现有技术中另一种具有短路杆的充电共孚阵列基板的线路结构不意图；
[0029]图3是根据本发明实施例一的阵列基板的线路结构示意图。
[0030]图4是根据本发明实施例二的阵列基板的线路结构示意图。
【具体实施方式】
[0031]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下结合附图对本发明作进一步地详细说明。本申请实施例以及实施例中的各个特征，在不相冲突的前提下可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。
[0032]本发明所提到的方向用语，例如“上”、“下”、“左”、“右”、“前面”、“后面”等，仅仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明和理解本发明，而非用以限制本发明。
[0033]实施例一
[0034]图3是本实施例提供的阵列基板的线路结构示意图。该阵列基板包括显示区301和检测区302，检测区302设置于显示区301的一侧。
[0035]显示区301中设置多行子区域3011，这些子区域以阵列的形式排列，以在制程后期形成亚像素阵列。每行子区域中设置充电线和扫描线，并且，每行子区域的的共享线连接至行号增加值为2的子区域的充电线，即每行子区域的充电线为前面相隔一行的共享线提供信号。
[0036]举例而言，如图3所示，第N行子区域设置充电线C (N)和共享线S (N)，第N_2行子区域设置充电线C(N-2)和共享线S(N-2)，其中，第N-2行共享线S(N-2)连接至第N行充电线C (N)，从而使用充电线C(N)上的扫描信号来控制共享线S (N-2)的开启或者关闭。
[0037]检测区302中设置第一至第六检测线路Gl?G6，用于向显示区301提供检测信号，以完成对显示区301中充电线和扫描线的缺陷检测。检测线路Gl?G6——对应地连接至显示区中的连续六行子区域的充电线。在图3的示例中，第一检测线路Gl连接至第N+2行子区域的充电线C(N+2)，第二检测线路G2连接至第N+1行子区域的充电线C(N+1)，类似的，第三至第六检测线路G3?G6分别连接至第N行、第N-1行、第N-2行和第N-3行子区域的充电线。
[0038]以下对本实施例中提供的阵列基板检测方法做详细说明。
[0039]在阵列基板的量产初期，由于制程环境的清洁程度较差，诸如灰尘颗粒的微粒对光刻、曝光的制程操作造成影响，导致每行子区域中的充电线和扫描线之间容易出现短路缺陷。这种短路缺陷可能出现在显示区的子区域中，也可能出现在子区域外部的线路桥接区域。例如，如图3所示，第N行子区域内部的短路位置307处出现充电线C(N)和共享线S(N)之间的短路，或者第N+1行子区域外部的短路位置308处出现充电线C(N+1)和共享线S(N+1)之间的短路。
[0040]在这种情况下，采用第一检测状态进行检测。将第一至第六检测线路Gl?G6分成三组，即Gl和G4为第一组，G2和G5为第二组，G3和G6为第三组。依次向这三组扫描线路提供第一检测信号。
[0041]第一检测信号可以包括连续三个检测时间段Tl、T2和T3。
[0042]在Tl时间段内向检测线路Gl和G4提供检测信号，这时在G2、G5和G3、G6上不存在检测信号。正常情况下，第N+2行充电线C(N+2)和第N行共享线S(N)能够接收到来自检测线路Gl的第一检测信号，同样地，第N-1行充电线C(N-1)和第N-3行共享线S(N-3)能够接收到来自检测线路G4的第一检测信号。进一步来说，第N+5行充电线C(N+5)和第N+3行共享线S(N+3)也能够接收到来自检测线路G4的第一检测信号。也就是说，通过充电线接收到第一检测信号的子区域的行号为Ν-1、Ν+2和N+5，行号的差值为3或者6。
[0043]若在阵列基板的短路位置307处存在短路缺陷，则由于第N行充电线C(N)与共享线S(N)短路连接，第N行充电线C(N)上也能够接收到第一检测信号，进而从检测线路G3上接收到第一检测信号。这样以来，本实施例的检测方法能够检测到第N行子区域中充电线和共享线的短路缺陷。
[0044]容易理解，在Tl时间段内，若第N+2行充电线C(N+2)或者第N行共享线S(N)不能接收到第一检测信号，则说明充电线C(N+2)或者共享线S(N)出现了断路。
[0045]在T2时间段内向检测线路G2和G5提供检测信号，这时在G1、G4和G3、G6上不存在检测信号。正常情况下，第N+1行充电线C(N+1)和第N-1行共享线S(N-1)能够接收到来自G2的第一检测信号，第N-2行充电线C(N-2)和第N-4行共享线S(N_4)能够接收到来自G5的第一检测信号。也就是说，通过充电线接收到第一检测信号的子区域的行号为N+1和N-2，行号的差值为3。
[0046]若在阵列基板的短路位置308处存在短路缺陷，则由于第N+3行充电线C(N+3)与共享线S(N+1)短路连接，第N+3行充电线C(N+3)上也能够接收到第一检测信号，进而从检测线路G6上接收到第一检测信号。这样以来，本实施例的检测方法能够检测到第N+1行子区域中充电线和共享线的短路缺陷。
[0047]容易理解，在T2时间段内，若第N+1行充电线C(N+1)或者第N_1行共享线S(N_l)不能接收到第一检测信号，则说明充电线C(N+1)或者共享线S(N-1)出现了断路。
[0048]类似的，在T3时间段内向检测线路G3和G6提供检测信号，这时在Gl、G4和G2、G5上不存在检测信号，可以检测第N-1行子区域中充电线和共享线的短路缺陷。
[0049]因此，可以在第一检测状态下完成精确检测，能够提高阵列基板中短路缺陷的检出率。但是这一状态下需要的检测时间较长，效率较低。
[0050]在批量生产阶段，制程条件趋于稳定，每行子区域中的充电线和扫描线之间很少会出现短路缺陷，在这种情况下，如果继续按照第一种检测状态操作，导致检测效率低下。本实施例中还提供第二检测状态来快速完成检测。
[0051]在第二检测状态下，将第一至第六检测线路Gl?G6分成两组，即Gl、G3和G5为第一组，G2、G4和G6为第二组，并依次向这两组扫描线路提供第二检测信号。第二检测信号可以包括连续两个检测时间段Tl和T2。
[0052]在Tl时间段内向检测线路G1、G3和G5提供第二检测信号，这时在G2、G4和G6上不存在检测信号。若第N行和第N-1行子区域的充电线中发生短路，在充电线C(N-1)上接收到来自G3的第二检测信号，进而在检测线路G4上接收到第二检测信号。从而能够检测出相邻行子区域中充电线的短路缺陷。
[0053]在T2时间段内向G2、G4和G6提供第二检测信号，这时在G1、G3和G5上不存在检测信号。类似地也能够检测到相邻行子区域中充电线和共享线的线路缺陷。
[0054]这种检测状态的检测效率较高，与第一检测状态相比能够提高产能。这种检测状态下，通过给奇数和偶数扫描线不同的电讯号来检查阵列基板内是否存在短路或断路的情况，配合不同的数据信号还可以检查出其他类型的不良。
[0055]本实施例针对N+2充电共享型阵列基板，在检测区域设置6条检测线路，提供两种检测状态，在两种状态下为6条检测线路提供不同的检测信号，产生不同的检测效果。因而可以根据生产状况在两种检测状态下进行切换，提高检测效率。
[0056]实施例二
[0057]图4是本实施例提供的阵列基板的线路结构示意图。该阵列基板包括显示区401和检测区402，检测区402设置于显示区401的一侧。第一至第六检测线路Gl?G6—一对应地连接至显示区中的连续六行子区域的充电线。
[0058]与实施例一不同的是，本实施例中，每行子区域的的共享线连接至行号增加值为4的子区域的充电线，即每行子区域的充电线为前面相隔三行的共享线提供信号。例如，在图4中，第N-3行子区域的共享线S (N-3)连接至第N+1行子区域的充电线C(N+1)，从而使用充电线C(N+1)上的扫描信号来控制共享线S(N-3)的开启或者关闭。
[0059]以下对本实施例中提供的阵列基板检测方法做详细说明。
[0060]在阵列基板的量产初期，每行子区域中的充电线和扫描线之间容易出现短路缺陷。采用第一检测状态进行检测。对检测线路Gl?G6的分组情况与实施例一完全一致，且依次向三组扫描线路提供的第一检测信号与实施例一也完全一致。
[0061]在Tl时间段内，向检测线路Gl和G4提供第一检测信号，这时在G2、G5和G3、G6上不存在检测信号。
[0062]与实施例一不同的是，正常情况下，第N+2行充电线C(N+2)和第N-2行共享线S(N-2)能够接收到来自检测线路Gl的第一检测信号，同样地，第N-1行充电线C(N-1)和第N-5行共享线S(N-5)能够接收到来自检测线路G4的第一检测信号。进一步来说，第N+5行充电线C(N+5)和第N+1行共享线S(N+1)也能够接收到来自检测线路G4的第一检测信号。也就是说，通过充电线接收到第一检测信号的子区域的行号为Ν-1、Ν+2和N+5，行号的差值为3或者6。
[0063]若在阵列基板的短路位置408处存在短路缺陷，则由于充电线C(N+1)与共享线S(N+1)短路连接，第N+1行充电线C(N+1)上也能够接收到第一检测信号，进而从检测线路G2上接收到第一检测信号。这样以来，本实施例的检测方法能够检测到第N+1行子区域外部线路桥接区域的充电线和共享线的短路缺陷。
[0064]类似地，在T2时间段内检测线路G2和G5提供第一检测信号，这时在G1、G4和G3、G6上不存在检测信号。
[0065]与实施例一不同的是，在正常情况下，第N+1行充电线C(N+1)和第N-3行共享线S(N-3)能够接收到来自G2的第一检测信号，第N+4行充电线C(N+4)和第N行共享线S(N)能够接收到来自G5的第一检测信号。也就是说，通过充电线接收到第一检测信号的子区域的行号为N+4和N+1,行号的差值为3。
[0066]若在阵列基板的短路位置407处存在短路缺陷，则由于充电线C (N)与共享线S (N)短路连接，第N行充电线C (N)上也能够接收到第一检测信号，进而从检测线路G3上接收到第一检测信号。这样以来，本实施例的检测方法能够检测到第N行子区域中充电线和共享线的短路缺陷。
[0067]类似的，在T3时间段内向检测线路G3和G6提供检测信号，这时在Gl、G4和G2、G5上不存在检测信号。
[0068]在批量生产阶段，采用第二检测状态进行检测。对检测线路Gl?G6的分组情况与实施例一完全一致，且依次向两组扫描线路提供的第二检测信号和检测方法与实施例一也完全一致。不再赘述。
[0069]本实施例针对N+4充电共享型阵列基板，在检测区域设置6条检测线路，提供两种检测状态，在两种状态下为6条检测线路提供不同的检测信号，产生不同的检测效果。因而可以根据生产状况在两种检测状态下进行切换，提高检测效率。
[0070]虽然本发明所公开的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式。任何本发明所属【技术领域】内的技术人员，在不脱离本发明所公开的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。
【权利要求】
1.一种阵列基板，其特征在于，包括: 显示区，其包括若干行子区域，每行子区域设置充电线和共享线，每行子区域的的共享线连接至行号增加值为偶数的子区域的充电线； 检测区，其包括第一至第六检测线路，所述第一至第六检测线路一一对应地连接至显示区中的连续六行子区域的充电线； 其中，在第一检测状态下，将第一至第六检测线路分成三组，依次向所述三组检测线路提供第一检测信号，以检测每行子区域中充电线和共享线的线路缺陷； 在第二检测状态下，将第一至第六检测线路分成两组，依次向所述两组检测线路提供第二检测信号，以检测相邻行子区域中充电线和共享线的线路缺陷。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，在第一检测状态下，所述三组检测线路分别为第一和第四检测线路、第二和第五检测线路、第三和第六检测线路。
3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，在第二检测状态下，所述两组检测线路分别为第一、第三和第五检测线路，以及第二、第四和第六检测线路。
4.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述第一检测信号有效时，通过充电线接收到第一检测信号的子区域的行号差值为3的倍数。
5.根据权利要求2至4中任一项所述的阵列基板，其特征在于，所述偶数为2或者4。
6.一种用于检测阵列基板的方法，其特征在于，所述阵列基板包括显示区和检测区，所述显示区包括若干行子区域，每行子区域设置充电线和共享线，每行子区域的的共享线连接至行号增加值为偶数的子区域的充电线； 所述检测区包括第一至第六检测线路，所述第一至第六检测线路一一对应地连接至显示区中的连续六行子区域的充电线； 所述方法包括以下步骤: 在第一检测状态下，将所述第一至第六检测线路分成三组，依次向所述三组检测线路提供第一检测信号，以检测每行子区域中充电线和共享线的线路缺陷； 在第二检测状态下，将所述第一至第六检测线路分成两组，依次向所述两组检测线路提供第二检测信号，以检测相邻行子区域中充电线和共享线的线路缺陷。
7.根据权利要求5所述方法，其特征在于，所述在第一检测状态下，所述三组检测线路分别为第一和第四检测线路、第二和第五检测线路、第三和第六检测线路。
8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所述第二检测状态下，所述两组检测线路分别为第一、第三和第五检测线路，以及第二、第四和第六检测线路。
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一检测信号有效时，通过充电线接收到第一检测信号的子区域的行号差值为3的倍数。
10.根据权利要求7-9中任一项所述的方法，其特征在于，所述偶数为2或者4。
【文档编号】G02F1/13GK104360504SQ201410650209
【公开日】2015年2月18日 申请日期:2014年11月14日 优先权日:2014年11月14日
【发明者】王醉, 罗时勲 申请人:深圳市华星光电技术有限公司