液晶显示面板的测试结构及制造方法与流程

本发明涉及液晶显示技术领域，具体而言涉及一种液晶显示面板的测试结构及制造方法。

背景技术：

LCD(Liquid Crystal Display,液晶显示器)由于其轻薄化和低功耗等优点，是目前市场中的主流显示装置，而在产品生产过程中，为了提高产品良率，就需要对液晶显示面板设置Array测试(阵列测试)电路和Cell测试(成盒测试或液晶面板测试)电路，以分在阵列基板完成后进行Array测试、在成盒(Cell)制程后进行Cell测试。

在当前的结构设计中，如图1所示，Cell测试电路11位于每一液晶显示面板10的下部，Array测试电路12位于每一液晶显示面板10的上部，其中Array测试电路12在完成Array测试后的所有后续制程中均不会被用到。由此可见，Cell测试电路11和Array测试电路12的设置需要液晶显示面板10在其上部和下部预留两个走线区域13，这显然不利于液晶显示面板10的窄边框设计。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明实施例提供一种液晶显示面板的测试结构及制造方法，能够有利于液晶显示面板的窄边框设计。

本发明实施例提供的一种液晶显示面板的测试结构，包括位于液晶显示面板下部的走线区域的Cell测试电路，在未对呈阵列排布的多个液晶显示面板进行切割之前，Cell测试电路用于对位于走线区域下方的液晶显示面板进行Array测试，在对呈阵列排布的多个液晶显示面板进行切割之后，Cell测试电路用于对包括走线区域的液晶显示面板进行Cell测试。

其中，在呈阵列排布的多个液晶显示面板中，位于第一行的液晶显示面板的上方设置有与其连接的测试电路，测试电路用于对第一行的液晶显示面板进行Array测试。

其中，测试电路和Cell测试电路的结构相同。

其中，在每一液晶显示面板的走线区域还包括显示数据芯片，显示数据芯片用于在对位于走线区域下方的液晶显示面板进行Array测试时为Cell测试电路提供显示信号。

其中，在每一液晶显示面板的走线区域还包括驱动IC，驱动IC用于为液晶显示面板提供Module测试所需的驱动信号，显示数据芯片位于驱动IC的下方，且显示数据芯片、驱动IC和Cell测试电路集成于走线区域的FPC中。

本发明实施例提供的一种液晶显示面板的制造方法，包括：形成呈阵列排布的多个待切割区的液晶显示面板，每一液晶显示面板包括位于其下部的走线区域的Cell测试电路；在未对呈阵列排布的多个液晶显示面板进行切割之前，利用Cell测试电路对位于走线区域下方的液晶显示面板进行Array测试；在对呈阵列排布的多个液晶显示面板进行切割之后，利用Cell测试电路对包括走线区域的液晶显示面板进行Cell测试。

其中，在呈阵列排布的多个液晶显示面板中，位于第一行的液晶显示面板的上方设置有与其连接的测试电路，所述制造方法还包括：利用测试电路对第一行的液晶显示面板进行Array测试。

其中，测试电路和Cell测试电路的结构相同。

其中，在每一液晶显示面板的走线区域还包括显示数据芯片，在对位于走线区域下方的液晶显示面板进行Array测试时，利用显示数据芯片为Cell测试电路提供显示信号。

其中，在每一液晶显示面板的走线区域还包括驱动IC，显示数据芯片位于驱动IC的下方，且显示数据芯片、驱动IC和Cell测试电路集成于走线区域的FPC中，所述制造方法进一步包括：利用驱动IC为液晶显示面板提供Module测试所需的驱动信号。

有益效果：本发明实施例设计对于相邻的两个液晶显示面板，利用上方的液晶显示面板的Cell测试电路对下方的液晶显示面板进行Array测试，可视为上下相邻的两个液晶显示面板共用Cell测试电路，液晶显示面板无需预留容纳Array测试电路的走线区域，从而能够有利于液晶显示面板的窄边框设计。

附图说明

图1是现有技术的未切割的液晶显示面板一实施例的结构俯视图；

图2是本发明一实施例的未切割的液晶显示面板的结构俯视图；

图3是图2所示液晶显示面板切割后的结构俯视图；

图4是本发明的液晶显示面板的制造方法一实施例的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明所提供的各个示例性的实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。在不冲突的情况下，下述各个实施例以及实施例中的特征可以相互组合。

请参阅图2，为本发明一实施例的未切割的液晶显示面板的结构俯视图。未切割的多个液晶显示面板20呈阵列排布，每一液晶显示面板20的下部设置有走线区域21。本实施例的液晶显示面板20的测试结构包括位于走线区域21的Cell测试电路22。

在呈阵列排布的多个液晶显示面板20中，位于第一行的液晶显示面板20的上方设置有与其连接的测试电路23，测试电路23用于对第一行的液晶显示面板20进行Array测试。优选地，该测试电路23和所述Cell测试电路22的结构相同，即本实施例相当于在第一行的液晶显示面板20的上方也设置了用于Array测试的Cell测试电路22。

在未对呈阵列排布的多个液晶显示面板20进行切割之前，Cell测试电路22用于对位于走线区域21下方的液晶显示面板20进行Array测试。在对呈阵列排布的多个液晶显示面板20进行切割之后，Cell测试电路22用于对包括走线区域21的液晶显示面板20进行Cell测试。

在进行Array测试时，本实施例的Cell测试电路22相当于图1所示现有技术的Array测试电路12。由此可知，本发明实施例可视为上下相邻的两个液晶显示面板20共用Cell测试电路22，该Cell测试电路22既用于对上方的液晶显示面板20进行Cell测试，又用于对下方的液晶显示面板20进行Array测试，相比较于现有技术，本实施例的每一液晶显示面板20无需预留容纳例如图1所示Array测试电路12的走线区域13，从而能够有利于液晶显示面板20的窄边框设计。其中，在切割之后，位于第一行的液晶显示面板20的上方的测试电路23也被切除。

请继续参阅图2，相比较于现有技术，本实施例的Cell测试电路22不仅包括用于接收Cell测试信号的测试垫221，还包括用于连接测试垫221和下方的液晶显示面板20的走线222。在对下方的液晶显示面板20进行Array测试时，可通过测试垫221和走线222为其提供驱动扫描线的扫描信号以及驱动数据线的数据信号(又称显示信号或Video信号)。

进一步地，在每一液晶显示面板20的走线区域21还包括显示数据芯片24，该显示数据芯片24相当于液晶显示面板20的用于为数据线提供数据信号的数据驱动器。该显示数据芯片24可以用于在对位于走线区域21下方的液晶显示面板20进行Array测试时为Cell测试电路22提供显示信号，而通过测试垫221提供Array测试所需的扫描信号。

所述显示数据芯片24可以集成于走线区域21中。鉴于每一液晶显示面板20的走线区域21还包括驱动IC 25，驱动IC 25用于为液晶显示面板提供Module测试(模组测试)所需的驱动信号，显示数据芯片24可以设置于驱动IC 25的下方，即，显示数据芯片24、驱动IC 25和Cell测试电路22集成于走线区域21的FPC(Flexible Printed Circuit,柔性印刷电路板)中。在切割之后，如图3所示，显示数据芯片24被留于上方的液晶显示面板20中，由于其与下方的液晶显示面板20连接的走线222被切断，因此不会影响对上方的液晶显示面板20进行Cell测试。

本发明还提供的如图4所示一实施例的液晶显示面板的制造方法。如图4所示，所述制造方法可以包括步骤S41～S43。

S41：形成呈阵列排布的多个待切割区的液晶显示面板，每一液晶显示面板包括位于其下部的走线区域的Cell测试电路。

S42：在未对呈阵列排布的多个液晶显示面板进行切割之前，利用Cell测试电路对位于走线区域下方的液晶显示面板进行Array测试。

S43：在对呈阵列排布的多个液晶显示面板进行切割之后，利用Cell测试电路对包括走线区域的液晶显示面板进行Cell测试。

其中，在呈阵列排布的多个液晶显示面板中，位于第一行的液晶显示面板的上方设置有与其连接的测试电路。优选地，该测试电路和Cell测试电路的结构相同。在进行步骤S42时，本实施例利用测试电路对呈阵列排布的第一行的液晶显示面板进行Array测试。

进一步地，在每一液晶显示面板的走线区域还包括显示数据芯片，该显示数据芯片相当于液晶显示面板的用于为数据线提供数据信号的数据驱动器。该显示数据芯片可以用于在对位于走线区域下方的液晶显示面板进行Array测试时为Cell测试电路提供显示信号。

所述显示数据芯片可以集成于走线区域中。鉴于每一液晶显示面板的走线区域还包括驱动IC，本实施例在步骤S43之后还利用驱动IC用于为液晶显示面板提供Module测试所需的驱动信号，该显示数据芯片可以设置于驱动IC的下方，即，显示数据芯片、驱动IC和Cell测试电路集成于走线区域的FPC中。在切割之后，显示数据芯片被留于上方的液晶显示面板中，由于其与下方的液晶显示面板连接的走线被切断，因此不会影响对上方的液晶显示面板进行Cell测试。

所述制造方法的具体原理及过程可参阅前述图2～图3实施例所述。因此该制造方法亦具有相同的有益效果。

再次说明，以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，例如各实施例之间技术特征的相互结合，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。