技术领域本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示基板、点灯设备及点灯测试探针对位检测方法。
背景技术：
液晶显示器(LiquidCrystalDisplay，LCD)、有源矩阵有机发光二极体(Active-matrixorganiclightemittingdiode，AMOLED)等显示面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要的检验程序就是对切割完成的显示基板进行测试(CellTest)，以确认显示基板是否存在缺陷。CellTest简称ET，为显示基板未贴附驱动芯片以及输入显示信号用的柔性电路板之前进行。该测试过程通常是通过点灯设备对显示基板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-onTest)。其中，为便于进行检测，一般在显示基板(通常为阵列基板)上设置测试焊盘(pad)，在检测时，使用点灯设备的测试探针与测试焊盘上的测试点接触，而所述测试点与信号线连接，从而，通过测试探针、测试点可以向信号线中输入检测信号，检测显示基板是否存在缺陷。显示基板的边缘区域设置有驱动芯片，驱动芯片与显示基板的像素单元之间设置有将其连接的信号线；在驱动芯片的两侧设置有测试焊盘，所述测试焊盘与信号线连接。探针对位错位(PinMiss)是点灯检测时经常发生的设备异常。由于单从点灯现象无法区分为显示基板产品本身不良(显示异常)或是探针对位异常，在生产中存在判断失误、将良品误判为缺陷品等问题。目前确认PinMiss的传统方法是，在发生显示画质异常时，通常由检查员将显示基板从机台上取下，重新放置多次并确认探针对位是否异常。该方式耗费时间，且准确性较低，受人员熟练度影响较大。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种显示基板、点灯设备及点灯测试探针对位检测方法，能够不增加额外的检查时间，可靠性高，不需要人员接触显示基板操作，降低静电和产品破损风险。本发明所提供的技术方案如下：一种显示基板，包括显示驱动信号线及至少一组测试焊盘，同一组测试焊盘中多个测试焊盘依次排列；每组测试焊盘包括：与所述显示驱动信号线连接的多个点灯测试焊盘；每组测试焊盘还包括：与所述显示驱动信号线不连接的两个探针错位测试焊盘，且两个探针错位测试焊盘之间电连接。进一步的，两个探针错位测试焊盘分别设置在与其位于同一组测试焊盘中的多个点灯测试焊盘的两端位置。进一步的，两个探针错位测试焊盘设置在与其位于同一组测试焊盘中处于中间位置的两个点灯测试焊盘之间。进一步的，同一组测试焊盘中至少部分点灯测试焊盘之间的间距为第一间距；且所述探针错位测试焊盘和与其位于同一组测试焊盘中距离最近的点灯测试焊盘之间的间距为所述第一间距。进一步的，所述显示基板包括第一组测试焊盘和第二组测试焊盘；其中，所述第一组测试焊盘中的两个探针错位测试焊盘分别设置在所述第一组测试焊盘中的多个点灯测试焊盘的两端位置；所述第二组测试焊盘中的两个探针错位测试焊盘设置在所述第二组测试焊盘中处于中间位置的两个点灯测试焊盘之间。进一步的，同一组测试焊盘中的两个探针错位测试焊盘之间通过金属薄膜连接。一种点灯设备，包括至少一组探针，用于对如上所述的显示基板进行点灯测试，每组探针包括：用于与多个点灯测试焊盘连接的点灯测试探针；以及，用于与探针错位测试焊盘连接的探针错位检测探针；其中每组探针的排列方式和与其对应的一组测试焊盘的排列方式相同。进一步地，所述点灯设备还包括：与所述探针错位检测探针连接的，用于向同一组测试焊盘中的两个探针错位测试焊盘提供不同电压的电信号的信号提供电路。进一步的，所述点灯设备包括：与探针连接的带有过电流保护功能的信号发生器。一种点灯测试探针对位检测方法，利用如上所述的点灯设备对如上所述的显示基板进行点灯测试探针对位检测；所述的方法包括：将点灯设备上的探针与显示基板上的多个测试焊盘连接；在点灯测试之前，利用与探针错位测试焊盘连接的探针，向同一组测试焊盘中电连接的两个探针错位测试焊盘上在预设时间内同时施加不同电压的电信号，检测同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘之间是否有电流通过；若检测到同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘之间有电流通过时，则判断探针对位正确；若检测到同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘之间无电流通过时，则判断探针对位错位。进一步的，在点灯测试之前，向同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘上分别施加不同电压的电信号，具体包括：向同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘中的一个探针错位测试焊盘上施加电压的电信号为0伏，向另一个探针错位测试焊盘上施加电压的电信号为1～2伏。进一步的，利用点灯设备内的带有过电流保护功能的信号发生器来检测同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘之间是否有电流通过；当所述带有过电流保护功能的信号发生器报警时，则判断同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘之间有电流通过；当所述带有过电流保护功能的信号发生器未报警时，则判断同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘之间无电流通过。本发明的有益效果如下：上述方案，对显示基板以及点灯设备进行了产品设计改进，通过加载电压的电信号的方式自动判断是否存在探针对位错位(PinMiss)异常，在发生PinMiss时，提示检查员进行重新对位，从而消除因PinMiss造成的检测失误等情况，提升检查准确性，可以在点灯测试时能够不增加额外的检查时间，可靠性高，并且不需要人员接触显示基板操作，降低静电和产品破损风险。附图说明图1表示本发明所提供的显示基板的测试焊盘的分布结构示意图。具体实施方式为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。为了现有技术中对显示基板进行点灯测试时对于探针对位错位异常不能准确判断且耗时等技术问题，本发明实施例中提供了一种显示基板、点灯设备以及点灯测试探针对位检测方法，能够自动判断是否存在探针对位错位(PinMiss)异常，提升检查准确性。其中，如图1所示，本发明实施例中所提供的显示基板1包括：显示驱动信号线(未示出)及至少一组测试焊盘(Pad)，同一组测试焊盘中多个测试焊盘依次排列，例如图1中所示同一组测试焊盘中的多个测试焊盘可以沿一预设方向依次排列；每组测试焊盘包括：与所述显示驱动信号线连接的多个点灯测试焊盘(ETPad)100；每组测试焊盘还包括：与所述显示驱动信号线不连接的两个探针错位测试焊盘(DummyPad)200，且两个探针错位测试焊盘200之间电连接。本发明实施例中提供的点灯设备包括：至少一组探针，用于对如上所述的显示基板进行点灯测试，每组探针包括：用于与多个点灯测试焊盘100连接的点灯测试探针；以及，用于与探针错位测试焊盘200连接的探针错位检测探针；其中每组探针的排列方式和与其对应的一组测试焊盘的排列方式相同；所述点灯设备还包括：与所述探针错位检测探针连接的，用于向同一组测试焊盘中的两个探针错位测试焊盘200提供不同电压的电信号的信号提供电路。上述方案中，对传统的显示基板和点灯设备都进行了改进，其中在显示基板制造(ArrayMask设计)时，在原有的每组测试焊盘中增设两个用于检测探针是否对位错位的探针错位测试焊盘(DummyPad)200，且探针错位测试焊盘200悬空设计，并不引入显示区作为驱动信号，并将同一组测试焊盘内的两个探针错位测试焊盘200进行电连接；相应地，对点灯设备进行了改进，在点灯设备原有的每组探针中增设了用于与探针错位测试焊盘200对应连接的探针错位检测探针以及用于向同一组测试焊盘中的两个探针错位测试焊盘200提供不同电压的电信号的信号提供电路。由于点灯设备上各组探针的排列方式与显示基板上的对应的各组测试焊盘的排列方式相同，若探针错位检测探针与探针错位检测焊盘对位正常，则可以确定点灯测试探针与点灯测试焊盘100对位正常，若探针错位检测探针与探针错位检测焊盘对位异常，则可以确定点灯测试探针与点灯测试焊盘100对位异常，即存在探针对位错位(PinMiss)问题。因此，利用本发明实施例提供的点灯设备对本发明实施例提供的显示基板进行探针对位检测，具体的方法为：在点灯测试之前，利用与探针错位测试焊盘200连接的探针错位检测探针，向同一组测试焊盘中电连接的两个探针错位测试焊盘200上在预设时间内同时施加不同电压的电信号，检测同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200之间是否有电流通过；若探针错位检测探针与探针错位检测焊盘对位正确，探针错位检测探针会与探针错位检测焊盘会正常连接，从而，由于同一组测试焊盘内的两个探针错位检测焊盘之间进行电连接，不同电压的两个探针错位检测焊盘之间会有大电流经过，从而，若检测到同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200之间有电流通过时，则判断同一组中的两个探针错位检测探针对位正确，相应地与上述两个探针错位检测探针属于同一组的其他探针对位正确；若检测到同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200之间无电流通过时，则判断探针对位错位；并且，在正常点灯测试时，点灯设备对探针错位测试焊盘200不提供任何显示驱动信号，两个探针错位测试焊盘200的短接设计对点灯测试无任何影响。由此可见，本发明通过对显示基板以及点灯设备进行产品设计改进，通过加载电压的电信号的方式即可自动判断是否存在探针对位错位(PinMiss)异常，在发生PinMiss时，提示检查员进行重新对位，从而消除因PinMiss造成的检测失误等情况，提升检查准确性，可以在点灯测试时能够不增加额外的检查时间，可靠性高，并且不需要人员接触显示基板操作，降低静电和产品破损风险。其中，需要说明的是，在上述方案中，在点灯测试之前，向同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200上同时施加不同电压的电信号，具体地，向同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200中的一个探针错位测试焊盘200上施加电压的电信号为0伏，向另一个探针错位测试焊盘200上施加电压的电信号为1～2伏。其中，同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200上所施加的电压的电信号可以并不局限于上述电压的电信号，只需保证同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200上所施加的电压的电信号不同即可。此外，在点灯测试之前，向同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200上在预设时间内同时施加不同电压的电信号，该电信号为瞬时信号，所述预设时间为一瞬时信号的施加时间，由于瞬时信号提供时间非常短，不会对显示基板和点灯设备造成短路影响。此外，通常，在点灯设备中设置有与探针连接的带有过电流保护功能的信号发生器(PatternGeneratorOverCurrentProtection，PGOCP)，在本发明实施例所提供的点灯设备中，将带有过电流保护功能的信号发生器与点灯测试探针以及探针错位检测探针均连接，可以直接利用带有过电流保护功能的信号发生器报警来进行探针对位检测的监控。具体地，在进行探针对位检测时，利用点灯设备内的带有过电流保护功能的信号发生器来检测同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200之间是否有电流通过；当所述带有过电流保护功能的信号发生器报警时，则判断同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200之间有电流通过；当所述带有过电流保护功能的信号发生器未报警时，则判断同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200之间无电流通过。在上述方案中，传统的点灯设备中一般都设置有与探针连接的信号发生器，该信号发生器可以对电路进行过电流保护。在本发明中，在进行探针对位检测时，直接利用信号发生器过电流是否报警这一异常事件，转化为探针对位是否准确的信息；具体地，在探针对位检测过程中，如果信号发生器出现过电流报警则说明探针对位准确，如果没有出现过电流报警则说明探针对位错位，此时无需增加其他额外的部件即可实现探针对位准确性的判断。此外，在此需要说明的是，用于向所述同一组测试焊盘中的两个探针错位测试焊盘提供不同电压的电信号的信号提供电路可以是由所述信号发生器来提供，也就是说，可以直接利用所述信号发生器来向两个探针错位测试焊盘提供不同电压的电信号；或者，也可以是，用于向所述同一组测试焊盘中的两个探针错位测试焊盘提供不同电压的电信号的信号提供电路是单独设置在点灯设备内；或者，还可以是，还可以是直接利用外界电路来向同一组测试焊盘中的两个探针错位测试焊盘提供不同电压的电信号。在本发明实施例所提供的显示基板中，优选的，如图1所示，两个探针错位测试焊盘200分别设置在与其位于同一组测试焊盘中的多个点灯测试焊盘100的两端位置。上述方案中，由于点灯设备的探针为一个整体结构，PinMiss异常发生时，若点灯设备的各探针与显示基板上的各焊盘之间不存在旋转偏移的情况下，探针错位的偏移量在每组测试焊盘的边缘和中间位置的偏移量相同，而若存在旋转偏移的情况下，则探针错位的偏移量在每组测试焊盘的边缘位置应该是最大的，因此，在每组测试焊盘的两端点位置如果没有发生PinMiss异常，则认为中间的测试焊盘与探针的对位正常，因此，将两个探针错位测试焊盘200设置在每组测试焊盘的两端位置对PinMiss异常检测结果更为准确。当然可以理解的是，在本发明的其他实施例中，根据实际需要，两个探针错位测试焊盘200也可以设置在每组测试焊盘的其他位置上。在本发明实施例所提供的显示基板中，如图1所示，两个探针错位测试焊盘200还可以设置在与其位于同一组测试焊盘中处于中间位置的两个点灯测试焊盘100之间。图1为本发明实施例中提供的一种显示基板的示意图。作为一个示例，在图1中仅示出了显示基板中的两组测试焊盘的分布状况，应当理解的是，在实际应用中，所述显示基板上的测试焊盘可以有多组。如图1所示，所述显示基板包括第一组测试焊盘10和第二组测试焊盘20；其中，所述第一组测试焊盘10中的两个探针错位测试焊盘200分别设置在所述第一组测试焊盘10中的多个点灯测试焊盘100的两端位置；所述第二组测试焊盘20中的两个探针错位测试焊盘200设置在所述第二组测试焊盘20中处于中间位置的两个点灯测试焊盘100之间。采用上述方案，第一组测试焊盘10中两个探针错位测试焊盘200分别设置在所述第一组测试焊盘10中的多个点灯测试焊盘100的两端位置，而第二组测试焊盘20中的两个探针错位测试焊盘200设置在所述第二组测试焊盘20中处于中间位置的两个点灯测试焊盘100之间，也就是说，在不同组测试焊盘的不同位置点上设置所述探针错位测试焊盘，与仅在每组测试焊盘的两端位置或仅在每组测试焊盘的中间位置设置所述探针错位测试焊盘相比，可以使得探针对位错位异常检测更为准确。此外，本发明实施例中提供的显示基板中，优选的，如图1所示，同一组测试焊盘中至少部分点灯测试焊盘100之间的间距为第一间距；且所述探针错位测试焊盘200和与其位于同一组测试焊盘中距离最近的点灯测试焊盘100之间的间距为所述第一间距。采用上述方案，探针错位测试焊盘200的尺寸以及其与点灯测试焊盘100之间的间距分别与点灯测试焊盘100的尺寸以及点灯测试焊盘100的间距保持一致，如此，可以使得点灯设备的探针在制作上比较简化。应当理解的是，在实际应用中，探针错位测试焊盘200的尺寸以及其与点灯测试焊盘100之间的间距可以根据实际需求来进行设计，在此并不做局限。此外，同一组测试焊盘中的两个探针错位测试焊盘200之间通过金属薄膜连接。本发明实施例中提供的一种点灯测试探针对位检测方法，利用如上所述的点灯设备对如上所述的显示基板进行点灯测试探针对位检测；所述的方法包括：将点灯设备上的探针与显示基板上的多个测试焊盘连接；在点灯测试之前，利用与探针错位测试焊盘200连接的探针，向同一组测试焊盘中电连接的两个探针错位测试焊盘200上在预设时间内同时施加不同电压的电信号，检测同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200之间是否有电流通过；若检测到同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200之间有电流通过时，则判断探针对位正确；若检测到同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200之间无电流通过时，则判断探针对位错位。其中，在上述方案中，在点灯测试之前，向同一组测试焊盘中电连接的两个探针错位测试焊盘200上在预设时间内同时施加不同电压的电信号，具体包括：向同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200中的一个探针错位测试焊盘200上施加电压的电信号为0伏，向另一个探针错位测试焊盘200上施加电压的电信号为1～2伏。需要说明的是，在上述方案中，其中，同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200上所施加的电压的电信号可以并不局限于上述电压的电信号，只需保证同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200上所施加的电压的电信号不同即可。并且，在点灯测试之前，向同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200上在预设时间内同时施加不同电压的电信号，该电信号为瞬时信号，该预设时间为该瞬时信号的施加时间，由于瞬时信号提供时间非常短，不会对显示基板和点灯设备造成短路影响。进一步的，利用点灯设备内的带有过电流保护功能的信号发生器来检测同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200之间是否有电流通过；当所述带有过电流保护功能的信号发生器报警时，则判断同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200之间有电流通过；当所述带有过电流保护功能的信号发生器未报警时，则判断同一组测试焊盘中短路连接的两个探针错位测试焊盘200之间无电流通过。采用上述方案，可以直接利用点灯设备内的带有过电流保护功能的信号发生器报警来进行探针对位检测的监控。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本发明的保护范围。